闪烁器阵列、x射线检测器、及x射线检查装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及闪烁器阵列、X射线检测器、及X射线检查装置。
【背景技术】
[0002] 在医疗诊断、工业用非破坏检查等领域中，使用X射线断层图像摄影装置（X射线 CT (Computed Tomography :CT)装置）等的X射线检查装置。X射线CT装置具有照射扇状 的扇形波束X射线的X射线管（X射线源）和具有并排配置的多个X射线检测元件的X射 线检测器，且具有以被检体的断层面为中央而相向配置X射线管及X射线检测元件的构造。 在X射线CT装置中，针对被检体，从X射线管照射扇形波束X射线，以X射线检测器收集透 射了被检体的X射线的吸收数据后，以计算机来解析该吸收数据（进行断层面的各个位置 处的X射线吸收率的计算、及与X射线吸收率对应的图像的重构），由此再生被检体的断层 像。
[0003] 作为X射线CT装置的X射线检测器，大多使用具有通过X射线的刺激来放射可见 光线的固体闪烁器的检测器。在使用了固体闪烁器的X射线检测器中，易于使X射线检测 元件小型化而增加通道数，所以能够进一步提高X射线CT装置的分辨率。作为固体闪烁 器，已知有各种物质，但特别是对于由Gd2O2S :Pr那样的稀土硫氧化物的烧结体构成的陶瓷 闪烁器而言，X射线吸收系数大，发光效率优良，另外由于残光（余辉）短，所以作为X射线 检测器用的闪烁器是优选的。
[0004] 关于构成陶瓷闪烁器的稀土硫氧化物荧光体的烧结体（荧光体陶瓷），提出了有 关光输出的提高、烧结体的高密度化、机械强度的提高等的各种提案。例如，已知通过控制 PO4量而可提高陶瓷闪烁器的光输出。通过控制陶瓷闪烁器（烧结体）中的磷量来改善光 输出。
[0005] 闪烁器的光输出的提高取决于作为X射线检查装置的检查时间的缩短化、即低辐 射化。对于光输出的提高，闪烁器材料的开发为有效的手段。另外，由于闪烁器经由反射层 部作为阵列使用，所以为提高闪烁器的光输出，改善用于闪烁器阵列的反射层部也是有力 的手段。
[0006] 在以往的闪烁器阵列中，例如将在放射线遮蔽板的两面设置含有氧化钛粒子的树 脂层的部分作为反射层部使用。如果为上述构造的闪烁器阵列，则使用放射线遮蔽板，因 此，认为反射效率提高。但是，作为反射层部，使用放射线遮蔽板和含有氧化钛粒子的树脂 层的双方，因此，成本上升无法避免。
[0007] 氧化钛粒子的反射特性优异。另一方面，氧化钛粒子具有光催化特性。因此，如果 在树脂中混合氧化钛粒子而形成反射层部，则在长期使用时会产生因氧化钛粒子的光催化 效果而树脂劣化的问题。如果反射层部的树脂劣化，则反射层部的反射率会发生变化。其 结果产生闪烁器阵列的光输出降低的不良。
[0008] 现有技术文献
[0009] 专利文献
[0010] 专利文献I :特许第4266114号公报
[0011] 专利文献2 :特许第3104696号公报
【发明内容】
[0012] 本实施方式是为对应这样的问题而创立的，其目的在于，提供闪烁器阵列，通过提 高反射层部的反射效果，进一步抑制树脂的劣化，长期可靠性优异。
[0013] 本实施方式涉及的闪烁器阵列具备多个的闪烁器模块、和以将多个的闪烁器模块 一体化的方式设于多个的闪烁器模块之间的反射层部。反射层部具有树脂部。树脂部以合 计100质量份的方式含有由氧化钛构成的70~84质量份的第一金属氧化物、和由氧化钛 以外的金属氧化物构成的16~30质量份的第二金属氧化物。
[0014] 本实施方式涉及的闪烁器阵列中，不仅对反射层部赋予反射特性，而且还能够抑 制氧化钛的光催化特性，能够抑制树脂的劣化。通过防止树脂的劣化，能够使闪烁器阵列的 光输出稳定。因此，能够使具备实施方式涉及的闪烁器阵列的X射线检测器及X射线检查 装置的可靠性优异。
【附图说明】
[0015] 图1是表示实施方式涉及的闪烁器阵列的侧面的一例的图。
[0016] 图2是表示实施方式涉及的闪烁器阵列的上面的一例的图。
[0017] 图3是表示实施方式涉及的X射线检测器的一例的图。
[0018] 图4是表示实施方式涉及的X射线检测器的他的一例的图。
[0019] 图5是表示实施方式涉及的X射线检查装置的一例的图。
[0020] 图6是表示实施方式涉及的闪烁器阵列的制造工序的一例的图。
【具体实施方式】
[0021] 实施方式涉及的闪烁器阵列具备多个的闪烁器模块、和以将多个的闪烁器模块一 体化的方式设于多个的闪烁器模块之间的反射层部。树脂部以合计100质量份的方式含有 由氧化钛构成的70~84质量份的第一金属氧化物、和由氧化钛以外的金属氧化物构成的 16~30质量份的第二金属氧化物。
