成像质量分析数据处理方法及成像质量分析装置的制造方法_2

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可逆压缩的编码方法不作特别地限定,例如可使用行程编码、熵编码、或组合了这些编码的编码等。
[0018]又,在标准化系数制作步骤中,按每个微小测量区域计算出系数,并将其结果储存到所述存储部的第二存储区域,其中,该系数是用于将各测量点的质谱数据的强度值按照规定的基准来进行标准化的系数。在此,标准化的方法至少可设为上述的TIC标准化或XIC标准化。又,在用于XIC标准化的质量电荷比或质量电荷比范围被指定时,每次在标准化系数制作步骤中求出与质量电荷比或质量电荷比范围对应的标准化系数,并储存到存储部的第二存储区域即可。
[0019]如果例如特定的关心区域中的平均质谱的制作被操作者指定,则在标准化质谱制作步骤中,被包含于该关心区域的测量点所对应的压缩数据从存储部的第一存储区域被读出并被解压处理,各个质谱被计算出。又,TIC标准化系数或与所指定的质量电荷比对应的XIC标准化系数从存储部的第二存储区域被读出,该系数乘以如上述那样得到的质谱的各强度值,然后基于标准化后的质谱,计算出标准化后的平均质谱。XIC标准化系数等的标准化条件不同的平均质谱的制作被指示的情况下,对应于各自的标准化条件,被储存于存储部的第二存储区域的标准化系数被读出,同样地,质谱的标准化处理被执行,各个平均质谱被计算出。
[0020]另一方面,如果例如与特定的质量电荷比或质量电荷比范围对应的成像图像的制作被操作者指定,则在标准化图像制作步骤中,与所指定的质量电荷比等对应的最低限度必要的压缩数据从存储部的第一存储区域被读出并被解压处理,各个成像图像被制作。又,TIC标准化系数或与所指定的质量电荷比对应的XIC标准化系数从存储部的第二存储区域被读出,该系数乘以如上述那样得到的成像图像的各测量点的强度值,计算出标准化后的成像图像。XIC标准化系数等的标准化条件不同的成像图像的制作被指示的情况下,对应于各自的标准化条件,被储存于存储部的第二存储区域的标准化系数被读出,同样地,成像图像的各强度值的标准化处理被执行,各个标准化成像图像被制作。
[0021]像这样,在本发明的第一形态中,例如将对成像质量分析数据进行了压缩的数据直接保存于计算机的主存储器等的存储部,并且将用于标准化的标准化系数预先保存于其他存储部,在标准化后的质谱的制作、成像图像的制作时,解压压缩数据得到的强度值乘以标准化系数并输出其结果,由此,可得到与将原始的成像质量分析数据标准化后的相同的质谱、成像图像。
[0022]此外,本发明所涉及的第一形态的成像质量分析数据处理方法中,优选地,还包括:质量电荷比确定步骤,将通过所述标准化质谱制作步骤制作而成的标准化质谱显示于显示部的画面上,接受基于该显示的、操作者对质量电荷比或质量电荷比范围的指定,对通过所述标准化图像制作步骤制作的成像图像的质量电荷比或质量电荷比范围进行设定。
[0023]S卩,根据该数据处理方法,操作者能够看到被标准化后的质谱并掌握作为目标的物质的二维分布,认识到适当的质量电荷比、质量电荷比范围,使与其对应的成像图像显不O
[0024]又,本发明所涉及的第一形态的成像质量分析数据处理方法中,进一步地,包括: 质谱制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、以及这些测量点的空间位置信息,来计算出所指定的或特定的多个微小测量区域中的未被标准化的质谱的累计质谱、平均质谱、或者最大强度质谱中的任一个;以及图像制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、以及这些测量点的空间位置信息,来制作成像图像,其中,所述成像图像表示与所指定的或特定的质量电荷比或质量电荷比范围对应的未被标准化的强度值的二维分布。
[0025]此外,上述质谱制作步骤可作为标准化质谱制作步骤的处理的一部分,上述图像制作步骤也可作为标准化图像步骤的处理的一部分。即,在制作标准化质谱、标准化成像图像的过程中,也可制作基于乘以标准化系数前的强度值的质谱、成像图像。或者,在标准化的处理中,也可设标准化系数全为I。由此,不仅制作并显示标准化质谱、标准化成像图像,还可合并未标准化的平均质谱、成像图像来加以制作并显示,从而能够将更加多样的信息提供给操作者。
[0026]进一步地,本发明所涉及的第一形态的成像质量分析数据处理方法中,包括:
峰值阵列制作步骤,对所述标准化质谱制作步骤中制作而成的标准化质谱、或未被标准化的质谱进行峰值检测并制作峰值的质量电荷比值的列表,根据各测量点的质谱数据求出与所述列表中的质量电荷比对应的强度值,制作根据质量电荷比值来排列该强度值而得到的峰值阵列;
峰值阵列标准化步骤,根据由所述标准化系数制作步骤制作而成的标准化系数,将所述峰值阵列制作步骤中制作而成的峰值阵列的强度值标准化;以及
统计解析步骤,对在所述峰值阵列标准化步骤中进行了标准化的峰值阵列、或在所述峰值阵列制作步骤中制作而成的峰值阵列执行统计解析。
[0027]在这种情况下,进一步地,包括:显示步骤,将在所述标准化图像制作步骤中制作而成的成像图像、通过所述标准化质谱制作步骤制作而成的标准化质谱、通过所述统计解析步骤得到的统计解析结果同时显示于显示部的画面上。
