技术总结
本发明公开了一种同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，该同轴双曲率厚度测量装置，不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量装置的准确性和可靠性；能随时自检上探头和下探头的同轴性，保证测量数据的准确性，任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性；而且调节方便、灵活、效率高，整个装置结构简单合理。
技术研发人员：朱新强;吴群;张文轶;王佳鸣;郑锦永
受保护的技术使用者：上海舜宇恒平科学仪器有限公司
技术研发日：2018.04.08
技术公布日：2018.06.29