本发明涉及一种电子装置测试应用领域，特别涉及一种具连接确认的电子装置测试系统及其方法。
背景技术：
电子装置及其相关产品已成为人类社会中不可或缺的一部分，全世界每年会售出数以亿计的电子产品，当中包括：笔记本电脑、平板、个人数字助理、移动电话等。而随着大众消费力的增长及科技的进步，电子产品汰旧换新的速度也愈来愈快，因此而产生的电子废弃物也对地球环境造成莫大的伤害。
为降低电子废弃物的总量，于消费者端，可通过增加电子产品的功能性及多样性，以降低消费者汰换电子产品的速率；于生产端，则利用产线上的测试系统对电子装置的各功能进行测试，藉此提高电子装置生产的良率，同时延长电子装置的使用寿命。
于现有的测试系统中，在测试系统建立电子装置的条码编号后，测试系统会在一预设的时间内开启测试功能以对电子装置进行测试。但此时若电子装置并未与测试系统正确连接，容易造成测试系统的误判，使功能正常的电子装置被判定为瑕疵品，让功能正常的电子装置变成了电子废弃物而被丢弃。此外若为二次确认疑似瑕疵品的功能状态，除了提高测试系统对电子装置进行重新测试的频率，因此耗费了更多的能源及人力成本外，亦无法精确地掌控产线的运行效能。
有鉴于此，如何提供一种具连接确认的电子装置测试系统，并精确掌控产线的运行效能，为本发明欲解决的技术课题。
技术实现要素：
本发明的主要目的，在于提供一种具有连接确认的电子装置测试系统，其可避免待测电子装置未正确与测试计算机连接所产生的错误测试结果，并可利用测试结果计算并产生重测率及直通率，借此精确掌控各产线或测试站的运行效能。
为达前述的目的，本发明提供一种电子装置测试系统，用以测试电子装置的功能，电子装置测试系统包括：
测试计算机，用以执行电子装置测试程序；
扫描装置，用以扫描电子装置的条码编号；以及
光感测模块，用以检测电子装置与测试计算机的连接状态；
其中，当光感测模块确认连接状态时，电子装置测试程序启动测试功能测试电子装置，并依据条码编号记录电子装置的测试结果，随后依据测试结果产生重测率。
于上述优选实施方式中，其中电子装置测试系统进一步包括显示装置，显示装置用以显示电子装置测试程序的人机界面接口。
于上述优选实施方式中，其中光感测模块包括：光发射元件及光接收元件。
于上述优选实施方式中，其中光发射元件进一步包括遮罩，遮罩用于维持光发射元件发射光线的行进方向。
于上述优选实施方式中，其中光接收元件为光晶体管或光敏电阻。
于上述优选实施方式中，其中电子装置具有通用序列总线界面接口连接端。
于上述优选实施方式中，其中电子装置为：笔记本电脑、平板、个人数字助理、移动电话、手表、游戏机、鼠标、键盘、屏幕、印表机、事务机、扫描器或摄相机。
本发明另一优选作法，涉及一种电子装置测试方法，用以测试电子装置的功能，电子装置测试方法包括下列步骤：
(a).扫描电子装置的条码编号；
(b).通过光感测模块确认电子装置是否已连接测试计算机，若否，则产生警示信息，若是，则进行下一步骤；
(c).测试电子装置；
(d).依据条码编号记录电子装置测试结果；以及
(e).依据测试结果产生重测率。
于上述优选实施方式中，其中于步骤(e)中，依据重测率产生直通率。
附图说明
图1a及1b：为本发明所提供的电子装置测试系统；
图2：为本发明电子装置测试系统的测试流程图；以及
图3：为本发明电子装置测试系统人机界面接口显示的情境示意图。
附图标记说明：：
l光线
s100～s104步骤
10测试计算机
101电子装置测试程序
1011人机界面接口
102光感测模块
1021光发射元件
1022光接收元件
103遮罩
20扫描装置
30显示装置
40电子装置
具体实施方式
本发明的优点及特征以及达到其方法将参照例示性实施例及附图进行更详细的描述而更容易理解。然而，本发明可以不同形式来实现且不应被理解仅限于此处所陈述的实施例。相反地，对所属技术领域技术人员而言，所提供的此些实施例将使本公开更加透彻与全面且完整地传达本发明的实施方式。
首先，请参阅图1a及图1b所示，图1a及1b为电子装置测试系统。于图1a及图1b中，安装于产线测试站的电子装置测试系统包括：测试计算机10、扫描装置20及显示装置30，其中，测试计算机10与扫描装置20及显示装置30电性连接。
测试计算机10可为视窗(windows)系统或麦金塔(macintosh)系统的电脑主机。测试计算机10用以安装并执行电子装置测试程序101并通过电子装置测试程序101控制由光发射元件1021及光接收元件1022所组成的光感测模块102。光感测模块102可设置于测试计算机10的连接端(未示于图中)位置。测试计算机10的连接端用于电性连接电子装置40，而光感测模块102(包括：光发射元件1021、光接收元件1022)用于检测电子装置40与测试计算机10的连接状态。光发射元件1021为一种发光二极管单元(light-emittingdiode,led)，用以发射光线l至光接收元件1022，光接收元件1022可为光晶体管或光敏电阻。此外光发射元件1021具有遮罩103，遮罩103用以维持光线l于稳定的行进方向。扫描装置20用以扫描电子装置40的条码编号以于测试计算机10中建立测试记录。显示装置30可为液晶电视或液晶屏幕，其用于显示电子装置40的测试记录结果。本发明虽仅提出以光感测模块检测电子装置40与测试计算机10连接状态的实施方式，但实际应用时，可以其它种类的感测模块替代，例如可以压力感测模块取代光感测模块，而不以光感测模块为限。
