用于读取存储在存储器发光材料层中的x射线信息的方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及根据独立权利要求的前序部分所述的用于读取存储在存储器发光材 料层中的X射线信息的方法W及相应装置。
【背景技术】
[0002] -种用于记录X射线图像的可能性在于，将穿过对象、例如病人的X射线福射作为 潜像存储在所谓的存储器发光材料层中。为了读取该潜像，存储器发光材料层被用激励光 照射并且在此被激发用于发出发射光。
[0003] 其强度与存储器发光材料层中存储的图像相对应的发射光被光学检测器检测并 转换成电信号。电信号根据需要被进一步处理，并且最后被提供用于分析、尤其是用于医学 诊断目的，其方式是将所述电信号在诸如监视器或打印机之类的相应输出设备处输出。
[0004] 从现有技术中公知的是，借助于振荡镜将激励光束偏转为，使得该激励光束交替 地在第一方向和相反的第二方向上被引导到存储器发光材料板之上。在此，在由分别获得 的检测器信号组成的图像中可能出现干扰性伪像。
【发明内容】
[0005] 本发明的任务是，说明一种方法W及相应装置，在该方法中或在该装置中可WW尽可能简单和可靠的方式消除或至少减小图像伪像。
[0006] 该任务通过根据独立权利要求所述的方法或装置来解决。
[0007] 在用于读取存储在存储器发光材料层中的X射线图像信息的方法中，可W将存储 器发光材料层激发用于发出发射光的激励光束利用偏转元件被偏转，并且在此交替地在第 一方向和与第一方向相反的第二方向上在存储器发光材料层之上运动，并且在激励光束在 第一和第二方向上运动的期间，从存储器发光材料层发出的发射光借助于检测器被检测并 且转换成相应的第一或第二检测器信号。在此，第一和/或第二检测器信号优选地关于由 于激励光束交替地在第一方向和与第一方向相反的第二方向上在存储器发光材料层上运 动而造成的影响被校正。
[0008] 用于读取存储在存储器发光材料层中的X射线图像信息的相应装置具有：光源， 其用于生成激励光束，所述激励光束可W将存储器发光材料层激发用于发出发射光；偏转 元件，其用于偏转所述激励光束，使得所述激励光束交替地在第一方向和与第一方向相反 的第二方向上在存储器发光材料层之上运动；W及检测器，其用于检测在激励光束在第一 和第二方向上运动的期间从存储器发光材料层发出的发射光并且将所检测的发射光转换 成相应的第一或第二检测器信号。优选地还设置有控制单元，其用于通过如下方式来处理 第一和第二检测器信号：关于由于激励光束交替地在第一方向和与第一方向相反的第二方 向上在存储器发光材料层上运动而造成的影响来校正第一和/或第二检测器信号。在此， 可能的伪像被消除或至少被减少。
[0009] 该解决方案所基于的方案是，在可能由于使用在激励光束的相反的运动方向上获 得的第一和第二检测器信号而实现的可能的伪像方面校正由多个第一和第二检测器信号 组成的图像。运样，优选地减少或消除如下伪像：所述伪像可W归因于所谓的破坏性读取过 程一其中存储在存储器发光材料层中的X射线信息在用激励光照射时至少部分被删除一 和/或存储器憐光物质在用激励光束照射W后的余辉，并且尤其是体现为，在所存储的X射 线图像中，垂直于第一和第二方向延伸的边缘在读取的图像中表现为散线的边缘，所述散 线的边缘在运种情况下是伪像。替代地或附加地，可W减少或消除如下伪像：所述伪像归 因于该装置、尤其是检测器对要检测的发射光的灵敏度依赖于尤其是对于相同行而言分别 在先获得的第一或第二检测器信号的高度和/或走向曲线。因此，例如当紧接着在之前存 储器发光材料层的"明亮"区域在相同行中发出具有相对高强度的发射光使得检测器暂时 被"炫目"时，检测器在第一方向上的灵敏度可W被暂时减小，并且在一定的时间段W后才 再次显示出完全的灵敏度。因此对于从明亮区域来看处于第一方向的方向上的局部区域而 言，生成了具有减小的信号高度的检测器信号。如果存储器发光材料层的明亮区域接着利 用激励光束在相反的第二方向上被采样，则检测器的灵敏度和相应第二检测器信号同样暂 时被降低，但是是对于从明亮区域来看处于第二方向的方向上的局部区域而言。在由多个 第一和第二检测器信号组成的所获得的所读取的图像中，运样的明亮区域的两侧处的结构 由此交替地、即从一行到下一行不同亮度地显现，运在运种情况下是伪像。
