专利名称：用于以光学方式检查混浊介质内部的设备和方法
技术领域：
本发明涉及一种用于以光学方法检查混浊介质内部的设备并涉及一种用于以光学方法检查混浊介质内部的方法。
背景技术：
在本申请的语境中，词语“光”将被理解为表示非电离电磁辐射，尤其是波长介于 400nm和1400nm范围中的电磁辐射。词语“以光学方式检查”表示利用光来检查。词语“身体”表示人或动物体的一部分。近年来，已经开发出若干不同类型的设备用于以光学方式检查混浊介质的内部， 其中，利用来自光源的光照射受检查混浊介质，例如身体部分，并由透射或反射几何结构中的检测器单元检测来自混浊介质的光。在这样的设备中，使用检测到的光收集关于混浊介质内部的信息。根据用于以光学方式检查混浊介质内部的设备类型，例如，可以采集混浊介质内部的二维或三维图像，或者可以从检测到的光提取关于混浊介质内部不同物质的浓度的信息。US 5415655示出了一种利用光检查组织的医疗设备。该医疗设备具有柔性光导， 其具有适于连接到光能源的光能输入端和光能输出端。光能输出端输出光能量射束。近来，有人建议使用以光学方式检查混浊介质内部的设备，通过用光照射受检查身体部分的关节和中间组织两者并检测源于身体部分的光，以光学方式检测诸如风湿性关节炎(RA)的关节疾病的疾病活动。对这种关节疾病的治疗是分阶段的。通常，患者首先接受止痛药治疗。在这之后通常是非留体消炎药物(NSAID)和疾病缓解抗风湿病药物 (DMARD)。在很多情况下，药物治疗的最后阶段是使用生物学疗法。特别地，最后一类疗法很昂贵，对于每位患者而言治疗能够每年耗费数万美元。此外，在治疗后期阶段中使用的药物常常导致更严重的副作用。对于这样的关节疾病，医学专业人士依据由发炎关节的数量和严重性给出的疾病活动做出关于疗法变化的决定。由于风湿性关节炎是一种进行性疾病，早期诊断并开始治疗能够帮助延迟不良效果和治疗的高成本，因此需要可提供关于关节状况的满意信息并辅助医疗专业人员对实际关节状况得出结论的方法和设备。常规上，风湿病学家使用所谓的疾病活动分数(DAS18) 进行诊断和治疗监测。由于这种方法耗时很长，依赖于操作员，且灵敏度有限，因此需要用于检测疾病活动的适当设备。使用借助光检查相应身体部分的设备作为疾病活动监测仪表现出了令人满意的结果。根据申请人所知的以光学方式检查混浊介质内部的设备，该设备特别适于检测关节疾病的疾病活动，将由包含至少一个关节的身体部分，例如人的手部，形成的混浊介质放在由透明材料制成的板上。为了进行检查，利用置于板下方的扩展光源照射混浊介质，在透射几何结构中，由检测器单元检测光，检测器单元是位于混浊介质相对于光源的相对侧上的成像设备的一部分。例如，成像设备可以由C⑶相机形成，其采集混浊介质的二维图像 (确切地说，采集通过混浊介质透射的光)。不过，在这样的布置中，例如，在混浊介质是手的情况下(对于关节疾病活动监测而言，通常是这种情况)，用于照射混浊介质的光也将从光源透射到检测器单元而不通过混浊介质。例如，在混浊介质由手构成的情况下，光将在手指间透射。由于这样的光未在混浊介质中被衰减，因此与通过混浊介质的其他部分光相比， 这部分光在检测器单元上的强度较高。于是，未通过混浊介质的光可能使检测器单元饱和， 结果，仅能以较低精确度检测到已通过混浊介质的相关光。
发明内容
本发明的目的是提供一种以光学方式检查混浊介质内部的设备和方法，利用这种设备和方法，能够可靠地防止成像设备的检测器单元过度曝光，并提高检查混浊介质内部的精确度。这一目的是利用根据权利要求1所述的以光学方式检查混浊介质内部的设备实现的。该设备包括适于照射要检查的混浊介质的照明系统；以及适于从检测到的光产生图像的成像设备。所述照明系统适于工作在至少如下模式中第一模式，其中照射大区域； 以及第二模式，其中照射所述大区域的至少一个选定区域。由于该照明系统能够工作在两种模式下，首先能够通过照射受检查混浊介质(和周围区域)采集宽区域的图像。从这一宽区域图像，能够确定特别感兴趣的以及混浊介质实际所在的一个或多个感兴趣区域。