触控显示面板与触控力道的检测方法
【专利摘要】一种触控显示面板与触控力道的检测方法。该触控显示面板包含多条扫描线、多条数据线、多个像素单元与控制模块。控制模块耦接扫描线与数据线。控制模块于画面周期中的至少一检测时间区间，提供第一检测信号给至少部分的扫描线并检测扫描线与导体结构间的至少一第一电容值。或者，控制模块提供第二检测信号给至少部分的数据线并检测数据线与导体结构间的至少一第二电容值。控制模块依据检测到的第一电容值或第二电容值判断出触控力道值。其中，第一检测信号的电压电平低于每一像素单元中的开关单元的导通电压。
【专利说明】
触控显示面板与触控力道的检测方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种触控显示面板与触控力道的检测方法，特别是一种具有导体结构的触控显示面板或适用于具有导体结构的触控显示面板的触控力道的检测方法。【背景技术】
[0002]触控显示面板依照其感测方式的不同可以分为电阻式触控显示面板、电容式触控显示面板、光学式触控显示面板与电磁式触控显示面板。其中，电容式触控显示面板具有短反应时间、高准确率与高耐用度等优点，而逐渐普及于目前的电子产品当中。
[0003]但是，目前一般的电容式触控面板虽然可以检测出手指或其他触控物的触控位置，但大部分的电容式触控面板还无法检测出触控的力道大小，这使得应用程序的开发也遭到了限制。目前仅有少数的厂商开发出电容式的外挂式压力感测器，虽然可以通过外挂式的压力感测器来感测触碰力道，但是在制程上却需要多次贴合，而且由于需要外挂压力感测器会增加基板的数量，因此增加了触控显示面板的厚度，也影响了显示器穿透率与显示效果。
【发明内容】
[0004]本发明在于提供一种触控显示面板与触控力道的检测方法，在提供压力感测功能之余，还避免了使触控显示面板的基板数以及厚度增加的问题。
[0005]本发明公开了一种触控显示面板，包含多条扫描线、多条数据线、多个像素单元与控制模块。每一像素单元耦接其中一扫描线与其中一数据线，控制模块耦接扫描线与数据线。于一画面周期中的至少一更新时间区间，至少部分的像素单元用以更新至少部分的显示画面。于画面周期中的至少一检测时间区间，控制模块提供第一检测信号给至少部分的些扫描线并检测扫描线与导体结构间的至少一第一电容值，或控制模块提供第二检测信号给至少部分的数据线并检测数据线与导体结构间的至少一第二电容值。控制模块依据至少一第一电容值判断出至少一扫描线与导体结构的距离以取得触控力道值，或控制模块依据至少一第二电容值判断出至少一数据线与导体结构的距离以取得触控力道值。其中，第一检测信号的电压电平低于每一像素单元中的开关单元的导通电压。
[0006]本发明公开了一种触控力道的检测方法，适用于触控显示面板。触控显示面板包括多条扫描线、多条数据线、多个像素单元与导体结构。每一像素单元耦接其中一扫描线与其中一数据线。检测方法包括先于画面周期中的至少一更新时间区间，经由至少部分的像素单元更新至少部分的显示画面。于该画面周期中的至少一检测时间区间，提供第一检测信号给至少部分的扫描线并检测扫描线与导体结构之间的至少一第一电容值，或提供第二检测信号给至少部分的数据线并检测数据线与导体结构之间的至少一第二电容值。依据检测得的至少一第一电容值判断出至少一扫描线与导体结构的距离，或依据检测得的至少一第二电容值判断出至少一数据线与导体结构的距离。依据至少一扫描线与导体结构的距离或至少一数据线与导体结构的距离判断得检测力道值。其中，第一检测信号的电压电平低于每一像素单元中的开关单元的导通电压。
[0007]综合以上所述，本发明提供了一种触控显示面板与触控力道的检测方法，通过分时控制的方式，在显示面板闲置的时间区间中检测数据线或扫描线与触控显示面板的导体结构间的电容变化，判断出数据线或扫描线与触控显示面板的导体结构间的距离变化，从而依据这样的距离变化判断出触控力道的大小。通过这样的做法，得以在不额外增加基板的情况下感测出触控力道，克服了以往为了让触控显示面板具有触控力道感测的功能而不得不增加基板数或增加触控显示面板的厚度的问题。
[0008]以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。
【附图说明】
