专利名称：一种压合平板校正治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及液晶面板驱动芯片封装技术领域，特别涉及一种压合平板校正治具。
背景技术：
当前的液晶面板驱动芯片封装方式是卷带(带有驱动芯片的软性电路)，随着对产能不断提升的需求，提高测试稳定性，缩短测试时间是势在必行的研究课题，然而在芯片测试时间不变的条件下，如何提高测试稳定性是目前的难点。当前，芯片的引脚数量在不断增加，引脚的尺寸不断变小，而探针也在相应的变密、变细。在测试过程中，机构对位精度不好的重要原因之一就是压合平板与燕尾槽搭配不佳，直接会影响测试的稳定性。
如图I所示，覆晶封装测试机的测试机台I的测试端设置有连接板2，该连接板上设有燕尾槽，压合平板3上设有与上述燕尾槽适配的燕尾滑轨，通过燕尾滑轨和燕尾槽的配合，就可将压合平板3设置在连接板2上，从而实现压合平板3与测试机台I的连接。目前使用的压合平板3是水平度小于20um的金属平板，在压合过程用于支撑卷带4，使之平整。图I示出的为卷带4理想状态的模拟，压合平板3上的燕尾滑轨与连接板2上的燕尾槽搭配非常好，压合平板3与探针卡5基本处于平行的状态，卷带4较平整。如图2所示，图2为实际状况下压合平板与连接板的配合模拟图。压合平板3上的燕尾滑轨与连接板2上的燕尾槽搭配性差，此时燕尾滑轨与燕尾槽结合不够紧密，之间有较大缝隙，导致压合平板3与探针卡5不是水平的平行状态。因此，会造成卷带4褶皱及右侧压合力度过大，容易造成产品和探针的损伤。现有校正燕尾滑轨与燕尾槽结合程度的方式完全凭借个人感觉及手法，不同的人校正之后的结果各有差异，容易出现压合平板与连接板的搭配问题，如燕尾滑轨与燕尾槽的间隙过大，将造成压合平板与探针卡之间的水平问题及压合平板无法安装或取出。目前，压合平板的校正需不断地安装试验，不断地校正，校正时间较长。如何消除校正手法差异问题，缩短压合平板的校正时间，节省测试时间，是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种压合平板校正治具，以消除校正手法差异问题，缩短压合平板的校正时间，节省测试时间。为实现上述目的，本发明提供如下技术方案一种压合平板校正治具，用于覆晶封装测试机的压合平板校正，包括间隙校正片，其宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等；校正槽体，其具有两个分别与所述压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨，该校正槽体上开设有与所述压合平板的调整螺丝孔重合的调整孔。优选的，在上述压合平板校正治具中，所述间隙校正片的一端设有便于抽拉的手柄。
优选的，在上述压合平板校正治具中，所述间隙校正片上开设有沿其宽度方向延伸的条形孔。优选的，在上述压合平板校正治具中，所述校正槽体上的至少一个校正滑轨为可调滑轨。优选的，在上述压合平板校正治具中，所述校正槽体包括槽体底板，两个所述校正滑轨分别设置在所述槽体底板的两端；两个所述校正滑轨分别为设置在所述槽体底板一端的固定滑轨和设置在所述槽体底板另一端的可调滑轨。
优选的，在上述压合平板校正治具中，所述槽体底板上设有两个定位孔，所述定位孔内设有弹性件，该弹性件的一端与所述可调滑轨相连。优选的，在上述压合平板校正治具中，还包括设置在所述槽体底板上的导杆，所述导杆为两个，且分别穿过两个所述定位孔，两个所述弹性件分别套设在两个所述导杆上。优选的，在上述压合平板校正治具中，所述弹性件为压缩弹簧。优选的，在上述压合平板校正治具中，所述固定滑轨通过螺钉固定在所述槽体底板上。从上述的技术方案可以看出，本发明提供的压合平板校正治具用于覆晶封装测试机的压合平板校正，其具有间隙校正片和校正槽体，通过间隙校正片校正两燕尾滑轨之间的间距，由于间隙校正片的宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等，所以通过间隙校正片的校正，可使得压合平板上两燕尾滑轨的间距与连接板上两燕尾槽的间距相同，从而使得水平方向上，压合平板上的燕尾滑轨与连接板上的燕尾槽相适应。校正槽体上具有两个分别与压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨，即校正滑轨和燕尾滑轨具有相应角度的斜面(即二者的配合面)，通过校正滑轨与燕尾滑轨的配合，可通过调整压合平板上的调整螺丝，以调整燕尾滑轨与校正滑轨的配合程度，即可调整燕尾滑轨两端的竖直高度，通过调整螺丝的旋紧程度，达到燕尾滑轨两端的竖直高度趋于一致的目的。在本发明的一优选方案中，通过将一校正滑轨设计为可调滑轨，通过弹性件调节其位置，在将压合平板插入校正槽体后，可调滑轨自动通过弹性件的弹性力压紧在一燕尾滑轨上。由于校正时，压合平板上的燕尾滑轨为松弛状态(调整螺丝处于旋松状态)，通过可调滑轨的挤压，可将两个燕尾滑轨贴紧间隙校正片，从而保证了两个燕尾滑轨的间距。