然后，能够在第二模式下照射这些感兴趣区域。于是，为了在第二模式下进行照射，确保仅照射混浊介质所在的这种区域且到达成像设备的所有光将已经通过混浊介质透射或被混浊介质反射(根据布置)。于是，不会有未耦合到混浊介质且可能导致成像设备的检测器单元过度曝光的光到达成像设备。优选地，所述设备包括控制单元，所述控制单元适于分析在所述照明系统处于所述第一模式时所述成像设备采集的第一图像，并从所述第一图像确定至少一个选定区域， 用于在第二模式下照射。于是，能够通过自动化方式确定用于实际检查的要照射选定区域。 例如，能够通过自动化图像分析功能确定选定区域。例如，在混浊介质为人手的情况下，例如在用于关节疾病监测的典型应用中，在以第一模式照射混浊介质时，照射混浊介质区域中的支座的光将得到相当大衰减，而照射手旁边的支座的光将至少基本不衰减地到达成像设备的检测器单元。于是，混浊介质的位置将是第一图像中的阴影，这能够容易地识别出来，从而能够可靠地识别用于以第二模式照射的选定区域，例如关节和中间组织。优选地，在第二模式下照射所述大区域的多个选定区域。多个选定区域例如可以是用于检查关节状况的关节和中间组织的位置。根据一个方面，所述照明系统适于在第一模式下工作在低输出光水平，在所述第二模式下工作在高输出光水平。在第一模式下，仅需要确定混浊介质的位置，未衰减的光将到达成像设备的检测器单元。通过在第一模式下使用低输出光水平，防止了检测器单元的过度曝光。在第二模式下，因为仅照射感兴趣区域，没有剩余的过度曝光风险。于是，使用适于实现高图像质量的高输出光水平。根据另一方面，所述成像系统适于在所述照明系统工作在所述第一模式下时以短积分时间采集图像，在所述照明系统工作在所述第二模式下时以较长积分时间采集图像。在这种情况下，不需要不同的输出光水平就防止了过度曝光， 从而能够使用较不昂贵的照明系统。通过采用更长的积分时间实现了第二模式下的高图像质量。
根据一方面，所述照明系统包括像素化光源单元，其用于产生在第一和第二模式下进行照射的光。在这种情况下，通过在第一模式下激活大量像素(甚至全部)并在第二模式下仅激活选定像素，照明系统能够容易地在第一模式和第二模式之间切换。在这种情况下，照明系统例如可以由LED (发光二极管)的二维矩阵或由能够生成像素化照明图案的另一种发光显示技术来形成。根据另一方面，所述照明系统包括扩展的光源单元和空间滤波器单元，用于产生在所述第一和第二模式下进行照射的光。在这种情况下，可以使用有成本效率的光源，可以通过诸如像素化液晶设备的空间滤波器实现第一和第二模式。例如，可以将一个或多个灯， 例如在顶(红外线)区中发光的灯，用作光源。可以使用独立液晶像素的透射在第二模式下实现期望的照明图案。在这种情况下，优选地，布置空间滤波器单元，使其在要检查的混浊介质的近距离处，从而在支座的近距离处。根据又一方面，所述照明系统适于直接在混浊介质上投射期望的照明图案。这种照明系统的可能实现包括光源与空间光调制器(SLM)的组合，例如光源与数字镜片设备 (例如数字控制的微镜)的组合或光源与液晶元件的组合。或者，可能的实现是扫描激光系统，其中通过扫描器在支座/混浊介质上扫描激光束。根据又一方面，所述照明系统包括多个位置可调节的独立照明设备。例如，在用于检查人手的设备(例如，用于监测关节疾病活动的设备)中，可以提供针对不同手指和手腕的多个独立光源。由于位置的可调整性，可以针对要检查的实际手部的形状调整第二模式的照明图案。优选地，所述设备包括支座，其适于支撑作为要检查的混浊介质的身体部分，所述身体部分包括至少一个关节。在这种情况下，该设备尤其适于检查关节的状况，例如对于风湿性关节炎而言。例如，该支座适于容纳人手作为要检查的混浊介质。优选地，所述设备为医疗光学检查装置。更优选地，所述设备为用于以光学方式检查关节的设备。在这种情况下，能够可靠地且方便地检查关节的状况。该目的还是利用根据权利要求13所述的以光学方式检查混浊介质内部的方法实现的。