一种改进的NVMESSD测试治具的制作方法

本实用新型涉及测试工具领域，具体地说是一种改进的NVME SSD测试治具。

背景技术：

硬盘作为传统存储设备，近年来发展并不是十分迅速，但随着固态硬盘的出现，开始了让人欣喜的发展，随之而来的是带动了硬盘接口发展的速度，事物的发展规律就是旧事物在创新中孕育新事物，在优胜劣汰中选择最好的取代旧事物。

硬盘的接口发展也同样如是，需要加速的发展来适应其它产品的进步。当前固态硬盘所应用的接口主要以SAS为主，SAS总线使用嵌入式时钟信号，具备了更强的纠错能力，与以往相比其最大的区别在于能对传输指令（不仅仅是数据）进行检查，如果发现错误会自动矫正，这在很大程度上提高了数据传输的可靠性。

串行接口还具有结构简单、支持热插拔的优点。但是SAS将硬盘的传输速度都限制在300 MB/s（写）、500 MB/s（读）这个级别难以再次提升，已经无法满足消费者对硬盘速度的期待。

而PCIE接口可以把数据传输率提高到一个

很高的频率，达到SAS所不能提供的高带宽，所以SSD走PCIE接口有一个最直接的好处，突破目前SAS 6.0 Gbps单颗600 MB/s的传输速度。

如今，采用PCIE SSD的产品推出了不少，在性能上，拥有着超越想像的极致读写效能。芯片厂商也在极力推动PCIE SSD，未来采用PCIE SSD已经是大势所趋，但是目前业界还没有给出标准的PCIE SSD测试治具。

技术实现要素：

本实用新型的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种改进的NVME SSD测试治具，通过对简易NVME SSD接口的PCIE信号测试治具进行改进与完善，增加了速率切换模块，简化测试，为PCIE SSD的技术的开发提供了有力的保障。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种改进的NVME SSD测试治具，包括一个PCB板，PCB板为表层和底层构成的双层结构，其中表层作为TX信号与CLK信号的走线层，底层作为RX信号的走线层，在PCB板不走线的部分铺铜；

PCB板上另设NVME Connector、SNP Connector及Switch切换电路，按照NVME Connector的Pin序定义，将TX信号、CLK信号与RX信号引出，TX信号、RX信号连接在SNP Connector上，CLK信号首先连接到SNP Connector上，然后连接至Switch切换电路。

进一步地，所述TX信号、RX信号经PCB走线连接在对应SNP Connector的P、N端。

进一步地，所述CLK信号首先经PCB走线连接到对应SNP Connector的P、N端，然后经PCB走线连接至Switch切换电路。

进一步地，所述PCB走线为100 ohm阻抗匹配的差分信号线，每对差分信号线的P、N不等长控制在1 mil以内。

进一步地，所述PCB板上预留NVME Connector固定孔，NVME Connector焊接在PCB板预留的NVME Connector固定孔上。

进一步地，所述PCB板上预留SNP Connector固定孔，SNP Connector焊接在PCB板预留的SNP Connector固定孔上。

进一步地，所述Switch切换电路包括Switch切换元件及上拉电容。

本实用新型的一种改进的NVME SSD测试治具，与现有技术相比所产生的有益效果是：

本实用新型采用一个双层的PCB板，焊接上符合PCIE接口标准的NVME Connector。按照NVME Connector的Pin序定义，将TX、RX以及CLK信号引出，TX/RX信号直接连接在SNP Connector上，CLK信号首先连接在SNP Connector上，后面增加Switch切换电路。本实用新型可以直接通过SNP线缆连接到测试设备上，实现PCIE信号质量的量测、调试；采用SNP Connector，占用空间减小，节约PCB成本；拥有速率切换模块，可全面覆盖PCIE信号的测试，而不借助外界设备协调，为PCIE SSD产品的研发及调试提供了有力的技术支持。

附图说明

附图1是本实用新型的主视结构示意图；

附图2是本实用新型的主视结构示意图；

附图3是本实用新型的主视结构示意图；

附图4是本实用新型的主视结构示意图；

附图5是本实用新型的主视结构示意图。

图中，1、表层，2、底层，3、SNP Connector，4、Switch切换电路，5、NVME Connector，6、PCB板，7、PCB走线。

具体实施方式

下面结合附图1-5，对本实用新型的一种改进的NVME SSD测试治具作以下详细说明。

如附图1、2、4、5所示，本实用新型的一种改进的NVME SSD测试治具，包括一个PCB板6，PCB板6为表层1和底层2构成的双层结构，其中表层1作为TX信号与CLK信号的走线层，底层2作为RX信号的走线层，在PCB板6不走线的部分铺铜，一方面为信号提供参考层，一方面避免PP流胶问题。在PCB板6上预留NVME Connector 5、SNP Connector 3的固定孔和信号口，以及Switch切换电路4的定位孔。

将NVME Connector 5焊接在PCB板6预留的NVME Connector固定孔上，进行Layout设计，具体如下：

如附图3所示，按照NVME Connector 5的Pin序定义，将TX+、TX-、RX+、RX-、CLK+、CLK-信号经PCB走线7引出，并连接到对应的SNP Connector 3的P、N端。其中TX信号与CLK信号放在表层1，RX信号放在底层2。CLK信号经PCB走线7连接到对应的SNP Connector 3的P、N端后，然后经PCB走线7连至Switch切换电路4，Switch切换电路4由Switch切换零件与上拉电容组成。

最后，在差分信号线终端、PCB板6预留的SNP Connector 3固定孔上焊接上标准的SNP Connector 3即可。

为方便测量时分辨，在板卡SNP Connector 3处分别标示出差分信号线的名称，如TX LANE0 P、TX LANE0 N、RX LANE0 P、RX LANE0 N、REFCLK P、REFCLK N。

在上述结构的基础上，PCB走线7为100 ohm阻抗匹配的差分信号线，每对差分信号线P、N的不等长控制在1mil以内。

本实用新型的一种改进的NVME SSD测试治具，其加工制作简单方便，按说明书附图所示加工制作即可。

除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。