[0009]图1是为根据本发明一实施例所绘示的有源元件基板的示意图。
[0010]图2是为根据本发明一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。
[0011]图3是为根据本发明另一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。
[0012]图4是为根据本发明更一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。
[0013]图5是为根据本发明一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图。
[0014]图6是为根据本发明另一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图。
[0015]图7是为根据本发明更一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图。
[0016]图8是为根据本发明再一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图。
[0017]图9是为根据本发明一实施例所绘示的触控力道的检测方法的方法流程图。
[0018]附图标记说明:
[0019]I触控显示面板
[0020]20控制模块
[0021]Dl?DlO数据线
[0022]Gl?GlO第一群组?第十群组
[0023]Pl, I?Pl0.10 像素单元
[0024]Prdl、Prd2、Prd3、Prd4、Prd5 画面周期
[0025]SI?SlO扫描线
[0026]TD1、TD2、TD3、TD41、TD42、TD51、TD52 更新时间区间
[0027]TF1、TF2、TF3、TF41、TF42、TF51、TF52 检测时间区间
[0028]TP触控检测信号
[0029]VDl?VDlO数据电压
[0030]VH高电压电平
[0031]VL低电压电平
[0032]VSl?VSlO扫描电压
[0033]VTFUVTF2振幅电压电平
【具体实施方式】
[0034]以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
[0035]请参照图1，图1是为根据本发明一实施例所绘示的有源元件基板的示意图。有源元件基板14具有扫描线S1?S10、数据线D1?D10、像素单元Pl，l?P10，10、驱动电路30与数据电路40。须先说明的是，在此为求叙述简明，仅举扫描线S1?S10、数据线D1?D10与像素单元Pl，l?P10,10为例进行说明，然实际上扫描线、数据线与像素单元的数量并不以此为限。像素单元Pl，l?Pl〇，l〇中的每一像素单元耦接扫描线S1?S10的其中之一与数据线D1 ?D10的其中之一。举例来说，像素单元Pl，2代表图1中第1行第2列的像素单元，也就是耦接扫描线S1与数据线D2的像素单元。其中，扫描线S1?S10与数据线D1?D10耦接控制模块20， 且扫描线S1?S10耦接驱动电路30,数据线D1?D10耦接数据电路40。扫描线S1?S10分别具有扫描电压VS1?VS10,数据线D1?D10分别具有数据电压VD1?VD10。驱动电路30例如用以提供调整扫描电压VS1?VS10的电压电平。数据电路40例如用以提供调整数据电压VD1? VD10的电压电平。[〇〇36]请接着参照图2,图2是为根据本发明一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。如图2所示，触控显示面板1的画面周期Prdl?Prd3分别定义有更新时间区间TD1、TD2、 TD3与检测时间区间TF1、TF2、TF3。更新时间区间1^1、与检测时间区间TF1、TF2、TF3 各时间区间的时间长度可以相等也可不相等，在此并不加以限制。在一实施例中，画面周期 Prdl?Prd3其中之每一的长度例如为1/60秒。图2中还绘示有扫描线S1?S10上的扫描电压 VS1?VS10、数据线D1?D10上的数据电压VD1?VD10与触控检测信号TP的相对时序。后续是以画面周期Prdl中的更新时间区间TD1与检测时间区间TF1为例进行介绍。