技术特征：
技术总结
用于在半导体开关(20)中利用测量装置(21)确定负载电流(IL)的方法(100)，其中，负载电流(IL)的测量被与测量装置(21)有关的传输系数(k)所影响，其中实施如下步骤：a)以第一传输系数(k1)执行负载电流(IL)的第一测量，其中利用第一测量确定第一测量结果；b)以第二传输系数(k2)执行负载电流(IL)的第二测量，其中，利用第二测量确定第二测量结果，并且第一传输系数(k1)有别于第二传输系数(k2)，以便识别测量结果中的误差(IF)；c)通过比较第一测量结果与第二测量结果确定校正的测量结果，如此使得至少减小误差(IF)。
技术研发人员：M·菲伊斯廷
受保护的技术使用者：黑拉许克联合股份有限公司
技术研发日：2016.03.02
技术公布日：2017.09.29