检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法
【专利摘要】检测装置具有阈值检测电路、输入检测电路、电平检测电路、切换电路以及输出电路。阈值检测电路以能够进行切换的时间常数来检测所输入的光突发信号的电平的阈值。输入检测电路检测光突发信号的输入。电平检测电路检测光突发信号的电平。切换电路在从由输入检测电路检测到输入起，经过了与由电平检测电路检测到的电平对应的时间时，切换时间常数。输出电路输出由阈值检测电路检测到的阈值。
【专利说明】检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法。
【背景技术】
[0002]在光接入系统中，已知有在OLT (Optical Line Terminal (光线路终端):收容站侧终端)与ONU (Optical Network Unit (光网络单元):加入者侧终端)之间进行光通信的PON (Passive Optical Network:无源光网络)系统。在PON中，发生ONU侧的光发送器的光输出的占空比(Duty)的变动和在OLT侧的光接收器中产生的占空比的变动。
[0003]由于这些占空比的变动，向OLT侧的突发模式⑶R (Clock Data Recovery:时钟数据恢复)的输入信号的占空比发生变动，从而无法正常地引入数据的互通性(Interoperability)成为问题。尤其是今后进行了向XGPON等2.5 [Gbps]或10 [Gbps]的高速化情况下，由这些占空比的变动产生的影响可能变大。
[0004]另一方面，公知有以下ATC (Auto Threshold Control:自动阈值调整):根据输入信号的大小变动，进行使得用于输入信号的电平检测的阈值电平追随地变化的控制。此外，作为能够抑制信号输出的占空比变动的方式，公知有将平均值作为信号的阈值进行导出的平均值检测方式的ATC。此外，在ATC中，公知有以下技术:在输入突发信号时，进行高速(时间常数较小)的阈值检测，然后，切换为能够承受同码连续的低速(时间常数较大)的阈值检测(例如，参照下述专利文献1、2。)。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1:日本特开2009-177577号公报
[0008]专利文献2:日本特开2008-312216号公报
【发明内容】
[0009]发明要解决的问题
[0010]然而，在上述的现有技术中，由于信号输入的检测所需的时间(检测速度)根据信号电平而变化，因此时间常数的切换时机根据信号电平而产生偏差。因此，存在阈值变动而使接收质量发生劣化这样的问题。
[0011]本发明为了消除上述现有技术中的问题点，其目的在于，提供一种能够提高接收质量的检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法。
[0012]用于解决问题的手段
[0013]为了解决上述的课题并达成目的，根据本发明的一个方面，提出了检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法，以能够进行切换的时间常数检测所输入的光突发信号的电平阈值，检测所述光突发信号的输入，检测所述光突发信号的电平，在从检测到所述输入起经过了与所检测到的所述电平对应的时间时，切换所述时间常数，输出检测到的所述阈值。[0014]发明的效果
[0015]根据本发明的一个方面，起到能够提高接收质量这样的效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是示出实施方式I的检测装置的结构例的图。
[0017]图2是示出实施方式2的光接收装置的结构例的图。
[0018]图3是示出输入电平与延迟时间之间的关系的一例的图。
[0019]图4-1是示出光接收装置的时间常数的切换动作的一例的流程图。
[0020]图4-2是示出光接收装置的时间常数的切换动作的一例的流程图。
[0021]图5是示出光接收装置的动作时机的一例的图。
[0022]图6是示出阈值的变动与占空比的变动之间的关系的一例的图。
[0023]图7是示出输入电平检测电路的具体例I的图。
[0024]图8是示出输入电平检测电路的具体例2的图。
[0025]图9是示出输入电平检测电路的具体例3的图。
[0026]图10是示出ATC电路的结构例的图。
[0027]图11是示出ATC电路的变形例的图。
[0028]图12是示出延迟量控制电路的结构例的图。
[0029]图13是示出延迟量控制电路中的各个信号的一例的图。
[0030]图14是示出延迟量控制电路的其他结构例的图。
[0031]图15是示出占空比的改善效果的一例的图。
[0032]图16是示出实施方式3的光接收装置的结构例的图。
[0033]图17是示出光接收装置的动作的一例的流程图。
[0034]图18是示出时机控制电路的结构例的图。
[0035]图19是示出延迟量控制电路中的各信号的一例的图。
[0036]图20是示出实施方式4的光接收装置的结构例的图。
【具体实施方式】
[0037]下面参照附图对本发明的检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法的实施方式详细地进行说明。
[0038](实施方式I)
[0039]图1是示出实施方式I的检测装置的结构例的图。如图1所示，实施方式I的检测装置100是检测突发接收信号的电平的阈值的检测装置。检测装置100具有光电转换器110、阈值检测电路120、输入检测电路130、电平检测电路140、切换电路150以及输出电路160。
[0040]光电转换器110对向检测装置100输入的光突发信号进行光电转换。光电转换器110将通过光电转换被转换为电信号的突发信号输出到阈值检测电路120、输入检测电路130以及电平检测电路140。
[0041]阈值检测电路120检测从光电转换器110输出的突发信号的阈值。由此，能够检测向检测装置100输入的光突发信号的阈值。例如，阈值检测电路120检测突发信号的电平的平均值作为突发信号的阈值。阈值检测电路120将所检测到的阈值输出到输出电路160。
[0042]此外，阈值检测电路120中的检测阈值的时间常数可通过切换电路150进行切换。例如，阈值检测电路120的时间常数可切换为第I时间常数(高速)和比第I时间常数大的第2时间常数(低速)。
[0043]输入检测电路130根据从光电转换器110输出的突发信号，检测向检测装置100进行的光突发信号的输入(即，判定输入的有无)。输入检测电路130向切换电路150通知判定结果。输入检测电路130例如具有检测突发信号的电平的检测部，在由检测部检测到的电平超过了阈值的情况下，判定为输入了光突发信号。该情况下，也可以使用电平检测电路140，来作为检测突发信号的电平的检测部。
