一种激光晶体消光比检测台的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及激光晶体检测设备，特别是一种激光晶体消光比检测台。
【背景技术】
[0002]消光比是衡量激光晶体性能优劣的重要指标，它的定义如下:将晶体放置在两平行偏光镜间和两正交偏光镜间，使用光源从晶体一端入射，在出射端测量光功率，分别得到两个值A和B，消光比即A和B之比取对数再乘以10，单位为dB。
[0003]激光晶体在整个激光领域有着重要的作用。我们在使用激光晶体之前，需要了解与掌握晶体的各种性质，包括其物理和激光特性等，
[0004]才能判断某种晶体是否满足我们的使用要求。同时，激光晶体的质量，直接影响使用者实验的准确性和研究价值。例如晶体的消光比对于出射激光的光束质量有直接的影响。此外，消光比还在一些重要应用中，有很重要的地位，例如在电光调Q实验中，如果晶体消光比低，将直接影响调Q激光束的质量。因此，对激光晶体质量的检测非常重要。
[0005]目前在激光晶体大体分两种形状，即长方体晶体和棒状晶体，但是现在的检测台上的载晶台只能放置长方体晶体或者棒状晶体，检测时经常需要将检测台上的载晶台进行更换，这样不仅操作麻烦，而且还容易损坏俯仰角位移台台面的螺纹松动，容易造成测量不准确。
【实用新型内容】
[0006]为了解决上述问题，本实用新型提供了一种测量准确方便快捷的激光晶体消光比检测台。
[0007]—种激光晶体消光比检测台，包括底座，在底座上方设有细调水平位移台，细调水平位移台上方设有垂直位移调节台，垂直位移调节台上方设有水平角位移调节台，水平角位移调节台上方设有俯仰角位移调节台，俯仰角位移调节台上方设有粗调水平位移调节台，粗调水平位移调节台上方设有载晶台，载晶台上设有长方体晶体底座和棒状晶体底座，所述棒状晶体底座上设有两对钢珠，每对钢珠之间形成一个V形槽。
[0008]优选地，所述长方体晶体底座与棒状晶体底座均为玻璃底座，玻璃具有易加工成水平且不易变形的特点，特别适合这种精度要求很高的激光晶体消光比检测试验中。
[0009]优选地，所述底座设有导轨滑槽，在测量时可沿导轨滑动，对降低调节工作量具有很大的帮助。
[0010]所述细调水平位移调节台与粗调水平位移调节台提高了水平方向的位移能力，特别适合两种不同形状晶体之间的轮换测量，使测量员能快速准确的调整测量位置，提高劳动效率。
[0011]本实用新型提供的一种激光晶体消光比检测台，可同时满足长方体晶体和棒状晶体的测量，无需更换载晶台，降低设备损耗，延长设备使用寿命，节省检测人员的调试时间，大大降低了他们的工作负担，提高劳动效率。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型一种激光晶体消光比检测台的结构示意图；
[0013]图2为本实用新型一种激光晶体消光比检测台的载晶台结构示意图；
[0014]图1-2中，I为底座，2为细调水平位移台，3为垂直位移调节台，4为水平角位移调节台，5为俯仰角位移调节台，6为粗调水平位移调节台，7为载晶台，8为长方体晶体底座，9为棒状晶体底座，10为钢珠。
【具体实施方式】
[0015]为了更好的对本实用新型进行阐述，下面将结合附图作详细说明。
[0016]如图1-2所示，一种激光晶体消光比检测台，包括底座1，在底座I上方设有细调水平位移台2，细调水平位移台2上方设有垂直位移调节台3，垂直位移调节台3上方设有水平角位移调节台4，水平角位移调节台4上方设有俯仰角位移调节台5，俯仰角位移调节台5上方设有粗调水平位移调节台6，粗调水平位移调节台6上方设有载晶台7，载晶台7上设有长方体晶体底座8和棒状晶体底座9，所述棒状晶体底座9上设有两对钢珠10，每对钢珠10之间形成一个V形槽。长方体晶体底座8与棒状晶体底座9均为玻璃底座，底座I设有导轨滑槽。
[0017]使用时，若测量的是长方体晶体，就将长方体晶体放置在长方体晶体底座8上，然后调节各参数进行测量，若测量的是棒状晶体，就将棒状晶体放置在棒状晶体底座9上的钢珠10形成的V形槽内，调节粗调水平位移调节台6和细调水平位移调节台2以及其它各设备进行检测。
[0018]上述【具体实施方式】不能认为是对本实用新型的进一步限定，本领域技术人员根据本【实用新型内容】作出的非实质性改变均应落入本实用新型保护范围内。
【主权项】
1.一种激光晶体消光比检测台，包括底座，其特征在于:所述底座上方设有细调水平位移台，细调水平位移台上方设有垂直位移调节台，垂直位移调节台上方设有水平角位移调节台，水平角位移调节台上方设有俯仰角位移调节台，俯仰角位移调节台上方设有粗调水平位移调节台，粗调水平位移调节台上方设有载晶台，载晶台上设有长方体晶体底座和棒状晶体底座，所述棒状晶体底座上设有两对钢珠，每对钢珠之间形成一个V形槽。2.如权利要求1所述的一种激光晶体消光比检测台，其特征在于:所述长方体晶体底座与棒状晶体底座均为玻璃底座。3.如权利要求1所述的一种激光晶体消光比检测台，其特征在于:所述底座设有导轨滑槽。
【专利摘要】一种激光晶体消光比检测台，包括底座，在底座上方设有细调水平位移台，细调水平位移台上方设有垂直位移调节台，垂直位移调节台上方设有水平角位移调节台，水平角位移调节台上方设有俯仰角位移调节台，俯仰角位移调节台上方设有粗调水平位移调节台，粗调水平位移调节台上方设有载晶台，载晶台上设有长方体晶体底座和棒状晶体底座，所述棒状晶体底座上设有两对钢珠，每对钢珠之间形成一个V形槽。本实用新型提供的一种激光晶体消光比检测台，可同时满足长方体晶体和棒状晶体的测量，无需更换载晶台，降低设备损耗，延长设备使用寿命，节省检测人员的调试时间，大大降低了他们的工作负担，提高劳动效率。
【IPC分类】G01M11/04
【公开号】CN204882039
【申请号】CN201520571467
【发明人】陈基平, 林星, 徐璐
【申请人】福建科彤光电技术有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年8月3日