一种检测设备和检测方法与流程

文档序号:12961431阅读:150来源:国知局
一种检测设备和检测方法与流程

本公开涉及测量技术领域,尤其涉及一种检测设备和检测方法。



背景技术:

目前,部分智能手机采用一体包围式金属壳体,这样可以简化制造工艺,缩短生产周期。但金属壳体对手机信号有一定的屏蔽作用,为此生产厂商采用三段式手机壳体。上述三段式手机壳体包括塑件和铝件,利用点胶将上述塑件和铝件装配到一起,手机信号透过上述三段式手机壳体两侧部的塑件进行释放。

在装配后,为保证该三段式手机壳体的质量,还需要对其装配高度尺寸进行管控。在实现本公开方案的过程中,本申请发明人发现:对手机壳体的装配高度尺寸进行管控时,通常采用高度规对多个预设位置进行测量,效率较低。



技术实现要素:

本公开提供一种检测设备和检测方法,以解决或者部分解决相关技术中的不足。

根据本公开实施例的第一方面,提供一种检测设备,所述设备包括:至少一个的第一挡块、至少一个的第二挡块和基准面板;所述第一挡块和第二挡块设置在所述基准面板上;

所述第一挡块和所述第二挡块能够沿所述基准面板所在平面往返平移;

所述第一挡块和所述第二挡块的高度差由待检测物体的预设部位的误差变化范围确定。

可选地,所述第一挡块和所述第二挡块分别固定在所述基准面板的第一表面和第二表面,所述第一表面和所述第二表面位置相对。

可选地,所述基准面板上设置有滑动块,所述第一挡块和所述第二挡块分别固定在所述滑动块的上表面和下表面;

所述基准面板的中间部位设置有与所述滑动块的宽度相匹配的通孔,所述滑动块在所述通孔内沿着自身长度方向往返平移。

可选地,所述检测设备还包括第一驱动装置,所述第一驱动装置用于驱动所述滑动块在所述通孔内沿着自身长度方向往返平移。

可选地,所述检测设备还包括至少一个的限位块;所述限位块设置在所述第一挡块和所述第二挡块平移方向的一侧,且与所述第一挡块或者所述第二挡块保持预设距离。

可选地,所述基准面板上设置有与所述第一挡块和所述第二挡块分别对应的凹槽;所述第一挡块和所述第二挡块与各自对应的凹槽通过旋转部件连接;

在非工作状态时,所述旋转部件闭合,所述第一挡块和所述第二挡块位于各自对应的凹槽中;

在工作状态时,所述旋转部件开启,所述第一挡块或者所述第二挡块垂直于所述基准面板的所在表面。

可选地,所述检测设备还包括第二驱动装置,所述第二驱动装置用于驱动所述基准面板沿自身所在平面往返平移。

可选地,所述检测设备还包括第三驱动装置,所述第三驱动装置用于驱动所述基准面板旋转180度。

可选地,所述检测设备还包括压力检测单元,所述压力检测单元的多个应变片一一对应的设置在至少一个第一挡块和至少一个第二挡块中,所述压力检测单元的处理电路用于计算每个应变片的受力并将其与预设压力比较。

可选地,所述检测设备还包括视频检测单元,所述视频检测单元的视频采集电路正对所述预设部位,用于在所述第一挡块或所述第二挡块进入所述视频采集电路的采集区域时采集视频;所述视频检测单元的处理电路处理所述视频得到所述第一挡块或所述第二挡块与所述预设部位的位置关系。

根据本公开实施例的第二方面,提供一种检测方法,基于第一方面所述的检测设备实现,所述检测设备的基准面板放置于待检测物体边沿;所述检测设备的第一挡块或第二挡块与所述待检测物体的预设部位对向设置,所述方法包括:

驱动所述第一挡块向所述预设部位平移;

当根据所述第一挡块与所述预设部位之间的位置关系确定所述第一挡块能够通过所述预设部位所在位置时,驱动所述第二挡块向所述预设部位平移;

