专利名称：一种可测石英晶体电气性能的石英晶体振荡器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及的是一种对石英晶体振荡器进行优化设计、可测石英晶体电气性
能的石英晶体振荡器，应用于电子元器件晶体制造领域中的石英晶体振荡器的加工，属于石英电子元器件制作的技术领域。
背景技术：
随着电子信息技术的飞速发展，对于频率元件的要求越来越多。作为频率元件的一种，石英晶体振荡器也面临更高的可靠性要求、更小的外形尺寸等。为了达到石英晶体振荡器小型化的要求，现有的5A7mm SMD石英晶体振荡器的加工工艺是将石英晶体与IC封装在同一基座里面以节省空间。传统石英晶体振荡器基座底部只有四个功能电极(l-E/D、2-VSS、3-Q、4-VDD)，没有将石英晶体的两个工作电极a、 b引出到基座的外表面，因此在石英晶体振荡器封装后无法对石英晶体的阻抗、DLD等电气参数进行测试和改良。如果石英晶体的阻抗大或者DLD不良，会直接影响石英晶体振荡器的工作可靠性。传统石英晶体振荡器基座的缺点A.不能对封装后的石英晶体的阻抗、DLD等电气性能进行测试；B，不能对石英晶体振荡器停振、温度特性不良等不良现象进行有效分析。
发明内容本发明的目的在于设计出一种可以测试石英晶体电气性能的石英晶体振荡器，它可在石英晶体振荡器的加工过程中通过电清洗改善石英晶体的电气性能，又能在封装以后有效测试石英晶体的电气性能。可在石英晶体振荡器生产加工中，改善石英晶体的电气性能问题和IC匹配问题，又能有效剔除不良品。 本发明的技术解决方案其特征是在传统晶体振荡器的基座侧面设计两个电极，分别与基座内石英晶体的两个工作电极相连，基座侧面增加的两个电极的间距为1 4mm。[0005] 本发明的优点弥补了普通晶体振荡器的不足，达到了以下两点一、通过新设计石英晶体振荡器的侧面电极，可以检测内部石英晶体的电气性能，剔除不良品；二、在石英晶体振荡器加工过程中，通过基座侧面的两个电极，对石英晶体进行电清洗，改善石英晶体的电气性能，提高石英晶体振荡器的可靠性。
附图1为传统晶体振荡器正视图，图2是图1的背面图，图3是图1的侧视图。[0007] 附图4为可测石英晶体电气性能的石英晶体振荡器的正视图，图5是图4的背面图，图6是图4的侧视图。 附图7为可测适应晶体电气性能的石英晶体振荡器的实例剖面的正视图，图8是图7的背面图。图9是水晶振子两电极的示意图。 图中的1(E/D)、2(VSS)、3(Q)、4(VDD)分别是石英晶体振荡器的基座正面上的四个功能电极，5、6为石英晶体振荡器基座侧面上的电极。A、 B、 C、 D、 E、 F、 G、 H是基座内的电极，a、b是水晶振子的两电极。
具体实施方式
对照附图4-图9，其结构是石英晶体的工作电极a、b分别固定相接在基座A、B电 极，新设计的石英晶体振荡器基座侧面上的电极5、6分别与基座的A、B电极相连接，从而将 石英晶体的工作电极a、b引出到振荡器基座外表面。 这样就可以将这两个电极引入到S&A250B等测试系统中，对石英晶体的阻抗、DLD 等电气参数进行测量分析。同样通过这两个电极可以对石英晶体进行电清洗，改善石英晶 体振荡器的性能。
权利要求一种可测石英晶体电气性能的石英晶体振荡器，其特征是在晶体振荡器的基座侧面设计两个电极，该两电极分别与基座内石英晶体的两个电极相连，基座侧面设计两个电极的间距为1～4mm。
专利摘要本实用新型涉及的是一种对石英晶体振荡器进行优化设计、可测石英晶体电气性能的石英晶体振荡器，其特征是在传统石英晶体振荡器的基座侧面设计两个电极，该两电极分别与基座内石英晶体的两个电极相连，基座侧面设计两个电极的间距为1～4mm。本实用新型的优点弥补了传统晶体振荡器的不足，可以达到以下两点A、通过新基座的侧面电极，可以检测出石英晶体的性能；B、在石英晶体振荡器加工过程中，通过这两个侧面电极，可以对石英晶体进行电清洗，从而改善石英晶体的电气性能，使之与IC能够更好地匹配，得到性能稳定的石英晶体振荡器。
文档编号H03H9/02GK201450492SQ20092004328
公开日2010年5月5日 申请日期2009年7月6日 优先权日2009年7月6日
发明者高志祥, 鲁治国 申请人:南京华联兴电子有限公司