用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的制作方法

本实用新型涉及检测治具技术领域，尤其是涉及一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具。

背景技术：

电子设备的电池盖上设置有与上盖配合的螺钉孔，由于螺纹孔的尺寸较小，加工时容易出现螺纹孔的深度尺寸过小或者过大。相关技术中，用高度规对螺纹孔的深度进行检测，但每次检测时均需要将高度规进行归零，且检测出的数据还需要和标准尺寸进行对比，给操作人员带来了较大的工作量，且检测效率较低。

技术实现要素：

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，所述用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具具有检测效率高的优点。

根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。

根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，通过设置检测块和手柄，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，操作人员可以手持检测治具的手柄，将检测治具的检测块伸入螺钉孔中，并观察检测块的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐，若发现检测块的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块轴向两端的端面均与所述检测块的轴线垂直。

在本实用新型的一些实施例中，所述检测块形成为圆柱状。

进一步地，所述检测块的直径为D，所述D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。

进一步地，所述D满足：D＝1.7mm。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块的远离所述手柄的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在所述检测块的内侧至外侧的方向上，所述导向斜面朝向靠近所述手柄的方向倾斜。

根据本实用新型的一些实施例，所述手柄包括：连接部，所述连接部的一端与所述检测块的轴向一端连接；握持部，所述握持部与所述连接部的另一端连接。

进一步地，所述连接部沿直线延伸。

进一步地，所述握持部沿直线延伸。

进一步地，所述连接部与所述握持部的横截面的形状和尺寸相同。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部形成为平板状。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部形成为环状。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块的靠近所述手柄的一端与所述手柄远离所述检测块的一端之间的距离为L，所述L满足：3cm≤L≤7cm。

进一步地，所述L满足：L＝4cm。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块的轴向两端的端面之间的距离为H，所述H满足：0.6mm≤H≤0.7mm。

进一步地，所述H满足：H＝0.65mm。

根据本实用新型的一些实施例，所述手柄与所述检测块螺纹连接，所述手柄的与所述检测块连接的一端设有外螺纹，所述检测块上设有与所述外螺纹配合的螺纹孔。

根据本实用新型的一些实施例，所述手柄与所述检测块一体成型。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的主视图；

图2是根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的右视图；

图3是根据本实用新型另一个实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的结构示意图。

附图标记：

检测治具100，

检测块1，

手柄2，连接部21，握持部22。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“左”、“右”、“轴向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面参考图1和图2描述根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100。

如图1和图2所示，用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100包括：检测块1和手柄2，检测块1伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度，检测块1形成为柱状，检测块1的轴向两端(如图1所示的左端和右端)的端面平行，手柄2与检测块1的轴向一端连接。

可以理解的是，检测时需要将检测块1移动至螺钉孔内，由于螺钉孔的尺寸较小，所以检测块1的尺寸也相对较小。通过设置与检测块1连接的手柄2，操作人员通过移动手柄2，便可以实现对检测块1的同步移动，进而可以提升操作的便捷性。

操作人员在对电子设备的螺钉孔进行检测时，首先可以手持检测治具100的手柄2，通过移动手柄2，使得与手柄2连接的检测块1伸入螺钉孔内。随后可以观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面的位置关系。

若发现检测块1的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块1的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100，通过设置检测块1和手柄2，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，操作人员可以手持检测治具100的手柄2，将检测治具100的检测块1伸入螺钉孔中，并观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐，若发现检测块1的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块1的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

根据本实用新型的一些实施例，如图1所示，检测块1轴向(如图1所示的左右方向)两端的端面均与检测块1的轴线垂直。由此，可以简化检测块1的结构，降低检测块1制造的难度，从而缩短检测块1制造的周期，提升检测块1制造的良品率。

在本实用新型的一些实施例中，如图1和图2所示，检测块1形成为圆柱状。由此，圆柱状的检测块1可以更好的与螺钉孔配合，从而提升检测的准确性。此外，圆柱状的检测块1的结构也更加简单，从而可以进一步降低检测块1制造的难度，提升检测块1制造的良品率。当然本实用新型不限于此，检测块1还可以形成为多棱柱。

进一步地，如图1和图2所示，检测块1的直径为D(如图1所示的D)，D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。多数电子设备的螺钉孔的内轮廓线的直径大致在1.67mm-1.73mm之间。由此，检测块1可以与螺钉孔更好的匹配，从而可以保证检测结果的可靠性。

进一步地，如图1所示，D满足：D＝1.7mm。多数电子设备的螺钉孔的内轮廓线的直径等于1.7mm或者大于1.7mm。由此，检测块1可以与螺钉孔更好的匹配，从而可以保证检测结果的可靠性。

根据本实用新型的一些实施例，检测块1的远离手柄2的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在检测块1的内侧至外侧的方向上，导向斜面朝向靠近手柄2的方向倾斜。由此，检测块1在伸入螺钉孔时，检测块1的导向斜面对检测块1的伸入过程具有导向作用，从而可以提升检测块1伸入螺钉孔的顺畅性，进而可以提升检测的效率。

