专利名称：可更换测试接头的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是关于一种可更换测试接头的测试装置，特别是关于一种可以应各种不同测试接头需求，而随机更换测试接头模组的测试仪器。
习知的测试装置在与待测物连接测试时，往往因为待测物接头与测试装置接头的不同，而需另外制作一个待测物与测试装置接头间的转换装置，如此一来使用者需要多费时间在找寻不同的转换接头上，且该转换装置在拆装时不仅更换不易、占用空间大、线路阻抗增大，且在更换不同待测物时更要花费时间在连线的重新配置上，种种的缺点不但增加在测试时的不便，而且更需耗费大量人力在维持各种不同接头的转换与维修上，上述各项缺点皆可在本实用新型上获得适当的解决。
本实用新型的目的即在提供一种可以很方便地利用更换测试接头模组来达到更换测试接头的测试仪器，该仪器可以配备不同种类的接头模组，依不同待测物的测试接头需要，选择适当的接头模组，将其安装在仪器的面板上，待测物接头可以直接插到该模组的测试座上，测试者不但无需另外制作测试连接件，且由于待测物与测试仪器间无需接线，所以线路阻抗低，损耗最小，相应所得到的测试数据的准确度及可靠度都可大大提高，另外节省空间、接头模组更换容易，便于汰旧换新、测试成本低廉及可利用预先设计连线方式，接触可靠等，都是本实用新型优于习知的重点。
本实用新型靠如下方案来实现，在装置中设有测试接头模组，它可以依不同的待测接头需求，制作成数块不同模组，在测试模组后侧设有连接排针，用来与测试装置内的排针插座连接，此外还包括固定螺丝组，用来将测试模组固定到测试装置上，以及导通待测物与测试装置之间高电流的流通。
为了进一步了解本实用新型的特征及技术内容，可参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图。
图1为习知的电源测试装置使用实施例图；图2为本实用新型的测试装置与测试接头模组转换示意图；图3A为本实用新型的可更换式测试接头模组前视图；图3B为本实用新型的可更换式测试接头模组后视图；图4为本实用新型的可更换式测试接头模组用在测试装置上的使用实施例。
图1所示，为习知的测试装置使用实施例；习用的测试方式是先制作一个接头转换连接件11，然后将待测物14的待测接头12接到接头转换连接件11上，所有的待测接头12与测试装置13的测试接头15之间的相对连线关系，都事先在接头转换件11上先行连接好，再将各连接件与测试仪器间的连接线一一接上，如此的测试连接方式，不但费时而且待测物与电源测试装置间的线路阻抗高，所测得的数据准确度及可靠度都大大的降低；另外测试接头15在使用久后也会老化产生接触不良等现象，要更换测试接头15时，一般的做法是先将面板拆开然后从面板的后方将仪器内部线路先行拆除再换新的测试接头，程序相当烦杂，同时每当换测新的待测物时，整个连接件及连接线又需要重新再做配置，各种不同的连接件收藏时也同样会占用不少空间，由上述可知，习知的测试方式还有许多需要改进的缺点。
图2、3A、3B所示，为本实用新型的测试装置与测试接头模组转换示意图、测试接头模组前视图及后视图；本实用新型的特点在于可将习知的测试装置输入接头设计成各种不同的测试接头模组21，该测试接头模组21的正面为测试插座31，可与待测物的测试接头12接合，另其背面的排针32则可插在测试仪器22上的接头模组内板24上的排针座26上，并用螺丝25将该测试接头模组21固定在测试仪器22的面板上，此外，螺丝25在此还可以作为连接并导通待测物与测试装置之间高电流流通之用，当我们的待测物有不同的待测接头时，我们只需选择适当的测试接头模组21，并将原来的测试接头模组21拆下，换成新选择的测试接头模组21，随即可以进行下一个测试步骤，在测试流程的衔接上不会有任何的中断，测试连接件、连接线等也不需要再重新制作，而测试数据的准确度以及可靠性也相应的可以大大提高，在人力及成本上也可获得有效的控制，将来在更换旧有的测试接头模组21时，也不再需要经过复杂的拆卸步骤来完成。
图4所示，为本实用新型的可更换式测试接头模组用在测试装置上的使用实施例图；由图示中我们可以完全了解到本实用新型在实用上确实可以改善习知的测试装置，其中测试仪器22上具有一可更换测试接头模组的测试连接件21，该连接件简单易做，完全针对待测物14的接头而制作，如图所示的待测物14为个人电脑内的电源供应器，故其接头为数个排针接头，针对该电源供应器所制的接头连接件可轻易的接上其接头，完全不占空间及不会浪费另外接线的时间。
权利要求1.一种可更换测试接头的测试装置，其特征在于该装置包括一测试接头模组，其正面具有测试插座，与待测物测试接头接合，其背面具有排针用于插接在测试仪器的排针座内；该模组上具有多个螺丝孔，用来供该测试模组固定在测试仪器上；一测试接头模组内板，装设在测试仪器面板内，该内板上有一连接排针座，用于连接所述测试模组背面的排针；一固定螺丝组，用于将测试模组固定在测试仪器上，连接待测物与测试装置，并导通其间的高电流。
2.根据权利要求1所述的可更换测试接头的测试装置，其特征在于所述测试接头模组为具有不同型式测试接头的多块可选择连接的模组。
专利摘要一种可更换测试接头的测试装置，该装置包括数个经过设计并可更换的测试接头模组，其正面具有测试插座，与待测物测试接头接合，其背面具有排针用于插接在测试仪器的排针座内；该模组上具有多个螺丝孔，用来供该测试模组固定在测试仪器上，该测试仪器可以依不同的待测接头需求而选择适当的测试模组，并将该测试模组装设到测试装置预先保留的连接插座上，将该模组固定在测试装置上。
文档编号G01D21/02GK2183553SQ9420184
公开日1994年11月23日 申请日期1994年1月28日 优先权日1994年1月28日
发明者刘英彰, 张永龙 申请人:博计电子股份有限公司