[〇〇37] 于画面周期Prdl的更新时间区间TD1中，像素单元Pl，l?P10,10用以更新显示画面。更详细地来说，此时，扫描电压VS1?VS10依序被调整至高电压电平VH，当对应的扫描电压VS1?VS10被调整至高电压电平VH时，每一行的像素单元PI，1?P10，10依序接收对应数据线D1?D10上的数据电压VD1?VD10,并据以对应发光。而当扫描电压VS1?VS10为低电压电平VL时，对应地像素单元PI，1?P10,10大致上维持之前写入数据的发光状态。[〇〇38]于检测时间区间TF1，控制模块20提供第一检测信号给扫描线S1?S10并检测扫描线S1?S10与一导体结构间的至少一第一电容值。所述的导体结构可以例如为触控显示面板1的系统组件，例如电池或印刷电路板中的导体。导体结构也可例如为是触控显示面板1 的背光模块中的反射层，或者是触控显示面板1的金属件，例如外框或支撑架。换句话说，所述的导体结构可以是触控显示面板1中多种金属组件的其中之一或者是多种导体的其中之一，而不以上述举例为限。在一实施例中，所述的至少一第一电容值例如是扫描线S1?S10 中的其中之一与导体结构间的电容值。在另一实施例中，所述的至少一第一电容值例如是扫描线S1?S10中的部分与导体结构间的电容值。在更一实施例中，所述的至少一第一电容值例如是扫描线S1?S10中的全部扫描线与导体结构间的电容值。此外，所述的至少一电容值可以被定义为个别扫描线S1?S10与导体结构间的电容值，或者是扫描线S1?S10中的多条扫描线共同与导体结构之间的电容值。此间的计算方式是为所属技术领域技术人员可自由设计而无定论，在此并不加以限制。
[0039]在图2中是以一方波序列来表示第一检测信号的变化，方波序列具有多个方波，方波的宽度、间隔、振幅与个数并不以附图所绘者为限。于实务上，第一检测信号的实施方式并不仅限于方波，在此仅为举例示范，实际上并不以此为限。在此实施例中，控制模块20可在一个方波的时间中检测一次所述的第一电容值。换句话说，在检测时间区间TFl中，控制模块20可以检测一或多次所述的第一电容值。需注意的是，第一检测信号的电压电平会低于像素单元Pl，I?P10，10中的开关单元的导通电压，以避免在检测时间区间TFl中导通像素单元Pl，I?P10，10中的开关单元而影响到显示画面。在此实施例中，第一检测信号的方波的振幅电压电平VTFl会低于前述的低电压电平VL，以确保在提供第一检测信号于扫描线SI?SlO的同时不会导通像素单元Pl，I?PlO，10中的开关单元。
[0040]而于另一类的实施例中，当对应的扫描电压VSl?VSlO被调整至低电压电平VL时，每一行的像素单元Pl，I?P1，10依序接收对应数据线Dl?DlO上的数据电压VDl?VD10，并据以对应发光。而当扫描电压VSl?VSlO为高电压电平VH时，对应地像素单元Pl，I?PlO，10大致上维持之前写入数据的发光状态。在此类的实施例中，第一检测信号的方波的振幅电压电平VTFl会高于前述的高电压电平VH，以确保在提供第一检测信号于扫描线SI?SlO的同时不会导通像素单元Pl，I?P10，10中的开关单元。
[0041]延续前述，控制模块20更于检测时间区间TFl中提供第二检测信号给数据线Dl?DlO并检测数据线Dl?DlO与所述的导体结构间的至少一第二电容值。在此附图同样是以方波序列示意第二检测信号，且第二检测信号的方波具有振幅电压电平VTF2。在此同样不对第二检测信号的实施方式加以限制。在一实施例中，控制模块20依据至少一第一电容值判断出扫描线SI?SlO的至少其中之一与导体结构的距离以取得触控力道值。于实务上，控制模块20可再依据前述的距离与虎克定律(Hooke’s law)进一步判断出触控力道值。更详细地来说，控制模块20例如可以检测到或预设有触控显示面板I的各构层间的结构弹性系数。当控制模块2 O取得如前述的距离变化时，控制模块2 O即可依据虎克定律中的其中一个等式:AF = kAx来取得触控力道值。其中，AF为触控力道值的变化量，而k为如前述的各构层间的弹性结构系数，Δ X则为控制模块20取得的距离变化量。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。在另一实施例中，控制模块20依据至少一第二电容值判断出数据线Dl?DlO的至少其中之一与导体结构的距离以取得触控力道值。在更一实施例中，控制模块20是同时依据至少一第一电容值与至少一第二电容值取得触控力道值。
