1.一种测量介质厚度的测量装置，其特征在于，包括：
下支撑台；
上支撑台，所述上支撑台通过支撑柱与所述下支撑台上下相对设置并且间隔开；
上极片，所述上极片设置在所述上支撑台的下方；
位置调节组件，所述位置调节组件的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接；
下极片，所述下极片设置在所述下支撑台的上表面；
设置在所述下极片的上表面且能够容纳待测样品粉末的腔体结构；以及
设置在所述腔体结构的外围并能够承接从所述腔体结构溢出的待测样品粉末的收纳结构。
2.根据权利要求1所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，所述腔体结构包括底壁以及设置在所述底壁的上表面的环壁。
3.根据权利要求2所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，在所述底壁的下表面设有固定环套，其中，所述固定环套套设在所述下极片的外围。
4.根据权利要求1所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，所述收纳结构构造为上端具有开口的环形槽体。
5.根据权利要求1所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，所述位置调节组件包括测微杆和微调旋钮，其中，所述测微杆的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接，所述微调旋钮设置在所述测微杆的第二端。
6.根据权利要求5所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，所述位置调节组件还包括套设在所述测微杆的中间区域的微分筒以及套设在所述微分筒的外围的粗调套筒旋钮。
7.根据权利要求6所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，在所述测微杆的外周并位于所述微分筒的下端区域设有纵向位移刻度尺。
8.根据权利要求1所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，在所述上支撑台的上表面还设有液晶显示器。
9.根据权利要求1所述的测量介质厚度的测量装置，其特征在于，在所述下支撑台的下表面还设有夹具插头。