一种比相装置的制作方法

技术特征：

1.一种比相装置，其特征在于：包括待测信号源、参考源单元、分频单元、高分辩率计数单元、频率切换单元、中央处理器和相位比较单元；

所述待测信号源适于输出被测时域信号；

所述参考源单元包括短稳时钟源和长稳时钟源，适于分别输出短稳参考信号和长稳参考信号；

所述频率切换单元适于将被测时域信号在以长稳参考信号为时基参考下转化为标准的1KHz频率信号，并分别送至相位比较单元和高分辨率计数单元；

所述高分辩率计数单元适于在短稳参考信号参考下，对频率切换单元输出的信号频率进行计数测量，并将测量结果送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率短期稳定度指标，所述中央处理器按照频率切换单元输出的1KHz频率范围，对高分辩率计数单元进行测量带宽控制；

所述分频单元适于在中央处理器的控制下对长稳参考信号进行分频处理，获得0.9KHz的频率信号送至相位比较单元；

所述相位比较单元适于对频率切换单元以及分频单元送来的时钟信号进行相位比较，获得相位差数据送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率长期稳定度指标；

所述中央处理器还适于对所述长期稳定度指标、所述短期稳定度指标数据进行处理获得对应值。

2.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述分频单元包括第一隔离放大器和第一DDS模块，所述长稳参考信号经第一隔离放大器后被送至所述第一DDS模块的外时钟输入端以作为其工作外部参考时钟，所述第一DDS模块的外部通讯端口连接至所述中央处理器以接受来自中央处理器的控制字命令及双向的数据传输。

3.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述频率切换单元包括初级处理子单元和二级处理子单元，所述初级处理子单元包括第一走时计数模块、第二DDS模块和PLL锁相环模块，所述第一走时计数模块适于在长稳参考信号作用下对所述被测时域信号进行初级的频率测量，并将测得值fo发送至中央处理器，中央处理器根据频率测量值fo发频率命令控制字至所述第二DDS模块，所述第二DDS模块在长稳参考信号下对所述被测时域信号按照频率命令控制字改写内部频率寄存器，使其输出为一整数频率值f1，所述整数频率信号f1再送至PLL锁相环后，在中央处理器倍频比例控制下，所述PLL锁相环分别输出1KHz频率被测信号至二级处理子单元和高分辨率计数单元；

所述二级处理子单元包括第二隔离放大器、第三DDS模块、第四DDS模块、第二走时计数模块、锁存器和低通滤波模块，所述1KHz频率被测信号在经所述第二隔离放大器后分路送至所述第三DDS模块和第四DDS模块，所述第三DDS模块以所述1KHz频率被测信号为参考时钟并输出1/100分频率信号后，送至第二走时计数模块进行粗频率测量，所述中央处理器通过读取锁存器对第二走时计数模块取样的数值并乘以100后得到被测信号的粗频率值F；

所述第四DDS模块以所述1KHz频率被测信号为参考时钟，所述第四DDS模块的外部通讯端口连接至中央处理器，所述中央处理器通过公式计算得到与所述第四DDS模块通讯用的分频数值，f取100HZ，并通过串行通讯时序将所得的所述分频数值写入第四DDS模块的缓存区，经第四DDS模块后得到100Hz的频率信号，将所得的频率信号再送至低通滤波模块后得到最终的100Hz频率信号输出。

4.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述相位比较单元包括相位差采集模块、积分电路和A/D转换模块，所述相位差采集模块将采得相位差数值发送至中央处理器，所述中央处理器将接收到的相位差数值通过积分电路进行累加并经A/D转换模块转换后再反馈回所述中央处理器。

5.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述长稳时钟源为输出5MHz或10MHz参考信号的时钟频率源。

6.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述中央处理器为Philips公司的LPC930系列单片机。