根据本实用新型的一些实施例，如图3所示，手柄2包括：连接部21和握持部22，连接部21的一端与检测块1的轴向一端连接，握持部22与连接部21的另一端连接。可以理解的是，通过设置握持部22，可以提升操作人员操作的舒适性，从而有利于提升检测的效率。此外，通过设置连接部21，可以避免握持部22与螺钉孔发生干涉，从而便于观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐。

进一步地，如图1所示，连接部21沿直线延伸。由此，可以简化连接部21的结构，降低连接部21制造的难度，从而缩短连接部21制造的周期，提升连接部21制造的良品率。例如，在图1所示的实施例中，连接部21形成为圆柱状。

进一步地，如图1所示，握持部22沿直线延伸。由此，可以简化握持部22的结构，降低握持部22制造的难度，从而缩短握持部22制造的周期，提升握持部22制造的良品率。例如，在图1所示的实施例中，握持部22形成为圆柱状。

进一步地，如图1所示，连接部21与握持部22的横截面的形状和尺寸相同。由此，可以提升连接部21和握持部22的一体性，使得手柄2在视觉上更加美观。此外，将连接部21与握持部22的横截面在形状和尺寸均采用相同的设计，一方面可以降低手柄2的制造难度，另一方面还可以降低手柄2的设计和制造的成本。具体地，连接部21与握持部22可以为一体成型件。例如，在图1所示的实施例中，手柄2形成为圆柱状。

在本实用新型的一些实施例中，如图3所示，握持部22形成为平板状。由此，一方面便于操作人员拿取检测治具100，另一方面可以增大握持部22与手的接触面积，使得检测治具100不容易从操作人员的手中滑落下来，进而可以降低检测的难度。

在本实用新型的一些实施例中，如图3所示，握持部22形成为环状。可以理解的是，操作人员在拿取检测治具100时，操作人员的手可以握住环状的握持部22。由此，可以进一步提升检测治具100使用的方便性，从而有利于提升检测的效率。

根据本实用新型的一些实施例，如图1所示，检测块1的靠近手柄2的一端与手柄2远离检测块1的一端之间的距离为L(如图1所示的L)，L满足：3cm≤L≤7cm。由此，检测治具100可以更加轻巧，操作人员在使用检测治具100对螺钉孔进行检测时，比较省时省力，从而可以降低检测的难度。此外，手柄2的长度与人手的大小可以匹配，从而可以降低操作人员握持手柄2的难度。

进一步地，如图1所示，L满足：L＝4cm。由此，手柄2的长度与人手的大小可以更加匹配，从而可以进一步降低操作人员握持手柄2的难度。此外，检测治具100也相对轻巧，操作人员对检测治具100进行搬运或者移动的难度较低。

根据本实用新型的一些实施例，如图1所示，检测块1的轴向两端的端面之间的距离为H(如图1所示的H)，H满足：0.6mm≤H≤0.7mm。多数电子设备的螺钉孔的深度是在0.6mm-0.7mm之间。由此，检测块1可以与螺钉孔更好的匹配，从而可以保证检测结果的可靠性。

进一步地，如图1所示，H满足：H＝0.65mm。多数电子设备的螺钉孔的深度等于0.65mm。由此，检测块1可以与螺钉孔更好的匹配，从而可以保证检测结果的可靠性。

根据本实用新型的一些实施例，手柄2与检测块1螺纹连接，手柄2的与检测块1连接的一端设有外螺纹，检测块1上设有与外螺纹配合的螺纹孔。可以理解的是，手柄2与检测块1为可拆卸的连接，由此使用检测治具100对不同尺寸的螺钉孔进行检测时，可以对检测块1进行更换，使得检测块1可以与螺钉孔匹配，从而可以提升检测治具100的适用范围。此外，采用螺纹连接的方式，一方面拆卸和安装均比较方便，另一方面螺纹连接的强度较高，可以保证检测块1与手柄2连接的可靠性。

根据本实用新型的一些实施例，如图1所示，手柄2与检测块1一体成型。由此，一体成型的结构不仅可以保证手柄2与检测块1的结构、性能稳定性，并且方便成型、制造简单，而且省去了多余的装配件以及连接工序，大大提高了手柄2与检测块1的装配效率，保证了手柄2与检测块1的连接可靠性，再者，一体成型的结构的整体强度和稳定性较高，组装更方便，寿命更长。

下面参考图1和图2描述根据本实用新型具体实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100。值得理解的是，下述描述只是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

如图1和图2所示，用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100，包括：检测块1和手柄2，其中检测块1可以伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度。

如图1所示，检测块1和手柄2均形成为圆柱状，手柄2与检测块1一体成型。检测块1的轴向两端的端面平行，手柄2与检测块1的轴向一端连接。具体地，检测块1的直径为1.7mm，且手柄2的直径小于检测块1的直径。此外，检测块1的轴向两端的端面之间的距离为0.65mm，检测块1的靠近手柄2的一端与手柄2远离检测块1的一端之间的距离为4cm。

如图1所示，操作人员在对电子设备的螺钉孔进行检测时，可以首先手持检测治具100的手柄2，通过移动手柄2，使得与手柄2连接的检测块1伸入螺钉孔内。随后可以观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面的位置关系。若发现检测块1的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块1的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。