专利名称：主电路板的插接接口的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种主电路板的插接接口，尤其涉及一种电控系统中可根据插接 状态给插接组件上电的主电路板的插接接口与组件的插接接口。
背景技术：
电脑针织横机是当前先进的针织机械，它能够取代传统的手工编织以及低端的手 摇横机，电脑针织横机能使传统的编织工作得到高速度、高效率的实现，并且实现了传统编 织工作无法达到的多层次、多功能、统一性和完美性的要求，是一种体现多种高新科技的机 电产品。电脑针织横机中的电控系统更相当于人的大脑和神经，电脑针织横机的诸多功能 很大程度上都是由电控系统决定的，电脑针织横机的电控系统一般具有多个组成部分，例 如，主控制器模块、主轴电机控制模块、绣框电机控制模块、人机交互模块、自动剪线模块、 断线监测模块、自动换色模块等，分别控制电脑针织横机的不同部件进行工作。不同的板件 独立设计，在使用时，需要与主系统连接，通常是以插接的方式实现各个组件和主系统的连 接。电控系统的多个组成板件以及多个组成板件之间繁多而复杂的连接，经常会使工 作人员在操作时出现插错的情况，这将影响系统的安全性。为了防止插错，现有技术通常采 用不同种类的接插件，以此区分不同的组成板件，或者是通过颜色来区分。但是随着电控 系统的发展，组成板件的数量越来越多，需要更多种类的接插件，使得对种类繁多的接插件 的备料越来越困难，同时，颜色的种类也已经无法满足组成板件进一步增加的需求，如此一 来，当因无法区分不同组成板件而发生插错情况时，可能会烧毁板件，影响整个系统，无法 保证系统的安全性。
实用新型内容本实用新型实施例的目的是提供一种主电路板的插接接口与组件的插接接口，以 实现组件与主电路板正常插接的同时保证系统的安全性。为实现上述目的，本实用新型第一实施例提供了一种主电路板的插接接口，包括 电源输入开关单元和第一主电路板接口，其中，所述电源输入开关单元，包括电信号检测端；电源输入端，与所述电信号检测端电连接；以及电源输出端；所述第一主电路板接口，用于与组件的插接接口对应插接，包括电源输入引脚，与所述电源输入开关单元的所述电源输出端连接；第一测试信号输入引脚，与所述电源输入开关单元的所述电信号检测端连接；第一测试信号输出引脚，所述第一测试信号输出引脚接地；所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信号输出引脚设置于所述第一主电 路板接口的两端；[0016]所述电源输入开关单元用于检测所述第一测试信号输入弓I脚是否存在电信号，如 果存在，则导通所述电源输入端与所述电源输出端，否则，不导通所述电源输入端与所述电 源输出端。为实现上述目的，本实用新型第二实施例提供了一种主电路板的插接接口，包括 电源输入开关单元和多个第一主电路板接口，其中，所述电源输入开关单元，包括电信号检测端；电源输入端，与所述电信号检测端电连接；以及电源输出端；所述第一主电路板接口，用于与组件的插接接口对应插接，每个所述第一主电路 板接口，包括电源输入引脚，与所述电源输出端连接；第一测试信号输入引脚；第一测试信号输出引脚；所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信号输出引脚设置于所述第一主电 路板接口的两端；所述多个第一主电路板接口通过所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信 号输出引脚串接在一起，其中前一个所述第一主电路板接口的第一测试信号输出引脚与后 一个所述第一主电路板接口的第一测试信号输入引脚连接；处于前端的所述第一主电路板 接口的第一测试信号输入引脚与所述电信号检测端连接；处于末端的所述第一主电路板接 口的第一测试信号输出引脚接地。为实现上述目的，本实用新型第三实施例提供了一种组件的插接接口，包括设置在所述组件的插接接口两端的第二测试信号输入引脚和第二测试信号输出 引脚；所述第二测试信号输入引脚和所述第二测试信号输出引脚电连接；当所述组件的插接接口与主电路板的插接接口相插接后，所述第二测试信号输入 引脚与所述主电路板的插接接口的第一测试信号输入引脚相对接，所述第二测试信号输出 引脚与所述主电路板的插接接口的第一测试信号输出引脚相对接。