一种小功率发光器件的筛选测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于筛选测试技术领域，涉及一种小功率发光器件的筛选测试方法。 技术背景
[0002] 衡量发光器件性能的指标有发光功率、发光时间、功率稳定性、响应速度等，应用 不同，性能要求也不一样。作为简单照明、显示使用时，对寿命即发光时间有要求；作为高亮 照明时，发光功率是重要特性；作为有精度要求的检测传感器的信号发生器使用时，发光器 件稳定性就尤其关键，稳定性越好，传感器精度越高，检测传感器激励源的功率稳定性直接 影响系统性能，稳定可靠的激励源是保证系统精度先决条件。
[0003] 通常发光器件输出稳定性主要由器件发光芯片的加工、焊接及器件封装等制造工 艺决定，一旦制作完成，其性能质量就定型，这样的器件功率输出性能得不到保障，对传感 器参数调整就造成很大影响，同时随着发光功率的衰减，功率输出重复性差，检测传感器的 基准漂移，功率输出不稳定，就引起系统精度损失，为了提高传感器的精度，避免大功率发 光器件引起的热效应，会选择功率低的光源，小功率发光器件的功率衰减不仅影响传感器 精度，还会降低传感器的使用寿命
【发明内容】
[0004] 本发明要解决的技术问题是：提出一种可提升小功率发光器件功率输出稳定性的 筛选测试方法。
[0005] 本发明的技术方案是：一种小功率发光器件的筛选测试方法，其特征为所述筛选 测试方法包括以下步骤：
[0006] 步骤一，储存：发光器件首先在干燥柜存放至少1个月；
[0007] 步骤二，初次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；
[0008] 步骤三，初测初筛：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特 性，持续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件初始功率输出稳态值 Pl，P1为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T1 ;剔除电特 性超出指标的发光器件；
[0009] 步骤四，将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随 炉降温，试验期间检查发光器件输出是否正常；
[0010] 步骤五，二次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件；
[0011] 步骤六，终测：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持 续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件最终功率输出稳态值P2,P2 为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T2 ;剔除电特性超出 指标的发光器件；
[0012] 步骤七，精筛：代入以下公式，得出发光器件光功率衰减量€ :
[0013]
[0014] 其中，a为发光器件温度系数，单位％/1：;根据功率衰减指标，剔除衰减量超出指 标、性能有缺陷的发光器件。
[0015] 本发明具有的优点和有益效果是：第一，本方法测试过程简单，两次外观检查最大 限度的排除了由于物理原因造成的发光器件性能不稳定的影响；第二，本发明测试数据准 确，实时记录的测试温度值在计算功率衰减时进行补偿，降低了发光器件因温度敏感带来 的误差；用功率稳态值计算排除了器件响应速度带来的影响；第三，本发明适用范围广，不 同种类、体积发光器件，只要对输出稳定性有要求，都可用本方法进行筛选测试。总之，本发 明可对小功率发光器件进行批次性筛选测试，实用性强，效率高，可用于发光器件制造、工 艺优化等流程工序中，大大提高了小功率发光器件使用的可靠性及光功率输出的稳定性， 在确保了工作寿命的同时，提高了功率输出稳定性及重复性。
【附图说明】
[0016] 图1是本发明小功率发光器件的筛选测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0017] 下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做进一步说明。
[0018] 通常发光器件的失效随时间呈浴盆曲线，为了保证系统工作时发光器件处于稳定 状态即功率输出的平直段内，需要通过加速功率衰减的方法将前期不稳定段去除，消除早 期失效，提高发光功率稳定性，同时功率衰减程度不能影响小功率发光器件的寿命，降低系 统的工作时间。
[0019] 参见图1，本发明的一种【具体实施方式】如下：
[0020] 步骤一，储存：发光器件首先在干燥柜存放至少1个月；
[0021] 步骤二，初次目检：用25X体式显微镜目检发光器件外观，剔除残破、锈蚀，透镜有 裂纹、气泡等缺陷或其它可能对发光器件性能有影响的器件；
[0022] 步骤三，初测初筛：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特 性，持续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件初始功率输出稳态值 Pl，P1为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T1 ;剔除电特 性超出指标的发光器件；
[0023] 步骤四，高温电老炼：将完成初测初筛的发光器件焊接在电老炼试验板上，置于高 温箱内，在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降温，试验期间检查 发光器件输出是否正常；
[0024] 步骤五，二次目检：用25X体式显微镜再次目检发光器件外观，剔除残破、锈蚀，透 镜有裂纹、气泡等缺陷或其它可能对发光器件性能有影响的器件；
[0025] 步骤六，终测筛选：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特 性，持续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件最终功率输出稳态值 P2,P2为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T2 ;剔除电特 性超出指标的发光器件；
[0026] 步骤七，精筛：代入以下公式，得出发光器件光功率衰减量€ :
[0027]
【主权项】
1. 一种小功率发光器件的筛选测试方法，其特征为所述筛选测试方法包括以下步骤： 步骤一，储存：发光器件首先在干燥柜存放至少1个月； 步骤二，初次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件； 步骤三，初测初筛：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持 续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件初始功率输出稳态值Pl，Pl 为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度Tl;剔除电特性超出 指标的发光器件； 步骤四，将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降 温，试验期间检查发光器件输出是否正常； 步骤五，二次目检：用显微镜目检发光器件外观，剔除有缺陷的发光器件； 步骤六，终测：用光功率计和数字电压表，检测发光器件的功率输出和电特性，持续测 试一段时间t;采集并记录t时间段内数据，计算发光器件最终功率输出稳态值P2，P2为发 光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值；记录此时环境温度T2 ;剔除电特性超出指标 的发光器件； 步骤七，精筛：代入以下公式，得出发光器件光功率衰减量€ :
其中，a为发光器件温度系数，单位％/1：;根据功率衰减指标，剔除衰减量超出指标、性 能有缺陷的发光器件。
【专利摘要】本发明属于筛选测试技术领域，涉及一种小功率发光器件的筛选测试方法。本发明包括以下步骤：1）储存；2）初次目检；3）初测初筛；4）将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验，试验结束后发光器件随炉降温，试验期间检查发光器件输出是否正常；5）二次目检；6）终测；7）精筛。本发明可对小功率发光器件进行批次性筛选测试，实用性强，效率高。
【IPC分类】G01M11-02
【公开号】CN104713701
【申请号】CN201310676620
【发明人】张珂, 白晓荣, 杨卫民
【申请人】中国航空工业第六一八研究所
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2013年12月11日