1.一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。
2.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述接触式双向数字通信接口具体包括：设置于所述非接触卡芯片上的输入输出引脚。
3.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述射频信号发生器的频率与所述非接触卡芯片的工作频率相同。
4.根据权利要求1-3中任一所述的一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器之间为通信连接或电连接。
5.一种非接触卡芯片，其特征在于，所述非接触卡芯片中包括：射频接口和接触式双向数字通信接口，所述射频接口用于传输电源信号和时钟信号，所述接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。
6.根据权利要求5所述的一种非接触卡芯片，其特征在于，所述非接触卡芯片包括：低频非接触卡芯片、高频非接触卡芯片或者超高频非接触卡芯片。