为实现上述目的，本实用新型第四实施例提供了一种主电路板的插接接口，包括 电源输入电路、第三组件检测电路以及第三主电路板接口 ；其中所述电源输入电路，包括电源输入端；电源输出端；输入控制端；所述第三组件检测电路，包括第三检测信号输入端；第三检测信号输出端，与所述电源输入电路的所述输入控制端连接，用于控制所 述电源输入端与所述电源输出端导通；所述第三主电路板接口，包括[0041]第三测试信号输入引脚，与测试电源连接，用于向所述第三主电路板接口提供测 试信号；第三测试信号输出引脚，与所述第三组件检测电路的所述第三检测信号输入端 连接，用于控制所述第三组件检测电路产生一检测信号，并由所述第三检测信号输出端输 出；第三电源输入引脚，与所述电源输入电路的所述电源输出端连接。为实现上述目的，本实用新型第五实施例提供了一种组件的插接接口，包括第二测试信号输入引脚和第二测试信号输出引脚，所述第二测试信号输入引脚和 所述第二测试信号输出引脚电连接；当所述组件的插接接口与主电路板的插接接口相插接后，所述第二测试信号输入 引脚与所述主电路板的插接接口的第三测试信号输入引脚相对接，所述第二测试信号输出 弓丨脚与所述主电路板的插接接口的第三测试信号输出引脚相对接。为实现上述目的，本实用新型第六实施例提供了一种主电路板的插接接口，包括 电源输入电路、第四组件检测电路以及第四主电路板接口；其中，所述电源输入电路，包括电源输入端；电源输出端；输入控制端；所述第四组件检测电路，包括第四检测电源输入端，与检测电源连接；第四检测信号输入端；第四检测信号输出端，与所述电源输入电路的所述输入控制端连接，用于控制所 述电源输入端与所述电源输出端导通；所述第四主电路板接口，包括第四电源输入引脚，与所述电源输出端电连接；第四测试信号引脚，与所述第四组件检测电路的所述第四检测信号输入端连接。为实现上述目的，本实用新型第七实施例提供了一种组件的插接接口，包括第二测试信号引脚，所述第二测试信号引脚接地；当所述组件的插接接口与主电路板的插接接口相插接后，所述第二测试信号引脚 与所述主电路板的插接接口的第四测试信号引脚相对接。由上述技术方案可知，本实用新型实施例提供的主电路板的插接接口通过设置测 试信号弓I脚以及组件检测电路对组件插接情况进行检测，并由检测结果控制组件电源的导 通；本实用新型实施例提供的组件的插接接口，与主电路板的插接接口相适应，也设置有测 试信号引脚，并与主电路板的插接接口中测试信号引脚和组件检测电路形成回路，检测组 件的插接情况，根据检测结果控制组件电源的导通，因此，本实用新型实施例提供的主电路 板的插接接口和组件的插接接口，通过配合使用可以保证组件正常插接，并在正常插接后 才给组件供电，保证了系统的安全性。
图1为本实用新型主电路板的插接接口实施例一的结构示意图； 图2为本实用新型组件的插接接口实施例一的结构示意图；图3为本实用新型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接的实施例一的 结构示意图；图4为本实用新型主电路板的插接接口实施例二的结构示意图；图5为本实用新型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接实施例二的结 构示意图；图6为本实用新型主电路板的插接接口实施例三的结构示意图；图7为本实用新型组件的插接接口实施例三的结构示意图；图8为本实用新型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接实施例三的结 构示意图；图9为本实用新型主电路板的插接接口实施例四的结构示意图；图10为本实用新型组件的插接接口实施例四的结构示意图；图11为本实用新型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接实施例四的结 构示意图；图12为本实用新型主电路板的插接接口实施例五的结构示意图；图13为本实用新型组件的插接接口实施例五的结构示意图；图14为本实用新型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接实施例五的结 构示意图。
