技术特征：
1.检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：包括支座(1)，可拆卸安装于支座(1)的光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)，所述光源(7)、放大镜(2)和摄像镜头(8)由下至上依次布置；在光源(7)下方设有电子元件检测台，所述电子元件检测台包括与支座(1)可拆卸连接的反射本体(3)，在反射本体(3)上设有垂直贯穿反射本体(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5)，所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸；在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的检测平台(6)，所述检测平台(6)的四周标有刻度(61)，所述刻度(61)在平面镜(5)的反射范围内。2.如权利要求1所述的检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：所述通孔(4)的上端大于通孔(4)的下端。3.如权利要求1所述的检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：所述支座(1)包括左立板(11)、右立板(12)和底座(13)，所述左立板(11)和右立板(12)的一端与底座(13)固定连接；所述电子元件检测台的反射本体(3)一侧与左立板(11)螺栓连接，另一侧与右立板(12)螺栓连接。