[0044]电平检测电路140检测从光电转换器110输出的突发信号的电平。由此，能够检测向检测装置100输入的光突发信号的电平。电平检测电路140向切换电路150通知所检测出的电平。
[0045]切换电路150根据来自输入检测电路130的通知，从由输入检测电路130检测到光突发信号的输入起，经过了预定的时间时，切换输出电路160的时间常数。此外，切换电路150根据从电平检测电路140通知的电平，使从检测到光突发信号的输入起，到切换输出电路160的时间常数为止的预定时间变化。例如，对切换电路150而言，所通知的电平越高，将从检测到光突发信号的输入起，到切换输出电路160的时间常数为止的预定时间设为越长。
[0046]例如，切换电路150在从检测到光突发信号的输入起，到经过预定时间前，将输出电路160的时间常数作为第I时间常数(高速)。此外，切换电路150在从检测到光突发信号的输入起经过了预定时间时，将输出电路160的时间常数从第I时间常数(高速)切换为第2时间常数(低速)。由此，能够以高速的时间常数对光突发信号的上升沿部分的阈值进行检测，并且以低速的时间常数对比光突发信号的上升沿部分偏后部分的阈值进行检测。
[0047]输出电路160输出从阈值检测电路120输出的阈值。例如，输出电路160将阈值输出到判定电路，该判定电路根据输出电路160输出的阈值和从光电转换器110输出的突发信号，判定突发信号表示的数据。
[0048]在图1中，对如下结构进行了说明:将由光电转换器110对输入到检测装置100的光突发信号进行光电转换后得到的突发信号，输出到阈值检测电路120、输入检测电路130以及电平检测电路140，但是，并不限定于这种结构。例如，也可以是将向检测装置100输入的光突发信号分支并向阈值检测电路120、输入检测电路130以及电平检测电路140输出的结构。该情况下，分别在阈值检测电路120、输入检测电路130以及电平检测电路140的前级设置光电转换器110，来对光突发信号进行光电转换。
[0049]这样，在实施方式I的检测装置100中，根据突发信号的电平(信号电平)，使从检测到突发信号的输入(信号输入)起，到切换阈值检测的时间常数为止(例如使其降低)的时间变化。由于突发信号的输入的检测的延迟时间(延迟速度)根据突发信号的电平而变化，因此能够抑制由于突发信号的输入的检测的延迟时间的变化引起的阈值的变动。
[0050]由此，能够抑制由突发信号与阈值的比较(例如差动放大)而得到的信号的占空比的变动。因此，能够高精度地判定所接收到的光突发信号表示的数据，提高接收质量。
[0051](实施方式2)[0052](光接收装置的结构例)
[0053]图2是示出实施方式2的光接收装置的结构例的图。图2所示的光接收装置200是应用图1所示的检测装置100的光接收装置。光接收装置200是接收光突发信号的光接收装置。光接收装置200能够应用于例如PON的OLT侧的光接收器。光接收装置200具有PD210、TIA220、后置放大器230、时机控制电路240、ATC电路250以及CDR电路260。
[0054]<关于 PD 和 TIA >
[0055]PD210对向光接收装置200输入的光突发信号进行光电转换，并将转换为电信号的突发信号输出到TIA220。PD210例如是PIN-PD或雪崩H)(雪崩光电二极管)等。
[0056]TIA220 (Transimpedance Amplif ier:阻抗转换放大器)将从 Η)210 输出的突发信号转换放大成电压信号。ΤΙΑ220将转换放大后的突发信号输出到后置放大器230、时机控制电路240以及ATC电路250。
[0057]<关于后置放大器>
[0058]后置放大器230是将从ΤΙΑ220输出的突发信号的振幅固定地输出的均衡放大电路。具体而言，后置放大器230具有信号检测电路231和放大器232。信号检测电路231根据从ΤΙΑ220输出的突发信号，检测向光接收装置200进行的光突发信号的输入。
[0059]例如，信号检测电路231具有检测突发信号的电平的检测部，在检测部所检测到的电平超过阈值的情况下，判定为输入了光突发信号。信号检测电路231在检测到突发信号的输入时，向时机控制电路240输出输入检测信号。输入检测信号例如是当检测到突发信号的输入时上升，当没有检测到突发信号的输入时下降的信号。
[0060]在放大器232中，输入从ΤΙΑ220输出的突发信号和从ATC电路250输出的阈值。放大器232是差动放大电路，其进行以预定系数(差动增益)对所输入的突发信号与阈值之间的差分进行放大的差动放大。放大器232将通过差动放大得到的正转信号Qout和反转信号XQout输出到⑶R电路260。另外，放大器232也将正转信号Qout和反转信号XQout中的任意一方输出到⑶R电路260。
[0061]这里，信号检测电路231的检测速度，即从实际输入突发信号起，到由信号检测电路231检测到突发信号的输入为止的延迟时间根据突发信号的电平而变化。具体而言，突发信号的电平越小，到信号检测电路231检测到突发信号的输入为止越耗费时间。
[0062]<关于时机控制电路>
[0063]时机控制电路240具有输入电平检测电路241和延迟量控制电路242。输入电平检测电路241检测从ΤΙΑ220输出的突发信号的输入电平。输入电平检测电路241将表示所检测到的输入电平的电平检测信号输出到延迟量控制电路242。
[0064]延迟量控制电路242根据从后置放大器230输出的输入检测信号和从输入电平检测电路241输出的电平检测信号，控制ATC电路250的切换时间常数的时机延迟量。具体而言，延迟量控制电路242在从后置放大器230输出输入检测信号起经过了预定时间时，将指示从高速时间常数向低速时间常数切换的切换信号输出到ATC电路250。此外，对延迟量控制电路242而言，从输入电平检测电路241输出的电平检测信号表示的电平越大，将从后置放大器230输出输入检测信号起，到输出切换信号为止的时间设为越长。
[0065]<关于ATC电路>
[0066]ATC电路250进行如下ATC (自动阈值调整):根据从ΤΙΑ220输出的突发信号的电平的变动，使得用于后置放大器230中的电平检测的阈值追随地变化。具体而言，ATC电路250检测从TIA220输出的突发信号的阈值，并向后置放大器230输出所检测的阈值。
[0067]此外，ATC电路250是通过计算突发信号的平均值来检测突发信号的阈值的平均值检测型的ATC电路。此外，ATC电路250能够切换检测突发信号的阈值的时间常数。接着，对ATC电路250的结构进行说明。ATC电路250具有模拟开关251、高速阈值检测电路252以及低速阈值检测电路253。