当根据所述第二挡块与所述预设部位之间的位置关系确定所述第二挡块不能通过所述预设部位所在位置时,确定所述预设部位的高度符合管控要求。

可选地,在所述检测设备还包括第二驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第二驱动装置驱动所述基准面板沿自身所在平面往返平移。

可选地,在所述检测设备还包括第一驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第一驱动装置驱动所述滑动块在所述通孔内沿着自身长度方向往返平移。

可选地,在所述检测设备还包括第三驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第三驱动装置驱动所述基准面板旋转180度。

可选地,在所述检测设备还包括压力检测单元,且所述压力检测单元的多个应变片一一对应的设置在至少一个第一挡块和至少一个第二挡块中时,所述方法还包括:

控制所述压力检测单元的处理电路计算每个应变片的受力并比较所述受力与预设压力的大小。

可选地,在所述检测设备还包括视频检测单元,且所述视频检测单元的视频采集电路正对所述预设部位时,所述方法还包括:

控制所述视频采集电路采集位于采集区域内的所述第一挡块或所述第二挡块的视频;

控制所述视频检测单元的处理电路处理所述视频得到所述第一挡块或所述第二挡块与所述预设部位的位置关系

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:

由上述实施例可知,本公开通过在基准面板上设置至少一个第一挡块和至少一个第二挡块,通过驱动上述第一挡块或第二挡块在其所在平面上往返平移。这样在检测设备与待检测物体的预设部位对向设置时,通过驱动第一挡块或第二挡块平移确定其能否通过预设部位所在位置,当第一挡块能够通过且第二挡块不能通过时,待检测物体的预设部位的高度符合管控要求。与相关技术相比较,本公开可以提升检测速度,提高检测效率。

应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的第一种检测设备结构示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的第二种检测设备结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的第三种检测设备结构示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的第四种检测设备结构示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的第五种检测设备结构示意图。

图6是图5所示检测设备的俯视图。

图7是图6所示检测设备在a-a’方向上的剖视图。

图8是根据一示例性实施例示出的第六种检测设备结构示意图。

图9是图8所示检测设备的状态变化示意图。

图10是根据一示例性实施例示出的第七种检测设备结构示意图。

图11是根据一示例性实施例示出的第八种检测设备结构示意图。

图12是根据一示例性实施例示出的第九种检测设备结构示意图。

图13是根据一示例性实施例示出的第十种检测设备结构示意图。

图14是根据一示例性实施例示出的第十一种检测设备结构示意图。

图15是根据一示例性实施例示出的一种检测方法流程示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

图1是根据一示例性实施例示出的第一种检测设备的结构示意图。该设备适用于不同场景中腔体类结构的高度尺寸检测。本公开中仅对生活场景中常见智能手机的三段式手机壳体内电池盖的高度是否符合管控尺寸进行说明。如图1所示,手机壳体1包括铝件11和塑件12,且塑件12的预设部位13需要管控高度尺寸。检测设备2包括至少一个第一挡块21(图1中仅示出了1个)、至少一个第二挡块23(图1中仅示出了1个)和基准面板22。至少一个第一挡块21和至少一个第二挡块23设置在基准面板22上;

第一挡块21和第二挡块23能够沿基准面板22所在平面往返平移;

第一挡块21和第二挡块23的高度差根据待检测物体的预设部位的误差变化范围确定。

本实施例中,至少一个第一挡块21可以设置在基准面板22的第一表面,至少一个第二挡块23可以设置在基准面板22的第二表面;或者至少一个第一挡块21可以设置在基准面板22的第二表面,至少一个第二挡块23可以设置在基准面板22的第一表面;或者,第一挡块21和第二挡块23同时设置在第一表面(或者第二表面)。第一表面和第二表面位置相对。例如图1中第一挡块21设置在基准面板22的第一表面即其上表面,第二挡块23设置在该基准面板22的第二表面即其下表面。当基准面板22水平旋转(即图1中基准面板22上表面和下表面对调)时,此时第一表面是基准面板22的下表面,第二表面为该基准面板22的上表面。为使表述更清楚,本实施例中直接采用附图各部件的位置进行说明。

