技术特征：
1.一种硬盘保护的方法，应用于一电子设备，所述电子设备包括一硬盘，所述硬盘具有正常工作模式和安全保护模式；其特征在于，所述方法包括：检测外部的操作体是否接近于所述电子设备，所述接近于所述电子设备为所述操作体与所述电子设备上的预定位置发生接触或虽无发生接触但所述操作体与所述预定位置之间的距离小于预定距离门限；在检测到所述操作体接近于所述电子设备时，输出一硬盘保护指令，所述硬盘保护指令用于控制所述硬盘进入安全保护模式；所述预定位置处设置有电容触控按键；所述检测操作体是否接近于所述电子设备包括：获得所述电容触控按键的电容变化量；在所述电容变化量超出预定电容门限时，判断所述操作体与所述电子设备发生接触。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在检测到所述操作体接近于所述电子设备时，输出一硬盘保护指令，包括：检测所述操作体接近于所述电子设备的持续时间；判断所述持续时间是否大于预定时间门限；在所述持续时间大于预定时间门限时，输出所述硬盘保护指令。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述电子设备还包括一显示屏，所述显示屏与所述硬盘固定安装在同一机壳中，所述预定位置为所述机壳的边框。4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述电子设备还包括一机箱，所述硬盘固定安装在所述机箱内，所述机箱包括有一提拉部，所述预定位置为所述提拉部。5.一种硬盘保护的装置，应用于一电子设备，所述电子设备包括一硬盘，所述硬盘具有正常工作模式和安全保护模式；其特征在于，所述装置包括：检测单元，用于检测操作体是否接近于所述电子设备，所述接近于所述电\t子设备为所述操作体与所述电子设备上的预定位置发生接触或虽无发生接触但所述操作体与所述预定位置之间的距离小于预定距离门限；输出单元，用于在检测到所述操作体接近于所述电子设备时，输出一硬盘保护指令，所述硬盘保护指令用于控制所述硬盘进入安全保护模式；所述预定位置处设置有电容触控按键；所述检测单元包括：获得单元，用于获得所述电容触控按键的电容变化量；第二判断单元，用于在所述电容变化量超出预定电容门限时，判断所述操作体与所述电子设备发生接触。6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述输出单元包括：时间检测单元，用于检测所述操作体接近于所述电子设备的持续时间；第一判断单元，用于判断所述持续时间是否大于预定时间门限；处理单元，用于在所述持续时间大于预定时间门限时，输出所述硬盘保护指令。7.一种电子设备，所述电子设备包括一硬盘，所述硬盘具有正常工作模式和安全保护模式；其特征在于，所述电子设备还包括：检测单元，用于检测操作体是否接近于所述电子设备，所述接近于所述电子设备为所述操作体与所述电子设备上的预定位置发生接触或虽无发生接触但所述操作体与所述预定位置之间的距离小于预定距离门限；输出单元，用于在检测到所述操作体接近于所述电子设备时，输出一硬盘保护指令，所述硬盘保护指令用于控制所述硬盘进入安全保护模式；所述预定位置处设置有电容触控按键；所述检测单元包括：获得单元，用于获得所述电容触控按键的电容变化量；第二判断单元，用于在所述电容变化量超出预定电容门限时，判断所述操作体与所述电子设备发生接触。8.如权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述输出单元包括：时间检测单元，用于检测所述操作体接近于所述电子设备的持续时间；第一判断单元，用于判断所述持续时间是否大于预定时间门限；处理单元，用于在所述持续时间大于预定时间门限时，输出所述硬盘保护指令。9.如权利要求7或8所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括一显示屏，所述显示屏与所述硬盘固定安装在同一机壳中，所述预定位置为所述机壳的边框。10.如权利要求7或8所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括一机箱，所述硬盘固定安装在所述机箱内，所述机箱包括有一提拉部，所述预定位置为所述提拉部。