技术特征：
技术总结
本发明公开了一种32位MCU芯片测试系统及测试方法，该测试系统包括有ATE测试机台和嵌入式微处理器，所述ATE测试机台与嵌入式微处理器通过数据传输接口连接；嵌入式微处理器中设置有：用于完成核心计算及控制功能的控制模块、存储模块、固件更新模块、多电源管理模块、自适应接口模块、接触检测模块、扫描模块、指标测试模块和良率控制模块；本发明旨在利用多平台协同处理，对芯片模拟性能特性进行测试和良率分析，同时可以测试多种模拟参数，采用多电源控制和高精度线扫技术，整个测试和良率分析控制过程无需人为参与，能够自动完成多批次产品的良率信息并分析，便捷高效。
技术研发人员：庞新洁;周兵
受保护的技术使用者：芯海科技(深圳)股份有限公司
技术研发日：2018.12.28
技术公布日：2019.04.16