一种检测工装的制作方法

本实用新型涉及检测工装技术领域，特别涉及一种检测工装。

背景技术：

电子产品上用到的电路板以及芯片在生产出来后，需要对其进行测试以确保其能正常工作。大大批量生产的模式下，传统的人工检测已经不能满足实际生产的需求，目前工厂里通产会用检测工装来对电路板或芯片进行测试。

申请公布号为CN102629137A、申请公布日为2012年08月08日的中国专利公开了一种DSP控制板自动测试工装，包括底座及设置于底座上的工装控制板，所述底座的上表面包括一个水平横面和一个斜面，所述水平横面上设置有托盘，所述底座的水平横面与托盘之间设置有弹簧及弹性柱，所述弹性柱与托盘上开设的通孔相匹配，且其通过导线与底座上的工装控制板电连接，所述底座的水平横面上还设置有一支架，所述支架上铰接有一扳手，所述扳手与固定柱固定连接，所述固定柱与托盘正上方的压板固定连接，所述压板下端面设置有定位柱。

将DSP控制板定位在托盘上，压紧扳手，即可实现定位，且托盘与底座间弹性柱通过托盘上通孔与DSP控制板上预留的测试点接触，形成通路，即可实现自动检测，操作简单，提高了检测效率。此外，扳手的形状呈“L”形，且扳手的短边与支架铰接，转动扳手可使固定柱上下移动，当扳手的短边与固定柱平行时，可将固定柱锁住，这样可保证芯片被压到位后压板被锁定，从而为后续的检测带来便利。然而，现有技术的不足之处在于，如果被检测的芯片或电路板的厚度发生变化后，转动扳手虽可使芯片被压到位，但压板被到位后，扳手的短边并不与固定柱平行，此时压板无法被锁定，从而难以使现有技术较好地适用于检测不同厚度的芯片或电路板等检测元件。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种检测工装，其解决了难以较好地适用于不同厚度的芯片或电路板的检测的问题，具有满足不同厚度的芯片或电路板等检测元件进行检测的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种检测工装，包括固定座，设置在固定座上的支撑架，设置在支撑架上的把手，设置在把支撑架上的下压板和检测台，所述把手上设置有调节部，所述调节部包括套筒和柱状的活动件，所述活动件贯穿下压板设置，所述套筒一端与把手连接且另一端套设于活动件外部，所述套筒内壁上开设有卡接槽，所述活动件外壁设置有突块，所述突块与卡接槽内壁抵接，所述卡接槽包括竖直件、平移件，所述竖直件与平移件连通设置，所述竖直件沿活动件延伸方向设置，所述平移件沿与活动件端面水平的方向设置，相邻所述平移件之间设置有间隙，所述活动件的端头设置有抵接块，所述抵接块与下压板抵接。

采用上述结构，柱状的活动件上的突块卡入设有圆柱内腔的套筒内壁上的卡接槽中，先使突块进入竖直件中，根据待检测元件的厚度，转动活动件，使突块沿水平方向卡入平移件中，且相邻的平移件之间的间距较小，适合调整微小的高度变化，并使该过程平稳，且当突块卡入平移件中，使活动件达到高度的固定，从而使其与检测台之间的高度适合相应的待检测元件的放入。由于抵接块与下压板抵接，当活动件在套筒内进行高度调整时，下压板随着活动件一同进行调整，从而使下压板具有平稳调整高度的效果，从而调节下压板与检测台之间的间距，以适用于不同厚度的待检测元件进行检测。

进一步优选为：所述平移件上设置有阻挡块，所述阻挡块设置于远离竖直件的一端，所述阻挡块的侧壁与平移件抵接。

采用上述结构，当达到所需的高度时，转动活动件，使其水平转至平移件中，阻挡块对突块进行阻挡，使其保持在阻挡块所在位置的旁边，从而使活动件保持稳定，进而使下压板保持稳定。

