一种数据振荡抑制方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种数据振荡抑制方法及装置，在获取到实物部件输出的实际测量量后，可以基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样；再基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果，通过上述振荡抑制处理后的实际测量量可以较好的跟随期望测量量而变化，从而实现对实际测量量的周期振荡抑制，降低实际测量量的振荡幅度，进而提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
【专利说明】
一种数据振荡抑制方法及装置
技术领域
[0001 ]本发明属于半实物仿真技术领域，更具体的说，尤其涉及一种数据振荡抑制方法及装置。
【背景技术】
[0002 ]在闭环控制半实物仿真试验系统中包括实物部件(如传感器)和模拟系统(如控制器模拟系统、执行机构模拟系统、被控对象以及目标运动模拟系统)，这些模拟系统通过对应的仿真模型运行于实时仿真系统或通过对应的物理效应模拟系统来实现。其中闭环控制半实物仿真试验系统为一个大闭环系统，而其组成中的实物部件(例如目标信息测量系统，用于实现对目标运动的稳定测量)，其本身也是一个闭环控制系统。
[0003]为了实现对目标运动的稳定测量，需要对上述目标信息测量系统事先进行数字仿真试验，并且在数字仿真试验中以闭环控制半实物仿真试验系统中被控对象与目标之间的位置差信息q(称为期望测量量)作为目标信息测量系统的输入，目标信息测量系统的输出以实际测量量qmeas表示，对整个目标信息测量系统进行闭环仿真试验。从目标信息测量系统的数字仿真试验结果来分析，实际测量量qmeas和期望测量量q的取值相等，即实际测量量qmeas精确地跟随期望测量量q变化，因此闭环控制半实物仿真试验系统的目标跟踪结果是满足系统要求的。
[0004]然而在实际应用中，闭环控制半实物仿真试验系统中的目标信息测量系统以实物部件代替，在采用实物部件开展试验过程中，实物部件输出的实际测量量qmeas不能很好地跟随期望测量量q发生变化，如图1所不，实物部件输出的实际测量量qmeas在前160秒存在一个周期振荡过程。当实物部件的输出存在周期振荡时，上述闭环控制半实物仿真试验系统中控制器模拟系统的输入信号将存在周期振荡，从而使得被控对象模拟系统的输出信号也存在周期振荡，而被控对象模拟系统的输出信号又作为目标信息测量系统的输入，使得整个闭环控制半实物仿真试验系统一直处在一个振荡调整过程中。
[0005]综上所述可知，在现有闭环控制半实物仿真试验系统中，任意一个实物部件性能存在周期振荡过程，这会导致整个闭环控制半实物仿真试验系统一直处于一个振荡调整过程中，因此亟需一种数据振荡抑制方法及装置，对实物部件输出的实际测量量qmeas进行振荡抑制处理，以使处理后的实际测量量qmeas较好的跟随期望测量量q而变化，提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
【发明内容】
[0006]有鉴于此，本发明的目的在于提供一种数据振荡抑制方法及装置，以对实际测量量的周期振荡进行抑制，提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。技术方案如下:
[0007]本发明提供一种数据振荡抑制方法，所述方法包括:
[0008]获取实物部件输出的实际测量量；
[0009]基于所述实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对所述实际测量量进行采样，其中所述采样频率高于所述振荡周期的振荡频率；
[0010]基于所述振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的所述实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将所述振荡抑制处理后的实际测量量作为所述实物部件的输出结果。
[0011]优选的，所述方法还包括:基于所述振荡频率设置所述采样频率，其中设置的所述采样频率与所述振荡频率的关系为:
[0012]采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。
[0013]优选的，所述方法还包括:判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象；
[0014]当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，对所述采样频率进行重新设置，且重新设置后的所述采样频率与所述振荡频率的关系为:
[0015]重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。
[0016]优选的，所述方法还包括:基于所述振荡周期和所述采样频率设置所述均值提取参数，其中设置的所述均值提取参数与所述振荡周期和所述采样频率的关系为:
[0017]均值提取参数=振荡周期X采样频率。
[0018]优选的，所述方法还包括:判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象；
[0019]当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，基于振荡周期和重新设置后的采样频率，对所述均值提取参数进行重新设置，其中重新设置后的所述均值提取参数与所述振荡周期和重新设置后的所述采样频率的关系为:
[0020]重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。