具体实施方式
下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。在实际应用中，不同组件的引脚数目不同，主电路板上的插接部位与不同的组件 相适应，本实用新型以下各实施例中主电路板上的插接接口以及组件的插接接口均以包含 十个引脚为例进行说明。图1为本实用新型主电路板的插接接口实施例一的结构示意图；图2为本实用新 型组件的插接接口实施例一的结构示意图；图3为本实用新型主电路板的插接接口与组件 的插接接口相插接的实施例一的结构示意图。如图1所示，本实用新型实施例提供的主电 路板的插接接口，包括电源输入开关单元10和第一主电路板接口 20。其中，电源输入开关 单元10具体包括电信号检测端103、电源输入端101和电源输出端102 ；第一主电路板接口 20具体包括电源输入引脚202，与电源输入开关单元10的电源输出端102连接，第一测试 信号输入引脚203，与电源输入开关单元10的电信号检测端103连接，第一测试信号输出弓丨 脚201，连接于一地信号，以及多个信号引脚204(如图1中引脚标号3-9所示)，其中，第一 测试信号输入引脚203和第一测试信号输出引脚201设置于第一主电路板接口 20的两端， 如图1所示，分别对应于第一主电路板接口 20的第一引脚1和第十引脚10。上述电源输入开关单元可以由晶体管实现，例如可以作为开关的三极管电路。上 述电源输入开关单元可以由MOS管组成，且以下各实施例均以由MOS管实现的电源输入开 关单元为例说明本实用新型的技术方案，但并不限制MOS管的类型。如图1所示，本实施例电源输入开关单元10主要由一 MOS管组成，其中，MOS管的漏极为电源输入端101，MOS管 的源极为电源输出端102，且MOS管的漏极和栅极之间串接一第一电阻105，M0S管的栅极与 电信号检测端103之间串接一第二电阻106。电源输入开关单元10用于检测第一测试信号 输入引脚203是否存在电信号，如果存在，则导通电源输入端101与电源输出端102，否则， 电源输入端101与电源输出端102不导通 如图2所示，本实施例提供的组件的插接接口 30包括第二测试信号输入引脚301、 第二测试信号输出引脚302以及多个信号引脚303(如图2中引脚标号2-9所示)，其中， 第二测试信号输入引脚301与第二测试信号输出引脚302设置在组件的插接接口 30的两 端，如图2所示，分别为组件的插接接口 30的第一引脚1与第十引脚10，并且通过连接线 进行电性连接，所用连接线可以是导线，本实施例并不对此进行限制。本实用新型实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口，需要配合使 用，其对接之后的结构示意图如图3所示，当组件的插接接口 30与主电路板的插接接口中的 第一主电路板接口 20相插接后，第二测试信号输入引脚301与第一主电路板接口 20的第一 测试信号输入引脚203相对接，第二测试信号输出引脚302与第一主电路板接口 20的第一测 试信号输出引脚201相对接。结合图1、图2及图3，本实用新型插接接口工作原理如下如图3所示，第一电阻105、第二电阻106、第一测试信号输入引脚203、第二测试信 号输入引脚301、第二测试信号输出引脚302、第一测试信号输出引脚201以及地信号构成 第一电路；电源输入端101、电源输出端102以及电源输入引脚202相连通；当电源输入端 101与电源连接后，如果组件的插接接口 30的第二测试信号输入引脚301与第一主电路板 接口 20的第一测试信号输入引脚203，以及第二测试信号输出引脚302与第一主电路板接 口 20的第一测试信号输出引脚201插接后接触良好，则第一电路为通路，第一电路中存在 电流，电流使得第二电阻106产生压降，所述压降使MOS管导通，电源输入端101与电源输 出端102被导通，主系统通过主电路板的插接接口给组件上电；反之，如果组件的插接接口 30的测试信号引脚与第一主电路板接口的测试信号引脚插接后接触不良，则第一电路为断 路，第一电路中无电流，第二电阻106上无压降，MOS管不导通，主系统不给组件上电。