接着，请继续参阅图1b，扫描装置20扫描电子装置40的条码编号并建立测试记录后，电子装置测试程序101即控制并开启由光发射元件1021及光接收元件1022所组成的光感测模块102。随后可以人工或自动的方式将电子装置40接上测试计算机10的连接端。当电子装置40与测试计算机10连接时，由于电子装置40会同时阻断光发射元件1021所发射的光线l，使光接收元件1022无法接收到光线l，造成光接收元件1022的电阻值增大。而电子装置测试程序101则接收光接收元件1022因电阻值增大而产生的电子信号，因此可以确认电子装置40已接上测试计算机10的连接端。电子装置测试程序101随即启动测试功能，并于预设时间内测试电子装置40中的各功能元件是否能正常运行。反之，若电子装置40并未正确地连接测试计算机10的连接端，光接收元件1022仍可持续接收到光线l，因此光接收元件1022的电阻值仍维持恒定的状态，此时电子装置测试程序101则判定电子装置40并未连接测试计算机10的连接端，因此不启动测试功能。本发明所述的电子装置40可为：笔记本电脑、平板、个人数字助理、移动电话、手表、游戏机、鼠标、键盘、屏幕、印表机、事务机、扫描器或摄相机等具有通用序列总线界面接口(universalserialbus,usb)连接端的电子装置。
请一并参阅图1b及图2，图2为本发明电子装置测试系统的测试流程。首先，安装于产线测试站的电子装置测试系统以扫描装置20扫描电子装置40的条码编号(步骤s100)。于步骤s100中，可以人为或自动的方式操作扫描装置20对电子装置40的条码编号进行扫描，并通过测试计算机10中的电子装置测试程序101建立测试记录等数据，同时于显示装置30上的人机界面接口显示测试记录与测试结果。接着，通过光感测模块102(光发射元件1021、光接收元件1022)确认电子装置40是否已连接测试计算机10(步骤s101)。于步骤s101中，若光发射元件1021所发射的光线l并未被电子装置40阻断，电子装置测试程序101判断电子装置40并未正确地与测试计算机10的连接端连接，并进一步产生警示信息(步骤s103)。于步骤s103中，警示信息可于显示装置30上进行显示。此时可以人工或自动的方式将电子装置40重新装设使其与测试计算机10正确连接。于步骤s101中，若光发射元件1021所发射的光线l被电子装置40阻断，电子装置测试程序101判断电子装置40已正确地与测试计算机10的连接端连接，则电子装置测试程序101启动测试功能并于一预设的时间内测试电子装置40(步骤s102)。于步骤s102中，电子装置40测试的预设时间可依照电子装置40的种类及待测试的功能进行设定。最后，电子装置测试程序101则依据条码编号记录电子装置40测试结果(步骤s104)。于步骤s104中，电子装置测试程序101会按序记录电子装置40的条码编号、连接确认情况及测试结果等测试信息，并于显示装置30上的人机界面接口进行显示，产线管理员则可依据测试结果计算以产生该产线的重测率，随后依据该重测率计算以产生该产线的直通率，进而控管该产线的运行效能。
请一并参阅图1b及图3，图3为本发明电子装置测试系统人机界面接口显示的情境示意图。于图3中，测试站的显示装置30用于显示电子装置测试程序101的人机界面接口1011，人机界面接口1011显示的信息包括：条码编号、连接确认及测试结果等测试数据，并可通过测试数据计算出测试站的重测率及直通率。重测率的计算公式为：x/n*100％，其中n值为：投入测试个数，x值为：测试记录个数-投入测试个数；直通率的计算公式为：1-重测率，倘若一条产线上具有多个测试站，则将该产线上各测试站的直通率相乘，即为该条产线的直通率。举例来说，条码编号为「a00010」的电子装置40已进行连接确认(显示为√)，其测试结果为「成功」。条码编号为「a00011」的电子装置40其连接确认失败(显示为x)，由于电子装置测试程序101并未启动测试功能，故其测试结果为「未测试」。随后可以人工或自动的方式将条码编号为「a00011」电子装置40重新扫描并进行装设使其与测试计算机10可正确连接，待其连接确认完成后(显示为√)，再次进行测试，其测试结果为「成功」。条码编号为「a00012」的电子装置40已进行连接确认(显示为√)，其测试结果为「失败」。于图3中，电子装置40的投入测试个数＝3，而测试记录个数＝4，因此x值＝1，重测率为：1/3*100％＝33％。而由于图3为单一的测试站，因此直通率为：1-33％＝67％。
相较于现有技术，本发明所提供的电子装置测试系统于功能测试进行之前，新增了电子装置与测试计算机连接的确认步骤，可有效避免测试时，因电子装置未与测试计算机正确连接所产生的错误结果。如此可减少电子装置重新测试的频率，降低能源及人力成本的耗损。且可依据测试结果计算出产线或测试站的重测率及直通率，藉此可精准地监控整体产线或测试站的运行效能，而有效提高电子装置测试的准确性及自动化生产的效率。此外使用光感测模块进行检测，亦不会对电子装置造成任何的损害；故，本发明实为一极具产业价值的发明。
本发明得由本领域技术人员任施匠思而为诸般修饰，然皆不脱如附权利要求保护范围。