1.一种单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，用于装夹定位待测量的单晶叶片(10)后卡装至基于X射线衍射法原理测量单晶取向的试样平台(20)上，所述单晶取向测量夹具包括：
用于卡装至所述试样平台(20)上、且卡装至所述试样平台(20)上时的安装中线与所述试样平台(20)的中线平行的卡接台(30)，所述卡接台(30)上设有用于支承、定位所述单晶叶片(10)的夹具本体(40)；
所述夹具本体(40)包括用于支承所述单晶叶片(10)以使所述单晶叶片的叶片积叠轴与所述卡接台(30)的安装中线平行的支座、用于抵顶支承于所述支座上的所述单晶叶片(10)的缘板流道面以对所述单晶叶片(10)沿其叶片积叠轴方向进行定位的第一定位块(41)、用于抵顶支承于所述支座上的所述单晶叶片(10)的榫头以对所述单晶叶片(10)沿垂直其叶片积叠轴方向进行定位的第二定位块(42)，所述支座、所述第一定位块(41)及所述第二定位块(42)均固定设置于所述卡接台(30)上。
2.根据权利要求1所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述支座包括用于支承所述单晶叶片(10)的缘板的缘板支靠块(43)、用于支承所述单晶叶片(10)的叶身的叶身支靠块(44)；
所述缘板支靠块(43)和所述叶身支靠块(44)沿所述单晶叶片(10)的叶片积叠轴方向相对间隔设置，所述单晶叶片(10)支承于所述缘板支靠块(43)和所述叶身支靠块(44)上且其叶片积叠轴与所述卡接台(30)的安装中线平行；
所述第一定位块(41)设置于所述缘板支靠块(43)和所述叶身支靠块(44)之间；
所述第二定位块(42)靠近所述缘板支靠块(43)。
3.根据权利要求2所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述叶身支靠块(44)上与所述单晶叶片(10)的叶背抵顶的面为与叶背的弧面贴合的弧面。
4.根据权利要求3所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述缘板支靠块(43)上与所述单晶叶片(10)的缘板侧边抵顶的面为与缘板侧边的平面贴合的平面。
5.根据权利要求1所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述第一定位块(41)包括与所述卡接台(30)固定的固定部，所述固定部上设有沿叶片积叠轴方向延伸以抵顶所述单晶叶片(10)的缘板流道面的定位部。
6.根据权利要求5所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述定位部上与所述单晶叶片(10)的缘板流道面抵顶的面为球面。
7.根据权利要求1所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述第二定位块(42)上与所述单晶叶片(10)的榫头侧边抵顶的面为与所述单晶叶片(10)的榫头侧边贴合的斜面。
8.根据权利要求1所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述卡接台(30)包括用于安装所述夹具本体(40)的安装板(31)，所述安装板(31)的安装中线与所述单晶叶片(10)装设于所述夹具本体(40)上时的叶片积叠轴平行；
所述安装板(31)的背面设有卡条组，以使所述安装板(31)卡装至所述试样平台(20)上且所述安装板(31)的安装中线与所述试样平台(20)的中线平行。
9.根据权利要求8所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述试样平台(20)为方形平台，包括与其中线平行的第一限位边(21)及与所述第一限位边(21)垂直的第二限位边(22)；
所述卡条组包括与所述第一限位边(21)抵靠以限位的第一卡条(32)、与所述第二限位边(22)抵靠以限位的第二卡条(33)，所述安装板(31)通过所述第一卡条(32)与所述第一限位边(21)的抵靠、所述第二卡条(33)与所述第二限位边(22)的抵靠卡装至所述试样平台(20)上。
10.根据权利要求9所述的单晶叶片的单晶取向测量夹具，其特征在于，
所述第一卡条(32)上与所述第一限位边(21)抵靠的第一限位面(321)与所述第一限位边(21)平行，所述第二卡条(33)上与所述第二限位边(22)抵靠的第二限位面(331)与所述第二限位边(22)平行；
所述安装板(31)为方形板，包括与其安装中线平行的第一侧边(311)及与所述第一侧边(311)垂直的第二侧边(312)，所述第一限位面(321)与所述第一侧边(311)平行，所述第二限位面(331)与所述第二侧边(312)平行。