[0021 ]本发明还提供一种数据振荡抑制装置，所述装置包括:
[0022]获取单元，用于获取实物部件输出的实际测量量；
[0023]采样单元，用于基于所述实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对所述实际测量量进行采样，其中所述采样频率高于所述振荡周期的振荡频率；
[0024]处理单元，用于基于所述振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的所述实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将所述振荡抑制处理后的实际测量量作为所述实物部件的输出结果。
[0025]优选的，所述装置还包括:第一设置单元，用于基于所述振荡频率设置所述采样频率，其中设置的所述采样频率与所述振荡频率的关系为:
[0026]采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。
[0027]优选的，所述装置还包括:第一判断单元，用于判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发所述第一设置单元对所述采样频率进行重新设置，且重新设置后的所述采样频率与所述振荡频率的关系为:
[0028]重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。
[0029]优选的，所述装置还包括:第二设置单元，用于基于所述振荡周期和所述采样频率设置所述均值提取参数，其中设置的所述均值提取参数与所述振荡周期和所述采样频率的关系为:
[0030]均值提取参数=振荡周期X采样频率。
[0031]优选的，所述装置还包括:第二判断单元，用于判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发所述第二设置单元基于振荡周期和重新设置后的采样频率，对所述均值提取参数进行重新设置，其中重新设置后的所述均值提取参数与所述振荡周期和重新设置后的所述采样频率的关系为:
[0032]重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。
[0033]与现有技术相比，本发明提供的上述技术方案具有如下优点:
[0034]本发明提供的上述技术方案，在获取到实物部件输出的实际测量量后，可以基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样;再基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果，通过上述振荡抑制处理后的实际测量量可以较好的跟随期望测量量而变化，从而实现对实际测量量的周期振荡抑制，降低实际测量量的振荡幅度，进而提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
【附图说明】
[0035]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1是实物部件输出的实际测量量qmeas与期望测量量q的比较示意图；
[0037]图2是本发明实施例提供的数据振荡抑制方法的一种流程图；
[0038]图3是本发明实施例提供的采样示意图；
[0039]图4是本发明实施例提供的原始的实际测量量的振荡部分与期望测量量q的比较示意图；
[0040]图5是本发明实施例提供的数据振荡抑制方法的另一种流程图；
[0041]图6是本发明实施例提供的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter与期望测量量q的比较示意图；
[0042]图7是基于图6所示的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter，得到的闭环控制半实物仿真试验系统的目标跟踪结果的示意图；
[0043]图8是现有闭环控制半实物仿真试验系统的目标跟踪结果的示意图；
[0044]图9是本发明实施例提供的数据振荡抑制方法的再一种流程图；
[0045]图10是本发明实施例提供的数据振荡抑制装置的一种结构示意图；
[0046]图11是本发明实施例提供的数据振荡抑制装置的另一种结构示意图；
[0047]图12是本发明实施例提供的数据振荡抑制装置的再一种结构示意图。
【具体实施方式】
[0048]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0049]请参阅图2，其示出了本发明实施例提供的数据振荡抑制方法的流程图，用来对实物部件输出的实际测量量进行周期振荡抑制，具体可以包括以下步骤:
[0050]300:获取实物部件输出的实际测量量。
[0051]400:基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样。在本发明实施例中，采样频率高于振荡周期的振荡频率，之所以如此设置两个频率的关系是为了:确保采样后的实际测量量可以保留原始的实际测量量的主要信息，且确保采样后的实际测量量不失真。下面以图3所示的实际测量量为例进行说明。
[0052]在图3中，实际测量量的振荡周期为2秒，对应的振荡频率为1/2= 0.5Hz。黑色离散点为采样点，其采样周期设定为0.5秒，BP0.5秒采样一个点，由众多的采样点基本能够勾划出原始的实际测量量的轮廓，即保持了原始的实际测量量的主要信息，确保采样后的实际测量量不失真，因此在采样频率高于振荡频率的情况下，采样后的实际测量量具有:保存原始的实际测量量的主要信息且不失真的优点。