该方法包括如下步骤在大区域上照射要检查的混浊介质并检测光作为第一图像； 从所述第一图像确定所述大区域的至少一个选定区域；以及照射所述至少一个选定区域并检测光作为第二图像。于是，能够实现上文针对该设备所述的优点。为了采集第二图像，仅照射大区域的一个或多个选定区域。由于至少一个选定区域是基于第一图像确定的，选定区域的照明图案中的所有光都可靠地耦合到混浊介质，未耦合到混浊介质的光将不会到达成像设备的检测器单元。于是，可靠地防止了过度曝光，并能够对混浊介质内部进行高精确度的检查。优选地，利用同一照明系统照射大区域并照射至少一个选定区域，利用同一成像设备执行所述第一和第二图像的图像采集。在这种情况下，(除用于执行实际测量的部件之外)不需要额外的部件，容易实现混浊介质的对齐。
参考附图，从实施例的详细描述将得到本发明的其他特征和优点。图1示意性示出了用于检查混浊介质内部的设备的总体设置。
图2示意性示出了用于以光学方式检查人手关节状况的情况的期望照明图案。图3示意性示出了第一实施例。图4示意性示出了第二实施例。图5示意性示出了第三实施例。图6示意性示出了第四实施例。图7a以侧视图示意性示出了第五实施例。图7b以顶视图示意性示出了第五实施例的照明系统。
具体实施例方式现在将参考附图描述实施例。首先，将参考图1解释适于检查关节状况的用于以光学方式检查混浊介质内部的设备的总体设置。在图1中可以看出，用于以光学方式检查混浊介质内部的设备100包括支座104， 其适于支撑要检查的混浊介质5。在图1所示的范例中，用于以光学方式检查混浊介质内部 100的设备是用于以光学方式检查关节，尤其是用于关节疾病监测的设备，混浊介质5为人的手部。为了进行关节疾病监测，将如下所述检查关节和中间组织。在图1的范例中，支座104由基本平坦的透明板形成，混浊介质5放置于该透明板上进行检查，使得在检查期间混浊介质5受到支撑。例如，透明板可以由透明玻璃、透明 PMMA或其他适当的透明材料构成。例如，也可以使板弯曲以提高测量期间的舒适度以及混浊介质的接触。在支座104的一侧，提供包括至少一个光源的照明系统102，用于在检查期间照射混浊介质5。在图示的范例中，照明系统102置于支座104下方，从而通过支座104照射混浊介质5。调整照明系统102，从而照射在检查期间放置混浊介质5的支座104的至少大部分，并从而照射要检查的混浊介质5的至少大部分。例如，照明系统102的光源可以是宽带光源，例如白炽灯，或单色光源，例如LED或激光器。在支座104相对于光源102的相对侧，提供适于从检测到的光产生图像的成像设备106。成像设备106包括检测器单元，用于检测因为照明系统102照射支座104和/或混浊介质5而分别源自支座104和混浊介质5的光。成像设备106包括多个布置成二维矩阵的检测元件，从而可以采集空间解析的图像。例如，成像设备106可以由C⑶摄像机、CMOS 摄像机UR摄像机等形成。尽管在图示的布置中，支座104布置于光源102和混浊介质5之间，但互换的布置也是可能的，即支座104布置于混浊介质5和成像设备106之间。在用于检查混浊介质内部的设备100工作期间，用照明系统102照射支座104支撑的混浊介质5，由成像设备106采集混浊介质5 (至少部分)的图像。图2示出了人的手部，作为要检查的混浊介质5的范例。为了以光学方式检查关节状况，尤其对包含关节的区域感兴趣。图2中所示的黑条110表示用于检查手部关节状况的期望照明图案(感兴趣区域)，即覆盖手指关节的区域和覆盖手腕的区域。如上所述，由于照明系统102照射整个混浊介质5，所以来自光源，未通过混浊介质5透射的光也将到达成像设备106的检测器单元。由于未受到混浊介质5的衰减，这种光与通过混浊介质5的光相比具有更高的强度。于是，这种光可能导致照明系统102的检测器单元过度曝光，使得来自感兴趣区域110的检测到的光的精确度受到不利影响。此外， 应当记住，不能容易地以恰好预定方式在设备中定位要检查的混浊介质，因为不同混浊介质(例如来自不同个体的手部)的形状将是不同的。