[0068]在模拟开关251中输入从TIA220输出的突发信号。模拟开关251是能够切换成以下两条路径的路径开关:向高速阈值检测电路252输出所输入的突发信号的路径，以及向低速阈值检测电路253输出所输入的突发信号的路径。模拟开关251根据从时机控制电路240输出的切换信号来切换路径。
[0069]高速阈值检测电路252根据比低速阈值检测电路253小的时间常数(第I时间常数)来检测从模拟开关251输出的突发信号的阈值。具体而言，高速阈值检测电路252根据比低速阈值检测电路253小的时间常数检测突发信号电平的平均值。高速阈值检测电路252将所检测到的阈值输出到后置放大器230。
[0070]低速阈值检测电路253根据比高速阈值检测电路252大的时间常数(第2时间常数)来检测从模拟开关251输出的突发信号的阈值。具体而言，低速阈值检测电路253根据比高速阈值检测电路252大的时间常数检测突发信号的电平的平均值。低速阈值检测电路253将所检测到的阈值输出到后置放大器230。
[0071]低速阈值检测电路253中的时间常数例如设定为能够承受ITU_T(InternationalTelecommunication Union-Telecommunication sector:国际电信电话咨询委员会)中所规定的72[bit]以上的同码连续的时间常数。
[0072]<关于CDR电路>
[0073]⑶R电路260从由后置放大器230输出的信号(例如正转信号Qout和反转信号XQout)提取时钟，并判定向光接收装置200输入的光突发信号所表示的数据。具体而言，CDR电路260将从后置放大器230输出的信号转换成数字信号，并对转换后的信号进行波形整形(reshaping)、时机再生(retiming)、识别再生(regenerating)等。Q)R电路260输出所判定的数据。
[0074]放大器232和CDR电路260是根据ATC电路250所检测到的阈值，判定突发信号表示的数据的判定电路。此外，CDR电路260是对所判定的数据进行输出的输出电路。
[0075]<关于光接收装置的各个电路>
[0076]图1所示的光电转换器110例如能够通过Η)210和TIA220来实现。图1所示的阈值检测电路120和输出电路160例如能够通过ATC电路250来实现。图1所示的输入检测电路130例如能够通过信号检测电路231来实现。图1所示的电平检测电路140例如能够通过输入电平检测电路241来实现。图1所示的切换电路150例如能够通过延迟量控制电路242来实现。另外，也可以构成为，将放大器232和⑶R电路260设置在光接收装置200的外部，将光接收装置200作为阈值的检测装置。
[0077](输入电平与延迟时间之间的关系)
[0078]图3是示出输入电平与延迟时间之间的关系的一例的图。在图3中，横轴表示从向信号检测电路231输入突发信号起，到信号检测电路231的突发信号的输入检测的延迟时间。此外，横轴表示从由信号检测电路231输出输入检测信号起，到延迟量控制电路242输出切换信号为止的延迟时间。纵轴表示由输入电平检测电路241检测的突发信号的输入电平。
[0079]关系301表示突发信号的输入电平与信号检测电路231进行的突发信号的输入检测的延迟时间之间的关系。如关系301所示，突发信号的输入电平越小，信号检测电路231进行的突发信号的输入检测的延迟时间变得越长。
[0080]关系302表示突发信号的输入电平与到延迟量控制电路242输出切换信号为止的延迟时间之间的关系。如关系302所示，对延迟量控制电路242而言，突发信号的输入电平越小，将到输出切换信号为止的延迟时间设为越短。由此，在信号检测电路231进行的突发信号的输入检测的延迟时间越长的情况下，能够使到输出切换信号为止的延迟时间变得越短。
[0081]因此，即便突发信号的输入电平变动，而使信号检测电路231进行的突发信号的输入检测的延迟时间变动，也能够减小切换ATC电路250的时间常数的时机的变动。因此，能够抑制由于信号检测电路231进行的突发信号的输入检测的延迟时间的变动而引起的阈值的变动。
[0082]此外，通过使用抑制了变动的阈值，能够抑制从放大器232输出的信号的占空比的变动。因此，能够通过CDR电路260高精度地判定数据，提高接收质量。
[0083](时间常数的切换动作)
[0084]图4-1是示出光接收装置的时间常数的切换动作的一例的流程图。图2所示的光接收装置200例如像图4-1所示的各步骤那样进行动作，来作为时间常数的切换动作。首先，延迟量控制电路242通过向模拟开关251输出切换信号，将ATC电路250中的阈值的检测时间常数设定成高速的时间常数(步骤S411)。在步骤S411中，例如，通过将模拟开关251的路径切换成与高速阈值检测电路252连接的路径，来设定高速的时间常数。
[0085]此外，输入电平检测电路241开始突发信号的输入电平的检测(步骤S412)。接着，延迟量控制电路242导出时间常数的切换时机(步骤S413)。接着，延迟量控制电路242进行等待，直到通过步骤S413导出的切换时机为止(步骤S414)。
[0086]在成为切换时机之前，从高速阈值检测电路252输出的阈值充分地上升并稳定。到切换时机后，延迟量控制电路242通过向模拟开关251输出切换信号，将ATC电路250中的阈值的检测的时间常数设定成低速的时间常数(步骤S415)，结束一系列的切换动作。
[0087]图4-2是示出光接收装置的时间常数的切换动作的一例的流程图。图2所示的光接收装置200例如像图4-2所示的各步骤那样进行动作，来作为时间常数的切换动作。首先，延迟量控制电路242通过向模拟开关251输出切换信号，将ATC电路250中的阈值的检测的时间常数设定成高速的时间常数(步骤S421)。在步骤S421中，例如，通过将模拟开关251的路径切换成与高速阈值检测电路252连接的路径，来设定高速的时间常数。
[0088]此外，输入电平检测电路241开始突发信号的输入电平的检测(步骤S422)。接着，在信号检测电路231检测到突发信号的输入时(步骤S423)，延迟量控制电路242导出与由输入电平检测电路241检测到的输入电平对应的延迟时间(步骤S424)。
