一种零平面高功率的整流桥的制作方法

文档序号:14921869发布日期:2018-07-11 04:24阅读:131来源:国知局

本实用新型涉及整流桥技术领域,尤其涉及的是一种零平面高功率的整流桥。



背景技术:

现有的整流桥堆内部置四颗芯片,通过上下双层铜引线,及设置四个不同位置芯片正反方面,直接相连,组成整流的桥式结构,工作时产生的热量通过双层铜引线传导至外封环氧树脂,将热量散发出去,

现有的封装内部设计简单直接,虽可实现产品功能,但因内部仅通过双层外延铜引线相接,其余空间以环氧树脂封装,封装后的产品芯片产生的热量传导至外延铜引线,通过铜引线与环氧树脂的接触面积来散热,此散热面积接触面相对较小,若电路中电流加大,其温升迅速升高,使内部温度过高,大大减少芯片寿命。



技术实现要素:

针对以上所存在缺陷,本实用新型提供一种结构简单、散热效果好、整流芯片工作稳定、整流芯片工作寿命长且具有高效散热功能的整流桥。

本实用新型的技术方案如下:一种零平面高功率的整流桥,包括第一框架、第二框架、第三框架、第四框架、四个整流芯片、封装机构;所述第一框架、第四框架为扁平的L形结构,所述第二框架、第三框架均为扁平的Z型结构;所述第一框架、第四框架均设有两个凸起,该两凸起上均设有方形焊片;所述第二框架、第三框架上也均设有两焊片;所述每一整流芯片一端分别与第一框架、第四框架的焊片焊接,每一整流芯片的另外一端分别与对应的第二框架、第三框架上的焊片焊接;所述封装机构用于封装第一框架、第二框架、第三框架、第四框架,且第一框架、第二框架、第三框架均从封装机构伸出一引脚;所述每个整流芯片分别与第一框架、第二框架、第三框架、第四框架相互连接成一整流桥。

优选地,所述第一框架、第二框架、第三框架、第四框架均为铜材料制成,且第一框架、第二框架、第三框架、第四框架的引脚均为圆柱形结构。

优选地,所述封装机构为环氧密封树脂制成,且为方形结构。

采用上述方案,本实用新型有益效果是:

(1)、本实用新型的所述第一框架、第四框架为扁平的L形结构,所述第二框架、第三框架均为扁平的Z型结构;所述第一框架、第四框架均设有两个凸起,该两凸起上均设有方形焊片;所述第二框架、第三框架上也均设有两焊片;所述每一整流芯片一端分别与第一框架、第四框架的焊片焊接,每一整流芯片的另外一端分别与对应的第二框架、第三框架上的焊片焊接;所述封装机构用于封装第一框架、第二框架、第三框架、第四框架,且第一框架、第二框架、第三框架均从封装机构伸出一引脚;所述每个整流芯片分别与第一框架、第二框架、第三框架、第四框架相互连接成一整流桥;这样的设计结构简单、另外通过第一框架、第二框架、第三框架、第四框架和对应的方形焊片,可以快速的传导整流芯片上的热量,且通过引脚将热量散出;

(2)、本实用新型的第一框架、第二框架、第三框架、第四框架均为铜材料制成,且第一框架、第二框架、第三框架、第四框架的引脚均为圆柱形结构;所述封装机构为环氧密封树脂制成,且为方形结构;这样的设计方便进一步散热,及增加整流芯片的稳定性和提高寿命;因此本实用新型具有结构简单、散热效果好、整流芯片工作稳定、整流芯片工作寿命长的有益效果。

附图说明

图1为本实用新型的爆炸结构意图;

图2为本实用新型的剖示结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明;

如图1、图2所示:本实施例提供了一种零平面高功率的整流桥,包括第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7、四个整流芯片4、封装机构6;所述第一框架2、第四框架7均为扁平的L形结构,所述第二框架 1、第三框架5均为扁平的Z型结构;所述第一框架2、第四框架7均设有两个凸起,该两凸起上均设有方形焊片3;所述第二框架1、第三框架5上也均设有两焊片3;所述每一整流芯片4一端分别与第一框架2、第四框架 7上的焊片3焊接,每一整流芯片4的另外一端分别与对应的第二框架1、第三框架5上的焊片3焊接;所述封装机构6用于封装第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7,且第一框架2、第二框架1、第三框架5均从封装机构6伸出一引脚8;所述每个整流芯片4分别与第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7相互连接成一整流桥。

所述第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7均为铜材料制成,且第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7的引脚均为圆柱形结构。

所述封装机构6为环氧密封树脂制成,且为方形结构。

实施例

如图1、图2所示:第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架 7均为铜材料制成,且第一框架2、第二框架1、第三框架5、第四框架7 的引脚均为圆柱形结构;所述封装机构6为环氧密封树脂制成,且为方形结构;这样的设计方便进一步散热,及增加整流芯片的稳定性和提高寿命。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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