[0010] 总的来说，通过本发明可WW简单和可靠的方式消除或者至少减小由多个第一和 第二检测器信号组成的图像中的可能的伪像。
[0011] 第一和/或第二检测器信号优选地在考虑至少一个点图像函数的情况下被校正， 所述点图像函数表征在点状激发存储器发光材料层的情况下第一或第二检测器信号沿着 第一或第二方向的走向曲线。由于破坏性读取过程和存储器憐光物质的余辉，将所激发的 发射光成像到检测器上的成像系统的点图像函数相对于激励光束、例如激光斑在存储器发 光材料层上的相应位置偏移，并且此外具有轻度非对称成形的尖峰。由于激光斑在存储器 发光材料层上的不同运动方向，在第一和第二方向上因此得出不同的点图像函数，运些不 同的点图像函数尤其是导致边缘的散线。根据对于第一和/或第二方向决定性的点图像函 数，W简单的方式校正第一和/或第二检测器信号的走向曲线、尤其是位置/或高度，使得 运样的伪像不再出现或者被减少。
[0012] 另外优选的是，在读取存储器发光材料层W前确定至少一个点图像函数。由此，所 述至少一个点图像函数在读取过程中已经存在，并且可W在校正时被考虑，而不必在读取 过程期间才被确定。替代地或附加地，点图像函数的确定通过例如在利用确定的样品曝光 的存储器发光材料层处进行测量、或者借助于读取过程的数值模拟来进行。测量允许准确 和简单地确定至少一个点图像函数。根据数值模拟，可WW简单和可靠方式确定点图像函 数，而为此不需要附加的测量。总的来说，前述的实施方案一单独地或相组合地一有助于， W简单和可靠方式消除或至少减小可能的伪像。但是替代地还可W在读取存储器发光材料 层并且暂存在此获得的检测器信号W后才确定点函数图像。
[0013] 在另一扩展方案中规定：第一和/或第二检测器信号经历展开、所谓的去卷积或 反卷积，其中由第一或第二检测器信号W及分别特征性的点图像函数来获得经校正的第一 或第二检测器信号。展开例如可W借助于维纳滤波器来实现。在此，由第一检测器信号和 在激励光束在第一方向上在存储器发光材料层之上运动的情况下表征成像系统的第一点 图像函数来确定经校正的第一检测器信号。替代地或附加地，由第二检测器信号和在激励 光束在第二方向上在存储器发光材料层之上运动的情况下表征成像系统的第二点图像函 数来确定经校正的第二检测器信号。所述扩展方案所基于的方案是，第一或第二检测器信 号是通过将在存储器发光材料层中被激发的色屯、的局部分布与成像系统的第一或第二图 像点函数进行卷积而得出的，使得作为该卷积的逆反的展开提供经校正的第一或第二检测 器信号，所述检测器信号在运种情况下对应于沿着存储器发光材料层上的行的"真实"的发 射光强度走向曲线，其中消除了由于不同方向上的扫描造成的影响。该实施方案也进一步 有助于，W特别简单和可靠的方式消除或至少减少可能的伪像。
[0014] 替代地或附加地，第一和/或第二检测器信号通过滤波被校正，其中与第一或第 二检测器信号的二阶导数成比例的滤波器值与第一或第二检测器信号进行结算，尤其是与 第一或第二检测器信号相加或者被从第一或第二检测器信号中减去。该实施方案基于如下 惊人的认识：信号走向曲线中的偏差表现为与信号的曲率、即二阶导数成比例。相应的滤波 器具有如下形式：
其中P(X,y)表示存储器发光材料层上的位置（X，y)处的像素值、即第一或第二检测 器信号的高度，并且C是恒定滤波器参数。根据所观察的像素地点处的信号恰好在时间上 是上升还是下降的，参数邸可W采取值± 1。滤波器值护轉載:|!秦叛游城i优选地为按经 验方式确定的滤波器值。该扩展方案也有助于，W特别简单和