有闲置的时间，而充分地利用每一个测试工作站的效能，从而缩减测试时间与成本并提升测试产能。另外，由于本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置100、100A中的各项组成元件(例如输送转盘、测试转盘)多为圆形的转盘机构配置，所以相较于传统多功能测试装置的线性机构配置，特别是直线式测试单元的配置，在空间利用率上显然更为充分。
[0083]此外，本发明更提供具有多个测试站的转盘式测试系统。参照图6，其为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试系统400的示意图。具有多个测试站的转盘式测试系统400包含如图2A所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100、自动测试设备(ATE) 300、进料装置500、以及分料装置600。其中，具有多个测试站的转盘式测试装置100包含有一个输送转盘102与数个测试转盘200、200’，其结构配置以及工作原理与动作已在前文详细说明，在此不再赘述。自动测试设备(ATE) 300与测试转盘200、200’经由测试座下方的排线而电性连接，用以提供测试信号与参数给各个测试座与测试模块Tl、T2、T3、T4(或测试工作站)，并收集与处理每一个电子元件的测试结果。进料装置500与具有多个测试站的转盘式测试装置100 (或输送转盘102)连接，用以待测的电子元件输送进入测试转盘102中，其中，进料装置500可以为震动式的进料装置或其他各种形式的进料装置。分料装置600与具有多个测试站的转盘式测试装置100 (或输送转盘102)连接，用以依照每一个电子元件的测试结果而将各个电子元件进行分类，并依照分类而收集于同一个容置装置，其中，分料装置600可以采用各种形式的分料装置，在此不加以限制。
[0084]另外，本发明的具有多个测试站的转盘式测试系统中的具有多个测试站的转盘式测试装置，也可以采用图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A。由于本发明具有多个测试站的转盘式测试系统中的测试装置使采用图2A-图2C所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100或图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A，因此，在进料装置500将待测电子元件传送入输送转盘102或102A之后，输送转盘102或102A会将待测电子元件传送至测试转盘200、200’上，并设置于测试转盘200、200’周围的测试模块Tl、T2、T3、T4(或测试工作站)会依照图5Α-图5G所示的步骤连续对电子元件进行测试，而不会发生闲置，使其效能能充分地被利用，因此，本发明具有多个测试站的转盘式测试系统中的测试装置可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。
[0085]有鉴于上述实施例，本发明提供了一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，借由转盘式的设计，使得各个测试工作站可以连续地连续对电子元件进行一连串不同项目的测试，减少或消除各个提供不同测试项目的测试工作站(或测试模块)的闲置时间(idle time)，而充分利用测试装置与系统的效能，进而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。
[0086]以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明做任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
【主权项】
1.一种具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于包含: 输送转盘，用以传送电子元件；以及 多个测试转盘，用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试，其中，每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块，从而形成多个不同的测试工作站，以对电子元件连续进行不同的测试项目。
2.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。
3.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，η为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
4.根据权利要求3所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。
5.根据权利要求4所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该测试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。
6.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中上述元件承载单元为真空吸嘴。
7.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。
8.根据权利要求7所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。
9.根据权利要求3所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。
10.根据权利要求9所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为O或整数，η为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
11.一种具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于包含: 输送转盘，用以传送电子元件； 多个测试转盘，用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试，其中，每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块，从而形成多个不同的测试工作站，以对电子元件连续进行不同的测试项目； 自动测试设备ATE与上述测试转盘电性连接，用以提供测试信号与参数并收集与处理测试结果； 进料装置，用以待测的电子元件输送进入该测试转盘中；以及 分料装置，用以依照每一个电子元件的测试结果而将各个电子元件进行分类。
12.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。
13.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，η为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
14.根据权利要求13所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。
15.根据权利要求14所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一个测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。
16.根据权利要求12所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中上述元件承载单元为真空吸嘴。
17.根据权利要求12所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。
18.根据权利要求17所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。
19.根据权利要求13所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。
20.根据权利要求19所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为O或整数，η为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
【专利摘要】本发明是有关于一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是有关一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含一个输送转盘与数个测试转盘。借由测试转盘而使数个测试模块组成一个圆盘式的测试工作站配置，使得每一个测试工作站可以连续地进行测试而不会闲置，进而增加测试的产能。
【IPC分类】G01R31-00
【公开号】CN104569633
【申请号】CN201310469891
【发明人】詹勋亮, 施松柏
【申请人】京元电子股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2013年10月10日