一种人工晶状体光谱透过率测试工装的制作方法

本实用新型涉及人工晶状体测试辅助工装技术领域，尤其涉及一种人工晶状体光谱透过率测试工装。

背景技术：

光谱透过率测试是人工晶状体必须要做的试验之一，也是判断人工晶状体性能的一个重要指标，直接影响人工晶状体的成像质量及有害光的透过滤，疏水性材质的人工晶状体在检测的时候通过紫外分光光度计进行测量，在测量过程中需要将人工晶状体粘于光度计检测的通光孔处，操作过程繁琐，而且检测过的人工晶状体就不能再用了，本实用新型提供的一种人工晶状体光谱透过率测试工装，降低了人工晶状体光谱透过率的测量难度，并且极大的提高了测量效果，简化过程，提高工作效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种人工晶状体光谱透过率测试工装，降低了人工晶状体光谱透过率的测量难度，并且极大的提高了测量效果，简化过程，提高工作效率。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种人工晶状体光谱透过率测试工装，包括底座，所述底座的中心处设有竖向的通孔，所述通孔的外圈设有定位柱；所述底座上方设有隔圈，所述隔圈外套放有保护盖，所述保护盖的中心设有贯穿孔，所述底座下端四角处均设有连接端，所述连接端上设有一圈凹槽，所述连接端上设有吸盘本体，所述吸盘本体包括橡胶吸盘，所述橡胶吸盘的上方设有连接套，所述连接套上设有一圈向内凹陷的卡圈。

优选的，所述橡胶吸盘与连接套为一体式结构，所述连接套为橡胶材质，所述连接端过盈压入连接套内。

优选的，所述保护盖内圈内有螺纹圈，所述隔圈外层设有螺纹圈。

优选的，所述定位柱为3个或4个，每个定位柱与通孔的距离相同。

优选的，所述保护盖的中心的贯穿孔与通孔的直径相同且上、下对应。

本实用新型的有益效果是：该装置降低了人工晶状体光谱透过率的测量难度，并且极大的提高了测量效果，简化过程，提高工作效率，另外吸盘本体可以实现单独的更换，提高整体工装的使用寿命。

附图说明

图1为本实用新型一种人工晶状体光谱透过率测试工装的结构示意图。

图2为本实用新型一种人工晶状体光谱透过率测试工装的结构的俯视图。

图3为本实用新型一种人工晶状体光谱透过率测试工装的结构摘掉吸盘本体后的结构示意图。

图4为本实用新型吸盘本体的结构示意图。

图5为本实用新型保护盖的结构示意图。

图中：1、隔圈，2、底座，3、通孔，4、定位柱，5、连接端，51、凹槽，6、吸盘本体，61、橡胶吸盘，62、连接套，63、卡圈，7、保护盖，71、贯穿孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

一种人工晶状体光谱透过率测试工装，包括底座2，底座2的中心处设有竖向的通孔3，通孔3的外圈设有定位柱4；底座2上方设有隔圈1，隔圈1外套放有保护盖7，保护盖7的中心设有贯穿孔71，底座2下端四角处均设有连接端5，连接端5上设有一圈凹槽51，连接端5上设有吸盘本体6，吸盘本体6包括橡胶吸盘61，橡胶吸盘61的上方设有连接套62，连接套62上设有一圈向内凹陷的卡圈63。

其中，橡胶吸盘61与连接套62为一体式结构，连接套62为橡胶材质，连接端5过盈压入连接套62内。

其中，保护盖7内圈内有螺纹圈，隔圈1外层设有螺纹圈。

其中，定位柱4为3个或4个，每个定位柱4与通孔3的距离相同。

其中，保护盖7的中心的贯穿孔71与通孔3的直径相同且上、下对应。

具体工作原理，将人工晶状体卡放于通孔3处，使得人工晶状体的连接襻套放于定位柱4上，随后将保护盖7紧固于隔圈1外，然后利用橡胶吸盘61将该工装固定于光度计检测装置的通光孔外壁上，使得通孔3、贯穿孔71的圆心与通光孔的圆心在一条直线上，整个过程方便、快捷，降低了人工晶状体光谱透过率的测量难度，并且极大的提高了测量效果，简化过程，提高工作效率，

连接端5与连接套62为过盈配合，吸盘本体6可从底座2上拆卸下来，可以实现吸盘本体6的单独更换，因为橡胶材质的使用寿命相对较短，局部的更换可以延长整体工装的使用寿命。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效性状或结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。