串行传输芯片及SERDES电路测试方法与流程

文档序号:15567211发布日期:2018-09-29 03:37阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法,所述串行传输芯片中,测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据;比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时,向错误数据注入模块发送第二测试数据;错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据,或者,发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据;数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据,将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较,得到测试结果,达到对测试过程注入可控的错误信息,分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果,提高故障芯片的检出率。

技术研发人员:张进;吕平;刘勤让;沈剑良;宋克;朱珂;王永胜;李沛杰;张波;王锐;何浩;李杨;肖峰;毛英杰;赵玉林;虎艳宾;张霞;杜延康
受保护的技术使用者:天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心
技术研发日:2018.04.04
技术公布日:2018.09.28
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