本实施例中,假设基准面板22采用精度较高的设备生产,且基准面板22第一表面和第二表面的平整度非常小,与预设部位的误差变化可以忽略不计。并且,手机壳体1两侧边缘能够承载上述基准面板22,以及使基准面板22的第二表面即下表面与预设部位13的上表面相平行。这样保证第一挡块21或者第二挡块23的端面所在平面与预设部位13的端面所在平面相平行即两端面之间不倾斜,从而保证检测精度。

本实施例中,预设部位13的高度为生产工艺中的期望高度h’(单位可以实际需要进行确定),受到相关生产工艺精度的影响,预设部位13的实际高度会发生一定的变化,与期望高度h’相比较会变低或者变高。实际应用中,由于手机壳体能够装配到预设位置,正常使用情况下不脱离手机本体即可。也就是说,手机壳体的装配过程会允许上述预设部位13的高度有一定的变化量h,即预设部位13的实际高度的变化范围为[h’-h,h’+h](可称为管控高度)。若检测预设部位的高度,且当预设位置的高度满足上述管控高度要求时,说明手机壳体合格。

本实施例中,根据预设部位13的管控高度设置第一挡块21和第二挡块23的高度,其中第一挡块21的高度(即远离固定位置的端面与基准面板22的上表面的距离)为h-h,第二挡块23的高度(即远离固定位置的端面与基准面板22的下表面的距离)为h+h。上述h为预设部位13的实际高度为期望高度h’时所对应的高度。

如图1所示,当基准面板22受到驱动力沿其所在平面平移时,带动第二挡块23向预设部位13平移。例如,驱动第二挡块23向图1中手机壳体1左侧的预设部位13平移,若该第二挡块23能够通过预设部位13,则说明该预设部位13的高度过低。本实施例中,通过是指,预设部位13与第二挡块23(或者第一挡块21)位置相错时,两者没有接触。若该第二挡块23不能通过预设部位13,则说明该预设部位13的高度满足管控高度的下限要求。然后,驱动第二挡块23向图1中手机壳体1右侧的预设部位13平移,重复上述判断过程。

之后,第一挡块21和第二挡块23的位置对调,位置对调后图1中所示第一挡块21的位置处设置第二挡块23,图1中所示第二挡块23的位置处设置第一挡块21。

当基准面板22受到驱动力沿其所在平面平移时,带动第一挡块21向预设部位13平移。例如,驱动第一挡块21向图1中手机壳体1左侧的预设部位13平移,若该第一挡块21不能通过预设部位13,则说明该预设部位13的高度过高,不符合管控高度的上限要求。若该第一挡块21能够通过预设部位13,则说明该预设部位13的高度满足管控高度的上限要求。然后,驱动第一挡块21向图1中手机壳体1右侧的预设部位13平移,重复上述判断过程。

本公开实施例提供的检测设备,平移第一挡块21或第二挡块23即可确实预设部位13的高度是否满足管控高度要求,可以省去相关技术中调整高度规的高度以及读取数据的过程。随着预设部位13长度的增加即检测点增多,本公开的检测设备所节省的时间越多,提升检测效率越明显。

在手机壳体1,或者待检测物体的腔体宽度较大时,基准面板22平移的幅度较大,造成检测设备占用空间过大;且需要上述基准面板22的长度大于上述手机壳体1(或者待检测物体的腔体)宽度的两倍,基准面板22需要较大的面板材料。为此,本公开示例性实施例还提供了第二种检测设备。如图2所示,本公开实施例提供的检测设备包括基准面板22、2个第一挡块21和2个第二挡块23。其中2个第一挡块21设置在基准面板22的上表面,2个第二挡块23设置在基准面板22的下表面。当将基准面板22放置在手机壳体1的两边缘上后,第二挡块23与预设部位13之间的距离l将小于图1中两者的距离,这样基准面板22仅需要左右平移l或者略超过l即可。随着待检测物体腔体的增加,本公开检测设备空间利用率越高,面板材料利用率也越高。

