测试模组及转接电路板的制作方法

本实用新型涉及显示屏模组测试领域，特别是涉及一种测试模组及转接电路板。

背景技术：

模组厂所生产的显示屏模组，一般在出厂时都要进行功能测试。其测试方法通常是将待测模组扣接到测试板上进行测试。然而，若待测模组上用于测试的FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)较短时，则测试人员往往不容易将其扣接到测试板上，因此会造成操作上的不便，且在此种情况下测试板的边角和待测模组相互近距离抵接，很容易刮花模组，造成模组外观不良。并且，由于用于测试的FPC较短，因此在搭接拉扯时，特别容易将其撕裂，而造成功能不良。

基于上述问题，一般模组厂会加入一个测试转接FPC。在测试时，即在待测模组的FPC较短时，加入一测试转接FPC，通过测试转接FPC将测试板与待测模组相连接。但是，在这种情况下，测试人员有可能不按照要求加入测试转接FPC，而不可避免地产生上述问题。也就是说仅仅依靠测试人员监控无法确保在测试时，测试人员一定会按照要求加入测试转接FPC进行测试。

技术实现要素：

基于此，有必要针对待测模组上用于测试的FPC较短时，在需要接入测试转接FPC进行测试时，由于无法确保测试人员能够按照要求加入测试转接FPC进行测试的问题，提供一种能够对测试转接FPC的接入情况进行管控，从而可降低产品质量风险以及降低人工管理成本的防呆型测试模组及转接电路板。

一种测试模组，包括：测试电路板、转接电路板以及反馈装置；所述测试电路板设置有一个电压检测针脚、一个电源针脚以及一个接地针脚，所述电压检测针脚与所述反馈装置连接；所述转接电路板设置有第一测试线、第二测试 线、第三测试线以及第四测试线，所述第一测试线与所述电压检测针脚连接，所述第二测试线与所述电源针脚连接，所述第三测试线与所述接地针脚连接，所述第一测试线通过所述第四测试线与所述第二测试线连接，所述第一测试线上串联设置有第一电阻，所述第四测试线上串联设置有第二电阻。

在其中一个实施例中，所述反馈装置包括电压显示装置，所述电压显示装置与所述电压检测针脚连接。

在其中一个实施例中，所述反馈装置包括报警装置，所述报警装置与所述电压检测针脚连接。

在其中一个实施例中，所述转接电路板为柔性电路板。

在其中一个实施例中，所述转接电路板还设置有第一接口，所述第一接口至少设置有第一针脚、第二针脚和第三针脚，所述第一测试线通过所述第一针脚与所述电压检测针脚连接，所述第二测试线通过所述第二针脚与所述电源针脚连接，所述第三测试线通过所述第三针脚与所述接地针脚连接。

在其中一个实施例中，所述转接电路板还设置有第二接口，所述第二接口至少设置有三个外接针脚，三个所述外接针脚分别与所述第一测试线、所述第二测试线以及所述第三测试线连接。

在其中一个实施例中，所述第一电阻的第一端与所述第一针脚连接，所述第一电阻的第二端与一所述外接针脚连接，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端与所述第二测试线连接。

在其中一个实施例中，所述转接电路板还设置有第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第一针脚连接，所述第三电阻的第二端分别与所述第一电阻的第一端及所述第二电阻的第一端连接。

在其中一个实施例中，所述测试电路板还设置有第三接口，所述电压检测针脚、所述电源针脚以及所述接地针脚均设置于所述第三接口，所述第三接口卡接于所述第一接口。

一种转接电路板，用于转接测试电路板，所述转接电路板设置有第一测试线、第二测试线、第三测试线以及第四测试线，所述第一测试线用于与所述测试电路板的电压检测针脚连接，所述第二测试线用于与所述测试电路板的电源 针脚连接，所述第三测试线用于与所述测试电路板的接地针脚连接，所述第一测试线通过所述第四测试线与所述第二测试线连接，所述第一测试线上串联设置有第一电阻，所述第四测试线上串联设置有第二电阻。

上述测试模组，通过在转接电路板上的第一测试线上串接第一电阻，在第四测试线上串接第二电阻，使得转接电路板与测试电路板及待测模组连接后，由第一测试线、第二测试线、第四测试线及第一电阻与第二电阻能够形成闭合回路，因此会产生回路电压，连接于第一测试线上的测试电路板的电压检测针脚获取该回路电压信号，并将电压信号进行模数转换后传输至反馈装置，反馈装置根据电压信号产生反馈信号，从而使得测试人员获知转接电路板是否在测试中被接入。这样不仅能够对转接电路板的接入情况进行防呆管控，且有效降低了产品质量风险以及人工管理成本。

