本实用新型属于探测器测试领域，特别是涉及一种测试夹具及探测器MTF测试系统。
背景技术：
X射线探测器经历了百年的发展，由传统的胶片式逐渐发展至当今的数字式，这其中又经历了CR探测器、CCD X射线探测器、CCD拼接式X射线探测器以及目前最为主流的X射线平板探测器。X射线平板探测器可以捕获X光，将被测物体的X射线影像转变为数字图像以便于查看、分析、存储以及传播，其被广泛应用于医疗、生物、材料和工业检测等领域。
X射线平板探测器可分为直接成像式和间接成像式两种，直接成像式探测器直接将X射线转变为电信号，而间接成像式探测器结构由闪烁材料或荧光材料层、具有光电二极管作用的非晶硅层以及TFT阵列构成，先采用一层闪烁体或荧光材料将X射线变为可见光，再由可见光探测器将其转变为电信号。在获取电信号后，探测器通过滤波、放大以及模数转换后，将数据按照一定的格式传送给计算机进行显示和存储。
MTF为探测器对比度空间频率转移函数，用来表示探测器对于图像细节的分辨能力，在系统应用的空间频率范围内，MTF值越高，则空间频率特性越好，对于影像系统来说，可以获得更好的图像对比度。由于对探测器进行MTF测试时，需要将钨片以一定角度的要求放置，而现有技术中并没有相应的测试夹具，因此，需要操作人员按照经验摆放钨片，如果角度不在要求范围内，需要多次调整，直到角度符合要求，而且因为不同批次的测试、不同操作人员的经验关系等因素的影响，每次测试时钨片摆放的角度、位置均不相同，导致每次测试结果都会有相应的偏差；并且多次调整钨片位置也会浪费测试时间。
鉴于此，有必要设计一种新的测试夹具及探测器MTF测试系统用以解决上述技术问题。
技术实现要素：
鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种测试夹具及探测器MTF测试系统，解决了现有技术中对探测器进行MTF测试时钨片的摆放位置及角度均不相同，影响测试结果及测试时多次调整钨片，浪费时间的问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种测试夹具，所述测试夹具包括
夹具本体；
位于所述夹具本体任意两侧边的固定装置；
位于所述夹具本体上、并贯穿所述夹具本体的钨片放置区；以及
位于所述钨片放置区两侧的把手；
其中，在水平方向上，所述钨片放置区与夹具本体具有一定的倾斜角度。
优选地，所述倾斜角度为1.5～3度。
优选地，所述夹具本体的厚度大于等于0.2cm。
优选地，所述固定装置为与所述夹具本体任意两侧边连接的螺孔，及与所述螺孔配合的螺钉。
本实用新型还提供一种探测器MTF测试系统，所述测试系统包括：
探测器；
如上述任一项所述的测试夹具，其中，所述测试夹具通过固定装置固定在所述探测器的照射面上；以及
位于所述钨片放置区内的钨片。
优选地，所述夹具本体的形状与探测器照射面的形状相同。
优选地，所述夹具本体的各侧边分别与对应的探测器照射面的各侧边对齐。
优选地，所述钨片放置区的形状与钨片的形状相同。
优选地，所述钨片放置区的各侧边长度大于对应的钨片的各侧边长度。
如上所述，本实用新型的测试夹具及探测器MTF测试系统，具有以下有益效果：通过固定装置将所述测试夹具固定在探测器照射面上，并在所述钨片放置区放置钨片，由于钨片放置区本身就是带有一定倾斜角度，所以在使用该测试夹具时，无需在人为调整钨片的摆放位置及角度，而且一次实现测试，减少测试时间的浪费。
附图说明
图1显示为本实用新型实施例一所述测试夹具的结构示意图。
图2显示为本实用新型实施例二所述测试系统的结构示意图。
图3显示为本实用新型实施例二所述测试系统移除测试夹具后的结构示意图。
元件标号说明
1 测试夹具
11 夹具本体
12 固定装置
13 钨片放置区
14 把手
2 探测器
3 钨片
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。
请参阅图1至图3。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本实用新型可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本实用新型可实施的范畴。
