摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法及该测试卡的制作方法
【专利摘要】本发明公开了摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法及该测试卡。该方法用于校正摄像头测试卡具备的电流/开短路测试功能。该测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路。针对该电流检测回路，使用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试。当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。本发明保证开短路检测回路不影响图像测试回路。本发明提供了一种有效较正补偿因回路、芯片、电阻差异带来的电流/开短路较正方法。本发明还公开应用该方法的该测试卡。
【专利说明】
摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法及该测试卡
技术领域
[0001] 本发明涉及一种误差校正方法，尤其涉及一种摄像头测试卡电流/开短路误差校 正方法、该摄像头。
【背景技术】
[0002] 随着影像摄像头行业的蓬勃发展，涉及镜头解析力测试、车载摄像领域、手机摄像 头、运动相机等多个领域。摄像头在出厂时均需要经过各项测试，如电流及开短路测试功 能。摄像头测试卡具备电流及开短路测试功能，该二功能都为摄像头检测中常用功能。电流 的测量除了跟整个系统电路设计相关，误差产生也跟采样电阻的精度相关，因此，如何简 单、快捷的校正摄像头测试卡电流/开短路误差是本领域技术人员的研究重点。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，本发明提出一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法及该摄像头， 其能防止被测试芯片在测试过程中被烧坏，还能保证开短路检测回路不影响图像测试回 路。
[0004] 本发明的解决方案是:一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其用于校正 摄像头测试卡具备的电流/开短路测试功能;该摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该 FPGA主控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路;针对该电流检 测回路，使用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚 以及包含多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试 回路，使用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。
[0005] 作为上述方案的进一步改进，利用该FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将 每个摄像头测试卡的较正补偿数据存入一个自动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时， 该自动补偿系统将自动补偿相应摄像头测试卡的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对 应的不同板卡之间的一致性。
[0006] 本发明还提供一种摄像头测试卡，其包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均 电性连接的开短路检测回路、图像测试回路;当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含 多个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使 用一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。
[0007] 作为上述方案的进一步改进，该摄像头测试卡还包括与该FPGA主控电路电性连接 的电流检测回路，该电流检测回路包括双向电流/功率监控器、电源开关器、稳压器、AD数据 采集器;稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监控器、电源开关器、AD数据采集器 分别电性连接该FPGA主控电路。
[0008] 进一步地，双向电流/功率监控器采用INA220A芯片，电源开关器采用 NCP45524IMNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据采集器采用AD5175BRMZ-10芯 片。
[0009]作为上述方案的进一步改进，该图像测试回路采用传输器件。
[0010]进一步地，该传输器件设置有若干接口 ESD保护器件。
[0011] 再进一步地，该传输器件采用MC20901芯片，该接口 ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
[0012] 作为上述方案的进一步改进，该开短路检测回路包括低压CMOS器件、视频处理器、 模数转换器;该视频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路，该低压CMOS器件 电性连接该FPGA主控电路。
[0013] 进一步地，该低压CMOS器件采用ADG734芯片，该视频处理器采用TS3DV520ERUAR芯 片，该模数转换器采用AD5520芯片。
[0014] 本发明的有益效果为:在1C测试的开短路检测中，本发明使用小于2mA的电流对芯 片进行测试，从而杜绝烧坏被测1C的现象发生；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包 含多个高速差分信号时，为保证开短路测试不影响其图像回路，本发明使用高速开关将被 测PIN在图像测试回路和开短路检测回路之间切换。
【附图说明】
[0015] 图1是本发明摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法的构思示意图。
[0016] 图2是本发明摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法的自动补偿方式图。
[0017]图3是本发明摄像头测试卡的电流检测回路的电路示意图。
[0018] 图4是本发明摄像头测试卡的图像测试回路的电路示意图。
[0019] 图5是本发明摄像头测试卡的开短路检测回路的电路示意图。
【具体实施方式】
[0020] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0021] 请一并参阅图1至图5，本发明的摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主 控电路均电性连接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路。