附图说明

图1为一实施例的测试模组的内部结构示意图；

图2为一实施例的测试模组的外部结构示意图；

图3为另一实施例的测试模组的内部结构示意图；

图4为一实施例的测试模组的电路图；

图5为另一实施例的测试模组的电路图；

图6为另一实施例的测试模组的内部结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施方式。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本实用新型的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用 的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“顶部”、“底部”、“底端”、“顶端”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

例如，一种测试模组，包括：测试电路板、转接电路板以及反馈装置；所述测试电路板设置有一个电压检测针脚、一个电源针脚以及一个接地针脚，所述电压检测针脚与所述反馈装置连接；所述转接电路板设置有第一测试线、第二测试线、第三测试线以及第四测试线，所述第一测试线与所述电压检测针脚连接，所述第二测试线与所述电源针脚连接，所述第三测试线与所述接地针脚连接，所述第一测试线通过所述第四测试线与所述第二测试线连接，所述第一测试线上串联设置有第一电阻，所述第四测试线上串联设置有第二电阻。

例如，一种转接电路板，用于转接测试电路板，所述转接电路板设置有第一测试线、第二测试线、第三测试线以及第四测试线，所述第一测试线用于与所述测试电路板的电压检测针脚连接，所述第二测试线用于与所述测试电路板的电源针脚连接，所述第三测试线用于与所述测试电路板的接地针脚连接，所述第一测试线通过所述第四测试线与所述第二测试线连接，所述第一测试线上串联设置有第一电阻，所述第四测试线上串联设置有第二电阻。

在一个实施例中，请参阅图1及图2，一种测试模组10，包括：测试电路板100、转接电路板200以及反馈装置(图未示)。其中，所述测试电路板100设置有测试电路，所述测试电路与所述反馈装置连接，所述转接电路板200相当于过渡连接线，用于连接线路，其作用在于当待测模组300难以与所述测试电路板100直接连接进行测试时，通过在所述测试电路板100与所述待测模组300之间搭接所述转接电路板200，以便于实现所述待测模组300顺利完成测试。而最终用于判断测试结果的信息传输至所述反馈装置，例如，所述反馈装置可以为一电压显示装置或报警装置等其他能够通过反馈信号反馈测试结果的装 置，例如，当测试的结果为没有接入转接电路板的情况时，反馈装置则会动作，将用于测试的画面锁死，使得模组测试无法进行，这样便可以提醒测试人员接入转接电路板，再进行测试。也就是说，测试人员通过所述反馈装置即可了解到所述待测模组300、所述转接电路板200以及所述测试电路板100之间的连接情况，继而分析判断，所述转接电路板200是否被接入到所述测试电路板100与待测模组300之间。

具体地，例如，所述测试电路板100设置有一个电压检测针脚110、一个电源针脚120以及一个接地针脚130，所述电压检测针脚110与所述反馈装置连接，且电压检测针脚110、电源针脚120以及接地针脚130均与测试电路连接，测试电路用于将电压检测针脚110、电源针脚120以及接地针脚130采集到的信号进行逻辑处理，并发送至反馈装置；其中，所述电压检测针脚110为具有模数转换功能的针脚，用于获取与其连接的回路电压信号，并将该电压的模拟信号转换为数字信号。

本实施例中，所述转接电路板200设置有第一测试线210、第二测试线220、第三测试线230以及第四测试线240，所述第一测试线210与所述电压检测针脚110连接，所述第二测试线220与所述电源针脚120连接，所述第三测试线230与所述接地针脚130连接，所述第一测试线210通过所述第四测试线240与所述第二测试线220连接，所述第一测试线210上串联设置有第一电阻211，所述第四测试线240上串联设置有第二电阻241。也就是说，第一测试线210包括第一电阻211以及位于第一电阻211两侧的测试线，两侧的测试线分别连接该第一电阻，使得第一电阻串联在第一测试线上；同样的，第四测试线240包括第二电阻241以及位于第二电阻两侧的测试线，两侧的测试线分别连接该第二电阻，使得第二电阻串联在第四测试线上；例如，所述第一测试线210与所述第二测试线220并联，所述第一电阻211与所述第二电阻241并联，且阻值相同。也就是说，各个电阻两端的电压均相同，例如，预设每个电阻两端的电压均为VDD。需要说明的是，所述第一电阻211与所述第二电阻241的电阻值也可以不一样，具体关于电压的计算同上，在此不再赘述。