[0089]接着，延迟量控制电路242根据通过步骤S424导出的延迟时间，导出时间常数的切换时机(步骤S425)。在步骤S425中，延迟量控制电路242例如导出从当前时刻起经过了延迟时间的时刻作为切换时机。接着，延迟量控制电路242进行等待，直到通过步骤S425导出的切换时机为止(步骤S426)。[0090]在成为切换时机之前，从高速阈值检测电路252输出的阈值充分地上升并稳定。到切换时机后，延迟量控制电路242通过向模拟开关251输出切换信号，将ATC电路250中的阈值的检测的时间常数设定成低速的时间常数(步骤S427)，结束一系列的切换动作。在步骤S427中，例如通过将模拟开关251的路径切换成与低速阈值检测电路253连接的路径，来设定低速的时间常数。[0091](光接收装置的动作时机)[0092]图5是示出光接收装置的动作时机的一例的图。在图5中，横轴表示时间。纵向表示各信号的电平。突发信号511表示从TIA220输出的电平比较小的突发信号(小信号)。突发信号521表示从TIA220输出的电平比较大的突发信号(大信号)。这里，设为突发信号511,521是“1010…”这样的交替信号。[0093]<关于小信号>[0094]检测电平512表示在输入了突发信号511的情况下，在信号检测电路231中检测的突发信号511的电平。输入信号检测阈值513表示在信号检测电路231中设定的阈值。输入检测信号514表不在输入了突发信号511的情况下,信号检测电路231输出的输入检测信号。当检测电平512超过输入信号检测阈值513时，信号检测电路231输出输入检测信号514 (从低变为高)。[0095]<关于大信号>[0096]检测电平522表示在输入了突发信号521的情况下，在信号检测电路231中检测的突发信号521的电平。输入检测信号524表示在输入了突发信号521的情况下，信号检测电路231输出的输入检测信号。当检测电平522超过输入信号检测阈值513时，信号检测电路231输出输入检测信号524 (从低变为高)。[0097]<关于切换信号>[0098]切换信号530表示延迟量控制电路242输出的切换信号。在没有输出切换信号530的情况(变为低的情况)下，设为模拟开关251被切换成向高速阈值检测电路252的路径。此外，在输出了切换信号530的情况(变为高的情况)下，设为模拟开关251被切换成向低速阈值检测电路253的路径。[0099]在从TIA220输出突发信号511的情况下，延迟量控制电路242在从输出输入检测信号514起(从变为高起)，到经过了延迟时间Tll的时刻tl为止的期间T31，不输出切换信号530 (设为低)。此外，延迟量控制电路242在时刻tl之后的期间T32输出切换信号530(设为高)。[0100]在从TIA220输出突发信号521的情况下，延迟量控制电路242在从输出输入检测信号524起(从变为高起)，到经过了延迟时间T21的时刻tl为止的期间T31，不输出切换信号530 (设为低)。此外，延迟量控制电路242在时刻tl之后的期间T32输出切换信号530(设为高)。[0101]这样，设为输入了突发信号521 (大信号)的情况下的延迟时间T21比输入了突发信号511 (小信号)的情况下的延迟时间Tll长。由此，能够分别在突发信号511、521的情况下，使延迟量控制电路242输出切换信号530的时刻一致(时刻tl)。因此，能够抑制由所输入的突发信号的电平变动引起的ATC电路250的时间常数的切换时机的变动。
[0102]例如，通过缩短输入了突发信号511 (小信号)的情况下的延迟时间T11，能够避免在ATC电路250的输出(高速阈值检测电路输出)上升并稳定后，ATC电路250的时间常数还保持高速。因此，能够抑制同码连续引起的阈值的变动，能够避免占空比变动。
[0103]此外，通过增长输入了突发信号521 (大信号)的情况下的延迟时间T21，能够避免在ATC电路250的输出(高速阈值检测电路输出)上升并稳定前，将ATC电路250的时间常数切换为低速。因此，能够避免阈值保持较低而使占空比增高。
[0104]另外，对分别在突发信号511、521的情况下使延迟量控制电路242输出切换信号530的时刻一致的情况进行了说明，但是也可以不完全一致。即，在ATC电路250的输出(高速阈值检测电路输出)上升并稳定后，将ATC电路250的时间常数从高速时间常数切换为低速时间常数即可。所输入的突发信号的电平越大，越缩短切换信号的延迟时间，由此能够使分别在突发信号511、521的情况下延迟量控制电路242输出切换信号530的时刻的差变小。因此，能够抑制由于所输入的突发信号的电平的变动引起的ATC电路250的时间常数的切换时机的变动。
[0105](阈值的变动与占空比的变动之间的关系)
[0106]图6是示出阈值的变动与占空比的变动之间的关系的一例的图。在图6中，横轴表示从ATC电路250输出的阈值。纵轴表示从放大器232输出的信号的占空比。关系601示出从ATC电路250输出的阈值与从放大器232输出的信号的占空比之间的关系。如关系601所示，从ATC电路250输出的阈值越高，从放大器232输出的信号(正转信号Qout的情况下)的占空比变得越低。
[0107](输入电平检测电路的具体例)
[0108]图7是示出输入电平检测电路的具体例I的图。在图7中，对与图2所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图7所示，图2所示的输入电平检测电路241例如能够通过峰值检测电路701来实现。峰值检测电路701检测从TIA220输出的突发信号的振幅的峰值电平。峰值检测电路701将表示检测到的峰值电平的电平检测信号向延迟量控制电路242输出。例如能够使用运算放大器、二极管和电容器等来实现峰值检测电路701。
[0109]图8是示出输入电平检测电路的具体例2的图。在图8中，对与图2所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图8所示，图2所示的输入电平检测电路241例如能够通过谷底检测电路801来实现。设为TIA220输出转换成电信号的突发信号作为正转的突发信号out和反转的突发信号xout。正转的突发信号out被输出到后置放大器230。反转的突发信号xout被输出到时机控制电路240和ATC电路250。
[0110]谷底检测电路801检测从TIA220输出的反转的突发信号XOUt的振幅的谷底电平。谷底检测电路801将表示检测到的谷底电平的电平检测信号向延迟量控制电路242输出。例如能够使用运算放大器、二极管和电容器等来实现谷底检测电路801。
[0111]图9是示出输入电平检测电路的具体例3的图。在图9中，对与图2所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图9所示，图2所示的输入电平检测电路241例如能够通过平均值检测电路901来实现。平均值检测电路901检测从TIA220输出的突发信号的振幅(电平)的平均值。平均值检测电路901将表示检测到的平均值的电平检测信号向延迟量控制电路242输出。例如能够通过使用电阻和电容器等的RC电路(Resistor-Capacitor circuit)来实现平均值检测电路 901。
[0112](ATC电路的结构例)
