1.一种低温测试探杆，用于连接超导器件及常温测试仪器，包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线，其特征在于，所述滑动法兰位于所述外管的外壁，用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口；所述外管的外壁和所述低温杜瓦的外壁都是金属，通过所述滑动法兰固定并处于导通状态；所述接线盒位于所述低温测试探杆的顶部，所述接线盒外壁为金属，与所述外管固定并处于导通状态；所述偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部，用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件；所述超低频电压输出引线为双芯屏蔽线。
2.如权利要求1所述低温测试探杆，其特征在于，所述双芯屏蔽线的屏蔽层引出线连接到低温杜瓦的外壁上。
3.如权利要求1所述低温测试探杆，其特征在于，所述双芯屏蔽线的屏蔽层引出线接地。
4.如权利要求2所述低温测试探杆，其特征在于，所述屏蔽层引出线接地。
5.如权利要求4所述低温测试探杆，其特征在于，所述屏蔽层与所述低温杜瓦外壁相连，再共同连接到地。
6.如权利要求1-5任意一项所述低温测试探杆，其特征在于，
所述偏置引线、波导和双芯屏蔽线位于接线盒和外管内部，用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件；
所述接线盒上有电压输出端、偏置信号输入端、微波脉冲信号输入端；
所述偏置引线一端连接到接线盒上的偏置信号输入端，另一端连接到所述超导器件上的偏置信号输入端；
所述波导的一端连接到接线盒顶部的微波脉冲信号输入端，另一端连接到超导器件的微波输入端；
所述超低频电压输出引线一端连接到接线盒电压输出端，另一端连接到超导器件电压输出端。
7.如权利要求6所述低温测试探杆，其特征在于，
所述接线盒电压输出端包含正端、负端和屏蔽端；
所述双芯屏蔽线的正导线一端与超导器件电压输出正端相连，另一端与接线盒电压输出正端相连；
所述双芯屏蔽线的负导线一端与超导器件电压输出负端相连，另一端与接线盒电压输出负端相连；
所述双芯屏蔽线的屏蔽层连接到所述屏蔽端。
8.如权利要求7所述低温测试探杆，其特征在于，
还包含第二双芯屏蔽线，用于连接常温测量仪器与所述接线盒的电压输出端；
所述第二双芯屏蔽线的正导线、负导线、屏蔽层分别连接到所述接线盒电压输出端的正端、负端和屏蔽端。