金相实验磨抛镶套模的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及金相磨抛设备领域，具体涉及一种可以快速更换试样、提高金相试样镶嵌速率、并能降低成本的金相实验磨抛镶套模。
【背景技术】
[0002]金相镶套摸是用于金相检测过程中磨光与抛光工序的辅助工具，以防止试样磨抛面在磨光、抛光过程中因手的抖动、酸痛以及不正规运动方式等造成磨抛面不平整、达不到镜面效果的情况发生，以免影响到后期的酸碱腐蚀质量，观察不到清晰的金相组织状态，甚至造成误判。
[0003]现有的镶套模因结构与材质的缺陷，其制作复杂，而且在多次使用后，试样存在松动的情况，磨抛效果不佳，且易于损坏，使用寿命短，无法重复使用，也增加了成本消耗;此外，在更换待测试样时不便于操作。
【发明内容】
[0004]针对上述问题，本实用新型的目的是提供一种制作简单、成本低且可重复使用的金相实验磨抛镶套模。
[0005]本实用新型的技术方案:金相实验磨抛镶套模，包括主镶磨套，其特征在于，主镶磨套采用尼龙材质制成且在主镶磨套中心位置设有固定试样的内孔，在主镶磨套的侧面设有紧固螺钉。
[0006]作为一个优选方案，主镶磨套的内孔直径比试样直径小0.01-0.02mm。此设计可让试样嵌入后的主镶磨套受到挤压力，保证试样在磨抛过程中不松动。
[0007]作为另一个优选方案，主镶磨套的高度为15_20mm。此设计既能满足最小高度试样的要求，也不影响最大高度试样的磨抛操作。
[0008]本实用新型优点:相比现有技术而言，本实用新型通过在主镶磨套的侧面设计紧固螺钉，能有效保证试样在磨抛过程中不松动，减轻人手对试样质量的影响，磨抛面平整光滑，磨抛效果好;当不用时直接从中敲出试样即可进行下一试样的检测，操作方便且不易损坏;此外，本实用新型使用寿命长，成本低廉。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的主视图
[0010]图2为本实用新型的侧视图
[0011]其中，1、主镶磨套，2、内孔，3、紧固螺钉，d、内孔直径，H、主镶磨套高度。
【具体实施方式】
[0012]现结合附图，对本实用新型作进一步描述。
[0013]参见图1-2，本实用新型的金相实验磨抛镶套模，包括主镶磨套I，其中主镶磨套I采用尼龙材质并利用车床根据试样尺寸大小车削成型而制得，实际操作中，可车削成多组或多系列的不同尺寸的主镶磨套I来应对不同尺寸试样需求;在主镶磨套I中心位置设有固定试样的内孔2，主镶磨套主镶磨套I的内孔2直径d比试样直径小0.01-0.02mm,内孔2大小的设计是为了试样金相大小配合，可在试样嵌入后主镶磨套能受到挤压力，保证试样在磨抛过程中不松动;在主镶磨套I的侧面设有紧固螺钉3，如试样有轻微松动，拧紧主镶磨套I侧面的紧固螺钉3即可。
[0014]根据GB/T13298-1991《金相显微组织检验》中，推荐试样尺寸以磨面面积小于400平方毫米，将主镶磨套高度H设计成15-20mm为宜，既能满足最小高度试样的要求，也不影响最大高度试样的磨抛操作。
[0015]本实用新型的金相实验磨抛镶套模在使用过程中能很好的保证磨抛面的镜面要求，减轻人手对试样质量的影响，还能很好的保护磨抛设备。检测完成后，将试样从主镶磨套中敲出后则可继续镶套其它待检试样，继续进行下一组金相检测过程，且不易损坏。多次使用后内孔稍有变大，可直接用于稍大的试样，也可将紧固螺丝拧紧进行使用，使用寿命可达数年甚至更久，成本低廉，操作上更方便更快捷。
【主权项】
1.金相实验磨抛镶套模，包括主镶磨套，其特征在于，主镶磨套采用尼龙材质制成且在主镶磨套中心位置设有固定试样的内孔，在主镶磨套的侧面设有紧固螺钉。2.根据权利要求1所述的金相实验磨抛镶套模，其特征在于，主镶磨套的内孔直径比试样直径小0.01-0.02mm。3.根据权利要求1所述的金相实验磨抛镶套模，其特征在于，主镶磨套的高度为15-20mm ο
【专利摘要】本实用新型公开了一种金相实验磨抛镶套模，包括主镶磨套，其中主镶磨套采用尼龙材质制成且在主镶磨套中心位置设有固定试样的内孔，在主镶磨套的侧面设有紧固螺钉。相比现有技术而言，本实用新型通过在主镶磨套的侧面设计紧固螺钉，能有效保证试样在磨抛过程中不松动，减轻人手对试样质量的影响，磨抛面平整光滑，磨抛效果好；当不用时直接从中敲出试样即可进行下一试样的检测，操作方便且不易损坏。
【IPC分类】G01N1/32
【公开号】CN205317558
【申请号】CN201620002540
【发明人】徐君美, 肖挺, 刘安
【申请人】常德市中天精密工具有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年1月5日