本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口中，测试信号引脚(包括 第一、第二测试信号输入引脚和第一、第二测试信号输出引脚)设置在插接接口的两端，由 于在实际工程中，插接组件时多数情况是对组件的中间部位施力，这样使得两端引脚存在 接触不良的概率远大于中间部位的，当组件与主电路板上两端的对接引脚接触良好时，能 够保证中间部位的对接引脚接触良好，因此，本实用新型采用组件和主电路板上两端的引 脚做测试信号引脚具有实际应用价值，符合工程实际。本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口，通过上述工作原理保证 在组件未与主电路板插接正常插接或者对接引脚存在接触不良时，主系统不给组件上电， 在保证组件与主电路板的正常插接的同时保证了系统的安全性。图4为本实用新型主电路板的插接接口实施例二的结构示意图；图5为本实用新 型主电路板的插接接口与组件的插接接口相插接实施例二的结构示意图。如图4所示，本 实施例提供的主电路板的插接接口，包括电源输入开关单元10和多个第一主电路板接口， 本实施例中主电路板的插接接口包含三个第一主电路板接口 20、21、22，本实施例以三个第 一主电路板接口为例用于说明本实用新型的技术方案，并不限于此。[0087]其中，电源输入开关单元10，具体包括电信号检测端103、电源输入端101以及电 源输出端102，本实施例中电源输入开关单元具体实现同上述实施例，在此不再赘述；第一 主电路板接口 20具体包括电源输入引脚202、第一测试信号输入引脚203、第一测试信号 输出引脚201 ；第一主电路板接口 21具体包括电源输入引脚212、第一测试信号输入引脚 213、第一测试信号输出引脚211 ；第一主电路板接口 22具体包括电源输入引脚222、第一测 试信号输入引脚223、第一测试信号输出引脚221 ；第一测试信号输入引脚203、213、223与 第一测试信号输入引脚201、211、221分别设置于第一主电路板接口 20、21、22的两端； 多个第一主电路板接口通过第一测试信号输入引脚和第一测试信号输出引脚串 接在一起，在本实施例中，第一主电路板接口 20的第一测试信号输出引脚201与第一主电 路板接口 21的第一测试信号输入引脚213连接，第一主电路板接口 21的第一测试信号输 出引脚211与第一主电路板接口 22的第一测试信号输入引脚223连接；如图4所示，第一 主电路板接口 20处于主电路板的插接接口的前端，其第一测试信号输入引脚203与电信号 检测端103连接；第一主电路板接口 22处于主电路板的插接接口的末端，其第一测试信号 输出引脚221接地。本实用新型实施例提供的主电路板的插接接口与上述实施例中组件的插接接口 配合使用，其对接之后的结构示意图如图5所示，组件的插接接口 30与第一主电路板接口 20相插接，组件的插接接口 31与第一主电路板接口 21相插接，组件的插接接口 32与第一 主电路板接口 22相插接，则，第一测试信号输入引脚203与组件的插接接口 30的第二测试 信号输入引脚相对接，第一测试信号输出引脚201与组件的插接接口 30的第二测试信号输 出引脚相对接；第一测试信号输入引脚213与组件的插接接口 31的第二测试信号输入引 脚相对接，第一测试信号输出引脚211与组件的插接接口 31的第二测试信号输出引脚相对 接；第一测试信号输入引脚223与组件的插接接口 32的第二测试信号输入引脚相对接，第 一测试信号输出引脚221与组件的插接接口 32的第二测试信号输出引脚相对接；结合图2、图4及图5，本实施例插接接口工作原理如下如图5所示，第一测试信号输入引脚203、组件的插接接口 30的第二测试信号输入 引脚、组件的插接接口 30的第二测试信号输出引脚、第一测试信号输出引脚201、第一测试 信号输入引脚213、组件的插接接口 31的第二测试信号输入引脚、组件的插接接口 31的第 二测试信号输出引脚、第一测试信号输出引脚211、第一测试信号输入引脚223、组件的插 接接口 32的第二测试信号输入引脚、组件的插接接口 32的第二测试信号输出引脚以及第 一测试信号输出引脚221形成第二电路；当各个对接测试引脚之间接触良好时，第二电路 为通路，当电源输入端与电源接通时，第二电路中有电流，第二电阻106上有压降，使MOS管 导通，主系统给组件上电；反之，当对接后的测试信号引脚之间存在接触不良时，第二电路 为断路，第二电路中无电流，第二电阻106上无压降，MOS管不导通，主系统不给组件上电；本实施例提供的主电路板的插接接口也选择位于主电路板接口两端的引脚作为 测试信号引脚，原因同上述实施例，不再赘述。