[0042]其中，控制模块20是于检测时间区间TFl中的不同时间区段分别提供第一检测信号给扫描线SI?SlO或提供第二检测信号给数据线Dl?D10。从另一个角度来说，在图2所示的实施例中，同一时间只会有扫描线SI?SlO接收到第一检测信号，或只会有数据线Dl?DlO接收到第二检测信号。在此类的实施例中，控制模块20在不同时间提供第一检测信号与第二检测信号的其中之一可避免扫描线SI?SlO与数据线Dl?DlO彼此的信号干扰。而在另一类的实施例中，控制模块20是在提供第一检测信号给扫描线SI?SlO的同时也提供第二检测信号给数据线Dl?D10。
[0043]在一实施例中，触控检测信号TP在检测时间区间TFl、TF2、TF3中也被拉至相对的高电压电平。亦即，触控显示面板I在检测时间区间TFl、TF2、TF3中除了检测触控力道值之夕卜，也检测触控位置。就相对时间而言，触控显示面板I可以于检测时间区间TF1、TF2、TF3的相同时段中同时检测触控力道值与触控位置，或者触控显示面板I可以于检测时间区间TFl、TF2、TF3的不同时段中检测触控力道值与触控位置。此外，于另一实施例中，触控检测信号TP也可以由控制模块20产生。相关细节是为所属技术领域技术人员经详阅本说明书后可自由设计，在此并不加以限制。
[0044]而需注意的是，扫描电压VS1?VS5彼此在时间上也可以不重叠，图3所绘示的扫描电压VS1?VS5的相对时序仅为举例示范，实际上并不以此为限。相仿地，图3中的扫描电压 V6?V10或后续所述的扫瞄电压的相对时序皆不以附图所绘示者为限。
[0045]请接着参照图3,图3是为根据本发明另一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。在图3所对应的实施例，画面周期Prd4具有更新时间区间TD41、TD42与检测时间区间 TF41、TF42。更新时间区间TD41先于检测时间区间TF41，更新时间区间TD42先于检测时间区间TF42，检测时间区间TF41先于更新时间区间TD42。图3所对应的实施例中是以两个检测时间区间与两个更新时间区间作为示范，但实际上检测时间区间与更新时间区间的数目可为任意多个而不以此为限制。[〇〇46] 请继续参照图3，在更新时间区间TD41中，扫描电压VS1?VS5依序拉至高电压电平，第一行的像素单元PI，1?P1，10至第五行的像素单元P5，1?P5，10依序接收对应数据线 D1?D10上的数据电压VD1?VD10，以发出对应的光。相仿地，在更新时间区间TD42中，扫描电压VS6?VS10依序拉至高电压电平VH，第六行的像素单元P6，l?P6，10至第十行的像素单元P10，l?P10，10依序接收对应数据线D1?D10上的数据电压VD1?VD10,以发出对应的光。 而在检测时间区间TF41、TF42中，第一检测信号与第二检测信号如前述地被分别提供至扫描线S1?S10与数据线D1?D10。因此在画面周期Prd4当中一共对全部的扫描线S1?S10与全部的数据线D1?D10进行了两次电容值的检测。换句话说，当画面周期Prd4的长度为1/60 秒，也就是画面更新频率为60赫兹(Hertz，Hz)时，触控力道值的检测频率为120赫兹。因此， 在此实施例中，触控力道值的检测频率较图2所对应的实施例提高了两倍。
[0047]请接着参照图4,图4是为根据本发明更一实施例所绘示的触控显示面板的时序示意图。相仿于图3所对应的实施例，在图4所示的实施例中，画面周期Prd5具有更新时间区间 TD51、TD5 2与检测时间区间TF51、TF5 2。更新时间区间TD51先于检测时间区间TF51，更新时间区间TD52先于检测时间区间TF52，检测时间区间TF51先于更新时间区间TD52。这样的定义方式同样是用以举例示范，并不以此为限。[〇〇48]在更新时间区间TD51中的时序与图3所对应实施例相仿，扫描电压VS1?VS5依序拉至高电压电平VH，第一行的像素单元PI，1?P1，10至第五行的像素单元P5，1?P5，10依序接收对应数据线D1?D10上的数据电压VD 1?VD 10，以发出对应的光。