在上述实施例的基础上,本公开一示例性实施例还提供了第三种检测设备和第四种检测设备。图3所示第三种检测设备与图1所示第一种检测设备相对应,图4所示第四种检测设备与图2所示第二种检测设备相对应,相同特征请参见对第一、第二种检测设备的描述。下面第三种检测设备相对于第一种检测设备以及第四种检测设备相对于第二种检测设备的区别在于,还包括至少一个限位块24。如图3所示,在第一挡块21和第二挡块23的对应于平移方向上的两侧设置有限位块24。如图4所示,在第一挡块21和第二挡块23的对应于平移方向上的一侧设置有限位块24。上述各限位块24与其所保护的第一挡块和第二挡块保持预设距离。例如,上述预设距离可以在第一挡块21或第二挡块23不能通过预设部位13时阻止该第二挡块23继续平移,防止第一挡块21或第二挡块23变形过大影响测量精度,也可以阻止第一挡块21或第二挡块23通过预设部位13时继续平移。

本公开上述实施例介绍了将第一挡块和第二挡块分别设置在基准面板的第一表面和第二表面的情形,即第一挡块21固定在基准面板22的第一表面,第二挡块23固定在基准面板22的第二表面,然后驱动力施加到基准面板22使各挡块平移检测,导致基准面板22的宽度远大于手机壳体1的宽度,以及多次使用基准面板22的上下表面可能受到磨损进而影响到检测精度。为此,本公开一示例性实施例还提供了第五种检测设备,如图5、图6和图7所示,该检测设备包括:第一挡块21、第二挡块23、基准面板22和滑动块25。第一挡块21和第二挡块23分别固定在滑动块25的上表面或下表面(具体方式可以参见第一种、第二种检测设备中第一挡块21和第二挡块23的设置方式)。在基准面板22的中间部位设置通孔26,该通孔26的宽度与滑动块25的宽度相匹配,以供滑动块25在通孔26内沿着自身长度方向往返平移。

图6为图5所示检测设备的俯视图,图7为图6所示检测设备在a-a’方向上的剖视图。参见图5、图6和图7,滑动块25的左侧和右侧分别设置有凸起27,基准面板22设置有与上述凸起27相匹配的卡槽,这样在滑动块25与基准面板22的接触位置处,参见图7,凸起27与卡槽咬合,实现固定滑动块25的目的。如图6所示,当基准面板22放置在手机壳体1上时,驱动滑动块25左右平移即可。

实际应用中,本实施例中通孔26的长度可以根据滑动块的长度、第一挡块或第二挡块到达位置综合设置。例如,在尺寸上限块21不能通过图5左侧的预设部位13时,滑动块25的左侧恰好与通孔26的左侧接触,这样滑动块25和通孔26实现了限位的作用,保护第一挡块和第二挡块不发生变形。另外,基准面板22不需要平移,减少磨损的可能性;以及基准面板22的长度仅略大于上述通孔的长度即可,减少检测设备所占空间以及使用的面板材料。

当然,还可以将通孔26设置为“l”、“t”或“工”字形,滑动块25在通孔26内沿着自身长度方向平移,然后再垂直于自身长度方向平移,可以适用于预设位置13较长时检测的情况。

本公开上述实施例介绍了将第一挡块和第二挡块分别设置在基准面板的第一表面和第二表面的情形,本公开一示例性实施例还提供了第六种检测设备。如图8所示,该检测设备包括第一挡块21、基准面板22和第二挡块23。在基准面板22上设置有与第一挡块21和第二挡块23相对应的凹槽28。如图9所示,第一挡块21和第二挡块23与其相对应的凹槽28通过旋转部件29连接。

在常态时,旋转部件29闭合,第一挡块21和第二挡块23分别位于相对应的凹槽28中;在工作时,旋转部件29开启,第一挡块21或者第二挡块23垂直于基准面板的所在表面。然后在基准面板22上施加驱动力即可,后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