本实施例提供的主电路板的插接接口包含多个第一主电路板接口，通过与多个组 件的插接接口配合使用，根据上述工作原理，可以检测出组件与主电路板的插接是否正常， 能够及时实现组件与主电路板的正常插接，并当组件与主电路板未能正常插接时，主系统 不给组件上电，只有组件与主电路板插接正常时，主系统才给组件上电，保证了系统的安全性。在上述技术方案中，多个组件中只要存在一个与主电路板未能正常插接，主系统就不会给组件上电，所有组件都不能工作。在电控系统中，往往有多个关键组件作为电控系 统的核心，只有关键组件工作起来后其他组件才能工作，这就要求所有关键组件都要与主 电路板正常插接，因此上述技术方案适合用于关键组件与主电路板的插接。而在电控系统 中，还有许多次要组件，这些次要组件工作时也需要插接到主电路板上，但是各个次要组件 之间是独立的，因此需要适合用于次要组件的插接接口。图6为本实用新型主电路板的插接接口实施例三的结构示意图；图7为本实用新 型组件的插接接口实施例三的结构示意图；图8为本实用新型主电路板的插接接口与组件 的插接接口相插接实施例三的结构示意图。如图6所示，本实施例提供的主电路板的插接 接口，包括电源输入电路60、第三组件检测电路80以及第三主电路板接口 70 ；其中电源输 入电路60，具体包括电源输入端602、电源输出端603、输入控制端601 ；第三组件检测电路 80，具体包括第三检测信号输入端801、第三检测信号输出端802 ；第三主电路板接口 70，具 体包括第三测试信号输入引脚702、第三测试信号输出引脚701、第三电源输入引脚703，本 实施例并不限制第三测试信号输入引脚与第三测试信号输出引脚的设置位置，但结合应用 中的实际情况，一般选择第三主电路板接口两端的两个引脚作为第三测试信号输入引脚 和第三测试信号输出引脚。上述电源输入电路可以由晶体管实现，例如可以是作为开关的三极管电路，其具 体的实现方式与现有的三极管开关电路相同，但并不限于此，上述电源输入电路也可以由 MOS管实现，如图6所示，电源输入电路60由一 MOS管组成，本实施例并不限制MOS管的类 型，且在以下各实施例中均以MOS管为例进行说明，所述MOS管的漏极为电源输入端602， MOS管的源极为电源输出端603、MOS管的栅极为输入控制端601，其中输入控制端601与 MOS管的栅极之间通过串接一第一限流电阻604保护MOS管，电源输出端603与第三主电路 板接口 70的第三电源输入引脚703电连接，输入控制端601的控制信号用于控制MOS管的 导通与截止，从而控制电源输入电路60对组件进行上电。如图6所示，第三组件检测电路80具体为一光电耦合器，光电耦合器的输入端作 为第三检测信号输入端801，与第三主电路板接口 70的第三测试信号输出引脚701通过第 二限流电阻704电连接，光电耦合器的输出端作为第三检测信号输出端802，并与电源输入 电路60的输入控制端601电连接，用其输出的检测信号控制MOS管的导通，第三组件检测 电路80用于根据第三检测信号输入端801的信号产生检测信号，通过第三检测信号输出端 802输出以控制电源输入电路60。本实施例并不限制第三组件检测电路80的具体实现方 式，所有能够实现组件检测电路功能的器件都可以，光电耦合器是一种较佳的实现方式。如图7所示，本实施例提供的组件的插接接口，包括第二测试信号输入引脚901、 第二测试信号输出引脚902以及多个信号引脚903，第二测试信号输入引脚901和第二测试 信号输出引脚902电连接，本实施例中第二测试信号输入引脚901和第二测试信号输出引 脚902之间串接一二极管，所述二极管串接在第二测试信号输入引脚901上，用于区分不同 的组件。