[0053]如果采样周期设定为2秒或3秒，对应的采样频率为1/2= 0.5Hz或1/3 = 0.3Hz，此时采样频率等于或低于振荡频率，这样在一个振荡周期内无法采样到较多的信息，导致采样后的实际测量量严重失真，就无法使用采样后的实际测量量进行下一步工作。
[0054]在这里需要说明的一点是:在实际设置采样频率过程中，原理上是采样频率越高越好，采样频率越高，越能保留原始的实际测量量的所有信息，但由于原始的实际测量量的振荡部分是一个无用信号，所述振荡部分叠加到期望测量量q之上，如图4所示。其中虚线曲线代表的振荡部分是无用信号，即需要抑制的信号，而中间实线曲线代表的信号是有用信号，是需要保留部分，因此在设定采样频率时，需要综合考虑这两种信号的实际频率来折中取值。
[0055]至此，本发明实施例提供的数据振荡抑制方法还可以包括步骤100:基于振荡频率设置采样频率，如图5所示。在设置采样频率时，需要为其搭建设置仿真模型，其中设置仿真模型可以采用现有技术来搭建，如设置仿真模型可以用Simulink搭建，也可以用C语言编写程序实现，设置仿真模型的步长需要根据实物部件的工作周期来确定。并且按照采样频率高于振荡频率的原则，设置采样频率，例如采样频率高于振荡频率即可，又或者采样频率与振荡频率满足的关系是:采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数，即采样频率是振荡频率的M倍。
[0056]500:基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果。
[0057]在本发明实施例中，均值处理过程可以采用常用的求均值方法，如在对实际测量量进行采样，对采样得到的N个值进行相加再除以N即可，并且可以以步长为单位，每次均取最近采样得到的N个值进行均值提取操作。
[0058]其中步长需要根据实物部件的工作周期来确定，例如实物部件的测量周期为I毫秒，则步长需要设定为I毫秒，如果实物部件的测量周期为10毫秒，则步长需要设定为10毫秒。
[0059]基于本发明实施例提供的数据振荡抑制方法，对实物部件进行仿真试验，以qmeasfilter表示振荡抑制处理后的实际测量量，其与期望测量量q之间的比较示意图如图6所示，从图6可以看出经过本发明实施例提供的数据振荡抑制方法得到的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter可以较好地跟随期望测量量q而变化，其振荡幅度明显降低。进一步基于图6显示的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter，闭环控制半实物仿真试验系统的目标跟踪结果也得到很好的改善，如图7所示，与图8所示现有目标跟踪结果来比较，基于图6显示的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter的情况下，整个闭环控制半实物仿真试验系统的振荡调整过程明显降低，进而提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
[0060]综上可知，本发明提供的数据振荡方法在获取到实物部件输出的实际测量量后，可以基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样;再基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果，通过上述振荡抑制处理后的实际测量量可以较好的跟随期望测量量而变化，从而实现对实际测量量的周期振荡抑制，降低实际测量量的振荡幅度，进而提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
[0061]在本发明实施例中，均值提取参数的取值与采样频率和振荡周期相关，为此本发明实施例提供的数据振荡抑制方法还包括步骤200:基于振荡周期和采样频率设置均值提取参数。
[0062]在设置均值提取参数时，需要为其搭建设置仿真模型，其中设置仿真模型可以采用现有技术来搭建，如设置仿真模型可以用Simulink搭建，也可以用C语言编写程序实现，设置仿真模型的步长需要根据实物部件的工作周期来确定。通过设置仿真模型得到的均值提取参数与采样频率和振荡周期的关系为:均值提取参数=振荡周期X采样频率。
[0063]举例来说，振荡周期为20秒，对应的振荡频率为1/20= 0.05Hz，均值处理过程要求取中间平均值，则可考虑用20秒的数据进行求平均。假设采样频率为20Hz，S卩I秒采样20个点，则20秒数据为400个点，因此用于求取均值的均值提取参数可以设定为400。
[0064]在设置上述采样频率和均值提取参数后，还可以进一步:判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象;其中，判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象的方法有:一种方法是循环读取振荡抑制处理后的实际测量量，判断振荡抑制处理后的实际测量量中是否有重复相同的数据，如果有相同重复的数据(重复3次以上)，则可判断振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象;另一种方法是对振荡抑制处理后的实际测量量取自相关，例如用MATLAB的autocorrr函数求取自相关数据，对自相关数据求取峰值(极大值)，如果只有一个明显的峰值，即最大值只有一个，而且最大值比次大值大很多，例如超过5倍以上，则可判断振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象。
