一种NVDIMM_ADR功能的测试方法与流程

本发明公开一种功能测试方法,涉及数据保护测试领域，具体的说是一种NVDIMM_ADR功能的测试方法。

背景技术：

NVDIMM，Non-Volatile DIMM，非易失性内存条，是一种继承了DRAM+非易失性内存芯片的内存条。计算机系统的计算结果和服务信息皆临时保存在内存中，而这些数据在系统掉电后将丢失，甚至能引起整个系统的崩溃。NVDIMM可以解决系统异常掉电情况下，内存数据的保存工作，并且能够在系统恢复正常运行后，继续之前的工作，保存完整内存数据。即是NVDIMM可以利用虚拟机本身的快照功能，在系统异常情况下，迅速保护存储在内存中的临时快照，达到保护整个虚拟机的目的。

异步DRAM自刷新技术即ADR技术可保证在异常掉电时，CPU冲刷cache，写回cache的脏数据，然后将DRAM设置进入自刷新状态。在DRAM处于自刷新状态时可将控制权由CPU移交给超级内存。而NVDIMM就是在DRAM处于自刷新状态时将CPU控制权转移给NVDIMM本身，ADR技术就是为NVDIMM量身定制。另外，ADR技术能够有选择的在计算机热启动时，不对特定通道的DRAM进行重新初始化，从而保留DRAM中的数据。

但目前没有对NVDIMM ADR功能的具体的测试方法，不能保证机器在出厂前NVDIMM ADR功能完好，而一旦在出厂前NVDIMM ADR功能异常，则易导致系统的数据丢失，造成不必要的损失。本发明提供一种NVDIMM_ADR功能的测试方法，对系统NVDIMM ADR功能进行测试，NVDIMM内存空间测试覆盖率高，有效提高测试效率，保障机器出厂时NVDIMM ADR功能完好，防止系统掉电时数据丢失。

技术实现要素：

本发明提供一种NVDIMM_ADR功能的测试方法，对系统NVDIMM ADR功能进行测试，NVDIMM内存空间测试覆盖率高，有效提高测试效率，保障机器出厂时NVDIMM ADR功能完好，防止系统掉电时数据丢失。

一种NVDIMM_ADR功能的测试方法，步骤包括：

①使用img文件，制作测试系统U盘启动盘；

②开机进入setup界面，进入boot菜单，设置第一启动项UEFI：Built-in EFI Shell，设置第二启动项为U盘启动；

③打开ADR功能,进入efi shell,执行memmap查询地址，Unknow-DES-Tydpe地址空间为NVDIMM的内存空间；

④检查是否有数据存在,在shell下进入U盘启动；

⑤执行nvutil–w，确认result数据写入成功,确认写入无误，模拟设备异常掉电，间隔一段时间后给设备重新上电；

⑥上电完成后进入测试系统执行nvutil–r；

⑦查看返回值，进行数据对比，判断ADR功能测试是否通过。

所述步骤⑤中result数据写入为随机数据写入，并且记录写入的数据。

所述步骤⑤中模拟设备异常掉电，设置间隔时间不超过1分钟，然后给设备重新上电。

一种NVDIMM_ADR功能测试系统，包括测试系统U盘、测试主机，

测试系统U盘，使用img文件制作；

其中测试主机开机进入setup界面，进入boot菜单，设置第一启动项UEFI：Built-in EFI Shell，设置第二启动项为U盘启动；

打开ADR功能,进入efi shell,执行memmap查询地址，Unknow-DES-Tydpe地址空间为NVDIMM的内存空间；

检查是否有数据存在,在shell下进入U盘启动；

执行nvutil–w，确认result数据写入成功,确认写入无误，模拟测试主机异常掉电，间隔一段时间后给测试主机重新上电；

上电完成后进入测试系统执行nvutil–r；

查看返回值，进行数据对比，判断ADR功能测试是否通过。

所述测试主机中result数据写入为随机数据写入，并且记录写入的数据。

设置间隔时间不超过1分钟，然后给所述测试主机重新上电。

本发明与现有技术相比具有的有益效果是：

使用本发明测试方法，不受测试环境影响，U盘启动自带测试系统，可以实现即插即测的方案，极大提升测试效率。无论是部件引进，筛选或者系统的兼容性测试都可以用到，测试移植性比较好。而且测试步骤简单易懂，操作方便，NVDIMM内存空间测试覆盖率高，有效提高测试效率。

附图说明

图1 boot菜单启动项界面示意图；

图2 NVDIMM配置界面示意图；

图3 进入U盘启动项界面示意图；

图4 本发明步骤流程示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，对本发明进一步详细说明。

本发明还提供一种NVDIMM_ADR功能测试系统，包括测试系统U盘、测试主机，

测试系统U盘，使用img文件制作；

其中测试主机开机进入setup界面，进入boot菜单，设置第一启动项UEFI：Built-in EFI Shell，设置第二启动项为U盘启动；

打开ADR功能,进入efi shell,执行memmap查询地址，Unknow-DES-Tydpe地址空间为NVDIMM的内存空间；

检查是否有数据存在,在shell下进入U盘启动；

执行nvutil–w，确认result数据写入成功,确认写入无误，模拟测试主机异常掉电，间隔一段时间后给测试主机重新上电；

上电完成后进入测试系统执行nvutil–r；

查看返回值，进行数据对比，判断ADR功能测试是否通过。

所述测试主机中result数据写入为随机数据写入，并且记录写入的数据。

设置间隔时间不超过1分钟，然后给所述测试主机重新上电。

利用本发明方法，具体操作如下：

用提供的img文件制作成U盘启动盘；

开机进入setup界面，进入boot菜单，第一启动项设置为UEFI：Built-in EFI Shell，第二启动选项设置为U盘启动；参看附图1；

Enable ADR->enable,Adr data save mode->NVDIMMs,Check PCH_PM_STS->enable，打开ADR功能，参考附图2；

进入efi shell：

执行memmap查询地址，Unknow-DES-Tydpe地址空间为NVDIMM的内存空间；

系统将NVDIMM空间划分一地址空间，操作系统常规行为是不用NVDIMM的空间，地址空间是受保护的；参考以下数据：

执行mem 3880000000，检查是否有数据存在，参考以下数据：

在shell下敲exit进入U盘启动，

参考附图3，及以下数据：

执行nvutil–w，确认result 0数据写入成功。写入数据为随机数据，写入的数据会记录，下次启动后拿来做比较；参考以下数据：

确认写入无误，拔掉设备电源，模拟异常掉电，间隔10s之后给设备重新上电；

上电完成后进入测试系统执行nvutil–r。返回值为0，说明数据对比正确，ADR功能测试通过。

即利用本发明方法掉电前在NVDIMM内存空间写入指定数据；拔掉电源线，模拟设备异常掉电；给设备上电，模拟电力恢复；设备完成启动后，查看现有内存数据跟写入数据是否一致。

结果判断：a)一致，ADR功能测试通过；b)不一致，测试不通过。