应该理解的是，所述测试电路板100还可以设置有多个针脚与转接电路板 200连接，所述转接电路板200还可以设置有多个测试线与测试电路板100的其他针脚连接，用于传输其他信号，本实施例中不累赘描述。

由于在所述转接电路板200的连接线上串接有电阻，使得所述转接电路板200在接通所述测试电路板100和/或待测模组300时，所述转接电路板200上会形成测试电压。通过该测试电压可以分析判断下述几种模组的连接情况：转接电路板200与待测模组300均没有与测试电路板100连接；转接电路板200与待测模组300，其中一个与测试电路板100连接；转接电路板200与待测模组300均与测试电路板100连接。在上述不同的连接情况下，所测得的测试电压值并不相同，其中测试电压值通过所述反馈装置具体指示，测试人员通过所述反馈装置的反馈结果分析判断具体的连接情况。

可以理解的是，所述转接电路板200实质由多根导线组成，当所述转接电路板200搭接至所述测试电路板100与待测模组300之间时，所述转接电路板200上不会有电压形成。所以对于是否接入所述转接电路板200的判断，监控人员很难了解到测试人员是否有接入所述转接电路板200进行测试。而当在所述转接电路板200的连接线路上串接并联或串联连接的电阻时，这样使得所述转接电路板200在不同的测试连接情况下，由各连接线及电阻所形成的回路上的电压情况也不相同，这样测试人员只要监控所述转接电路板200上的电压，即可了解到所述转接电路板200的具体连接情况。另外，也可以通过上位显示设备的系统软件自动监视所述转接电路板200上的电压，继而给出相应的测试结果。

上述测试模组，通过在转接电路板上的第一测试线210上串接第一电阻211，在第四测试线240上串接第二电阻241，使得转接电路板200与测试电路板100及待测模组300连接后，由第一测试线210、第二测试线220、第四测试线240及第一电阻211与第二电阻241能够形成闭合回路，因此会产生回路电压，连接于第一测试线210上的测试电路板100的电压检测针脚110获取该回路电压信号，并将电压信号进行模数转换后传输至反馈装置，通过反馈装置可以获得所形成的闭合回路上的电压。测试人员根据所测得的电压数值，可以准确判断在测试电路板100、转接电路板200以及待测模组300之间的接入情况。并通过 与电压检测针脚110连接的反馈装置，在判断出测试电路板与待测模组之间没有接入转接电路板时，则反馈装置会将测试画面锁死，使得测试工作无法进行，从而提醒测试人员调整测试，接入转接电路板200进行测试。这样不仅能够对转接电路板200的接入情况进行防呆管控，且有效降低了产品质量风险以及人工管理成本。

为了准确显示通过所述电压检测针脚所获取到的测试电压值，例如，所述反馈装置包括电压显示装置，所述电压显示装置与所述电压检测针脚110连接。即所述电压显示装置通过所述电压检测针脚所获取的测试电压信号，经过模数转换后，在所述电压显示装置中准确反馈出测试电压值。可以理解的是，所述电压显示装置为一数字显示器，测试人员可以直观地读取到测试电压值。这样当所述测试电路板100与转接电路板200及待测模组300处于不同的连接情况时，相应地所述电压显示装置将会显示出不同的电压值。例如，所述反馈装置包括报警装置，所述报警装置与所述电压检测针110脚连接。其中在逻辑设置中，将所述转接电路板未接入到所述测试电路板与所述待测模组之间的情况，使得所述报警装置动作报警，其他情况不做报警。这样通过设置报警装置，能够及时有效地提醒测试人员没有接入转接电路板，同时监视人员也可以通过翻阅所述报警装置的报警记录，了解监控检测人员是否按照标准要求接入转接电路板进行检测。

为了便于所述转接电路板200顺利搭接于所述测试电路板100及待测模组300上，例如，所述转接电路板200为柔性电路板。也就是说，所述转接电路板200具有较好的柔韧性以及轻便性，以便于使用。例如，可以通过弯折所述转接电路板200，以满足对不同待测模组的检测。

