[0028]如果自动测试主机41判断待测元件40的温度大于预定温度，控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位转变为第二逻辑电位，使得自动测试主机41停止输出第一时钟信号给待测元件40或是待测元件40停止接收第一时钟信号，以降低待测元件40的温度。在另一实施例中，自动测试主机41输出第二时钟信号给待测元件40，其中第二时钟信号的频率低于第一时钟信号的频率。
[0029]图5为根据本发明的测试系统的另一实施例的示意图。测试系统包括待测元件50与具有自适应功率调整的自动测试主机51。在本实施例中，待测元件50可能是芯片或是封装晶片。当待测元件50与自动测试主机51电性连接时，自动测试主机51内的处理器52侦测待测元件50的信息，并自测试数据库55中取得对应的测试数据。在另一实施例中，测试数据是由外部输入给自动测试主机51。
[0030]接着，处理器52控制时钟信号发生器54以输出时钟信号CLK给待测元件50。处理器52更输出控制信号给待测元件50，当该控制信号的逻辑电位为高逻辑电位时，待测元件50才能接收该时钟信号。在另一实施例中，当该控制信号的逻辑电位为高逻辑电位时，处理器52控制时钟信号发生器54停止输出时钟信号CLK给待测元件50。
[0031]处理器52传送测试数据给待测元件50。待测元件50根据测试数据与时钟信号进行测试，且待测元件50内的自我监控装置53持续监控待测元件50的消耗功率，并将功率值传送给处理器52，由处理器52判断待测元件50的功率是否大于预定功率。如果处理器52判断待测元件50的功率小于预定功率，控制信号的逻辑电位维持在第一逻辑电位，自动测试主机51持续输出第一时钟信号给待测元件50以进行测试。
[0032]如果处理器52判断待测元件50的功率大于预定功率，控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位转变为第二逻辑电位，使得自动测试主机51停止输出第一时钟信号给待测元件50或是待测元件50停止接收第一时钟信号，以降低待测元件50消耗的功率。在另一实施例中，自动测试主机51输出第二时钟信号给待测元件50，其中第二时钟信号的频率低于第一时钟信号的频率。
[0033]图6为根据本发明的测试系统的波形图。时钟信号由自动测试主机提供给待测元件。控制信号由自动测试主机传送给待测元件。消耗功率为待测元件的功率消耗情况。当消耗功率等于或大于截止功率时，控制信号的逻辑电位由逻辑电位1变为逻辑电位0，此时待测元件接收到的时钟信号维持在逻辑电位0。因为待测元件接收不到时钟信号，故待测元件的测试会被暂停。要注意的是此时待测元件并非不动作，只是停止进行测试，故仍会有功率消耗。在预定时间后，或是待测元件的温度或功率低于预定值时，控制信号的逻辑电位由逻辑电位0变为逻辑电位1，待测元件重新接收到正确的时钟信号并持续进行测试。
[0034]图7为根据本发明的具有自适性功率调整的测试方法的实施例的流程图。在步骤S701中，待测元件与自动测试主机电性连接。在本实施例中，待测元件可能是芯片或是封装晶片。接着，在步骤S702中，自动测试主机会根据待测元件的信息，如型号、识别码，进行测试。在本实施例中，自动测试主机会自动产生测试信号或测试数据。在另一实施例中，自动测试主机接收外部输入的测试信号或测试数据。在另一实施例中，测试信号或测试数据是内建在待测元件内，且正确的测试结果也被储存在待测元件内。当待测元件与自动测试主机电性连接时，自动测试主机接收测试信号或测试数据以及正确的测试结果。
[0035]在步骤S703中，自动测试主机监控待测元件的功率消耗变化，并判断待测元件的功率是否大于预定功率。在本实施例中，自动测试主机根据待测元件的电压与电流监控待测元件的功率消耗变化。在另一实施例中，待测元件内建有监控模组，用以监测待测元件的功率，并将接收到的功率值传送给自动测试主机，由自动测试主机判断待测元件的功率是否大于预定功率。
[0036]如果自动测试主机判断待测元件的功率大于预定功率，步骤S705被执行。在步骤S705中，控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位转变为第二逻辑电位，使得自动测试主机停止输出第一时钟信号给待测元件或是待测元件停止接收第一时钟信号，以降低待测元件消耗的功率。在另一实施例中，得自动测试主机输出第二时钟信号给待测元件，其中第二时钟信号的频率低于第一时钟信号的频率。
[0037]如果自动测试主机判断待测元件的功率小于预定功率，步骤S704被执行。此时，控制信号的逻辑电位维持在第一逻辑电位，自动测试主机持续输出第一时钟信号给待测元件以进行测试。
[0038]惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。另外本发明的任一实施例或申请专利范围不须达成本发明所揭露的全部目的或优点或特点。此外，摘要部分和标题仅是用来辅助专利文件搜寻之用，并非用来限制本发明的权利范围。
【主权项】