图I为理想状况下压合平板与连接板的配合模拟图；图2为实际状况下压合平板与连接板的配合模拟图；图3为本发明实施例提供的间隙校正片的结构示意图；图4为本发明实施例提供的校正槽体的结构示意图；图5为图4的俯视图。
具体实施例方式本发明公开了一种压合平板校正治具，以消除校正手法差异问题，缩短压合平板的校正时间，节省测试时间。下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。请参阅图3-图5，图3为本发明实施例提供的间隙校正片的结构示意图；图4为本发明实施例提供的校正槽体的结构示意图；图5为图4的俯视图。本发明提供的压合平板校正治具，用于覆晶封装测试机的压合平板校正，包括间隙校正片6和校正槽体7。其中，间隙校正片6的宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等。因此，可通过间隙校正片6来校正压合平板上两燕尾滑轨的间距，使两 燕尾滑轨的间距与连接板上两燕尾槽的间距相等。校正槽体7具有两个分别与压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨71，该校正槽体7上开设有与压合平板的调整螺丝孔重合的调整孔74。校正槽体7用于校正由于燕尾滑轨上的两个调整螺丝的旋紧程度不同，而导致的燕尾滑轨上的斜面(即与燕尾槽的斜面配合的面)无法满足与燕尾槽配合的弊端。本发明提供的压合平板校正治具用于覆晶封装测试机的压合平板校正，其具有间隙校正片6和校正槽体7，通过间隙校正片6校正两燕尾滑轨之间的间距，由于间隙校正片6的宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等，所以通过间隙校正片6的校正，可使得压合平板上两燕尾滑轨的间距与连接板上两燕尾槽的间距相同，从而使得水平方向上，压合平板上的燕尾滑轨与连接板上的燕尾槽相适应。校正槽体7上具有两个分别与压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨71，即校正滑轨71和燕尾滑轨具有相应角度的斜面(即二者的配合面)，通过校正滑轨71与燕尾滑轨的配合，可通过调整压合平板上的调整螺丝，以调整燕尾滑轨与校正滑轨的配合程度，即可调整燕尾滑轨两端的竖直高度，通过调整调整螺丝的旋紧程度，达到燕尾滑轨两端的竖直高度趋于一致的目的。校正槽体7上开设有与压合平板的调整螺丝孔重合的调整孔74，调整时，无需将压合平板抽出，也可通过调整该调整螺丝的旋紧程度。校正时，需要抽拉间隙校正片6，以查看两个燕尾滑轨与间隙校正片6的配合程度。基于上述要求，本发明在间隙校正片6的一端设有便于抽拉的手柄。手柄的设计应便于手指的拿捏，以方便的通过手指与手柄的配合，对间隙校正片6进行抽拉操作。校正两燕尾滑轨的间距时，将间隙校正片6插入并拉出，调节压合平板两个燕尾滑轨位置后，观察校正片抽拉是否平顺，以感觉稍有阻力为最佳点。可在间隙校正片6上开设有沿其宽度方向延伸的条形孔61，以该条形孔61作为手柄，通过手指与条形孔61的配合，也可方便的实现间隙校正片6的抽拉操作。校正槽体7上的至少一个校正滑轨71为可调滑轨。校正槽体7包括槽体底板72，两个校正滑轨71分别设置在槽体底板72的两端。两个校正滑轨71分别为设置在槽体底板72 —端的固定滑轨711 (固定滑轨711可通过螺钉固定在槽体底板72上)和设置在槽体底板72另一端的可调滑轨712。槽体底板72上设有两个定位孔721，定位孔721内设有弹性件73，该弹性件73的一端与可调滑轨712相连。该弹性件73可优选为压缩弹簧。本发明通过将一校正滑轨71设计为可调滑轨712，通过弹性件73调节其位置，在将压合平板插入校正槽体后，可调滑轨712自动通过弹性件73的弹性力压紧在一侧的燕尾滑轨上。由于校正时，压合平板上的燕尾滑轨为松弛状态(调整螺丝处于旋松状态)，通过可调滑轨712的挤压，可将两个燕尾滑轨贴紧间隙校正片6，从而保证了两个燕尾滑轨的间距。只要保证弹性件73具有足够大的弹力，即可通过该弹性件73来达到调整两个燕尾滑轨间距的目的。通过上述设置，校正时，只需将压合平板插入校正槽体7内，并使得压合平板上的两个燕尾滑轨分别与固定滑轨711和可调滑轨712接触，然后插入间隙校正片6即可完成两个燕尾滑轨的间距调整，然后通过调整燕尾滑轨上的调整螺丝的松紧程度调整燕尾滑轨各位置处与压合平板的结合程度即可。