可见,本实施例中检测设备仅需要分别从凹槽28中取出第一挡块21或者第二挡块23即可,这样无需对调如图1中第一挡块21和第二挡块23的位置。

可理解的是,图8与图9中仅介绍了第一挡块21和第二挡块23设置在基准面板22同一表面的情况,根据实际需要,两者也可以分别设置在不同的表面,本领域技术人员可以根据上述内容进行设置,在此不再赘述。

本公开一示例性实施例还提供了第七种检测设备,如图10所示,与第一种、第二种、第三种、第四种和第六种检测设备相比较,该检测设备还包括第二驱动装置3。该驱动装置3包括支架31、驱动电机32和连接夹33。连接夹33固定住基准面板22的一端,然后驱动电机32驱动连接夹33带动基准面板22按照预设方向(如图10中向左或者向右)向预设部位13平移,后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

本公开一示例性实施例还提供了第八种检测设备,如图11所示,与第七种检测设备相比较,该检测设备还包括第一驱动装置,该第一驱动装置是将第二驱动装置3中的连接夹33采用齿轮34替代而成。齿轮34固定在驱动电机32的驱动轴上。此时基准面板22上设置有与上述齿轮34相匹配的齿条29’。如图11中b-b’方向上的剖视图,齿轮34与上述齿条29’啮合,在驱动电机32工作时,带动基准面板11向图11的左侧或者右侧平移。后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

本公开一示例性实施例还提供了第九种检测设备,与如图12所示,与第八种检测设备相比较,驱动装置3可以同时包括连接夹33和齿轮34,这样连接夹33可以固定住滑动块25、第一挡块21或者第二挡块23,齿条29’设置在支架31上,齿轮34与齿条29’啮合如c-c’方向上的剖面图所示。这样驱动电机32工作时带动滑动块25向图12的左侧或者右侧平移。后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

本公开一示例性实施例还提供了第十种检测设备,如图13所示,与第一种、第二种、第三种、第四种和第五种检测设备相比较,该检测设备还包括第三驱动装置4。该驱动装置4包括支架(图中未示出,可以参考图10所示支架31)、驱动电机41和连接夹42。连接夹43固定住基准面板22的一端,然后驱动电机41驱动连接夹42带动基准面板22围绕驱动电机41的驱动轴旋转180度,即对调第一挡块21和第二挡块23的位置。在第三驱动装置4调整基准面板22位置的过程中,连接夹33需暂时远离基准面板。后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

本公开一示例性实施例还提供了第十一种检测设备,如图14所示,与上述各实施例提供的检测设备相比较,该检测设备还包括压力检测单元5。参见图14中d-d’方向上剖视图,该压力检测单元5包括多个应变片,且各应变片一一对应的设置在第一挡块21和第二挡块23中。在第一挡块21或者第二挡块23不能通过预设部位13即两者接触时,第一挡块21或者第二挡块23会发生变形,应变片发生线性变化并将变化量发送给压力检测单元5的处理电路(图中未示出),处理电路计算应变片的受力,并将其与预设压力相比较。当上述受力大于预设压力时,说明第一挡块21或者第二挡块23不能通过预设部位13,此时处理电路生成指示预设部位13高度过低或者过高的提示信息。处理电路还可以将上述受力与预设压力直接显示,供检测人员使用。后续检测过程请参考第一种或者其他检测设备的工作过程。