当组件的插接接口与主电路板的插接接口相插接后，第二测试信号输入引脚与主 电路板的插接接口的第三测试信号输入引脚相对接，第二测试信号输出引脚与主电路板的插接接口的第三测试信号输出引脚相对接。本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口在实际应用中需要相互 配合，其对接之后的结构如图8所示，结合图6、图7及图8，本实施例的插接接口工作原理 如下组件的插接接口 90与主电路板的插接接口的第三主电路板接口 70对接后，第三 测试信号输入引脚702、第二测试信号输入引脚901、第二测试信号输出引脚902、第三测试 信号输出引脚701、第三组件检测电路80(本实施例中具体为光电耦合器)以及电源输入电 路60的输入控制端601形成一第三电路；若组件与主电路板相互对接的测试信号引脚之间 接触良好，当第三测试信号输入引脚702接通电源时，第三电路形成一通路，光电耦合器的 第三检测信号输入端801检测到电信号，第三检测信号输出端802输出一检测电流，该检测 电流使第一限流电阻604上产生压降，从而导通MOS管，主系统给组件上电；若组件与主电 路板的相互对接的测试信号引脚之间接触不良，则当第三测试信号输入引脚702接通电源 时，第三电路为断路，光电耦合器的第三检测信号输入端801检测不到电信号，光电耦合器 不工作，导致MOS管不被导通，主系统不给组件上电。本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口，通过上述工作原理，可 以检测出组件与主电路板的插接是否正常，能够及时实现组件与主电路板的正常插接，并 当组件与主电路板未能正常插接时，主系统不给组件上电，只有组件与主电路板插接正常 时，主系统才给组件上电，保证了系统的安全性。在上述技术方案的基础上，本实施例提供的主电路板的插接接口还可以包括两个 第三主电路板接口，并通过与组件的插接接口配合使用，且本实施例提供的组件的插接接 口还可以判断出未正常插接的组件，例如，当用两个引脚作为测试引脚时，通过改变组件的 插接接口中二极管的连接位置，可以区分两个组件，具体为根据二极管的导通特性。在上述技术方案中主电路板的插接接口中组件检测电路的地信号不同于主系统 的地信号，因此上述主电路板的插接接口中检测的是数字信号，下面实施例提供的主电路 板的插接接口中的组件检测电路通过采用模数转换器以及电阻网络实现，组件检测电路中 的地信号与主系统的地信号相同，整个插接接口工作时电路中的信号为模拟信号，适用于 组件很多的情况。图9为本实用新型主电路板的插接接口实施例四的结构示意图；图10为本实用 新型组件的插接接口实施例四的结构示意图；图11为本实用新型主电路板的插接接口与 组件的插接接口相插接实施例四的结构示意图。在图6所示的主电路板的插接接口基础 上，本实施例提供的主电路板的插接接口中第三组件检测电路80具体为模数转换器，而电 阻705直接与主系统的地信号连接。如图10所示，为与本实施例的主电路板的插接接口相 适应的组件的插接接口的结构，组件的插接接口 90的第二测试信号输入引脚901和第二测 试信号输出引脚902之间串接一电阻905，与图7所示的二极管不同，电阻905与主电路板 的插接接口中的电阻705 —起构成电阻网络。本实施例中插接接口的对接结构如图11所 示，其工作原理与上述实施例的不同之处在于第三组件检测电路80即模数转换器对第三 测试信号输出引脚701上的电流进行采样，并将采样结果输出给CPU，CPU对采样数据进行 分析处理，判断组件与主电路板之间是否正常插接，并根据判断结果去控制电源输入电路 60的导通，从而实现当组件与主电路板正常插时给组件上电，当组件与主电路板插接存在问题时，不给组件上电，保护系统安全。在上述技术方案的基础上，主电路板的插接接口还可以包括多个第三主电路板接 口，不同第三主电路板接口可以通过设置不同阻值的电阻905与电阻705实现，由于电阻 网络不同，模数转换器采样的不同第三主电路板接口的数据不同，因此可以通过电阻网络 区分不同的第三主电路板接口，并且电阻网络中的信号为模拟信号，模拟信号所能表示的 数量范围比数字信号要多很多，适用于多个组件与主电路板插接的情况，上述技术方案的 实现需要组件的插接接口与主电路板的插接接口相适应。