为了保证弹性件3沿其轴向稳定的被压缩或舒张，本发明还可包括设置在槽体底板72上的导杆，导杆为两个，且分别穿过两个定位孔721，两个弹性件73分别套设在两个导杆上。导杆具有为两个弹性件73导向的作用，防止在弹性件连续被压缩时，其轴向发生弯曲，使得可调滑轨失去自调功能。导杆可为设置在槽体底板72上螺栓。下面简单描述，本发明的校正步骤I、将压合平板的4个调整螺丝(每个燕尾滑轨通过两个调整螺丝固定)松掉，安装在校正槽体7当中，使其两个燕尾滑轨分别与固定滑轨711和可调滑轨712接触；2、将间隙校正片6插上，压合平板上的燕尾滑轨为松弛状态(调整螺丝处于旋松状态)，通过可调滑轨712的挤压，可将两个燕尾滑轨贴紧间隙校正片6，达到调整压合平板两个燕尾滑轨位置的目的，然后用扳手将压合平板的4个调整螺丝轻轻拧紧，以保证两燕尾滑轨的间距；3、将间隙校正片6插入并拉出，并调节压合平板两个燕尾滑轨位置，此时的燕尾滑轨位置是指燕尾滑轨两端的竖直高度位置，即燕尾滑轨应能保证与校正槽体7上两个校正滑轨的配合程度，观察间隙校正片6抽拉是否平顺，以感觉刚刚有阻力为最佳点；4、调整好压合平板的两燕尾滑轨位置后，将调整螺丝拧紧。综上所述，基于上述设置，本发明具有如下优点I、将校正压合平板的作业手法标准化，改变以往手动校正，没有标准可依，校正精准度低的做法，通过校正治具的校正，将不同压合平板的燕尾滑轨位置统一；2、解决了压合平板安装至燕尾槽比较困难或无法取出的问题，使压合平板的安装更加平顺。3、解决了由于压合平板与燕尾槽的搭配问题造成的卷带褶皱问题；4、在保证卷带水平度的提前下，降低了压合机构的下压力度，减小了对产品和探针的损害，对成本的降低大有帮助。本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求
1.一种压合平板校正治具，用于覆晶封装测试机的压合平板校正，其特征在于，包括 间隙校正片￠)，其宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等； 校正槽体(7)，其具有两个分别与所述压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨(71)，该校正槽体(7)上开设有与所述压合平板的调整螺丝孔重合的调整孔(74)。
2.如权利要求I所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述间隙校正片(6)的一端设有便于抽拉的手柄。
3.如权利要求I所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述间隙校正片(6)上开设有沿其宽度方向延伸的条形孔。
4.如权利要求I所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述校正槽体(7)上的至少一个校正滑轨(71)为可调滑轨。
5.如权利要求4所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述校正槽体(7)包括槽体底板(72)，两个所述校正滑轨(71)分别设置在所述槽体底板(72)的两端； 两个所述校正滑轨(71)分别为设置在所述槽体底板(72) —端的固定滑轨(711)和设置在所述槽体底板(72)另一端的可调滑轨(712)。
6.如权利要求5所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述槽体底板(72)上设有两个定位孔(721)，所述定位孔(721)内设有弹性件(73)，该弹性件(73)的一端与所述可调滑轨(712)相连。
7.如权利要求6所述的压合平板校正治具，其特征在于，还包括设置在所述槽体底板(72)上的导杆，所述导杆为两个，且分别穿过两个所述定位孔(721)，两个所述弹性件(73)分别套设在两个所述导杆上。
8.如权利要求6所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述弹性件(73)为压缩弹簧。
9.如权利要求6所述的压合平板校正治具，其特征在于，所述固定滑轨(711)通过螺钉固定在所述槽体底板(72)上。
全文摘要
本发明公开了一种压合平板校正治具，用于覆晶封装测试机的压合平板校正，包括间隙校正片(6)，其宽度与覆晶封装测试机上连接板的两燕尾槽之间的间距相等；校正槽体(7)，其具有两个分别与所述压合平板的两燕尾滑轨适配的校正滑轨(71)，该校正槽体(7)上开设有与所述压合平板的调整螺丝孔重合的调整孔(74)。本发明将校正压合平板的作业手法标准化，改变以往手动校正，没有标准可依，校正精准度低的做法，通过校正治具的校正，将不同压合平板的燕尾滑轨位置统一。解决了压合平板安装至燕尾槽比较困难或无法取出的问题，使压合平板的安装更加平顺。同时解决了由于压合平板与燕尾槽的搭配问题造成的卷带褶皱问题。
文档编号H01L21/66GK102749728SQ20111009822
公开日2012年10月24日 申请日期2011年4月19日 优先权日2011年4月19日
发明者周东宏, 陈镜先 申请人:颀中科技(苏州)有限公司