一种led光源的测试装置和测试方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及LED光源技术领域，更具体地说，涉及一种LED光源的测试装置和测试方法。
【背景技术】
[0002]在电子应用技术智能化、多媒体化和网络化的发展趋势下，CSP(Chip ScalePackage，晶片级封装)技术已经成为制造现代电子产品必不可少的技术之一。并且，CSP技术已经浸透到各个行业、各个领域，应用十分广泛。
[0003]在半导体领域，一种应用CSP技术的LED光源由于具有散热效果佳、流明密度高以及封装密度高等优点，受到了人们的广泛关注。虽然LED光源的封装密度越来越高、性能越来越好，但是，目前仍缺少针对LED光源尤其是CSP器件的比较成熟的测试方法。
[0004]现有的一种测试方法是在LED光源的顶面覆盖一个玻璃盖板来实现LED光源的固定，然后采用顶针与LED光源底面的电极进行电连接来进行测试。但是，由于玻璃盖板吸光严重，且易受污染，因此，会导致测试结果稳定性和准确性较差。
[0005]现有的另一种测试方法是采用吸光量固定的材料压住LED光源顶面的四个角来实现LED光源的固定，但是，这种方法同样会挡住LED光源顶面发出的部分光线，影响测试结果的准确性。
【发明内容】
[0006]有鉴于此，本发明提供了一种LED光源的测试装置和测试方法，以解决现有的LED光源的测试方法测试准确性较差的问题。
[0007]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0008]一种LED光源的测试装置，包括测试机构，所述测试机构包括承载台、基座、正顶针、负顶针和吸附装置，所述承载台位于所述测试机构的中部，所述基座位于所述测试机构的底部，所述正顶针、负顶针和吸附装置位于所述承载台和所述基座之间；
[0009]所述承载台上具有镂空的安放区，所述安放区用于安放LED光源，所述LED光源底面具有正电极和负电极，其侧面和顶面中的至少一个面为出光面，其中，安放后的所述LED光源的底面朝向所述吸附装置、正顶针和负顶针；
[0010]所述吸附装置的底部与所述基座连接、顶部可与所述安放区的LED光源的底面接触，所述吸附装置用于吸附所述LED光源，以使所述LED光源固定在所述承载台上；
[0011]所述正顶针与电源的正极电连接，所述负顶针与电源的负极电连接，且所述正顶针可与所述LED光源的正电极电连接，所述负顶针可与所述LED光源的负电极电连接，以使所述LED光源与电源连接，以便对所述LED光源进行测试。
[0012]优选的，所述LED光源为CSP器件，所述CSP器件的顶面和四个侧面为出光面，所述CSP器件的底面具有正电极和负电极。
[0013]优选的，所述吸附装置包括吸管和位于所述吸管顶部的吸嘴，所述吸管和吸嘴均为中空结构，所述吸管的底部与所述基座连接，所述基座可带动所述吸管移动，使所述吸嘴与所述承载台上的LED光源的底面接触。
[0014]优选的，所述吸管的底部通过贯穿所述基座的管路与真空栗连接，所述真空栗用于抽出所述吸管内的气体，以使所述吸嘴吸附固定所述承载台上的LED光源。
[0015]优选的，所述吸管和吸嘴为一体结构，且所述吸管和吸嘴为电木或橡胶材质；
[0016]或者，所述吸管和吸嘴为可拆分的结构，所述吸管为金属材质，所述吸嘴为电木或橡胶材质。
[0017]优选的，所述吸管和吸嘴均为中空的圆柱体状结构；
[0018]或者，所述吸管为中空的圆柱体状结构，所述吸嘴为圆盘状结构或倒锥台状结构。
[0019]优选的，所述正顶针和所述负顶针固定在所述基座上，通过所述基座带动所述正顶针和负顶针移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。
[0020]优选的，所述正顶针和所述负顶针固定在弹性元件上，通过所述弹性元件的伸缩带动所述正顶针和负顶针沿所述吸附装置上下移动，使正顶针与所述承载台上的LED光源的正电极电连接、所述负顶针与所述LED光源的负电极电连接。
[0021]优选的，所述正顶针和所述负顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针和所述负顶针位于所述吸附装置的内部。
[0022]优选的，所述正顶针与一个所述吸附装置对应设置，所述负顶针与另一个所述吸附装置对应设置，所述正顶针位于对应的所述吸附装置的内部，所述负顶针位于对应的所述吸附装置的内部。
[0023]一种LED光源的测试方法，应用于如上任一项所述的LED光源的测试装置，包括:
[0024]将LED光源安放在承载台的安放区，所述LED光源具有正电极和负电极的底面朝向吸附装置、正顶针和负顶针；
[0025]通过吸附装置吸附所述LED光源，使所述LED光源固定在所述承载台上；
[0026]通过正顶针使所述LED光源的正电极与电源的正极电连接，通过负顶针使所述LED光源的负电极与电源的负极电连接；
[0027]对所述LED光源进行测试。
[0028]与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点:
[0029]本发明所提供的LED光源的测试装置和测试方法，通过位于承载台下方的吸附装置给承载台的安放区上的LED光源一个向下的吸附力来将LED光源固定在承载台上，并且，固定后的LED光源的底部正电极与正顶针接触、负电极与负顶针接触，来实现LED光源与电源的电连接，进而可以对LED光源进行测试，从而避免了通过按压LED光源顶面来固定LED光源导致的LED光源测试结果准确性较差的问题。
【附图说明】
[0030]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0031]图1为本发明的一个实施例提供的一种LED光源的测试装置；
[0032]图2为本发明的一个实施例提供的另一种LED光源的测试装置；
[0033]图3为本发明的另一实施例提供的LED光源的测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0034]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0035]本发明的一个实施例提供了一种LED光源的测试装置，该测试装置用于在LED光源投入使用之前，对LED光源的光学性能和电学性能进行测试，以避免LED光源在使用的过程中出现问题，影响相关电子器件的使用。
[0036]本实施例中的测试装置包括测试机构，图1为该测试机构的剖面图，如图1所示，该测试机构包括承载台1、基座2、吸附装置4、一个正顶针5和一个负顶针6。当然，在本发明的其他实施例中测试机构可以包括多个正顶针以及多个负顶针，且正顶针和负顶针一一对应。
[0037]具体地，承载台I位于测试机构的中部，基座2位于测试机构的底部，吸附装置4、正顶针5和负顶针6位于承载台I和基座2之间，即吸附装置4、正顶针5和负顶针6位于承载台I的下方以及基座2的上方。
[0038]其中，承载台I