相仿地，在更新时间区间TD52中，扫描电压VS6?VS10依序拉至高电压电平，第六行的像素单元P6，l?P6，10至第十行的像素单元Pl〇，l?Pl〇，l〇依序接收对应数据线D1?D10上的数据电压VD1?VD10,以发出对应的光。[〇〇49]在检测时间区间TF51中，第一检测信号与第二检测信号被分别提供至扫描线S1? S5与数据线D1?D5。而在检测时间区间TF52,第一检测信号与第二检测信号被分别提供至扫描线S6?S10与数据线D6?D10。因此在画面周期Prd5当中一共对全部的扫描线S1?S10 与全部的数据线D1?D10进行了一次电容值的检测。相较于图3所对应的实施例，在图4所对应的实施例中虽然未能提高检测触控力道值的频率，但是由于在检测时间区间TF51中只通过扫描线S1?S5与数据线D1?D5进行检测，在检测时间区间TF52中只通过扫描线S6?S10 与数据线D6?D10进行检测，图4所对应的实施例在同一检测时间区间中只通过一半数量的扫描线与数据线进行检测，而得以在维持检测触控力道值的频率的情况下，降低了扫描线与数据线之间的信号干扰。
[0050]由上述实施例可知，当画面周期具有多个检测时间区间时，扫描线SI?SlO与数据线Dl?DlO可以对应于检测时间区间的个数而被定义为至少一个群组。并且，在其中一个检测时间区间中，对一或多个群组进行电容值检测，以判断出触控力道值。请接着参照图5?图8以说明扫描线SI?SlO与数据线Dl?DlO可能的分组方式，图5是为根据本发明一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图，图6是为根据本发明另一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图，图7是为根据本发明更一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图，图8是为根据本发明再一实施例所绘示的扫描线与数据线的分组示意图。
[0051 ]如图5所示，在图5所示的实施例中，所有的扫描线SI?SlO与数据线Dl?DlO都被定义为第一群组G1。在检测时间区间中，第一群组Gl的扫描线或数据线分别被提供第一检测信号或第二检测信号。亦即，在每一个检测时间区间当中，所有的扫描线SI?SlO与数据线Dl?DlO都分别被提供第一检测信号或第二检测信号以进行检测第一电容值或第二电容值。
[0052]如图6所示，在图6所示的实施例中，扫描线SI?SlO被定义为第一群组Gl，数据线Dl?DlO被定义为第二群组G2。在一检测时间区间中，第一群组Gl被提供第一检测信号，在另一检测时间区间中，第二群组G2被提供第二检测信号。亦即，在不同的检测时间区间当中，第一群组Gl与第二群组G2依序被提供第一检测信号与第二检测信号以进行检测第一电容值或第二电容值。
[0053]如图7所示，在图7所示的实施例中，扫描线S1、S2被定义为第一群组G1，扫描线S3、S4被定义为第三群组G3，第五群组G5至第九群组G9相对于扫描线S5?SlO的定义方式是可依此类推。数据线D1、D2被定义为第二群组G2，数据线D3、D4被定义为第四群组G4，第六群组G6、第八群组G8与第十群组GlO相对于数据线D5?DlO的定义方式是可依此类推。在此实施例中，每一群组包含相邻的两条扫描线或包含相邻的两条数据线，但实际上每一群组可以包含任意数量的扫描线或是任意数量的数据线，且每一群组所包含的扫描线也可以不相邻，每一群组所包含的数据线也可以不相邻。同一群组可以不只包含扫描线，也可以不只包含数据线。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。在图7所示的实施例中，对应的画面周期具有十个检测时间区间，每一时间区间中是对第一群组Gl至第十群组GlO中的其中之一进行电容值检测，以依据第一电容值或第二电容值判断出触控力道值。
[0054]如图8所示，在图8所示的实施例中，扫描线S1、S2、S5、S6、S9、S10被定义为第一群组G1，扫描线S3、S4、S7、S8被定义为第三群组G3，数据线D1、D2、D5、D6、D9、D10被定义为第二群组G2，数据线D3、D4、D7、D8被定义为第四群组G4。在图8所示的实施例中，画面周期具有四个检测时间区间，每一时间区间中是对第一群组Gl至第四群组G4中的其中之一进行电容值检测，以依据第一电容值或第二电容值判断出触控力道值。