本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口，通过上述工作原理，可 以检测出组件与主电路板的插接是否正常，能够及时实现组件与主电路板的正常插接，并 当组件与主电路板未能正常插接时，主系统不给组件上电，只有组件与主电路板插接正常 时，主系统才给组件上电，保证了系统的安全性。图12为本实用新型主电路板的插接接口实施例五的结构示意图；图13为本实用 新型组件的插接接口实施例五的结构示意图；图14为本实用新型主电路板的插接接口与 组件的插接接口相插接实施例五的结构示意图。如图12所示，本实施例提供的主电路板的 插接接口，包括电源输入电路60、第四组件检测电路800以及第四主电路板接口 700。其中， 电源输入电路60，具体包括电源输入端602、电源输出端603、输入控制端601 ；第四组件检 测电路800，具体包括第四检测电源输入端805、第四检测信号输入端803、第四检测信号输 出端806，其中，第四检测电源输入端805与检测电源连接，第四检测信号输出端806与电源 输入电路60的输入控制端连接601，用于控制电源输入端602与电源输出端603导通；第四 主电路板接口 700，具体包括第四电源输入引脚706，与电源输入电路60的电源输出端603 连接，以及第四测试信号引脚707，与第四组件检测电路800的第四检测信号输入端803连 接。其中，本实施例中电源输入电路60具体为MOS管，其连接关系和工作原理同上述 实施例，在此不再赘述；本实施例中第四组件检测电路800具体为光电耦合器，与上述实施 例不同之处在于，光电耦合器中的发光部件的输入引脚输入的信号与输出引脚所输出的 信号具体形式不同，但是本领域技术人员根据对光电耦合器工作原理的理解，都能实现本 实施的技术方案，且其工作原理同上述实施例，在此不再赘述。如图13所示，为与本实施例主电路板的插接接口相适应的组件的插接接口 90，包 括第二测试信号引脚908，与地信号连接，且该地信号不同于主系统中的地信号。当所述的插接接口与主电路板的插接接口相插接后，第二测试信号引脚与主电路 板的插接接口的第四测试信号引脚相对接，其对接后的结构如图14所示，结合图12、图13 及图14，本实施例的插接接口的工作原理如下电源输入电路60的输入控制端601、第四组件检测电路800、第四主电路板接口 700的第四测试信号引脚707、组件的插接接口 90的第二测试信号引脚908，以及地信号 形成第四电路。若组件与主电路板的相互对接的测试信号引脚之间接触良好，当第四检测 电源输入端805接通电源时，第四电路形成一通路，第四电路中通有电流，使第一限流电阻 604上产生压降，从而导通MOS管，主系统给组件上电；反之，在第四检测电源输入端805接 通电源的情况下，若组件与主电路板相互对接的测试信号引脚之间接触不良，则第四电路 为断路，光电耦合器不工作，导致MOS管不被导通，主系统不给组件上电。[0113]本实施例提供的主电路板的插接接口与组件的插接接口，通过上述工作原理，可 以检测出组件与主电路板的插接是否正常，能够及时实现组件与主电路板的正常插接，并 当组件与主电路板未能正常插接时，主系统不给组件上电，只有组件与主电路板插接正常 时，主系统才给组件上电，保证了系统的安全性。
上述技术方案中，测试信号输入引脚为一个，结合实际应用，一般选择第四主电路 板接口的两端的引脚做测试引脚，在上述实施例基础上，本实施例中主电路板的插接接口 可以包括两个第四主电路板接口，分别选择第四主电路板接口的第九引脚9和第十引脚 10作为第四测试信号引脚，相应的组件的插接接口中的第二测试信号引脚也选择第九引脚 9和第十引脚10，可用于两个组件与主电路板插接的情况。综上所述，本实用新型实施例通过提供主电路板的插接接口与组件的插接接口， 并使两者配合使用，结合上面所述的各种工作原理，可以检测出组件与主电路板的插接是 否正常，能够及时实现组件与主电路板的正常插接，并当组件与主电路板未能正常插接时， 主系统不给组件上电，只有组件与主电路板插接正常时，主系统才给组件上电，保证了系统 的安全性。