光二极管中的一个，物理光阀被配置为将单独发光二极管的各个发光二极管产生的光与其他发光二极管产生的光进行光学隔离。在某些实施方式中，在该组中的全部发光二极管同时工作时可以存在用于每个发光二极管的光学检测器。
[0093]虽然本说明书包含许多具体的实施细节，但是这些细节不应当被解释为对任何发明的或者所要求的范围进行限制，而是对专用于特定发明的特定实施例的特征进行说明。单独实施例的背景下所述的特定特征还能够在单一实施例中以组合方式实施。与之相反，在单一实施例的背景下所述的各种特征还能够在多个实施例中分别实施或者以任意适用的子组合实施。而且，尽管上述特征在一定的组合中起作用或者被实现以至最初以此进行要求，但是所要求的组合中的一个或更多特征在某些情况下可以从该组合中去除，并且所要求的组合可以指向子组合或者子组合的变型。
[0094]类似地，虽然附图中所示的和本申请中所说明的操作以特定顺序发生，但是这不应当被理解为要求此类操作以所示的特定顺序或者以先后顺序执行，或者执行全部的所示操作，以获得期望的结果。在一定的环境下，多任务以及并行执行某些操作可以是有利的。
[0095]光功率的概念应当被宽泛地理解为几乎包括任何类型的发光二极管产生的光功率的表示方法或指标。
[0096]而且，本申请中所述的概念可以用于激光器甚至是产生的电流与光输入成正比的检测器。
[0097]诸如“较低”、“较高”、“水平”、“竖直”、“之上”、“之下”、“上”、“下”、“顶”和“底”之类的相对性术语及其衍生词(例如，“水平地”、“向下地”、“向上地”等等)在本申请中所用之处应当被解释为仅应用于一定的方向(例如，所述的或者在所述附图中示出的特定方向)。这些相对性术语仅为了方便而使用，而不要求装置以特定方向被构造或操作。
[0098]其他实施方式在权利要求书的范围内。
【主权项】
1.一种方法，包括: 提供一组分立的发光二极管； 对该组发光二极管中每个单独的发光二极管进行检验，以确定每个单独的发光二极管在被连接到电源上时产生的光功率， 其中，所述电源向处于所述检验过程中的每个单独的发光二极管传递基本等量的电流，以及 其中，所有发光二极管在被连接到所述电源上时产生的光功率水平全部都在第一范围内；以及 为该组发光二极管中的至少一些发光二极管并联连接上电阻以减小这些发光二极管产生的光功率量， 其中，在连接所述电阻之后，所有发光二极管产生的光功率水平全部在较所述第一范围小的第二范围内。2.根据权利要求1所述的方法，其中，对该组发光二极管中每个单独的发光二极管进行检验包括: 将每个发光二极管单独连接到所述电源上而不在该电源上连接任何其他的发光二极管；以及 对所述每个发光二极管在被连接到所述电源上时产生的光功率进行测量。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述电源为恒定电流电源。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述恒定电流电流源为恒定直流电源，或者为在离散时间段内维持恒定电流水平的脉冲电源。5.根据权利要求1所述的方法，其中，连接所述电阻包括: 将具有至少两个不同电阻值的电阻器连接到所述发光二极管上。6.根据权利要求1所述的方法，其中，连接所述电阻包括: 将该组发光二极管分为第一小组和第二小组； 为所述第一小组中的发光二极管的每一个连接上电阻；但是 不向所述第二小组中的发光二极管连接所述电阻中的任何一个。7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述发光二极管中的至少一些并不连接所述电阻中的任何一个。8.根据权利要求1所述的方法，其中，连接一个或更多所述电阻包括: 将分立电阻器直接物理附接到所述发光二极管中每个对应发光二极管的引出线上。9.根据权利要求1所述的方法，其中，连接一个或更多所述电阻包括: 将分立电阻器物理附接到基座上；以及 将所述发光二极管中的对应发光二极管连接到所述基座上， 其中，所述基座之中或之上的一个或更多导电通路有利于所述分立电阻器与所述发光二极管中的所述对应发光二极管之间的电耦合。10.根据权利要求1所述的方法，进一步包括: 对于所述发光二极管中的一个或更多连接有并联电阻的发光二极管中的每一个发光二极管，计算所述并联电阻的电阻值， 其中，所述计算的电阻值导致所述每一个发光二极管在被连接到所述电源上时产生的光功率水平在所述第二范围内。11.根据权利要求1所述的方法，进一步包括: 在连接所述电阻之后，将该组发光二极管中的每一个与光学检测器关联。12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光学检测器全部被配置为检测所述第二范围中的光功率水平。13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一范围具有最低数值和最高数值，其中，所述第二范围具有最低数值和最高数值，以及 其中，所述第二范围的所述最低数值低于所述第一范围的所述最低数值。14.一种方法，包括: 当一组发光二极管中每个单独的发光二极管被连接到恒定电流电源上时，确定每个单独的发光二极管产生的光功率水平，其中，所述光功率水平全部在第一范围内；以及 为该组发光二极管中的至少一些发光二极管并联连接上电阻，以减小这些发光二极管产生的光功率量，以使得在连接所述电阻之后，所有发光二极管在被连接到所述恒定电流电流源上时产生的光功率水平全部在较所述第一范围小的第二范围内。15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述恒定电流电源适于将基本等量的电流传递给所述发光二极管中每个单独的发光二极管，以确定该组中每个单独的发光二极管产生的光功率水平。16.根据权利要求14所述的方法，其中，确定每个单独的发光二极管产生的光功率水平包括: 将每个发光二极管单独连接到所述电源上而不在该电源上连接任何其他的发光二极管。17.根据权利要求14所述的方法，其中，所述电阻中的至少一个电阻在电阻值方面不同于所述电阻中的至少一个其它电阻。18.根据权利要求14所述的方法，其中，该组发光二极管中的至少一些并不连接所述电阻中的任何一个。19.根据权利要求14所述的方法，其中，连接所述电阻包括: 将该组发光二极管分为第一小组和第二小组； 为所述第一小组中的发光二极管的每一个并联连接上电阻；以及 不向所述第二小组中的发光二极管并联连接所述电阻中的任何一个。20.根据权利要求14所述的方法，进一步包括:在连接所述电阻之前，对于所述发光二极管中的一个或更多发光二极管中的每一个发光二极管: 计算要与所述每一个发光二极管并联的电阻的电阻值，其中，所述计算的电阻值导致所述每一个发光二极管在被连接到所述电源上时产生的光功率水平在所述第二范围内。
【专利摘要】一种减小一组发光二极管的光功率水平变化的方法，包括对发光二极管中的每个单独的发光二极管进行检验，从而确定每个单独的发光二极管在被连接到电源上时产生的光功率水平。在检验过程中，电源向所述发光二极管中每个单独的发光二极管传递基本等量的电流。从检验中得到的光功率水平全部在第一数值范围内。该方法包括为该组中的发光二极管中的至少一些发光二极管并联连接上电阻以减小这些发光二极管产生的光功率量。在连接电阻之后，所有发光二极管产生的光功率水平全部在较所述第一范围小的第二范围内。
【IPC分类】H05B37/02
【公开号】CN104968068
【申请号】CN201510058065
【发明人】劳伦斯·戈德弗里, 亚瑟·约翰·巴洛
【申请人】埃塞力达技术菲律宾有限公司
【公开日】2015年10月7日
【申请日】2015年2月4日
【公告号】EP2903038A1, US20150219490