为了便于快速、准确地将所述转接电路板200插接于所述测试电路板100上，例如，如图3所示，所述转接电路板200还包括第一接口250，所述第一接口250设置有第一针脚251、第二针脚252和第三针脚253，所述第一测试线210通过所述第一针脚251与所述电压检测针脚110连接，所述第二测试线220通过所述第二针脚252与所述电源针脚120连接，所述第三测试线230通过所述第三针脚253与所述接地针脚130连接。其中在所述第一接口250内设置的所 述第一针脚251、所述第二针脚252以及所述第三针脚253与所述测试电路板100上的所述电压检测针脚110、电源针脚120以及接地针脚130一一对应。这样当所述第一接口250靠近所述测试电路板100时，所述测试电路板100上的各个针脚则便能够顺利地与所述第一接口250中的各个针脚对接，从而使得所述转接电路板200的内部电路与所述测试电路板100的测试电路能够顺利连接，也就是说在进行搭接所述转接电路板200时，无需测试人员专门地进行分别对准连接各个针脚并进行固定，这样一方面提高了检测效率，另一方面也能够确保正确连接测试线路。

为了使得所述转接电路板顺利连接待测模组，例如，所述转接电路板200还包括第二接口260，所述第二接口260设置有三个外接针脚261，三个所述外接针脚261分别与所述第一测试线210、所述第二测试线220以及所述第三测试线230连接。可以理解的是，待测模组300一般具有电源接口、负极接口以及接地接口，这样在测试时，将所述第二接口卡接于待测模组上，使得各个接口分别与所述第二接口中的对应针脚连接，从而使得所述转接电路板200能够与待测模组300顺利连接，相比于通过人工分别进行各个针脚的连接后再进行固定而言，通过接口的方式便无需人工或采用其他方式进行各个针脚的固定连接，从而极大地节省了人工成本。

为了使得所述测试电路板能够与所述转接电路板顺利搭接，例如，所述测试电路板100包括第三接口140，所述电压检测针脚110、所述电源针脚120以及所述接地针脚130均设置于所述第三接口140，所述第三接口140卡接于所述第一接口250。也就是说，所述测试电路板与所述转接电路板可通过所述第一接口与所述第二接口相互卡紧连接。可以理解的是，所述第三接口140与所述第一接口250的宽度不相同，能够使得其中一个接口容置于另一接口中，从而使得所述测试电路板100与转接电路板200能够可靠相连。

为了准确地通过所述反馈装置所获取的测试电压值，判断所述转接电路板200与所述测试电路板100及待测模组300的接入情况，关于所述转接电路板200中所连接的电阻情况如下。

例如，所述第一电阻211的第一端与所述第一针脚251连接，所述第一电 阻211的第二端与一所述外接针脚261连接，所述第二电阻241的第一端与所述第一电阻211的第一端连接，所述第二电阻241的第二端与所述第二测试线220连接。也就是说，所述第一电阻211与所述第二电阻241并联连接。

例如，当所述转接电路板200与所述待测模组300均没有与所述测试电路板100连接，此时，所述电压检测针脚110悬空，则所述反馈装置将不会有任何反馈信息，测试人员根据此种状态的显示，可以判断出所述转接电路板200及待测模组300均没有接入到测试电路板100中。

例如，如图4所示，当所述转接电路板200与所述测试电路板100连接，而没有连接待测模组300时，则其中所述第二电阻241与所述第一测试线210、第二测试线220以及所述第四测试线240构成闭合回路，所述电压检测针脚110获取所述第二电阻241两端的电压，所测得的电压其实也是所述电源测试针脚120与所述电压检测针脚110之间的电压。例如，在所述第一电阻211及所述第二电阻241值相同的情况下，所述电压显示装置显示电压值为VDD。测试人员根据所读取到的电压值VDD，可以判断出，所述测试电路板只与所述转接电路板连接，而没有连接待测模组。

例如，当所述测试电路板100与所述待测模组300直接连接，而没有接入所述转接电路板200时，则所述电压检测针脚所获取的是所述测试电路板100与所述待测模组300所组成的无阻抗的电路中的电压，也就是说所获取的电压值为0。例如，测试人员根据所述电压显示装置所显示的电压值为0，可判断出所述转接电路板200并没有接入到测试电路板100中。此时，所述反馈装置根据所述电压针脚110获取的该电压值，做出锁死测试画面的动作，提醒测试人员，转接电路板200没有接入到测试电路中，需要接入后再进行测试，即起到防呆测试的目的。