[0065]当判断出振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，则需要对上述采样频率和均值提取参数进行重新设置，重新设置后的采样频率与振荡频率的关系仍满足:重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数;而均值提取参数则需要基于振荡周期和重新设置后的采样频率进行设置，且重新设置后的均值提取参数与振荡周期和重新设置后的采样频率的关系仍满足:重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。
[0066]对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
[0067]与上述方法实施例相对应，本发明实施例还提供一种数据振荡抑制装置，其结构示意图如图10所示，可以包括:获取单元11、采样单元12和处理单元13。
[0068]获取单元11，用于获取实物部件输出的实际测量量。
[0069]采样单元12，用于基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样。在本发明实施例中，采样频率高于振荡周期的振荡频率，之所以如此设置两个频率的关系是为了:确保采样后的实际测量量可以保留原始的实际测量量的主要信息，且确保采样后的实际测量量不失真，具体原因可以参阅方法实施例部分的相关说明，对此本发明实施例不再阐述。
[0070]处理单元13，用于基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果。
[0071]在本发明实施例中，均值处理过程可以采用常用的求均值方法，如在对实际测量量进行采样，对采样得到的N个值进行相加再除以N即可，并且可以以步长为单位，每次均取最近采样得到的N个值进行均值提取操作。
[0072]其中步长需要根据实物部件的工作周期来确定，例如实物部件的测量周期为I毫秒，则步长需要设定为I毫秒，如果实物部件的测量周期为10毫秒，则步长需要设定为10毫秒。
[0073]基于本发明实施例提供的数据振荡抑制装置，对实物部件进行仿真试验，以qmeasfilter表示振荡抑制处理后的实际测量量，其与期望测量量q之间的比较示意图如图6所示，从图6可以看出经过本发明实施例提供的数据振荡抑制方法得到的振荡抑制处理后的实际测量量qmeasfilter可以较好地跟随期望测量量q而变化，其振荡幅度明显降低。
[0074]综上可知，本发明提供的数据振荡装置在获取到实物部件输出的实际测量量后，可以基于实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对实际测量量进行采样;再基于振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将振荡抑制处理后的实际测量量作为实物部件的输出结果，通过上述振荡抑制处理后的实际测量量可以较好的跟随期望测量量而变化，从而实现对实际测量量的周期振荡抑制，降低实际测量量的振荡幅度，进而提高闭环控制半实物仿真试验系统正常运行的概率。
[0075]请参阅图11，其示出了本发明实施例提供的数据振荡抑制装置的另一种结构示意图，在图10基础上，还可以包括:第一设置单元14和第一判断单元15。
[0076]第一设置单元14，用于基于振荡频率设置采样频率，其中设置的采样频率与振荡频率的关系为:采样频率=振荡频率X M，M为大于I的自然数。
[0077]第一判断单元15，用于判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发第一设置单元14对采样频率进行重新设置，且重新设置后的采样频率与振荡频率的关系为:
[0078]重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。
[0079]相应的，上述数据振荡抑制装置还可以基于振荡周期和采样频率来设置均值提取参数，如图12所示，在图10基础上还可以包括:第二设置单元16和第二判断单元17。
[0080]第二设置单元16，用于基于振荡周期和采样频率设置均值提取参数，其中设置的均值提取参数与振荡周期和采样频率的关系为:均值提取参数=振荡周期X采样频率。
[0081]第二判断单元17，用于判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发第二设置单元16基于振荡周期和重新设置后的采样频率，对均值提取参数进行重新设置，其中重新设置后的均值提取参数与振荡周期和重新设置后的采样频率的关系为:
[0082]重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。
[0083]在本发明实施例中，上述第一判断单元15和第二判断单元17判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象的方法有:一种方法是循环读取振荡抑制处理后的实际测量量，判断振荡抑制处理后的实际测量量中是否有重复相同的数据，如果有相同重复的数据(重复3次以上)，则可判断振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象;另一种方法是对振荡抑制处理后的实际测量量取自相关，例如用MATLAB的autocorrr函数求取自相关数据，对自相关数据求取峰值(极大值)，如果只有一个明显的峰值，即最大值只有一个，而且最大值比次大值大很多，例如超过5倍以上，则可判断振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象。
