技术总结
本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片,该测试装置包括:通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口,通用数字测试机台与射频信号发生器连接,通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接,射频信号发生器与射频接口通信连接。本申请的非接触卡芯片中包括射频接口和接触式双向数字通信接口,射频接口用于获取电源信号和时钟信号,接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。通过本申请能够提高芯片测试效率,提高测试过程中的抗干扰能力以及降低测试成本。
技术研发人员:王光春;曾为民;李向宏
受保护的技术使用者:山东华翼微电子技术股份有限公司
技术研发日:2019.06.04
技术公布日:2019.11.19