[0113]图10是示出ATC电路的结构例的图。如图10所示，ATC电路250的高速阈值检测电路252例如能够通过包含电阻1011和电容器1012在内的积分电路(RC电路)来实现。电阻1011的一端与模拟开关251连接，另一端与电容器1012和ATC电路250的输出部连接。电容器1012的一端与电阻1011和ATC电路250的输出部连接，另一端接地。
[0114]低速阈值检测电路253例如能够通过包含电阻1021和电容器1022在内的积分电路(RC电路)来实现。电阻1021的一端与模拟开关251连接，另一端与电容器1022和ATC电路250的输出部连接。电容器1022的一端与电阻1021和ATC电路250的输出部连接，另一端接地。
[0115]高速阈值检测电路252的时间常数可通过电阻1011的电阻值和电容器1012的电容值来设定。低速阈值检测电路253的时间常数可通过电阻1021的电阻值和电容器1022的电容值来设定。例如，通过将电阻1011的电阻值设为小于电阻1021的电阻值，能够使高速阈值检测电路252的时间常数小于低速阈值检测电路253的时间常数。
[0116]这样，ATC电路250 (阈值检测电路120)能够通过根据可切换的时间常数对突发信号的电平进行积分的积分电路(模拟开关251、电阻1011、1021以及电容器1012、1022)来实现。
[0117]图11是示出ATC电路的变形例的图。在图11中，对与图10所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图11所示，ATC电路250也可以通过模拟开关251、电阻1011,1021和电容器1012来实现。
[0118]电阻1011的一端与模拟开关251连接，另一端与电容器1012和ATC电路250的输出部连接。电阻1021的一端与模拟开关251连接，另一端与电容器1012和ATC电路250的输出部连接。电容器1012的一端与电阻1011、1021和ATC电路250的输出部连接，另一
端接地。
[0119]例如，将电阻1011的电阻值设为小于电阻1021的电阻值。该情况下，将模拟开关251的路径与电阻1011连接的情况相比于将模拟开关251的路径与电阻1021连接的情况，ATC电路250的时间常数变小。由此，与图10所示的ATC电路250同样，能够通过模拟开关251的切换来切换ATC电路250的时间常数。此外，能够采用省略了图10所示的电容器1022的结构。
[0120]这样，ATC电路250 (阈值检测电路120)能够通过根据可切换的时间常数对突发信号的电平进行积分的积分电路(模拟开关251、电阻1011、1021以及电容器1012)来实现。
[0121](延迟量控制电路的结构例)
[0122]图12是示出延迟量控制电路的结构例的图。例如图12所示,延迟量控制电路242具有电流源1210、缓存1220、积分电路1230、施密特触发缓存1240。电流源1210将与从输入电平检测电路241输出的电平检测信号对应的控制电流向积分电路1230输出。在缓存1220中输入从信号检测电路231输出的输入检测信号。缓存1220使所输入的输入检测信号延迟一定的时间后，向积分电路1230输出该输入检测信号。
[0123]积分电路1230使从缓存1220输出的输入检测信号延迟与从电流源1210输出的控制电流对应的时间后，向施密特触发缓存1240输出该输入检测信号。积分电路1230由包含电阻1231和电容器1232在内的RC电路实现。电阻1231的一端与缓存1220连接，另一端与电容器1232、电流源1210以及施密特触发缓存1240连接。电容器1232的一端与电阻1231、电流源1210以及施密特触发缓存1240连接，另一端接地。
[0124]施密特触发缓存1240对从积分电路1230输出的信号进行整形，并将整形后的信号作为切换信号向ATC电路250输出。具体而言，施密特触发缓存1240具有对于信号的阈值即第I阈值和第2阈值(第I阈值>第2阈值)，当信号电平超过第I阈值时使输出信号上升，当信号电平低于第2阈值时使输出信号下降。
[0125]这样，延迟量控制电路242 (切换电路150)能够通过积分电路1230来实现，该积分电路1230通过可根据由输入电平检测电路241 (电平检测电路140)检测到的电平而切换的时间常数对输入检测信号进行积分。具体而言，延迟量控制电路242能够通过电流源1210和积分电路1230来实现。电流源1210输出与由输入电平检测电路241检测到的电平对应的控制电流。积分电路1230通过根据由电流源1210输出的控制而变化的时间常数来对输入检测信号进行积分。
[0126]图13是示出延迟量控制电路中的各信号的一例的图。在图13中，横轴表示时间。纵向表示各信号的电平。突发信号1310表示从TIA220输出的突发信号。在图13中，对图12所示的延迟量控制电路242中的各信号进行说明。
[0127]输入检测信号1320表示从信号检测电路231输出的输入检测信号。输入检测信号1320为低电平时表不未检测到突发信号的输入,输入检测信号1320为高电平时表不检测到突发信号的输入。
[0128]积分电路输出1331表不在突发信号1310的电平比较小时(小信号)从积分电路
1230输出的信号。切换信号1332表示在突发信号1310的电平比较小时(小信号)从施密特触发缓存1240输出的切换信号。如积分电路输出1331和切换信号1332所示，当积分电路输出1331超过阈值TH时，施密特触发缓存1240将切换信号1332从低切换成高。
[0129]积分电路输出1341表示在突发信号1310的电平比较大时(大信号)从积分电路1230输出的信号。切换信号1342表示在突发信号1310的电平比较大时(大信号)从施密特触发缓存1240输出的切换信号。如积分电路输出1341和切换信号1342所示，当积分电路输出1341超过阈值TH时，施密特触发缓存1240将切换信号1342从低切换成高。
[0130]将切换信号1332的上升沿相对于输入检测信号1320的上升沿(从低向高的切换)的延迟时间设为延迟时间Tl。将切换信号1342的上升沿相对于输入检测信号1320的上升沿的延迟时间设为延迟时间T2。相比于突发信号1310的电平比较小的情况，在突发信号1310的电平比较大的情况下，来自电流源1210的控制电流变大，因此积分电路输出1341的上升沿比积分电路输出1331晚。
[0131]因此，切换信号1342的延迟时间T2比切换信号1332的延迟时间Tl长。因此，相比于突发信号1310的电平比较小的情况，在突发信号1310的电平比较大的情况下，能够增长从输出输入检测信号1320起，到向ATC电路250输出切换信号为止的延迟时间。
[0132]另外，如积分电路输出1331和切换信号1332所示，当积分电路输出1331低于比阈值TH低的阈值时，施密特触发缓存1240将切换信号1332从高切换成低。如积分电路输出1341和切换信号1342所示，当积分电路输出1341低于比阈值TH低的阈值时，施密特触发缓存1240将切换信号1342从高切换成低。
