面板11上各感测点113的触控状态。
[0083]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，非因此局限本发明的范围，本发明为主要针对触控装置及其触控判断方法，当含有异常状态(例如水溃覆盖或手指碰触等)的感测面板11上，取得有第一二维感测信息Ca，并以该第一二维感测信息Ca做为基准二维感测信息ca°，且异常状态于后续被移除及无外部对象触碰感测面板11的状况下，可由各感测点113相对应的平整度值S因于无外部对象的触碰下为介于预设平整度正比对值Zmax与预设平整度负比对值Zmin之间，以供判断感测面板11无外部对象触碰，以此防止对感测面板11产生错误的触控判断，故举凡可达成前述效果的结构、装置皆应受本发明所涵盖，此种简易修饰及等效结构变化，均应同理包含于本发明的权利要求范围内。
【主权项】
1.一种触控判断方法，该触控装置设有感测面板，而感测面板设置有复数驱动线，以及与各驱动线交越的复数感测线，各驱动线与各感测线交越形成复数感测点，且各驱动线及各感测线分别电性连设至驱动及感测电路，又驱动及感测电路电性连设有处理器，处理器再电性连设至存储器，其步骤包括: (AOl)驱动及感测电路通过各感测线于各驱动在线取得有复数第一时间电容性耦合量，而将各第一时间电容性耦合量与其相对应的感测点位置信息组成第一二维感测信息；(A02)处理器将该第一二维感测信息做为基准二维感测信息； (A03)驱动及感测电路后续再通过各感测线于各驱动在线取得有复数第二时间电容性耦合量，而将各第二时间电容性耦合量与其相对应的感测点位置信息组成第二二维感测信息； (A04)处理器将第二二维感测信息中各第二时间电容性耦合量分别减去基准二维感测信息中各相对应的第一时间电容性耦合量，以得到有复数电容性耦合变化量，并以各电容性耦合变化量与其相对应的感测点位置信息组成一电容性耦合变化量信息； (A05)处理器判断电容性耦合变化量信息中是否有感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值，若判断为「否」，则进行步骤(A06);若判断为「是」，则进行步骤(A07)； (A06)处理器判断感测面板无外部对象触碰，并回到步骤(A03)； (A07)处理器对第二二维感测信息中包括有该感测点的局部二维感测信息进行运算，以供得到有平整度值，并进行步骤(A08)； (A08)处理器判断平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，若判断为「否」，则进行步骤(A09);若判断为「是」，则进行步骤(AlO)； (A09)处理器判断该感测点无外部对象触碰，并将第二二维感测信息更新取代为基准二维感测信息，回到步骤(A03)； (AlO)处理器判断感测面板上该感测点有外部对象触碰，对该触碰执行操作指令，回到步骤(A03)。
2.一种触控判断方法，适用于一触控装置，该触控装置具有复数驱动线及复数感测线，各驱动线及各感测线构成复数具电容性耦合量的感测点，各驱动线及各感测线电连接至一驱动及感测电路，驱动及感测电路电连接至一处理器，该方法包括下列步骤: 利用处理器控制驱动及感测电路通过各感测线在不同时间点先后取得各感测点的第一时间电容性耦合量及第二时间电容性耦合量； 利用处理器将各感测点的第二时间电容性耦合量减去对应的第一时间电容性耦合量，以得到各感测点的电容性耦合变化量； 利用处理器判断是否有任一感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值；在一感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值的情况下，利用处理器对包含该感测点的相邻二条或二条以上的驱动线与相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的复数感测点的第二时间电容性耦合量进行运算以得到一平整度值；以及利用处理器判断该平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，若该平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，则判断感测面板上该感测点确实有外部导电对象触碰。
3.如权利要求2所述的触控判断方法，其中，对该等感测点的第二时间电容性耦合量进行运算，以得到一平整度值的步骤包括: 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一感测点电容性耦合量及第二感测点电容性耦合量； 对第一感测点电容性耦合量及第二感测点电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值; 经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三感测点电容性耦合量及第四感测点电容性耦合量； 对第三感测点电容性耦合量及第四感测点电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值; 将第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
4.一种触控装置，包括: 一感测面板，其设置有沿第一轴向排列的复数驱动线，以及沿第二轴向且分别与各复数驱动线交叉的复数感测线； 一驱动及感测电路，其电性连接于各驱动线及各感测线，用以取得第一二维感测信息及第二二维感测信息； 一处理器，其电性连接于驱动及感测电路，用以计算电容性耦合变化量信息及复数平整度值，以判断感测面板的触控状态。
5.一种触控装置包含: 复数驱动线及复数感测线，各驱动线及各感测线构成复数电容性耦合量的感测点； 一驱动及感测电路，电连接至各驱动线及各感测线； 一处理器，电连接至驱动及感测电路，该处理器控制驱动及感测电路通过各感测线在不同时间点先后取得各感测点的第一时间电容性耦合量及第二时间电容性耦合量，并且将各感测点的第二时间电容性耦合量减去对应的第一时间电容性耦合量以得到各感测点的电容性耦合变化量，并且判断是否有任一感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值，并且在一电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值的情况下，对包含该感测点的相邻二条或二条以上的驱动线与所有相邻二条或二条以上的感测线交越所形成的复数感测点的第二时间电容性耦合量进行运算以得到一平整度值；并且判断该平整度值是否小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，若该平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值，则判断感测面板上该感测点确实有外部导电对象触碰。
6.如权利要求5所述的触控面板装置，其中，该处理器经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第一驱动线的第一感测点电容性耦合量及第二感测点电容性耦合量，并对第一感测点电容性耦合量及第二感测点电容性耦合量进行差动运算，以得到有第一差值，并经由第一感测线及第二感测线分别取得沿第一轴向排列的第二驱动线的第三感测点电容性耦合量及第四感测点电容性耦合量，并对第三感测点电容性耦合量及第四感测点电容性耦合量进行差动运算，以得到有第二差值，并将第一差值及第二差值沿第二轴向进行差动运算得到该平整度值。
【专利摘要】一种触控装置及其触控判断方法，其当触控装置的感测面板上有感测点的电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值时，处理器会对第二二维感测信息中的包括有该感测点的局部二维感测信息进行运算，以得到平整度值，若该平整度值为介于预设平整度负比对值与预设平整度正比对值之间，则代表该感测点的电容性耦合量虽有变化，但没有外部对象的触碰，故处理器判断该感测点无外部对象触碰，以此防止因去除感测面板上水渍移除等状况而造成的错误触控判断。
【IPC分类】G06F3-044
【公开号】CN104750331
【申请号】CN201410425703
【发明人】张钦富, 叶尚泰
【申请人】禾瑞亚科技股份有限公司
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2014年8月27日
【公告号】US20150185919