触控装置及其触控判断方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明提供了一种触控装置及其触控判断方法，是应用于触控装置，尤其指避免水溃或手指等外部对象造成对感测面板触控状态的错误判断。
【背景技术】
[0002]按，现今电子产品为配合人类的直觉方式，触控装置已被广泛应用在各种电子产品中，以便用户能通过手或触控笔等导电对象对电子产品进行控制。
[0003]请参阅图5所示，为触控装置的电路示意图，由图中可以清楚看出，该触控装置Al于进行互电容式侦测(Mutual-Capaciti ve Detect1n)模式时,驱动及感测电路A12会先于感测面板All无外部对象(例如手指或触控笔等)触碰的状况下，取得各驱动线Alll与各感测线A112交叉所形成的各感测点A113的电容性耦合量，该电容性耦合量可经由量测电流、电压、电容或电荷量等物理量直接或间接获得，并以各电容性耦合量组成一二维感测信息，再由处理器A13将该二维感测信息做为基准二维感测信息，并储存至存储器A14中。
[0004]当触控装置Al的感测面板All受外部导电对象碰触或接近时，会使得各感测点Al 13的电容性耦合量产生变化，故处理器A13可于读取存储器A14中的基准二维感测信息后，将后续所取得的二维感测信息与基准二维感测信息进行比对，以此得到各感测点A113的电容性耦合变化量，并通过各感测点A113的电容性耦合变化量得知感测面板All上各感测点Al 13的触控状态。
[0005]若所有感测点A113的电容性耦合变化量皆介于预设的正门槛值及负门槛值之间，则判断感测面板All上的各感测点A113皆无外部导电对象触碰；若有一感测点A113的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设预设正门槛值，则判断感测面板All上的该感测点Al 13有外部导电对象触碰。
[0006]如图6所示，为具水溃覆盖信息的一维感测信息示意图，其横轴对应驱动线Alll上所有感测点A113的排列方向，而各感测点A113高度分别对应不同的电容性耦合量，并以各感测点A113的位置及其相对应的电容性耦合量构成有一维感测信息的波形，且二维感测信息是由所有驱动线Alll上的一维感测信息的波形所构成。由图5及图6中可以清楚看出，当感测面板All在有水溃覆盖时，若干受水溃覆盖的感测点A113会形成一负峰波形BI，此时处理器A13于更新基准二维感测信息时，会将含有水溃覆盖信息的二维感测信息做为基准二维感测信息，并于感测面板All上的水溃后续被移除且无其他外部导电对象的触碰下，将会使得感测面板All上原先受水溃覆盖的若干感测点A113形成一水平线状波形B2 ;如图7所示，为图6的水平线状波形减去负峰波形后所得的波形图，其横轴为对应驱动线Alll上各感测点A113的排列方向，纵轴为各感测点A113的电容性耦合变化量，由图中可以清楚看出，当二维感测信息的波形由原本含有水溃覆盖信息的负峰波形BI回复为无外部对象覆盖的水平线状波形B2，将使得原先受水溃覆盖的若干感测点A113得到有大于预设正门槛值的电容性耦合变化量(如图7所示)，此时水溃被移除且无外部对象的触碰的感测点A113将会被处理器A13判断为有触碰，并执行该触碰操作。
[0007]请参阅图8、图9所示，为具手指触碰信息的一维感测信息示意图及水平线状波形减去正峰波形后所得的波形图，由图中可以清楚看出，感测面板All在有手指触碰时，若干受手指触碰的感测点A113会形成一正峰波形B3，当处理器A13将含有手指触碰的二维感测信息做为基准二维感测信息时，若手指于后续离开感测面板All，亦会使二维感测信息的波形由原本含有手指触碰的正峰波形B3回复为无外部对象覆盖的水平线状波形B2(如图8所示)，即原先受手指触碰的若干感测点A113产生有小于预设负门槛值的电容性耦合变化量(如图9所示)，此时无手指触碰的感测点Al 13亦会被处理器A13判断为有触碰，并执行该触碰操作。
[0008]故，不论是将含有水溃覆盖或手指触碰的二维感测信息做为基准二维感测信息，在后续移除感测面板All上的异常状态的情况下，例如将水溃移除或手指离开感测面板，均会使原受来水溃或手指覆盖处的感测点A113的电容性耦合量产生变化，即处理器A13所侦测到的电容性耦合变化量会小于预设负判断值或大于预设正判断值，因此处理器A13会判断该感测点Al 13有外部对象触碰，进而对感测面板All的触控状态产生误判。
[0009]因此，如何解决公知电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值，但实际却无外部对象触碰的状况，即为从事此行业的相关厂商所亟欲研究改善的方向所在。
【发明内容】
[0010]本发明的目的在于提供一种触控装置及其触控判断方法，以改进公知技术中存在的缺陷。
[0011]为实现上述目的，本发明提供的触控判断方法，该触控装置设有感测面板，而感测面板设置有复数驱动线，以及与各驱动线交越的复数感测线，各驱动线与各感测线交越形成复数感测点，且各驱动线及各感测线分别电性连设至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连设有处理器，处理器再电性连设至存储器，其步骤包括:
[0012](AOl)驱动及感测电路通过各感测线于各驱动在线取得有复数第一时间电容性耦合量，而将各第一时间电容性耦合量与其相对应的感测点位置信息组成第一二维感测信息；
[0013](A02)处理器将该第一二维感测信息做为基准二维感测信息；
[0014](A03)驱动及感测电路后续再通过各感测线于各驱动在线取得有复数第二时间电容性耦合量，而将各第二时间电容性耦合量与其相对应的感测点位置信息组成第二二维感测信息；
[0015](A04)处理器将第二二维感测信息中各第二时间电容性耦合量分别减去基准二维感测信息中各相对应的第一时间电容性耦合量，以得到有复数电容性耦合变化量，并以各电容性耦合变化量与其相对应的感测点位置信息组成一电容性耦合变化量信息；
[0016](A05)处理器判断电容性耦合变化量信息中是否有感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值，若判断为「否」，则进行步骤(A06);若判断为「是」，则进行步骤(A07)；
[0017](A06)处理器判断感测面板无外部对象触碰，并回到步骤(A03)；
[0018](A07)处理器对第二二维感测信息中包括有该感测点的局部二维感测信息进行运算，以供得到有平整度值，并进行步骤(A08)；
[0019](A08)处理器判断平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，若判断为「否」，则进行步骤(A09);若判断为「是」，则进行步骤(AlO)；
[0020](A09)处理器判断该感测点无外部对象触碰，并将第二二维感测信息更新取代为基准二维感测信息，回到步骤(A03)；
[0021](AlO)处理器判断感测面板上该感测点有外部对象触碰，对该触碰执行操作指令，回到步骤(A03)。
[0022]本发明又提出一种触控判断方法，适用于一触控装置，该触控装置具有复数驱动线及复数感测线，各驱动线及各感测线构成复数具电容性耦合量的感测点，各驱动线及各感测线电连接至一驱动及感测电路，驱动及感测电路电连接至一处理器，该方法包括下列步骤:
[0023]利用处理器控制驱动及感测电路通过各感测线在不同时间点先后取得各感测点的第一时间电容性耦合量及第二时间电容性耦合量；
[0024]利用处理器将各感测点的第二时间电容性耦合量减去对应的第一时间电容性耦合量，以得到各感测点