[0022]摄像头测试卡具备电流及开短路测试功能，该二功能都为摄像头检测中常用功 能，电流的测量除了跟整个系统电路设计相关，误差产生也跟采样电阻的精度相关。但因当 摄像头测试时待机精度要求达到luA甚至需要O.luA，测试卡本身回路中1C待机电流、漏电 流都将影响摄像头本身的测量精度，如图3所示。该电流检测回路包括双向电流/功率监控 器、电源开关器、稳压器、AD数据采集器。稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监 控器、电源开关器、AD数据采集器分别电性连接该FPGA主控电路。
[0023] 在本实施例中，双向电流/功率监控器采用INA220A芯片，电源开关器采用 NCP45524IMNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据采集器采用AD5175BRMZ-10芯 片。
[0024]本发明的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，开短路检测中，1C测试中一般 不能使用较大电流对1C的保护二级管/导通电压进行测试，否则将烧坏被测的1C，本发明使 用小于2mA的电流对芯片进行测试。因被测试的管脚多达60个PIN脚，以及包含较多高速差 分信号，为保证开短路测试不影响其图像回路，本发明使用高速开关将被测PIN在图像测试 回路和开短路检测回路之间切换，如图1所示。
[0025]如图4所示，该图像测试回路采用传输器件。该传输器件设置有若干接口 ESD保护 器件。在本实施例中，该传输器件采用MC20901芯片，该接口ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。
[0026] 如图5所示，该开短路检测回路包括低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器。该视 频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路，该低压CMOS器件电性连接该FPGA主 控电路。在本实施例中，该低压CMOS器件采用ADG734芯片，该视频处理器采用 TS3DV520ERUAR芯片，该模数转换器采用AD5520芯片。
[0027]如图2所示，本发明利用该FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将每个摄像头 测试卡的较正补偿数据存入一个自动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时，该自动补偿 系统将自动补偿相应摄像头测试卡的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对应的不同板 卡之间的一致性。
[0028]请参阅表1及表2,其中表1为电流校正数据，表2为开短路校正数据。表1为各个板 卡的电流补偿数据，表2为各个板卡开短路数据的较正数据，电流补偿数据为当回路无负载 时电流数据理论应归零。开短路补偿数据为各个PIN脚当其与地短路时理论值应归零。但实 际状况因回路、芯片、电阻阻值不同所产生的误差值。
[0029]表1电流校正数据
[0031]表2开短路校正数据
[0032]
[0033] 综上所述，本发明能通过硬件、软件两个渠道分别对摄像头测试卡实现电流/开短 路误差校正。另外，为了保证整个测试卡的散热，可在板卡外壳的设计上对于较大发热量的 芯片做了散热处理，芯片与外壳之间可通过散热硅脂和散热硅胶片散热，如通过带粘性散 热硅胶脂进行散热。
[0034] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其用于校正摄像头测试卡具备的电 流/开短路测试功能；该摄像头测试卡包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连 接的电流检测回路、开短路检测回路、图像测试回路;其特征在于:针对该电流检测回路，使 用小于2mA的电流对被测试芯片进行测试；当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多 个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用 一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。2. 如权利要求1所述的摄像头测试卡电流/开短路误差校正方法，其特征在于：利用该 FPGA主控电路的FPGA芯片ID号的唯一性，将每个摄像头测试卡的较正补偿数据存入一个自 动补偿系统的数据库；当后续板卡测试时，该自动补偿系统将自动补偿相应摄像头测试卡 的测试数据，保障与相同摄像头测试卡相对应的不同板卡之间的一致性。3. -种摄像头测试卡，其包括FPGA主控电路以及与该FPGA主控电路均电性连接的开短 路检测回路、图像测试回路;其特征在于：当被测试芯片的管脚多达60个PIN脚以及包含多 个高速差分信号时，为保证该开短路检测回路的开短路测试不影响该图像测试回路，使用 一个高速开关将被测PIN脚在该图像测试回路和该开短路检测回路之间切换。4. 如权利要求3所述的摄像头测试卡，其特征在于:该摄像头测试卡还包括与该FPGA主 控电路电性连接的电流检测回路，该电流检测回路包括双向电流/功率监控器、电源开关 器、稳压器、AD数据采集器;稳压器电性连接AD数据采集器，双向电流/功率监控器、电源开 关器、AD数据采集器分别电性连接该FPGA主控电路。5. 如权利要求4所述的摄像头测试卡，其特征在于：双向电流/功率/电压监控器采用 INA220A芯片，电源开关器采用NCP45524MNTWG-H芯片，稳压器采用LT3080EQ芯片，AD数据 采集器采用AD5175BRMZ-10芯片。6. 如权利要求3所述的摄像头测试卡，其特征在于:该图像测试回路采用传输器件。7. 如权利要求6所述的摄像头测试卡，其特征在于:该传输器件设置有若干接口 ESD保 护器件。8. 如权利要求7所述的摄像头测试卡，其特征在于:该传输器件采用MC20901芯片，该接 口 ESD保护器件采用IP4294CZ10-TBR芯片。9. 如权利要求3所述的摄像头测试卡，其特征在于:该开短路检测回路包括低压CMOS器 件、视频处理器、模数转换器;该视频处理器通过该模数转换器电性连接该FPGA主控电路， 该低压CMOS器件电性连接该FPGA主控电路。10. 如权利要求9所述的摄像头测试卡，其特征在于:该低压CMOS器件采用ADG734芯片， 该视频处理器采用TS3DV520ERUAR芯片，该模数转换器采用AD5520芯片。
【文档编号】G01R31/02GK105866607SQ201610149415
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年3月16日
【发明人】钟岳良, 夏远洋, 林浩
【申请人】昆山软龙格自动化技术有限公司