[0133]图14是示出延迟量控制电路的其他结构例的图。例如图14所示,延迟量控制电路 242 具有 MPU1410、缓存 1420、积分电路 1430。MPU1410 (Micro Processing Unit:微处理单元)根据从输入电平检测电路241输出的电平检测信号来控制积分电路1430的时间常
数。
[0134]具体而言，MPU1410具有数字转换器1411、存储器1412、控制部1413。数字转换器1411 (A / D =Analog (模拟)/ Digital (数字))将从输入电平检测电路241输出的电平检测信号转换为数字信号。数字转换器1411将转换为数字信号后的电平检测信号向控制部1413输出。
[0135]存储器1412存储有表示电平检测信号的电平与积分电路1430的可变电阻1431的电阻值的对应信息。对应信息例如是对电平检测信号表示的电平和可变电阻1431的电阻值进行了对应的表。或者，对应信息也可以是根据电平检测信号表示的电平来计算可变电阻1431的电阻值的数式等。
[0136]控制部1413根据在存储器1412中存储的对应信息，取得与从数字转换器1411输出的电平检测信号表示的电平对应的电阻值，控制可变电阻1431，使其成为取得的电阻值。在缓存1420中输入从信号检测电路231输出的输入检测信号。缓存1420在使所输入的输入检测信号延迟一定的时间后，向积分电路1430输出该输入检测信号。
[0137]积分电路1430使从缓存1420输出的输入检测信号延迟，然后向延迟量控制电路242的后级输出该输入检测信号。积分电路1430中的输入检测信号的延迟时间是由MPU1410控制的。具体而言，积分电路1430通过包含可变电阻1431和电容器1432在内的RC电路来实现。
[0138]可变电阻1431的一端与缓存1420连接，另一端与电容器1432和延迟量控制电路242的输出部连接。此外，可变电阻1431的电阻值是由MPU1410控制的数字可变电阻。电容器1432的一端与可变电阻1431和延迟量控制电路242的输出部连接，另一端接地。从积分电路1430的输出部输出的信号被作为切换信号向ATC电路250输出。
[0139]在存储器1412的对应信息中，例如越是高电平，越对应有大的电阻值。由此，突发信号的电平越高，积分电路1430的时间常数越大。因此，相比于突发信号的电平比较小的情况，在突发信号的电平比较大的情况下，能够增长从输出输入检测信号起，到向ATC电路250输出切换信号为止的延迟时间。
[0140]这样，延迟量控制电路242 (切换电路150)能够通过如下积分电路来实现，该积分电路通过可根据由输入电平检测电路241 (电平检测电路140)检测到的电平而切换的时间常数对输入检测信号进行积分。
[0141](占空比的改善效果)
[0142]图15是示出占空比的改善效果的一例的图。在图15中，横轴表示时间。纵向表示各信号的电平。突发信号1510表示从TIA220输出的突发信号。在图15中，对突发信号1510的电平比较大的情况进行说明。振幅A表示突发信号1510的振幅。在图15所示的例中，设为突发信号1510的振幅A是100 [mV]。阈值B是从ATC电路250向放大器232输出的阈值。阈值1512~1514分别是50、40、10[mV]的阈值B。
[0143]切换信号1521~1523是从延迟量控制电路242输出的切换信号。延迟时间τ?~τ 3分别是切换信号1521?1523的输出(上升沿)的延迟时间。延迟时间τ I是延迟时间τ I?τ 3中最短的延迟时间。延迟时间τ 3是延迟时间τ I?τ 3中最长的延迟时间。
[0144]阈值1531?1533是从ATC电路250输出的阈值，并且分别与切换信号1521?1523对应。在向ATC电路250输入切换信号1521的情况下，当ATC电路250检测的阈值为10 [mV]时，时机控制电路240的时间常数从高速切换成低速，因此ATC电路250检测的阈值成为阈值1531。
[0145]在向ATC电路250输入切换信号1522的情况下，当ATC电路250检测的阈值为40 [mV]时，时机控制电路240的时间常数从高速切换成低速，因此ATC电路250检测的阈值成为阈值1532。在向ATC电路250输入切换信号1523的情况下，当ATC电路250检测的阈值为50 [mV]时，时机控制电路240的时间常数从高速切换成低速，因此ATC电路250检测的阈值成为阈值1533。
[0146]例如可通过50- ((B / A)*100)来表示从放大器232向⑶R电路260输出的信号(正转信号Qout)的占空比的变动量。因此，假设如阈值1531那样，在阈值B为10[mV]的状态下，ATC电路250的时间常数从高速切换成低速，则占空比的变动为50- ((10 / 100)*100) =40%。
[0147]与此相对，如阈值1532那样，在阈值B为40 [mV]的状态下，ATC电路250的时间常数从高速切换为低速时，从放大器232输出的信号的占空比的变动为50- ((40 / 100)*100) =10%。此外，如阈值1533那样，在阈值B为50 [mV]的状态下，ATC电路250的时间常数从高速切换成低速时，从放大器232输出的信号的占空比的变动为50- ((50 / 100)*100) =0%。
[0148]根据光接收装置200，在突发信号1510的电平比较大的情况下，能够将从延迟量控制电路242输出的切换信号的延迟时间设为较长(例如延迟时间τ 2或延迟时间τ3)。因此，能够抑制从放大器232输出的信号的占空比的变动(例如10 %或O % )。
[0149]这样，根据实施方式2的光接收装置200，通过应用实施方式I的检测装置100能够抑制阈值的变动。由此，能够抑制通过突发信号与阈值的比较(例如差动放大)而得到的信号的占空比的变动。因此，能够高精度地判定接收到的光突发信号表示的数据，提高接收质量。
[0150](实施方式3)
[0151]图16是示出实施方式3的光接收装置的结构例的图。在图16中，对与图2所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图16所示，实施方式3的光接收装置200的时机控制电路240除了图2所示的结构以外，还具有切换控制电路1601。
[0152]延迟量控制电路242将切换信号向切换控制电路1601输出。在切换控制电路1601中输入外部复位信号和来自延迟量控制电路242的切换信号。例如在将光接收装置200应用于PON的OLT侧的情况下，在向光接收装置200输入光突发信号之前，向光接收装置200输入外部复位信号。即，外部复位信号是在每次输入光突发信号时，在光突发信号的输入之前从外部(上位装置)输入的预定信号。
