1.一种抗磁测量探头，用于测量超导体的迈斯纳效应，其特征在于，包括绝缘棒(110)，绕置于所述绝缘棒(110)的导电线圈(200)，密封所述导电线圈(200)的密封层(310)；
所述导电线圈(200)包括第一导电线圈(210)和第二导电线圈(220)，所述第二导电线圈(220)用以提供磁场，所述第一导电线圈(210)靠近所述第二导电线圈(220)设置，用以监测感应电动势的变化。
2.如权利要求1所述的抗磁测量探头，其特征在于，所述第一导电线圈(210)和所述第二导电线圈(220)同轴设置。
3.如权利要求2所述的抗磁测量探头，其特征在于，以所述绝缘棒(110)为轴心，所述第一导电线圈(210)环绕所述绝缘棒(110)设置，所述第二导电线圈(220)环绕所述第一导电线圈(210)设置；
所述密封层(310)将所述第一导电线圈(210)和所述第二导电线圈(220)密封。
4.如权利要求1所述的抗磁测量探头，其特征在于，所述第一导电线圈(210)至少500匝，所述第一导电线圈(210)与所述第二导电线圈(220)的匝数比为1:1-5:1。
5.如权利要求1所述的抗磁测量探头，其特征在于，所述绝缘棒(110)为陶瓷棒，所述绝缘棒(110)的直径为0.5mm-2mm，所述导电线圈(200)为漆包铜线，所述漆包铜线的直径为25-50um。
6.如权利要求1所述的抗磁测量探头，其特征在于，所述待测超导体为设置在绝缘衬底上的薄膜超导材料，所述第一导电线圈(210)和所述第二导电线圈(220)设置在薄膜超导材料远离绝缘衬底的一侧。
7.一种抗磁测量杆，用于原位测量超导体的迈斯纳效应，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的抗磁测量探头(10)、连接件(410)和支撑件(420)，所述连接件(410)的一端与所述绝缘棒(110)固定连接，所述连接件(410)的另一端与所述支撑件(420)固定连接。
8.如权利要求7所述的抗磁测量杆，其特征在于，所述连接件(410)为夹板，所述支撑件(420)为磁力杆；通过所述夹板将所述抗磁测量探头(10)固定于所述磁力杆，所述磁力杆带动所述抗磁测量探头(10)移动以实现原位测量。
9.一种抗磁测量装置，其特征在于，包括如权利要求7中所述的抗磁测量杆(20)、与所述第一导电线圈(210)电连接的测量设备(510)、与所述第二导电线圈(220)电连接的供电设备(520)，所述测量设备(510)与所述供电设备(520)之间通信连接，用以监测所述测量设备(510)与所述供电设备(520)交流电压之间的相位差。
10.如权利要求9所述的抗磁测量装置，其特征在于，所述供电设备(520)与所述测量设备(510)集成于一锁相放大器，所述第一导电线圈(210)与所述锁相放大器的参考信号相连，所述第二导电线圈(220)与所述锁相放大器的输入信号相连。