技术总结
本实用新型公开了一种双金属简易测试装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体包括基座、支撑板和指示滑块，所述基座包括定位部和测试部，所述定位部顶端的一侧设有定位槽，所述定位槽上均匀分布有若干个定位孔，所述定位孔上设有定位螺丝，所述测试部两端分别设有固定部，所述支撑板的两端分别通过紧固螺丝固定于测试部两端的固定部上，所述测试部上设有若干个第一滑孔，所述第一滑孔和定位孔一一对应，所述支撑板上设有若干个第二滑孔，所述指示滑块的两端分别滑动卡接且能够贯穿于第一滑孔和第二滑孔。本实用新型结构简单，设计合理，测量准确性高，能够同时测试多组双金属的位移量，使用方便快捷且生产成本低，有利于市场化的推广和应用。
技术研发人员：张新雨;黄佳;汪联峰
受保护的技术使用者：加西亚电子电器股份有限公司
技术研发日：2017.12.28
技术公布日：2018.07.06