上述预设压力可以根据检测设备所受驱动力进行设置,也可以根据挡块材料的受力特性设置,本申请不作限定。

本公开一示例性实施例还提供了第十二种检测设备,与上述各实施例提供的检测设备相比较,该检测设备还包括视频检测单元。如图14所示,该视频检测单元中视频采集电路正对预设部位13,且视频采集电路可以获取区域6范围内的视频。当第一挡块21或者第二挡块23进入区域6时,视频采集电路采集区域6内的视频。然后视频检测单元的处理电路处理上述视频从而可得到第一挡块21或者第二挡块23与预设部位13的位置关系,并根据上述位置关系生成相应的信息或者指令。例如,视频检测单元向第一驱动装置或者第二驱动装置发送控制指令,使该第二驱动装置驱动基准面板沿自身所在平面往返平移,或者使第一驱动装置驱动滑动块25在通孔26内沿着自身长度方向往返平移。当第一挡块21经过预设部位13所在位置时,视频采集电路获取区域6内的视频,处理电路处理上述视频后得到第一挡块21和预设部位13的位置关系。当第一挡块21不能通过预设部位13所在位置时,处理电路生成指示预设部位13的高度过高的提示信息(报警或者显示)。当第一挡块21通过预设部位13所在位置时,处理电路生成继续发送控制指令给第三驱动装置,控制第三驱动装置驱动所述基准面板旋转180度,然后使该第二驱动装置驱动基准面板沿自身所在平面往返平移,或者使第一驱动装置驱动滑动块25在通孔26内沿着自身长度方向往返平移。当第二挡块23经过预设部位13所在位置时,视频采集电路获取区域6内的视频,处理电路处理上述视频后得到第二挡块23和预设部位13的位置关系。当第二挡块23能够通过预设部位13所在位置时,处理电路生成指示预设部位13的高度过低的提示信息(报警或者显示);当第二挡块23不能通过预设部位13所在位置时,处理电路生成指示预设部位13的高度符合管控要求的提示信息。

图15是根据一示例性实施例示出的一种检测方法的流程示意图。如图15所示,该方法基于上述各实施例提供的检测设备实现,将检测设备的基准面板放置于待检测物体边沿,且保证检测设备的第一挡块或第二挡块与待检测物体的预设部位对向设置,该方法包括:

驱动所述第一挡块向所述预设部位平移;

当根据所述第一挡块与所述预设部位之间的位置关系确定所述第一挡块能够通过所述预设部位所在位置时,驱动所述第二挡块向所述预设部位平移;

当根据所述第二挡块与所述预设部位之间的位置关系确定所述第二挡块不能通过所述预设部位所在位置时,确定所述预设部位的高度符合管控要求。

需要说明的是,上述检测方法中驱动第一挡块和驱动第二挡块的顺序可以互换,且互换前后的检测结果相同。

需要说明的是,判断第一挡块或第二挡块与预设部位的位置关系时,可以由压力检测单元或者视频检测单元完成。并且,压力检测单元或者视频检测单元分别与第一驱动装置、第二驱动装置和第三驱动装置连接(通信连接或者电连接),这样,各驱动装置可以接受压力检测单元或者视频检测单元的控制。

在所述检测设备还包括第二驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第二驱动装置驱动所述基准面板沿自身所在平面往返平移。

在所述检测设备还包括第一驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第一驱动装置驱动所述滑动块在所述通孔内沿着自身长度方向往返平移。

在所述检测设备还包括第三驱动装置时,所述方法还包括:

控制所述第三驱动装置驱动所述基准面板旋转180度。

在所述检测设备还包括压力检测单元,且所述压力检测单元的多个应变片一一对应的设置在至少一个第一挡块和至少一个第二挡块中时,所述方法还包括:

控制所述压力检测单元的处理电路计算每个应变片的受力并比较所述受力与预设压力的大小。

在所述检测设备还包括视频检测单元,且所述视频检测单元的视频采集电路正对所述预设部位时,所述方法还包括:

控制所述视频采集电路采集位于采集区域内的所述第一挡块或所述第二挡块的视频;

控制所述视频检测单元的处理电路处理所述视频得到所述第一挡块或所述第二挡块与所述预设部位的位置关系。

对于方法实施例而言,由于其基本对应于设备实施例,所以相关之处参见设备实施例的部分说明即可。以上所描述的设备和方法实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。

在示例性实施例中,本公开还提供了一种非临时性计算机可读存储介质,例如包括指令的存储器,上述指令可由处理设备的处理器执行以完成上述处理方法。例如,所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

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