1.一种具有自适应功率调整的测试方法，其特征在于，包括: 电性连接待测元件与自动测试主机； 该自动测试主机向该待测元件提供时钟信号与测试数据以进行测试； 监控该待测元件的功率； 当该待测元件的该功率大于等于预定功率时，该自动测试主机使得该待测元件无法接收该时钟信号；以及 当该待测元件的该功率小于该预定功率时，该自动测试主机维持输出该时钟信号给该待测元件。2.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法，其特征在于，其中该待测元件还包括自我监控装置，以监控该待测元件的该功率，并将该功率传送给该自动测试主机。3.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法，其特征在于，其中该自动测试主机还包括功率监控装置，以监控该待测元件的该功率。4.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法，其特征在于，其中该自动测试主机还输出控制信号给该待测元件，当该控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位变成第二逻辑电位时，该待测元件无法接收该时钟信号。5.一种具有自适应功率调整的测试装置，用以测试待测元件，其特征在于，包括: 处理器，所述处理器向该待测元件传送测试数据与控制信号； 时钟信号发生器，所述时钟信号发生器向该待测元件输出时钟信号；以及 功率监控装置，用以监控该待测元件的功率，其中 当该待测元件的该功率大于等于预定功率时，该处理器使得该待测元件无法接收该时钟信号， 当该待测元件的该功率小于该预定功率时，该时钟信号发生器维持输出该时钟信号给该待测元件。6.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置，其特征在于，其中该测试数据由外部输入。7.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置，其特征在于，还包括测试数据库，该处理器根据该待测元件的信息自该测试数据库中选择该测试数据。8.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置，其特征在于，其中当该待测元件的该功率大于等于该预定功率时，该控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位变成第二逻辑电位时，所述控制信号使得该待测元件无法接收该时钟信号。9.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置，其特征在于，其中当该待测元件的该功率小于该预定功率一段时间后，该控制信号的逻辑电位由第二逻辑电位变成第一逻辑电位时，使得该待测元件再次接收该时钟信号。10.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置，其特征在于，该时钟信号为第一时钟信号，当待测元件的该功率大于等于预定功率时，该处理器控制该时钟信号发生器产生并传送第二时钟信号给该待测元件，其中该第二时钟信号的频率低于该第一时钟信号的频率。11.一种测试系统，其特征在于，包括: 待测元件，该待测元件具有自我监控装置，以监控该待测元件的功率；以及 具有自适应功率调整的测试装置，包括: 处理器，接收该待测元件输出的该功率，且传送测试数据与控制信号给该待测元件；以及 时钟信号发生器，输出时钟信号给该待测元件； 其中当待测元件的该功率大于等于预定功率时，该处理器使得该待测元件无法接收该时钟信号， 当待测元件的该功率小于该预定功率时，该时钟信号发生器维持输出该时钟信号给该待测元件。12.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，其中该测试数据由外部输入，或该处理器根据该待测元件的信息自测试数据库中选择该测试数据。13.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，其中当该待测元件的该功率大于等于预定功率时，该控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位变成第二逻辑电位时，使得该待测元件无法接收该时钟信号。14.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，其中当该待测元件的该功率小于该预定功率一段时间后，该控制信号的逻辑电位由第二逻辑电位变成第一逻辑电位时，使得该待测元件再次接收该时钟信号。15.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，其中该时钟信号为第一时钟信号，当待测元件的该功率大于等于预定功率时，该处理器控制该时钟信号发生器产生并传送第二时钟信号给该待测元件，其中该第二时钟信号的频率低于该第一时钟信号的频率。
【专利摘要】本发明关于一种具有自适应功率调整的测试方法，包括：电性连接待测元件与自动测试主机；该自动测试主机向待测元件提供时钟信号与测试数据以进行测试；监控该待测元件的功率；当待测元件的功率大于等于预定功率时，该自动测试主机使得该待测元件无法接收该时钟信号；以及当待测元件的该功率小于该预定功率时，该自动测试主机维持输出该时钟信号给该待测元件。
【IPC分类】G01R21/00, G01R31/26
【公开号】CN105259491
【申请号】CN201510797008
【发明人】王鹏
【申请人】上海兆芯集成电路有限公司
【公开日】2016年1月20日
【申请日】2015年11月18日