[0055]延续以上发想，本发明还提供了一种触控力道的检测方法。请参照图9，图9是为根据本发明一实施例所绘示的触控力道的检测方法的方法流程图。在步骤S1001中，是于画面周期中的至少一更新时间区间，经由至少部分的像素单元更新至少部分的显示画面。在步骤S1003中，是于画面周期中的至少一检测时间区间，提供第一检测信号给至少部分的扫描线并检测扫描线与导体结构之间的至少一第一电容值，或提供第二检测信号给至少部分的数据线并检测数据线与导体结构之间的至少一第二电容值。接着在步骤S1005中，依据检测得的至少一第一电容值判断出至少一扫描线与导体结构的距离，或依据检测得的至少一第二电容值判断出至少一数据线与导体结构的距离。然后在步骤S1007中，依据至少一扫描线与导体结构的距离或至少一数据线与导体结构的距离判断得检测力道值。其中，第一检测信号的电压电平低于每一像素单元中的开关单元的导通电压。
[0056]此外，于一实施例中，至少一更新时间区间的数量为多个，至少一检测时间区间的数量为多个。扫描线被分别定义成至少一扫描线群组，数据线被分别定义成至少一数据线群组。本发明所提供的检测方法还包括于其中一更新时间区间中，经由至少部分的像素单元更新至少部分的显示画面。于其中一检测时间区间中，提供第一检测信号给其中一扫描线群组或提供第二检测信号给其中一数据线群组。
[0057]综合以上所述，本发明提供了一种触控显示面板与触控力道的检测方法，通过分时控制的方式，在显示面板不对像素单元所存数据进行更新的时间区间中，检测数据线或扫描线与触控显示面板的导体结构间的电容变化。并依据检测出的电容值或电容差值判断出数据线或扫描线与触控显示面板的导体结构间的距离变化。从而依据这样的距离变化判断出触控力道的大小。通过这样的做法，本发明所提供的触控显示面板与触控力道的检测方法得以在不额外增加基板的情况下感测出触控力道，克服了以往为了让触控显示面板具有触控力道感测的功能而不得不增加基板数或增加触控显示面板的厚度的问题。而且，本发明所提供的触控显示面板可以采用目前现行大部分的电容式触控面板的结构，本发明所提供的触控力道的检测方法可应用于目前现行大部分的电容式触控面板。
[0058]虽然本发明以前述的实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为之变动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。
【主权项】
1.一种触控显不面板，包括:多条扫描线；多条数据线；多个像素单元，每一该像素单元耦接其中一该扫描线与其中一该数据线，于一画面周 期中的至少一更新时间区间，至少部分的所述多个像素单元用以更新至少部分的一显示画 面；以及一控制模块，耦接所述多条扫描线与所述多条数据线，于该画面周期中的至少一检测 时间区间，该控制模块提供一第一检测信号给至少部分的所述多条扫描线并检测所述多条 扫描线与一导体结构间的至少一第一电容值，或该控制模块提供一第二检测信号给至少部 分的所述多条数据线并检测所述多条数据线与该导体结构间的至少一第二电容值，该控制 模块依据该至少一第一电容值判断出至少一该扫描线与该导体结构的距离以取得一触控 力道值，或该控制模块依据该至少一第二电容值判断出至少一该数据线与该导体结构的距 离以取得该触控力道值；其中，该第一检测信号的电压电平低于每一该像素单元中的一开关单元的导通电压。2.如权利要求1所述的触控显示面板，其中该至少一更新时间区间的数量为多个且该 至少一检测时间区间的数量为多个，所述多条扫描线被分别定义成至少一扫描线群组，所 述多条数据线被分别定义成至少一数据线群组，于其中一该更新时间区间中，至少部分的 所述多个像素单元用以更新至少部分的该显示画面，于其中一该检测时间区间中，该控制 模块提供该第一检测信号给其中一该扫描线群组或提供该第二检测信号给其中一该数据 线群组。3.如权利要求1所述的触控显示面板，其中，于该更新时间区间中，每一该像素单元依 据耦接的该扫描线上的一扫描信号接收耦接的该数据线上的一数据信号，该扫描信号具有 一低电压电平与一高电压电平，当其中一该像素单元接收得的该扫描信号为该高电压电平 时，该像素单元接收耦接的该数据线上的该数据信号，且该第一检测信号的电压电平低于 该扫描信号的该低电压电平。