例如，如图5所示，当所述测试电路板100通过所述转接电路板200与所述待测模组300连接。即为正常的测试程序，此时，所述第一测试线210、所述第二测试线220、所述第四测试线240以及所述第一电阻211及所述第二电阻241形成两个闭合电路网，所述第一电阻211与所述第二电阻241两端均具有电压，则所述电压检测针脚110将获取到两个电阻并联连接时其两端的电压值， 例如，同样在当在所述第一电阻211及所述第二电阻241值相同的情况下，即可获取的电压值为VDD/2。当然在所述第一电阻211及所述第二电阻241值不相同时，对于本领域技术人员而言，可以了解并联电路的计算方法，即可得到相应的电压值，具体计算方式与上述相同，在此不再赘述。则测试人员根据该电压值可以明确该种情况下为正常的测试程序，即所述转接电路板200接入到测试回路中。此时，所述反馈装置也不再锁死画面，继续进行测试，由此极大地避免了测试人员不按照规定进行测试，从而造成产品质量风险，同时也降低了对监视测试工作的人员管理成本的投入。

为了避免由于部分电阻漏电，而成为无阻抗的导线，对测试结果造成错误指示，例如，请参阅图6，所述转接电路板200还包括第三电阻221，所述第三电阻221的第一端与所述第一针脚251连接，所述第三电阻221的第二端与所述第一电阻211的第一端及所述第二电阻241的第一端连接。也就是说，在第一测试线210上设置两个电阻，这样使得在所述测试电路板100与待测模组300之间是否接入转接电路板200的判断结果上，所测的电压值与只在所述第一测试线上串接一个电阻的情况完全不同。因此，在多增加一个电阻的情况下，无论其中那一个电阻有故障，都不会影响到对所述转接电路板200是否接入的准确判断。需要说明的是，具体在选择第一电阻211与第二电阻241时，当其阻值比线阻抗大时，例如大出1kΩ时，即使线阻远小于100Ω，也可以减少上述问题的出现。同样在当三个电阻值均相同的情况下，其具体判断如下。

例如，当所述测试电路板100只接入所述转接电路板200时，则所述电压检测针脚110获取到的电压值为2VDD，当所述待测模组300也接入到测试回路时，则所述电压检测针脚110所获取的电压值为3/2VDD，从而与上述实施例中在同种情况下的电压值完全不同。例如，当在所述第一测试线210上串接所述第一电阻211与所述第三电阻221其中有一个成为导线，依然能够测试到电压数据，但是若在所述第一测试线210上只串接一个电阻时，这样当所述第一测试线210上的电阻故障成为一根导线，则会造成当接入转接电路板200及待测模组300，所述电压检测针脚110所获取电压值为0。此种情况的出现与上述实施例中当所述测试电路板200与待测模组300直接连接的情况相混，给测试人 员造成测试困惑，从而影响到测试效率。而对于所连接的三个电阻具有不同阻值时，其电压计算结果对于本领域技术人员，在了解本实施例的基础上，能够获知其电压结果值，在此不再赘述。

例如，如图1所示，一种转接电路板200，用于转接测试电路板100，所述转接电路板200设置有第一测试线210、第二测试线220、第三测试线230以及第四测试线240，所述第一测试线210用于与所述测试电路板100的所述电压检测针脚110连接，所述第二测试线220用于与所述测试电路板100的所述电源针脚120连接，所述第三测试线230用于与所述测试电路板100的所述接地针脚130连接，所述第一测试线210通过所述第四测试线240与所述第二测试线220连接，所述第一测试线210上串联设置有第一电阻211，所述第四测试线240上串联设置有第二电阻241。即所述转接电路板200的过渡连接线上具有阻抗，也就是说，所述转接电路板200不仅仅是一个用于过渡连接测试电路板与待测模组的连接导线，这样当通过所述转接电路板接通测试电路板与待测模组时，在所形成的闭合测试回路中会形成一定的测试电压，测试人员可通过对该测试电压检测检测回路的具体连接情况，以避免测试人员在需要加入转接电路板测试时，而由于疏忽忘记加入，而造成生产质量不合格等问题。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。