4、所述电压传感器115、所述电流传感器116和所述温度传感器117分别与所述处理器112连接，所述制冷设备111与所述功率传感器114连接。
[0040]本实施例中，为了保护测试仪，在测试仪中设置了上述制冷设备111，该制冷设备111能够及时将光照所产生的热量传导出去。
[0041]其中，功率传感器114，用于测量对应半导体激光器17的输出功率。例如:通过光探测器得到与半导体激光器输出光功率相对应的电信号。
[0042]电压传感器115，用于测量对应半导体激光器17的工作电压。例如:利用差分电压测试方式测量半导体激光器的工作电压，得到指示工作电压的电信号。
[0043]电流传感器116，用于测量对应半导体激光器17的工作电流。例如:串联电阻后，将电流信号转化为电阻两端的电压值进行测试。
[0044]温度传感器117，用于测量对应半导体激光器17的工作温度。例如:利用热敏电阻或热电偶测量半导体激光器的工作温度，得到指示工作温度的电信号。
[0045]另外，处理器112用于接收所述控制主机12通过所述数据总线16发送的测试指令，所述测试指令中包括所述预设工作状态参数，即上述输出光功率、工作电压、工作电流、工作温度等参数。
[0046]所述处理器112，用于接收到所述测试指令后，断开对应测试仪11与数据总线16间的电连接，使所述对应测试仪11处于离线工作状态；
[0047]所述处理器112，还用于控制功率传感器114、电压传感器115、电流传感器116和温度传感器117分别进行所述预设工作状态参数的参数数据采集，并对采集到的参数数据进行处理后，将处理结果存储在所述存储器113中。
[0048]在具体测试过程中，由于各测试仪11通过总线形式与控制主机12连接，控制主机12可以采用广播的形式向各测试仪11发送测试指令。可以理解的是，该测试指令中可以携带各测试仪11的标识，比如为各测试仪11分配的编号等，以使在只需部分测试仪进行测试时，根据该标识来向该部分测试仪发送测试指令。测试指令中携带的各待测试工作状态参数比如包括:工作电压、工作电流、工作温度、输出光功率等表征半导体激光器工作状态的参数，不以此为限。
[0049]仅以一个测试仪11为例进行测试过程的说明，在不引起歧义的情况下，以该测试仪11称为目标测试仪11来进行描述，从而该目标测试仪11对应的半导体激光器17称为目标半导体激光器17。值得说明的是，该称法只是为了描述方便，以便于区分不同的测试仪与对应的半导体激光器。
[0050]目标测试仪11中的112在接收到控制主机12发送的测试指令后，处理器112随即与数据总线16间的电连接断开，从而目标测试仪11处于离线工作状态。进而，处理器112控制功率传感器114、电压传感器115、电流传感器116和温度传感器117分别进行输出光功率、工作电压、工作电流、工作温度等参数数据采集，并对采集到的参数数据进行处理后，将处理结果存储在存储器113中。
[0051]图2为测试仪中的处理器的结构示意图，如图2所示，处理器112中包括:滤波电路1121、放大电路1122和模数转换电路1123 ;所述滤波电路1121、所述放大电路1122和所述模数转换电路1123依次连接。
[0052]可以理解的是，处理器中具有微处理器，通过该微处理器来控制上述各电路的工作。
[0053]上述处理器112对采集到的参数数据进行处理，包括:微处理器分别控制所述滤波电路1121、所述放大电路1122和所述模数转换电路1123对所述参数数据进行滤波、放大、模数转换处理。
[0054]值得说明的是，这里仅是举例说明了几种常用的数据处理方式，比如还可以包括校准等处理。
[0055]进一步地，当各测试仪11完成了对各自对应的半导体激光器17的测试，得到上述处理结果之后，用户在其需要查询处理结果的时候，可以通过控制主机12向各测试仪11发送读取指令。
[0056]所述处理器112还用于接收所述控制主机发送的读取指令；
[0057]所述处理器112还用于根据所述读取指令将所述存储器113中存储的所述处理结果发送给所述控制主机12 ;
[0058]所述控制主机12还用于对接收到的所述处理结果进行分析处理，并存储分析处理结果；其中，所述分析处理包括求最大值、最小值、均值或绘制所述预设工作状态参数的变化曲线。
[0059]进一步地，在控制主机12读取完各测试仪11中存储的处理结果之后，各测试仪11中存储的处理结果可以删除，以提高各测试仪的存储利用率。相应的，如图2所示，处理器112中还包括:
[0060]清零电路1124，用于清零存储器113中存储的所述处理结果。
[0061]本实施例中，通过与各半导体激光器--对应的测试仪来实现对各半导体激光器的各工作状态参数的离线测试。具体地，各测试仪通过数据总线与控制主机连接，并在接收到控制主机下达的携带有待测试工作状态参数的测试指令后，断开与控制主机间的连接，实现脱机离线工作。各测试仪在控制自身上的各传感器对各工作状态参数数据进行采集之后，对参数数据进行处理并保存，并在用户需要查看测试结果的时候，通过控制主机读取各个测试仪中存储的处理结果。通过该离线的多参数测试方案，不但能够实现对半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，而且避免了控制主机出现断电或死机等意外情况时，对测试的不利影响，可保证长期测试过程中测试结果的安全可靠。
[0062]下面将结合两个具体的实例来介绍上述半导体激光器老化测试系统在实际使用时的可实现的结构形式。在具体介绍之前，对图1所示中的制冷设备进行简单说明，该制冷设备111包括:半导体制冷设备、风冷设备或液体制冷设备中的任一个。图3为本实用新型实施例一提供的半导体激光器测试系统的结构示意图，如图3所示，该测试系统中，以制冷设备为液体制冷设备为例进行说明。当采用液体制冷设备时，可以采用每台测试仪独立液体循环的方式，或者采用所述至少一台测试仪集中液体循环的方式。
[0063]简单来说，所谓每台测试仪独立液体循环的方式就是，每台测试仪和冷却剂管道即与该测试仪对应的液体制冷设备构成一个闭环的循环系统，各个测试仪间的液体制冷设备形成并联的关系；所谓至少一台测试仪集中液体循环的方式就是，全部测试仪依次连接，相当于串联在一起，由一个液体制冷设备为这些测试仪集中制冷，如图3所示的就是集中液体循环方式的示意。
[0064]上述液体制冷设备在具体实现时，比如可以是如图3中所示的冷却剂管道21。所述冷却剂管道21包括冷却剂入口 211和冷却剂出口 212 ;通过冷却剂入口 211加入冷却剂，冷却剂流经整个测试系统即依次流经各个测试仪后在冷却剂出口 212流出。另外，外加冷却箱后可实现冷却剂的循环使用。
[0065]图4为本实用新型实施例二提供的半导体激光器测试系统的结构示意图，本实施例中，上述冷却设备111的具体实现可以是风冷设备或半导体制冷设备。
[0066]如图4所示，本实施例中将对测试仪11中相关组成单元间的位置关系进行说明。具体来说，图中箭头方向为激光入射到测试仪中的方向，上述功率传感器114、电压传感器115、电流传感器116、温度传感器117的具体设置情况如下:
[0067]功率传感器114中包括积分球衰减均化器1141、光探测器和峰值保持电路。其中，该光探测器可以是量热型光探测器或光电探测器。
[0068]在该积分球衰减均化器1141上开有入光孔和采样孔，积分球衰减均化器通过采样孔与光探测器的输入端连接，光探测器的输出端与峰值保