进一步优选为：所述阻挡块为磁铁块。

采用上述结构，磁铁块与突块、卡固槽具有吸引作用，且阻挡块被卡在平移件中，从而便于活动件向阻挡块的快速移动，同时提高活动件与套筒之间的连接效果。

进一步优选为：所述竖直件与平移件连通处设置有圆角。

采用上述结构，当活动件调节至所需高度时，圆角便于其向水平方向转动，从而使活动件快速与阻挡块连接并达到高度的固定。

进一步优选为：所述突块的端面横截面为矩形。

采用上述结构，使突块在竖直件与平移件中移动时，较易保持平稳。

进一步优选为：所述支撑架上设置有滑移杆，所述滑移杆沿竖直方向直立设置，所述下压板上开设有通孔且通过通孔套设于滑移杆外部，所述通孔内壁上嵌设有滚珠，所述滚珠与滑移杆外壁抵接。

采用上述结构，当活动件带动下压板沿竖直方向运动时，滚珠与滑移杆抵接，可减少下压板与滑移件之间的摩擦力，便于下压板的上下活动，从而使下压板的高度便于控制和调节。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

在把手下方设置套筒和活动件，活动件外部设置有突块，使突块通过套筒上的竖直件、平移件这两种卡接槽进行高度调节，且在平移件中卡固阻挡块，使突块稳定地固定在阻挡块旁边，达到活动件的高度调整，因此，活动件端头处的抵接块带动下压板进行相应的高度调整。

附图说明

图1是实施例中检测工装的结构示意图；

图2是实施例中检测工装的结构示意图，主要用于体现活动件、突块、抵接块的结构；

图3是实施例中检测工装的结构示意图，主要用于体现竖直件、平移件、套筒、阻挡块的结构；

图4是实施例中检测工装的结构示意图，主要用于体现下压板、滑移杆、通孔、滚珠的结构。

图中，1、固定座；2、支撑架；3、把手；4、下压板；5、调节部；51、套筒；52、活动件；6、卡接槽；61、竖直件；62、平移件；7、突块；8、抵接块；9、阻挡块；10、滑移杆；11、通孔；12、滚珠；13、检测台；14、卡座。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

实施例：一种检测工装，如图1至图3所示，包括固定座1，在固定座1上垂直设置有支撑架2，在支撑架2上从上至下依次连接有卡座14、把手3、调节部5、下压板4、检测台13，其中，把手3设置在卡座14上，调节部5包括套筒51和柱状的活动件52，套筒51的上端与把手3铰接，活动件52从下压板4下方向上贯穿，活动件52底部突出设置有圆形的抵接件，通过抵接件将下压板4的下端面抵接，且套筒51的下端套设在活动件52上端的外部。活动件52外部设置有端面横截面为正方形的突块7，套筒51的内壁上开设有卡固槽，该卡固槽包括分别沿竖直方向和水平方向的竖直件61和平移件62，其中，竖直件61为一条，而平移件62为环形且与竖直件61连通，平移件62设置有若干条，且竖直件61和平移件62的宽度均与突块7的宽度相同，两者连接处均设置有圆角，从而使突块7与竖直件61、平移件62较为紧密的抵接，但可以相互移动。

参照图3，在平移件62中卡固有阻挡块9，该阻挡块9为磁铁块，且磁铁块远离竖直件61设置。

参照图1和图4，支撑架2上垂直设置有滑移杆10，下压板4的一侧设置有通孔11，且在通孔11中嵌设有四颗滚珠12，下压板4通过通孔11套设在滑移杆10上。下压板4与检测台13之间的高度可通过活动件52与套筒51进行调节。

旋转活动件52，使突块7沿着竖直件61向上移动，并将其转动使其卡在顶端的平移件62中，将把手3向上提起，使调节部5、下压板4向上平移，将待检测元件放置于检测台13的上端面，再向下按压把手3，使其带动调节部5、下压板4向检测台13靠近，但经上述调整后，下压板4与待检测元件之间具有较大的间距，防止下压板4对待检测元件造成损坏。反向旋转活动件52，使突块7进入竖直件61中，向下平移至待检测元件表面，再将活动件52旋入同一水平面的平移件62中，并受到阻挡块9的阻挡作用，活动件52水平旋转，使转动较为平稳，并使活动件52和下压板4均保持在该高度上，可对待检测元件进行下一步的操作。