[0084]在这里需要说明的一点是:本发明实施例中的数据振荡抑制装置可以集成有采样频率和均值提取参数的设置功能，即同时包括图11和图12中第一设置单元14和第二设置单元16，并将第一判断单元15和第二判断单元17集成为一个判断单元来判断振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，当判断出振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发所述第一设置单元14和第二设置单元16。
[0085]需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
[0086]最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0087]对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
[0088]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种数据振荡抑制方法，其特征在于，所述方法包括: 获取实物部件输出的实际测量量； 基于所述实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对所述实际测量量进行采样，其中所述采样频率高于所述振荡周期的振荡频率； 基于所述振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的所述实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将所述振荡抑制处理后的实际测量量作为所述实物部件的输出结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:基于所述振荡频率设置所述采样频率，其中设置的所述采样频率与所述振荡频率的关系为: 采样频率=振荡频率X M，M为大于I的自然数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象； 当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，对所述采样频率进行重新设置，且重新设置后的所述采样频率与所述振荡频率的关系为: 重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:基于所述振荡周期和所述采样频率设置所述均值提取参数，其中设置的所述均值提取参数与所述振荡周期和所述采样频率的关系为: 均值提取参数=振荡周期X采样频率。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括:判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象； 当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，基于振荡周期和重新设置后的采样频率，对所述均值提取参数进行重新设置，其中重新设置后的所述均值提取参数与所述振荡周期和重新设置后的所述采样频率的关系为: 重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。6.一种数据振荡抑制装置，其特征在于，所述装置包括: 获取单元，用于获取实物部件输出的实际测量量； 采样单元，用于基于所述实际测量量的振荡周期对应的采样频率，对所述实际测量量进行采样，其中所述采样频率高于所述振荡周期的振荡频率； 处理单元，用于基于所述振荡周期对应的均值提取参数，对采样后的所述实际测量量进行均值处理，得到振荡抑制处理后的实际测量量，以将所述振荡抑制处理后的实际测量量作为所述实物部件的输出结果。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括:第一设置单元，用于基于所述振荡频率设置所述采样频率，其中设置的所述采样频率与所述振荡频率的关系为: 采样频率=振荡频率X M，M为大于I的自然数。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括:第一判断单元，用于判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发所述第一设置单元对所述采样频率进行重新设置，且重新设置后的所述采样频率与所述振荡频率的关系为: 重新设置后的采样频率=振荡频率XM，M为大于I的自然数。9.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括:第二设置单元，用于基于所述振荡周期和所述采样频率设置所述均值提取参数，其中设置的所述均值提取参数与所述振荡周期和所述采样频率的关系为: 均值提取参数=振荡周期X采样频率。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括:第二判断单元，用于判断所述振荡抑制处理后的实际测量量是否存在周期振荡现象，并当判断出所述振荡抑制处理后的实际测量量存在周期振荡现象时，触发所述第二设置单元基于振荡周期和重新设置后的采样频率，对所述均值提取参数进行重新设置，其中重新设置后的所述均值提取参数与所述振荡周期和重新设置后的所述采样频率的关系为: 重新设置后的均值提取参数=振荡周期X重新设置后的采样频率。
【文档编号】G05B17/02GK105892306SQ201610200690
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2016年3月31日
【发明人】罗喜霜
【申请人】北京润科通用技术有限公司