一种测试仪表,及其测试方法

文档序号:8284351阅读:338来源:国知局
一种测试仪表,及其测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信测试领域,具体的说,是涉及一种无线测试仪表,及其测试方法。
【背景技术】
[0002]目前,伴随着通信网络技术日新月异的发展,为了检查数据传输在程序执行过程中是否完整和正确,各类数据传输测量仪器应运而生,光测试仪需要具备以下要求,第一,灵敏度高,即表示测试器把光功率转变为电流的效率高;第二,响应速度快,即指射入光信号后,马上就有电信号输出;光信号一停,电信号也停止输出,不要延迟。这样才能重现入射信号;第三,噪声小,即为了提高光纤传输系统的性能,要求系统的各个组成部分的噪声要求足够小;第四,稳定可靠,即要求测试器的主要性能尽可能不受或者少受外界温度变化和环境变化的影响,以提高系统的稳定性和可靠性。
[0003]现有技术中,光缆查找是线路工程施工、安装和维护前期准备工作中的关键组成部分,因此光缆普查仪被广泛的用于割接、拼接、资源清查等应用领域,但是光缆普查仪不能被用于光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位的测量,因此在对光纤做检测时,就要再用光纤测试仪表,这样工作人员在做检测时需要随时更换仪表,应用麻烦,有时候还会出现检测错误。
[0004]专利文件201310527052.X公开了一种基于光纤干涉原理的光缆故障无损检测装置及方法,属于光纤传感领域,为解决现有装置和方法无法快速、无损地进行故障光纤测试的问题而设计。本发明基于光纤干涉原理的光缆故障无损检测装置包括控制器、激光发射器、光纤干涉仪、反射镜、光电转换器、模数信号转换器、显示器、至少两个探测器、以及至少两个耦合器。本发明基于光纤干涉原理的光缆故障无损检测装置及方法采用光纤Sagnac干涉技术和光时域反射测量原理,同时结合了 ARM9与FPGA的液晶显示及微弱信号处理的方法,这种方法虽然可以实现光缆的检测,但是不能同时实现光纤的检测,因此在使用时很不方便。
[0005]因此,如何研发一种测试仪表,及其测试方法,解决上述问题,便成为亟待解决的技术问题。

【发明内容】

[0006]本申请解决的主要问题是提供一种测试仪表,及其测试方法,以解决无法实现的将光缆测试和光纤测试集为一体、结构简单、成本低、功耗小的技术问题。
[0007]为了解决上述技术问题,本发明公开了一种测试仪表,包括:控制测试单元、数据分析单元、数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示单元,其中,
[0008]所述控制测试单元,用于接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并将该数据信息发送至所述数据分析单元;
[0009]所述数据分析单元,用于接收所述控制测试单元发送的数据信息并将该数据信息转换为操作指令,发送至所述光缆测试单元或所述光纤测试单元,和/或用于接收所述光缆测试单元或所述光纤测试单元的测试结果并转换成测试数据发送至所述数据存储单元和所述显示单元;
[0010]所述光缆测试单元,用于检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试结果发送至所述数据分析单元;
[0011]所述光纤测试单元,用于检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤测试结果发送至所述数据分析单元;
[0012]所述数据存储单元,用于对光缆测试数据和光纤测试数据进行存储;
[0013]所述显示单元,用于显示光纤测试数据和光缆测试数据。
[0014]进一步地,其中,所述光缆测试单元,包括:第一激光模块,第一脉冲发生模块,光干涉模块,第一光电转换模块,第一模数转换模块,其中,
[0015]所述第一脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的第一电信号和第二电信号;
[0016]所述第一激光模块,用于将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光纤后再传送至光干涉模块,将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干涉模块;
[0017]所述光干涉模块,用于接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模块。
[0018]所述第一光电转换模块,用于将光干涉模块产生的光干涉信号转换成模拟信号;
[0019]所述第一模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。
[0020]进一步地,其中,所述光纤测试单元,包括:第二激光模块,第二脉冲发生模块,第二光电转换模块与第二模数转换模块,其中,
[0021]所述第二脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
[0022]所述第二激光模块,用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中;
[0023]所述第二光电转换模块,用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号;
[0024]所述第二模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。
[0025]进一步地,其中,所述数据分析单元,进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器。
[0026]进一步地,其中,所述数据存储单元,进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘。
[0027]进一步地,其中,所述光缆测试单元和/或者光纤测试单元,还包括:按键操控模块。
[0028]本发明公开了一种测试方法,包括以下步骤:
[0029]步骤1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并将该数据信息发送至数据分析单元;
[0030]步骤2:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将该数据信息转换为操作指令,发送至光缆测试单元;
[0031]步骤3:所述光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试结果发送至所述数据分析单元;
[0032]步骤4:数据存储单元,对光缆测试数据进行存储;
[0033]步骤5:所述数据分析单元接收所述光缆测试单元的测试结果并转换成测试数据发送至显示单元;
[0034]进一步地,其中,所述步骤3还包括:
[0035]步骤3.1:第一脉冲发生模块,与所述数据分析单元建立连接,使所述数据分析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
[0036]步骤3.2:第一激光模块将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光纤后再传送至光干涉模块,并将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干涉模块;
[0037]步骤3.3:所述光干涉模块接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模块;
[0038]步骤3.4:所述第一光电转换模块将光干涉信号转换成模拟信号;
[0039]步骤3.5:第一模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。
[0040]本发明还公开了一种测试方法,包括以下步骤:
[0041]步骤a:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并将该数据信息发送至数据分析单元;
[0042]步骤b:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将该数据信息转换为操作指令,发送至所述光纤测试单元;
[0043]步骤c:所述光纤测试单元检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤测试结果发送至所述数据分析单元;
[0044]步骤d:数据存储单元对光纤测试数据进行存储;
[0045]步骤e:所述数据分析单元接收所述光纤测试单元的测试结果并将测试结果转换成测试数据发送至显示单元。
[0046]进一步地,其中
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