用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属红外光谱仪测试的配备装置技术领域，具体涉及一种用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹。
【背景技术】
[0002]目前，用红外光谱仪进行单晶硅测试所使用的样品夹为不锈钢样品夹，这种不锈钢样品夹存在的缺点:一是尺寸固定，一般只能针对直径为Ilmm的圆形单晶硅样片进行红外光谱仪测试，对于尺寸较大或者较小的圆形和方形单晶硅样片均无法测试，具有一定的局限性；二是装置过程中易使样片受污染且固定不牢靠。因此有必要提出改进。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型解决的技术问题:提供一种用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，使弹簧片的一端通过凸台与底架连接，由于弹簧片具有弹性和可恢复性，在弹簧片另一端的椭圆孔与底架的圆孔之间可夹压不同形状及大小的样片进行红外光谱仪测试，解决了原不锈钢样品夹存在的固定局限性问题，并在装置过程中不污染样片，固定牢靠。
[0004]本实用新型采用的技术方案:用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，包括底架和弹簧片，所述底架的上端面一侧设有凸台，所述底架的上端面另一侧制有圆孔，所述弹簧片是由弧形端和平直端构成的耳朵型结构，所述平直端上制有椭圆孔，所述弧形端的端部与凸台的上端面连接，所述平直端的下端面与底架的上端面平行适配并使椭圆孔与圆孔的中心正对，所述平直端的椭圆孔与底架的圆孔中间夹持样片进行红外光谱仪检测。
[0005]其中，所述弧形端的端部与凸台通过螺钉固定连接。
[0006]进一步地，所述底架为长方形结构，所述底架的四角设为圆角。
[0007]本实用新型与现有技术相比的有益效果:
[0008]1、弹簧片的一端通过凸台与底架连接，由于弹簧片具有弹性和可恢复性，弹簧片的另一端将样片夹压在底架上进行红外光谱仪测试，本实用新型可对直径大于1mm小于30mm、厚度为I?3mm的圆形样片或长度和宽度在1mm?30mm之间的长方形样片均可进行红外光谱仪测试，解决了原不锈钢样品夹存在的固定局限性问题；
[0009]2、在弹簧片的平直端制有椭圆孔，在底架上制有圆孔，将样片夹压在两孔之间进行测试，使样品不易受污染；
[0010]3、本实用新型结构简单，操作灵活，使用方便，制作成本低，实用可靠。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的结构示意图；
[0012]图2为本实用新型的主视图；
[0013]图3为图2的A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图1-3描述本实用新型的一种实施例。
[0015]用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，包括底架I和弹簧片2，所述底架I为长方形结构，所述底架I的四角设为圆角12，优选的，所述底架I长120_、宽50_、厚2_，所述底架的材质为不锈钢，所述底架I的上端面一侧设有凸台4，所述底架I的上端面另一侧制有圆孔11，其中圆孔11的直径优选为10_ ;所述弹簧片2是由弧形端21和平直端22构成的耳朵型结构，为了与底架I适配，弹簧片2优选尺寸为长100mm、宽30mm，所述平直端22上制有椭圆孔23，优选的，椭圆孔23的长半径为7mm、短半径为5mm，所述弧形端21的端部与凸台4的上端面连接，具体的，所述弧形端21的端部与凸台4通过螺钉3固定连接，所述平直端22的下端面与底架I的上端面平行适配并使椭圆孔23与圆孔11的中心正对，保证样片5夹压在两孔之间时不接触样品夹，从而使样片5不受污染。
[0016]本实用新型通过将样片5夹压在弹簧片2的椭圆孔23与底架I的圆孔11中间进行红外光谱仪检测，由于弹簧片具有弹性和可恢复性，所以本样品夹可对直径大于1mm小于30mm、厚度为I?3mm的圆形样片或长度和宽度在1mm?30mm之间的长方形样片等多种样片5进行红外光谱仪测试，解决了原不锈钢样品夹存在的尺寸固定要求的缺陷，具有夹压牢固、实用性强、成本低、结构简单，操作方便等优点。
[0017]上述实施例，只是本实用新型的较佳实施例，并非用来限制本实用新型实施范围，故凡以本实用新型权利要求所述内容所做的等效变化，均应包括在本实用新型权利要求范围之内。
【主权项】
1.用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，其特征在于:包括底架(I)和弹簧片(2)，所述底架(I)的上端面一侧设有凸台(4)，所述底架(I)的上端面另一侧制有圆孔(11)，所述弹簧片(2)是由弧形端(21)和平直端(22)构成的耳朵型结构，所述平直端(22)上制有椭圆孔(23)，所述弧形端(21)的端部与凸台(4)的上端面连接，所述平直端(22)的下端面与底架(I)的上端面平行适配并使椭圆孔(23)与圆孔(11)的中心正对，所述平直端(22)的椭圆孔(23)与底架⑴的圆孔(11)中间夹持样片(5)进行红外光谱仪检测。
2.根据权利要求1所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，其特征在于:所述弧形端(21)的端部与凸台(4)通过螺钉(3)固定连接。
3.根据权利要求1或2所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，其特征在于:所述底架(I)为长方形结构，所述底架(I)的四角设为圆角(12)。
【专利摘要】提供一种用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹，包括底架和弹簧片，底架的上端面一侧设有凸台，底架的上端面另一侧制有圆孔，弹簧片是由弧形端和平直端构成的耳朵型结构，平直端上制有椭圆孔，弧形端的端部与凸台的上端面连接，平直端的下端面与底架的上端面平行适配并使椭圆孔与圆孔的中心正对，平直端的椭圆孔与底架的圆孔中间夹持样片进行红外光谱仪检测。本实用新型可用于夹压不同形状及大小的样片进行红外光谱仪测试，解决了原不锈钢样品夹存在的固定局限性问题，并在装置过程中不污染样片，固定牢靠，制作成本低。
【IPC分类】G01N21-01
【公开号】CN204495705
【申请号】CN201520230653
【发明人】晁小涛, 杨涛, 穆玥, 程远梅, 魏文昌, 杨轶
【申请人】陕西天宏硅材料有限责任公司
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年4月15日