[0153]切换控制电路1601控制ATC电路250的时间常数的切换。具体而言，切换控制电路1601将从延迟量控制电路242输出的切换信号向ATC电路250输出，由此将ATC电路250的时间常数从高速向低速切换。然后，当外部复位信号被输入时，切换控制电路1601向ATC电路250输出切换信号，由此将ATC电路250的时间常数从低速向高速切换。
[0154]另外，也可以构成为，将放大器232和⑶R电路260设于光接收装置200的外部，将光接收装置200作为阈值的检测装置。
[0155]图17是示出光接收装置的动作的一例的流程图。图16所示的光接收装置200例如像图17所示的各步骤那样进行动作，来作为时间常数的切换动作。首先，当对切换控制电路1601输入外部复位信号时(步骤S1701)，切换控制电路1601向模拟开关251输出切换信号，由此将ATC电路250中的阈值的检测的时间常数设定为高速的时间常数(步骤S1702)。图17所示的步骤S1702?S1708与图4-2所示的步骤S421?S427相同。例如，光接收装置200重复图17所示的各步骤。
[0156]这样，以输入突发信号前的外部复位信号的输入为契机，将ATC电路250的时间常数切换成高速的时间常数。由此，能够在输入突发信号前，预先将ATC电路250的时间常数设为高速的时间常数，用高速的时间常数来检测突发信号的上升沿部分的阈值。由此，能够高精度地检测突发信号的上升沿部分的阈值。
[0157]图18是示出时机控制电路的结构例的图。如图18所示，图16所示的时机控制电路240的切换控制电路1601具有触发器电路1801、1802。触发器电路1801、1802分别是在C (CLOCK)端子的上升沿将D输入的值作为Q输出来保持的D型触发器电路。
[0158]在触发器电路1801的C (CLOCK)端子中，输入从信号检测电路231输出的输入检测信号。向触发器电路1801的D输入施加高(H)。在触发器电路1801的CLR端子中输入来自延迟量控制电路242的切换信号。触发器电路1801的XQ输出(反转输出)作为延迟的输入检测信号被输出到延迟量控制电路242。
[0159]在触发器电路1802的C (CLOCK)端子中输入外部复位信号。向触发器电路1802的D输入施加低(L)。在触发器电路1802的CLR端子中输入来自延迟量控制电路242的切换信号。触发器电路1802的XQ输出(反转输出)作为切换信号被输出到ATC电路250。
[0160]图19是示出延迟量控制电路中的各信号的一例的图。在图19中，横轴表示时间。纵向表示各信号的电平。在图19中，对图18所示的时机控制电路240中的各信号进行说明。突发信号1911、1912表示从TIA220输出的突发信号。突发信号1912是在突发信号1911之后被输出的突发信号。
[0161]外部复位信号1920是从光接收装置200的外部向触发器电路1802的C (CLOCK)端子输入的外部复位信号。外部复位信号1920在输入突发信号1911前的时刻til和输入突发信号1912前的时刻tl2被输入(上升)。
[0162]输入检测信号1931是从信号检测电路231输出，并向触发器电路1801的C(CLOCK)端子输入的输入检测信号。输入检测信号1931相对于突发信号1911、1912的上升沿延迟一定时间后上升。此外，输入检测信号1931相对于突发信号1911、1912的下降沿延迟一定时间后下降。
[0163]延迟量控制电路输出1932是从延迟量控制电路242向触发器电路1801、1802的CLR端子输入的切换信号。延迟量控制电路输出1932相对于突发信号1911、1912的上升沿，延迟与从输入电平检测电路241输出的电平检测信号对应的时间后下降。
[0164]切换信号1940是从触发器电路1802的XQ输出(反转输出)向ATC电路250输出的切换信号。切换信号1940在外部复位信号1920上升时下降。由此，切换信号1940在突发信号1911、1912上升沿之前下降。此外，切换信号1940在延迟量控制电路输出1932下降时上升。由此，切换信号1940相对于突发信号1911、1912的上升沿，延迟与从输入电平检测电路241输出的电平检测信号对应的时间而上升。
[0165]因此，能够在突发信号1911、1912上升沿之前将ATC电路250的时间常数切换成高速。此外，能够在相对于突发信号1911、1912的上升沿，延迟与从输入电平检测电路241输出的电平检测信号对应的时间后，将ATC电路250的时间常数切换成低速。由此，能够用高速的时间常数来检测突发信号1911、1912的上升沿部分的阈值，用低速的时间常数来检测突发信号1911、1912的上升沿之后的部分的阈值。
[0166]这样,在实施方式3的光接收装置200中，在每次输入光突发信号时,取得在光突发信号的输入前所输入的预定信号(复位信号)。然后，在取得了复位信号的情况下，预先将ATC电路250的时间常数设为高速的时间常数(第I时间常数)，由此能够用高速的时间常数来检测所输入的突发信号的上升沿部分的阈值。因此，能够高精度地检测突发信号的上升沿部分的阈值。
[0167](实施方式4)
[0168]图20是示出实施方式4的光接收装置的结构例的图。在图20中，对与图2所示的部分相同的部分标注相同的标号并省略说明。如图20所示，实施方式4的光接收装置200的时机控制电路240除了图2所示的结构以外，还具有输入判定电路2001。
[0169]输入电平检测电路241将表示检测到的电平的电平检测信号向延迟量控制电路242和输入判定电路2001输出。输入判定电路2001根据从输入电平检测电路241输出的电平检测信号，检测有无突发信号的输入。具体而言，输入判定电路2001在电平检测信号表示的电平超过阈值的情况下，判定为输入了光突发信号。信号检测电路231在检测到光突发信号的输入后，向延迟量控制电路242输出输入检测信号。
[0170]该情况下，也可以采用省略了后置放大器230的信号检测电路231的结构。这样，检测突发信号的输入的结构不限于使用后置放大器230的信号检测电路231的结构，也可以使用后置放大器230的外部的电路。另外，也可以构成为，将后置放大器230和CDR电路260设于光接收装置200的外部，将光接收装置200作为阈值的检测装置。
[0171]这样，根据实施方式4的光接收装置200，能够得到与实施方式2的光接收装置200同样的效果，并且能够通过后置放大器230的外部的输入判定电路2001来检测突发信号的输入。因此，例如能够从后置放大器230中省略检测突发信号的电平的结构，因此可以缩小电路规模。
[0172]如以上说明的那样，根据检测装置、光接收装置、检测方法以及光接收方法，能够提高接收质量。
[0173]标号说明
[0174]100:检测装置
[0175]110:光电转换器