[0028]或者,还包括:显示步骤,显示步骤,将以下几项的全部或至少一个同时显示于显示部的画面上:通过所述标准化图像制作步骤制作而成的一个或标准化条件不同的多个标准化后的成像图像或者在所述图像制作步骤中制作而成的成像图像、通过所述标准化质谱制作步骤制作而成的一个或标准化条件不同的多个标准化后的质谱或者通过所述质谱制作步骤制作而成的质谱、以及通过对在所述峰值阵列标准化步骤中被标准化的一个或标准化条件不同的多个标准化后的峰值阵列或者在所述峰值阵列制作步骤中制作而成的峰值阵列进行统计解析的所述统计解析步骤得到的统计解析结果。
[0029]由此,并不仅仅显示标准化后的平均质谱、成像图像,而能够利用被储存于主存储器的压缩数据和标准化系数,实施任意标准化条件下的统计解析,将其结果与平均质谱、成像图像一起加以确认。又,也可同时地显示分别对平均质谱、成像图像、统计解析结果进行了标准化的结果与未进行标准化的结果,或者同时地显示在不同标准化条件下进行了标准化的多个结果。
[0030]又,如上所述,过去,由于主存储器的制约等,制作、显示成像图像等的软件与执行统计解析的软件一般来说是分别的,根据上述数据处理方法,能够大致共同利用被储存于主存储器的数据来执行成像图像等的制作、显示与统计解析处理,因此,使软件一体化也是容易的。由此,也能够联合进行成像图像等的制作、显示与统计解析处理,不需要使分别的软件一一启动或结束,所以可谋求作业的高效化。
[0031]像这样的、共同使用对成像质量分析数据进行了压缩的数据来联合进行成像图像、平均质谱等的制作、显示与统计解析处理的数据处理方法也可适用于没有进行强度值的标准化的情况。即,为了解决上述技术问题而做出的基于本发明的第二形态的成像质量分析数据处理方法如下:对成像质量分析数据进行处理,该成像质量分析数据是将通过对试样上的多个测量点分别执行质量分析而收集到的、作为离子强度值的一维排列的质谱数据与上述测量点的空间位置信息相关联而得到的,所述成像质量分析数据处理方法的特征在于,包括以下步骤:
a)压缩步骤,按照规定的算法对各测量点的质谱数据执行压缩处理,并将得到的压缩数据储存到存储部的第一存储区域;
b)图像制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、以及这些测量点的空间位置信息,来制作成像图像,其中,所述成像图像表示与所指定的或特定的质量电荷比或质量电荷比范围对应的未被标准化的强度值的二维分布;
c)质谱制作步骤,利用被储存于所述存储部的第一存储区域的与各测量点对应的强度值的压缩数据、以及这些测量点的空间位置信息,来计算出所指定的或特定的多个微小测量区域中的未被标准化的质谱的累计质谱、平均质谱、或者最大强度质谱中的任一个;
d)峰值阵列制作步骤,对所述质谱制作步骤中制作而成的质谱进行峰值检测并制作峰值的质量电荷比值的列表,根据各测量点的质谱数据求出与所述列表中的质量电荷比对应的强度值,制作根据质量电荷比值来排列该强度值而得到的峰值阵列;以及
e)统计解析步骤,对在所述峰值阵列制作步骤中制作而成的峰值阵列执行统计解析。
[0032]根据该第二形态的成像质量分析数据处理方法,能够大致共同利用被储存于主存储器的数据,执行成像图像等的制作、显示与统计解析处理,因此,使软件一体化是容易的。由此,也能够联合进行成像图像等的制作、显示与统计解析处理,不需要使分别的软件一一启动或结束,所以可谋求作业的高效化。
[0033]此外,第一及第二形态的成像质量分析数据处理方法中,虽然压缩后的数据可仅利用该数据来解压,但根据数据压缩方法,为了求得与特定的质量电荷比对应的强度值,有时会耗费时间,因此,优选地,在所述存储部的第三区域中除了储存压缩后的数据以外,还储存将该压缩数据与原始数据的排列中的强度值的位置信息相关联而得到的索引信息,参照该索引信息来获取与特定的质量电荷比对应的强度值。
由此,可高速地进行根据压缩数据来求出与任意的质量电荷比对应的强度值的解压处理,所以,利用了压缩数据的成像图像和平均质谱的显示、或者统计解析处理等都被高速化。
[0034]又,为了解决上述技术问题而做出的本发明所涉及的成像质量分析装置的特征在于,其具备:成像质量分析部,其通过对试样上的多个测量点分别执行质量分析来收集质谱数据;以及数据处理部,其实施上述本发明所涉及的成像质量分析数据处理方法。
[0035]在此,对成像质量分析部的结构,具体地说对离子源的种类、质量分析器的种类等不作特别地限定,通常,离子源是MALDI离子源,质量分析器是飞行时间型质量分析器。另夕卜,也可以是如下结构:成像质量分析部例如具有通过碰撞诱导分解等使离子进行一个阶段至多个阶段的分离的离子分离部,由此能够对所生成的产物离子进行质量分析。
发明效果
[0036]根据本发明所涉及的成像质量分析数据处理方法及成像质量分析装置,在对进行了条件不同的各种标准化的成像图像、平均质谱进行制作、显示时,也不需要制作分别对进行了那样的种类不同的标准化的成像质量分析数据进行了保存的数据文件,或者每次被给予对那样的数据文件进行显示的指示等时,将其读入到主存储器并进行处理。特别地,原始的成像质量分析数据是以被压缩了的状态保存于某装置的主存储器不变的状态,又,预先将用于对强度值进行标准化的各种条件下的标准化系数保存于主存储器即可,因此,通过利用那样的标准化系数,能够使成像图像、平均质谱等结果迅速地显示。又,预先将对于相同的成像质量分析数据获取的不同的标准化条件下的多个平均质谱、成像图像等暂时储存到主存储器,由此,也能够同时地显示不同的标准化条件下
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