一种可视化漏磁检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于无损检测技术领域，更为具体地讲，涉及一种可视化漏磁检测装置。
【背景技术】
[0002] 无损检测（NDT-NondestructiveTesting)是检测技术的一个重要组成部分。它是 在不损伤被检测对象的情况下，利用材料内部结构异常或缺陷所引起的对热、声、光、电、磁 等反应的变化，来探测各种工程材料、零部件、结构件等内部或表面缺陷，并对缺陷的类型、 性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化作出判断和评价，以评价构件的允许负荷、寿命 或者剩余寿命，或检测设备在制造和使用过程中产生的结构不完整性及缺陷情况，以便改 进制造工艺，提高产品质量，及时发现故障，保证设备安全、可靠运行。
[0003] 目前，无损检测技术中有五大常规方法，分别是：超声法、射线法、磁粉法、渗透法 和涡流法。在铁素体钢等磁性材料检测中，应用广泛的漏磁检测。然而，目前漏磁检测多采 用GMR、霍尔探针或霍尔阵列作为磁传感元件，它们空间分辨率和检测效率低，对微小裂纹 不能有效识别且检测结果不直观。因此，高效的漏磁可视化检测具有特别重要的意义。
[0004] 然而，在漏磁可视化检测中，磁光薄膜表面（magnetic-opticalfilm)反射光并未 携带漏磁分布信息而叠加在反射光斑中，对检测到的图像信息起到干扰作用，进而降低了 检测灵敏度。为解决这一问题，现有方法是在磁光薄膜表面涂增透膜，以减小其表面反射光 强，但增透膜的增透作用只在垂直入射时能完全避免表面反射，增透作用也随着入射角的 增大而减小。因此，在不涂增透膜的情况下，有效避免表面反射光的干扰具有重要的现实意 义。
[0005] 同时。如图1所示，由于采用垂直入射方式，需要用分光器进行光路调整和严格对 齐，结构比较复杂，使用不是很方便。
【发明内容】
[0006] 本发明的目的在于克服现有技术不足，提供一种可视化漏磁检测装置，以避免磁 旋光薄膜表面反射光的干扰，提高检测灵敏度，同时，简化结构，方便使用。
[0007] 为实现上述发明目的，本发明可视化漏磁检测装置，其特征在于，包括：
[0008] 具有磁旋光特性的磁光薄膜（magnetic-opticalfilm)，该磁光薄膜的底面即铁 磁材料被测件一侧涂有反射膜，以作为磁传感元件；
[0009] 磁场产生装置，用于产生磁场并作用于被测件；
[0010] 光源、第一凸透镜以及第一偏振片，第一凸透镜将光源发出散射光聚集成平行光 线，并作为入射光线；入射光线经过第一偏振片进行起偏方向调整后，入射到磁光薄膜中， 然后经过其底层的反射膜反射后得到反射光线，反射光线穿出磁光薄膜后，到达第二偏振 片；
[0011] 第二偏振片、第二凸透镜以及C⑶相机，第二偏振片对到达的反射光线进行调整， 得到带有漏磁信息的线偏振光，然后经过第二凸透镜聚集到CCD相机形成具有明暗区域的 反射光斑，该反射光斑间接地反映了漏磁的水平分布即缺陷情况，从而到达漏磁（缺陷）的 可视化检测；
[0012] 所述的第一偏振片作为起偏镜，采用与入射面共面且垂直于入射光线的方向作为 起偏镜起偏方向；
[0013] 所述的入射光线与磁光薄膜的入射角：
【主权项】
1. 一种可视化漏磁检测装置，其特征在于，包括： 具有磁旋光特性的磁光薄膜（magnetic-optical film)，该磁光薄膜的底面即铁磁材 料被测件一侧涂有反射膜，以作为磁传感元件； 磁场产生装置，用于产生磁场并作用于被测件； 光源、第一凸透镜以及第一偏振片，第一凸透镜将光源发出散射光聚集成平行光线，并 作为入射光线；入射光线经过第一偏振片进行起偏方向调整后，入射到磁光薄膜中，然后经 过其底层的反射膜反射后得到反射光线，反射光线穿出磁光薄膜后，到达第二偏振； 第二偏振片、第二凸透镜以及CCD相机，第二偏振片对到达的反射光线进行调整，得到 带有漏磁信息的线偏振光，然后经过第二凸透镜聚集到CCD相机形成具有明暗区域的反射 光斑，该反射光斑间接地反映了漏磁的水平分布即缺陷情况，从而到达漏磁（缺陷）的可视 化检测； 所述的第一偏振片作为起偏镜，采用与入射面共面且垂直于入射光线的方向作为起偏 镜起偏方向； 所述的入射光线与磁光薄膜的入射角：
其中，H1为光在空气中的折射率，η 2为光在磁光薄膜中的折射率。
2. 根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，第二偏振片物理结构完全相同与第 一偏振片完全相同，并且其偏振方向与反射面共面且垂直于反射光线。
【专利摘要】本发明公开了一种可视化漏磁检测装置，采用具有磁旋光特性并在底层即被测件一侧涂有反射膜的材料作为磁传感元件，以光源、CCD相机、两个凸透镜、两片偏振片构成光学图像采集系统实现漏磁的可视化检测。由于检测引入光作为信息的载体，所以漏磁图像即反射光斑对漏磁的空间分辨率很高。本发明可视化漏磁检测装置一次成像的面积只受到CCD相机传感器和磁敏感元件的有效面积限制，相对于GMR等传统漏磁检测方法，检测效率能够大大提高。同时通过控制起偏镜即第一偏振片的偏振方向和调节入射光线的入射角度，使入射光线在磁光薄膜表明发生全透射即全部进入磁光薄膜中，从而避免表面反射光的干扰，进而大大提高检测灵敏度。
【IPC分类】G01N27-83
【公开号】CN104764798
【申请号】CN201510136346
【发明人】白利兵, 程玉华, 邓力, 周小东, 陈凯, 殷春, 张 杰
【申请人】电子科技大学
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年3月26日