[0176]120:阈值检测电路
[0177]130:输入检测电路
[0178]140:电平检测电路
[0179]150:切换电路[0180]160:输出电路
[0181]200:光接收装置
[0182]210:PD
[0183]220:TIA
[0184]230:后置放大器
[0185]231:信号检测电路
[0186]232:放大器
[0187]240:时机控制电路
[0188]241:输入电平检测电路
[0189]242:延迟量控制电路
[0190]250:ATC 电路
[0191]251:模拟开关
[0192]252:高速阈值检测电路
[0193]253:低速阈值检测电路
[0194]260: CDR 电路
[0195]301、302、601:关系
[0196]511、521、1310、1510、1911、1912:突发信号
[0197]512、522:检测电平
[0198]513:输入信号检测阈值
[0199]514、524、1320、1931:输入检测信号
[0200]530、1332、1342、1521 ?1523、1940:切换信号
[0201]701:峰值检测电路
[0202]801:谷底检测电路
[0203]901:平均值检测电路
[0204]1011、1021、1231:电阻
[0205]1012、1022、1232、1432:电容器
[0206]1210:电流源
[0207]1220、1420:缓存
[0208]1230、1430:积分电路
[0209]1240:施密特触发缓存
[0210]1331、1341:积分电路输出
[0211]1410:MPU
[0212]1411:数字转换器
[0213]1412:存储器
[0214]1413:控制部
[0215]1431:可变电阻
[0216]1512 ?1514、1531 ?1533:阈值
[0217]1601:切换控制电路
[0218]1801、1802:触发器电路[0219]1920:外部复位信号
[0220]1932:延迟量控制电路输出
[0221]2001:输入判定电路
[0222]Τ1、Τ2、Τ11、Τ21、τ? ~τ 3:延迟时间
【权利要求】
1.一种检测装置，其特征在于具有: 阈值检测电路，其以能够进行切换的时间常数来检测所输入的光突发信号的电平的阈值； 输入检测电路，其检测所述光突发信号的输入； 电平检测电路，其检测所述光突发信号的电平； 切换电路，其在从由所述输入检测电路检测到所述输入起，经过了与由所述电平检测电路检测到的电平对应的时间时，切换所述时间常数；以及输出电路，其输出由所述阈值检测电路检测到的阈值。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于， 所述切换电路 在切换所述时间常数之前将所述时间常数设为第I时间常数，在切换所述时间常数时，将所述时间常数切换成比所述第I时间常数大的第2时间常数。
3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于， 所述阈值检测电路检测所述光突发信号的电平的平均值作为所述阈值。
4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 该检测装置具有光电转换器，该光电转换器对所输入的光突发信号进行光电转换， 所述阈值检测电路检测被 所述光电转换器转换成电信号后的突发信号的阈值， 所述输入检测电路检测所述突发信号的输入， 所述电平检测电路检测所述突发信号的电平。
5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述切换电路使得所述电平越高，所述时间越长。
6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述电平检测电路检测所述光突发信号的峰值电平。
7.根据权利要求1~5中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述电平检测电路检测所述光突发信号的谷底电平。
8.根据权利要求1~5中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述电平检测电路检测所述光突发信号的电平的平均值。
9.根据权利要求1~6中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述阈值检测电路是由积分电路来实现的，该积分电路通过能够进行切换的时间常数来对所述光突发信号的电平的平均值进行积分。
10.根据权利要求1~9中的任意一项所述的检测装置，其特征在于， 所述输入检测电路在检测到所述输入时，输出上升的输入检测信号， 所述切换电路是由如下积分电路来实现的，该积分电路通过能够根据由所述电平检测电路检测到的电平进行切换的时间常数对由所述输入检测电路输出的输入检测信号进行积分。
11.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于， 所述切换电路 在每次被输入所述光突发信号时，取得在所述光突发信号的输入之前输入的预定信号，在取得了所述预定信号的情况下，将所述时间常数切换成所述第I时间常数。
12.—种光接收装置，其特征在于具有: 阈值检测电路，其以能够进行切换的时间常数来检测所输入的光突发信号的电平的阈值； 输入检测电路，其检测所述光突发信号的输入； 电平检测电路，其检测所述光突发信号的电平； 切换电路，其在从由所述输入检测电路检测到所述输入起，经过了与由所述电平检测电路检测到的电平对应的时间时，切换所述时间常数； 判定电路，其根据由所述阈值检测电路检测到的阈值来判定所述光突发信号表示的数据；以及 输出电路，其输出由所述判定电路判定的数据。
13.—种检测方法， 其特征在于包含以下步骤: 以能够进行切换的时间常数来检测所输入的光突发信号的电平的阈值； 检测所述光突发信号的输入； 检测所述光突发信号的电平； 在从检测到所述输入起，经过了与检测到的所述电平对应的时间时，切换所述时间常数； 输出所检测到的所述阈值。
14.一种光接收方法，其特征在于包含以下步骤: 以能够进行切换的时间常数来检测所输入的光突发信号的电平的阈值； 检测所述光突发信号的输入； 检测所述光突发信号的电平； 在从检测到所述输入起，经过了与检测到的所述电平对应的时间时，切换所述时间常数； 根据检测到的所述阈值来判定所述光突发信号表示的数据； 输出所判定的所述数据。
【文档编号】H04B10/075GK103477575SQ201180070204
【公开日】2013年12月25日 申请日期:2011年4月20日 优先权日:2011年4月20日
【发明者】高桥健佑, 樱元慎一 申请人:富士通光器件株式会社