最后应说明的是以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对其进行限 制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理 解其依然可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替 换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型技术方案的精神和范围。
权利要求一种主电路板的插接接口，其特征在于，包括电源输入开关单元和第一主电路板接口，其中，所述电源输入开关单元，包括电信号检测端；电源输入端，与所述电信号检测端电连接；以及电源输出端；所述第一主电路板接口，用于与组件的插接接口对应插接，包括电源输入引脚，与所述电源输入开关单元的所述电源输出端连接；第一测试信号输入引脚，与所述电源输入开关单元的所述电信号检测端连接；第一测试信号输出引脚，所述第一测试信号输出引脚接地；所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信号输出引脚设置于所述第一主电路板接口的两端；所述电源输入开关单元用于检测所述第一测试信号输入引脚是否存在电信号，如果存在，则导通所述电源输入端与所述电源输出端，否则，不导通所述电源输入端与所述电源输出端。
2.根据权利要求1所述的主电路板的插接接口，其特征在于，所述电源输入开关单元， 包括MOS管，所述MOS管的漏极为所述电源输入端，所述MOS管的源极为所述电源输出端； 第一电阻，连接于所述MOS管的漏极和所述MOS管的栅极之间； 第二电阻，连接于所述MOS管的栅极和所述电信号检测端。
3.—种主电路板的插接接口，其特征在于，包括电源输入开关单元和多个第一主电 路板接口，其中，所述电源输入开关单元，包括 电信号检测端；电源输入端，与所述电信号检测端电连接；以及 电源输出端；所述第一主电路板接口，用于与组件的插接接口对应插接，每个所述第一主电路板接 口，包括电源输入引脚，与所述电源输入开关单元的所述电源输出端连接； 第一测试信号输入引脚； 第一测试信号输出引脚；所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信号输出引脚设置于所述第一主电路板 接口的两端；所述多个第一主电路板接口通过所述第一测试信号输入引脚和所述第一测试信号输 出引脚串接在一起，其中前一个所述第一主电路板接口的第一测试信号输出引脚与后一个 所述第一主电路板接口的第一测试信号输入引脚连接；处于前端的所述第一主电路板接口 的第一测试信号输入引脚与所述电信号检测端连接；处于末端的所述第一主电路板接口的 第一测试信号输出引脚接地。
4.根据权利要求3所述的主电路板的插接接口，其特征在于，所述电源输入开关单元，包括MOS管， 所述MOS管的漏极为所述电源输入端，所述MOS管的源极为所述电源输出端； 第一电阻，连接于所述MOS管的漏极和所述MOS管的栅极之间； 第二电阻，连接于所述MOS管的栅极和所述电信号检测端。
专利摘要本实用新型涉及一种主电路板的插接接口，主电路板的插接接口可以包括电源输入开关单元和第一主电路板接口或者多个第一主电路板接口；主电路板的插接接口也可以是包括电源输入电路、第三组件检测电路以及第三主电路板接口，或者包括电源输入电路、第四组件检测电路以及第四主电路板接口的插接接口；组件的插接接口包括相互电连接的第二测试信号输入引脚和第二测试信号输出引脚；组件的插接接口包括接地的第二测试信号引脚。本实用新型提供的主板电路的插接接口与组件的插接接口，通过配合使用可以保证组件正常插接，并在正常插接后才给组件供电，保证了系统的安全性。
文档编号G05B19/02GK201766242SQ200920246630
公开日2011年3月16日 申请日期2009年10月21日 优先权日2009年10月21日
发明者彭金彪, 王海亮, 罗任飞 申请人:北京兴大豪科技开发有限公司