4.如权利要求1所述的触控显示面板，其中，于该更新时间区间中，每一该像素单元依 据耦接的该扫描线上的一扫描信号接收耦接的该数据线上的一数据信号，该扫描信号具有 一低电压电平与一高电压电平，当其中一该像素单元接收得的该扫描信号为该低电压电平 时，该像素单元接收耦接的该数据线上的该数据信号，且该第一检测信号的电压电平高于 该扫描信号的该高电压电平。5.如权利要求1所述的触控显示面板，其中该至少一更新时间区间与该至少一检测时 间区间不重叠。6.如权利要求1所述的触控显示面板，还包括一触控模块，该触控模块用以于该检测时 间区间中检测关联于该触控力道值的一触控位置。7.如权利要求1所述的触控显示面板，其中该导体结构是为该触控显示面板的一电池、 一电路板中的导体、一背光模块中的一导体层或一导体外壳，且该导体结构耦接该控制模 块。8.—种触控力道的检测方法，适用于一触控显示面板，该触控显示面板包括多条扫描 线、多条数据线、多个像素单元与一导体结构，每一该像素单元耦接其中一该扫描线与其中一该数据线，该检测方法包括: 于一画面周期中的至少一更新时间区间，经由至少部分的所述多个像素单元更新至少部分的一显示画面； 于该画面周期中的至少一检测时间区间，提供一第一检测信号给至少部分的所述多条扫描线并检测所述多条扫描线与该导体结构之间的至少一第一电容值，或提供一第二检测信号给至少部分的所述多条数据线并检测所述多条数据线与该导体结构之间的至少一第二电容值； 依据检测得的该至少一第一电容值判断出至少一该扫描线与该导体结构的距离，或依据检测得的该至少一第二电容值判断出至少一该数据线与该导体结构的距离；以及 依据至少一该扫描线与该导体结构的距离或至少一该数据线与该导体结构的距离判断得一检测力道值； 其中，该第一检测信号的电压电平低于每一该像素单元中的一开关单元的导通电压。9.如权利要求8所述的检测方法，其中该至少一更新时间区间的数量为多个，该至少一检测时间区间的数量为多个，所述多条扫描线被分别定义成至少一扫描线群组，所述多条数据线被分别定义成至少一数据线群组，该检测方法还包括: 于其中一该更新时间区间中，经由至少部分的所述多个像素单元更新至少部分的该显示画面；以及 于其中一该检测时间区间中，提供该第一检测信号给其中一该扫描线群组或提供该第二检测信号给其中一该数据线群组。10.如权利要求8所述的检测方法，其中于该画面周期中的该至少一更新时间区间，经由至少部分的所述多个像素单元更新至少部分的一显示画面的步骤中，是经由其中一该扫描线提供一扫描信号给其中一该像素单元，以令该像素单元依据该扫描信号选择性地接收耦接的该数据线上的一数据信号； 其中，该扫描信号具有一低电压电平与一高电压电平，当其中一该像素单元接收得的该扫描信号为该高电压电平时，该像素单元接收耦接的该数据线上的该数据信号，且该第一检测信号的电压电平低于该扫描信号的该低电压电平。11.如权利要求8所述的检测方法，其中于该画面周期中的该至少一更新时间区间，经由至少部分的所述多个像素单元更新至少部分的一显示画面的步骤中，是经由其中一该扫描线提供一扫描信号给其中一该像素单元，以令该像素单元依据该扫描信号选择性地接收耦接的该数据线上的一数据信号； 其中，该扫描信号具有一低电压电平与一高电压电平，当其中一该像素单元接收得的该扫描信号为该低电压电平时，该像素单元接收耦接的该数据线上的该数据信号，且该第一检测信号的电压电平高于该扫描信号的该高电压电平。12.如权利要求8所述的检测方法，其中该至少一更新时间区间与该至少一检测时间区间不重叠。13.如权利要求8所述的检测方法，还包括: 于该检测时间区间中，检测关联于该触控力道值的一触控位置。14.如权利要求8所述的触控显示面板，其中该导体结构是为该触控显示面板的一电池、一电路板中的导体、一背光模块中的一导体层或一导体外壳，且该导体结构耦接该控制模块。
【文档编号】G06F3/044GK106020555SQ201610421600
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年6月13日
【发明人】林城兴, 郭威宏, 郭文瑞
【申请人】友达光电股份有限公司