[0022] 图1表示实施方式涉及的闪烁器阵列的侧面的一例。另外，图2表示实施方式涉 及的闪烁器阵列的上面的一例。闪烁器阵列1具有多个的闪烁器模块2。在多个的闪烁器 模块2之间设有反射层部3。反射层部3直接粘接于闪烁器模块2上。多个的闪烁器模块 2通过反射层部3 -体化。即，闪烁器阵列1具备将多个的闪烁器模块2、和以将多个的闪 烁器模块2 -体化的方式设于多个的闪烁器模块2之间的反射层部3。
[0023] 闪烁器阵列1也可以具有具备并排成一列的多个的闪烁器模块2的构造、或如图 2所示具备在纵方向及横方向每规定个数二维并排的多个的闪烁器模块2的构造。在将多 个的闪烁器模块2二维排列的情况下，在纵方向及横方向的闪烁器模块2间分别设置反射 层部3。闪烁器模块2的个数根据X射线检测器的构造及分辨率等而适当地设定。另外，闪 烁器阵列1具有多通道构造。
[0024] 反射层部3具有含有金属氧化物的树脂部。树脂部以合计100质量份的方式含有 由氧化钛（氧化钛粒子）构成的以质量比计为70~84质量份的第一金属氧化物、和由氧 化钛以外的金属氧化物构成的以质量比计为30~16质量份的第二金属氧化物。
[0025] 氧化钛粒子由于450~700nm的可见光区域的光的反射率高，所以不依赖于闪烁 器模块2的材质，而能够提高闪烁器阵列1的光输出。即，氧化钛粒子作为反射粒子起作用。 作为氧化钛粒子，例如可举出TiO2的粒子。另外，TiO2有金红石型、锐钛矿型、板钛矿型等 种类。其中，优选为金红石型。金红石型TiO2是在TiO2之中光催化特性低的材料。
[0026] 另外，氧化钛粒子的平均粒径优选为2 μπι以下。如果氧化钛粒子的平均粒径超过 2 μπι，则难以控制反射层部3内的分散状态。氧化钛粒子的平均粒径更优选为1 μπι以下， 进一步优选为〇. 4 μπι以下。氧化钛粒子的平均粒径的下限值没有特别限定，但考虑到氧化 钛粒子的制造性，优选为0. 01 μπι以上。
[0027] 这样，本实施方式中，具有作为第一金属氧化物的氧化钛粒子、和作为第二金属氧 化物的氧化钛以外的金属氧化物。另外，将第一金属氧化物（氧化钛粒子）和第二金属氧 化物（氧化钛以外的金属氧化物）的合计设为100质量份，以质量比计含有70~84质量 份的第一金属氧化物（氧化钛粒子），含有16~30质量份的第二金属氧化物（氧化钛以外 的金属氧化物）。
[0028] 通过含有规定量的第二金属氧化物，从而不仅可以活用氧化钛粒子的反射特性， 而且还能够抑制氧化钛粒子的光催化特性。第二金属氧化物的含量低于16质量份时，第 二金属氧化物量少，即氧化钛量过多，不能充分得到抑制树脂劣化的效果。另一方面，如果 第二金属氧化物量超过30质量份而为多时，则虽然能够抑制树脂的劣化，但由于氧化钛量 少，所以反射层部的反射率降低。如果反射层部的反射率降低，则闪烁器阵列1的光输出降 低。因此，第二金属氧化物的含量更优选为16~30质量份，进一步优选为17~25质量份。
[0029] 第二金属氧化物优选为选自氧化铝、氧化锆、氧化钽、及氧化硅构成的组中的至少 1种以上。氧化铝（Al2O3)、氧化锆（ZrO2)、氧化钽（Ta 2O5)、氧化硅（SiO2)几乎不具有光催 化特性。另外，氧化铝（Al2O3)、氧化锆（ZrO2)、氧化钽（Ta 2O5)、氧化硅（SiO2)由于可见光的 反射率为一定值以上，所以是有助于提高反射层部的反射率的成分。其中，特别优选为氧化 错（Al2O3)。氧化错在纯度为95%以上时显不白色，可见光的反射率提尚。另外，氧化错与 其它金属氧化物相比，具有廉价的优点。
[0030] 第二金属氧化物也可以作为粒子含有，也可以作为设于氧化钛粒子的表面的表面 被膜含有。例如，第二金属氧化物的一部分或全部优选为设于氧化钛粒子的表面的表面被 膜。即，树脂部也可以含有具有第二金属氧化物的表面被膜的氧化钛粒子。
[0031] 第二金属氧化物优选含有设于氧化钛粒子的表面的表面被膜、和金属氧化物粒子 的双方。即，树脂部也可以含有具有第二金属氧化物的表面被膜的氧化钛粒子、和第二金属 氧化物的粒子。
[0032] 通过第二金属氧化物的表面被膜，可以降低氧化钛粒子的光催化效果。另一方面， 如果表面被膜量过多，则难以活用氧化钛粒子的反射率的良好度。另外，带表面被膜的氧化 钛粒子的反射率存在根据表面被膜量而变化的担心。因此，通过也一并存在氧化钛以外的 金属氧化物的粒子，可以降低反射层部3内的部分的反射率的偏差。
[0033] 使第二金属氧化物以表面被膜和粒子的双方存在的情况下，成为表面被膜的金属 氧化物量A(质量份）相对于成为粒子的金属氧化物量B (质量份）的比（Α/Β)在设为Α+Β =100质量份（A和B的合计为100