实施例一
如图1所示，本实施例提供一种测试夹具1，所述测试夹具1包括：
夹具本体11；
位于所述夹具本体11任意两侧边的固定装置12；
位于所述夹具本体11上、并贯穿所述夹具本体11的钨片放置区13；以及
位于所述钨片放置区13两侧的把手14；
其中，在水平方向上，所述钨片放置区13与夹具本体11具有一定的倾斜角度。
具体的，所述夹具本体11的形状及大小与待测探测器照射面的形状及大小完全相同，即所述夹具本体11的各个侧边与对应的探测器照射面的各个侧边完全对齐。
具体的，所述夹具本体11的厚度大于等于0.2cm。
需要说明的是，所述夹具本体11的厚度与其平整度相关，如果所述夹具本体11的厚度太小，所述夹具本体11的平整度就会变差，故为了保证所述夹具本体11的平整度，其厚度不能太小。但也尽量不要让所述夹具本体11的厚度太厚，如果夹具本体11的厚度太厚，其重量就会较大，不便于搬运。
优选地，在本实施例中，所述夹具本体11的厚度为0.5cm。
具体的，所述夹具本体11的材料为电木片或金属；优选地，在本实施例中，所述夹具本体11的材料为电木片。
具体的，所述固定装置12为与所述夹具本体任意两侧边连接的螺孔，及与所述螺孔配合的螺钉。优选地，所述螺钉为塑料钉。当然，在其它实施例中，所述固定装置12还可以为其它任意可实现固定功能的装置及结构。
具体的，所述钨片放置区13的形状与钨片的形状相同，但钨片放置区13的大小要大于所述钨片的大小，即所述钨片放置区13的各侧边长度大于对应的钨片的各侧边长度。优选地，在本实施例中，所述钨片的形状为正方形，所述正方形的边长为14cm；故所述钨片放置区13的形状也为正方形，该正方形的长度为14.2cm。
需要说明的是，对于不同探测器，所述钨片放置区13在所述夹具本体11上的位置可能不同。
具体的，所述倾斜角度为1.5～3度。优选地，在本实施例中，所述倾斜角度为2.25度；当然，在其它实施例中，所述倾斜角度还可以为1.5度、1.8度、2度、2.5度、2.7度或3度等。
实施例二
如图2所示，本实施例提供一种探测器MTF测试系统，所述测试系统包括：
探测器2；
如实施例一所述的测试夹具1，其中，所述测试夹具1通过固定装置12固定在所述探测器的照射面上；以及
位于所述钨片放置区13内的钨片3。
具体的，所述夹具本体11的形状及大小与待测探测器照射面的形状及大小完全相同，即所述夹具本体11的各个侧边与对应的探测器照射面的各个侧边完全对齐；优选地，在本实施例中，所述探测器照射面的形状为长方形，故所述夹具本体11的形状也为长方形；并且所述夹具本体11的长与探测器照射面的长相等，且所述夹具本体11的宽与所述探测器照射面的宽相等。
具体的，所述钨片放置区13的形状与钨片的形状相同，但钨片放置区13的大小要大于所述钨片3的大小，即所述钨片放置区13的各侧边长度大于对应的钨片3的各侧边长度。优选地，在本实施例中，所述钨片3的形状为正方形，所述正方形的边长为14cm；故所述钨片放置区13的形状也为正方形，该正方形的长度为14.2cm。
需要说明的是，对于不同探测器，所述钨片放置区13在所述夹具本体11上的位置可能不同。
下面请参阅图2和图3对本实施例中探测器MTF测试系统的测试情况进行说明。
首先，通过把手14将测试夹具1放置在探测器照射面上，并通过固定装置12将测试夹具1固定在探测器2上；之后，将钨片3放置在钨片放置区13内，此时，钨片3的相邻双边与对应的钨片放置区13的相邻双边靠拢；然后通过把手14将测试夹具1移开，再对探测器2进行MTF测试。
综上所述，本实用新型的测试夹具及探测器MTF测试系统，具有以下有益效果：通过固定装置将所述测试夹具固定在探测器照射面上，并在所述钨片放置区放置钨片，由于钨片放置区本身就是带有一定倾斜角度，所以在使用该测试夹具时，无需在人为调整钨片的摆放位置及角度，而且一次实现测试，减少测试时间的浪费。
上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。