现在，将描述解决了未衰减光到达成像设备106的检测器单元的以上问题的实施例。由于各实施例的总体设置对应于参考图1所述的布置，所以将仅描述差异，将不再重复对应特征的描述。第一实施例将参考图3描述第一实施例。根据第一实施例用于以光学方式检查混浊介质1内部的设备与参考图1所述的设备不同之处在于照明系统的实现。根据第一实施例，提供了照明系统2。照明系统2包括像素化光源，能够有选择地激活该像素化光源的独立像素以发光。靠近要检查的混浊介质5布置像素化光源，从而能够通过有选择地激活光源的各像素来实现针对要检查的混浊介质5的期望照明图案。例如，像素化光源可以由二维LED(发光二极管)矩阵形成。不过，作为替代，可以使用允许从(布置成矩阵的)多个像素有选择地发光的其他种类的发光显示技术来产生像素化图案。提供控制单元108以控制用于检查混浊介质内部的设备的运行。控制单元108连接到照明系统2和成像设备106。现在将描述第一实施例的工作。在工作时，首先由控制单元108控制照明设备2， 使得在第一模式下，照射支座104的大区域，从而照射混浊介质5的大区域。例如，对于检查关节状况的设备而言，以第一模式照射整个手和手周围的区域。在这种第一模式下，通过混浊介质5透射的光和在混浊介质5旁边通过的光都将到达成像设备106的检测器单元， 从而形成第一图像。于是，作为第一图像中的阴影，能够容易地检测到混浊介质5 (尤其是其轮廓)。因此，能够在第一图像中识别出特别感兴趣的区域(R0I，感兴趣区域)，这是因为可以确定混浊介质5相对于支座104的位置。可以识别多个这样的区域，例如参考图2 所述的区域110。例如，可以由第一图像所呈送给的操作员检测混浊介质的位置并确定区域110，或者利用已知的图像分析技术以自动化方式进行，例如，可以在控制单元108中将图像分析技术实施为运行于控制单元108中的软件。于是，基于在第一模式下采集的第一图像，确定要在第二模式下照射的选定感兴趣区域110。然后，以第二模式操作照明设备2，其中仅照射选定区域110。在实施例中，这是通过仅激活像素化光源中对应于选定区域110的那些像素来实现的。利用这种设置，由成像设备106采集第二图像。于是，在第二模式下，仅照射选定区域110。选择这些区域，使得仅在有混浊介质5的地方发光。于是，仅有通过混浊介质5行进的光到达成像设备106的检测器单元，在采集第二图像期间没有过度曝光的风险。从要检查的混浊介质的轮廓确定要在第二模式下照射的选定感兴趣区域的位置。为了防止采集第一图像期间成像设备106的检测器单元过度曝光，在工作于第一模式下时，照明系统2适于在低输出水平(低强度)上输出光，并在工作于第二模式下时， 适于在高输出水平(高强度)上输出光。于是，能够可靠地防止过度曝光，在第二模式下高精确度的检查是可能的。根据替代实现方式，可以操作成像设备106的检测器单元使其当照明系统2工作于第一模式下时具有短积分时间，并当照明系统2工作于第二模式下时具有较长积分时间。对于如下所述的其他实施例来说，操作用于检查混浊介质内部的设备以在第一模式下具有低光强度并在第二模式下具有高光强度，或者具有不同的积分时间，也是可能的，但将不再详细描述。第二实施例现在将参考图4描述第二实施例。根据第二实施例的设备不同之处也在于照明系统的实现。根据第二实施例，提供的照明系统12包括空间扩展的光源单元14和空间滤波器16。空间滤波器16定位在支座104的近距离处，从而在要检查的混浊介质5的近距离处。例如，光源单元可以由一个或多个灯，例如在顶(红外线)区发光的灯形成。空间滤波器16适于使来自光源的光仅在选定位置被有选择地透射到混浊介质5。为了实现这个目的，空间滤波器16包括布置成矩阵的多个像素，可以独立地控制像素以透射或阻挡来自光源单元14的光。例如，空间滤波器16可以由像素化的液晶设备形成。第二实施例也包括连接到照明系统12和成像设备106的控制单元108，其适于操作该设备，以至少在第一模式和第二模式下检查混浊介质内部。不过，与第一实施例相比，在第二实施例中，通过适当地操作空间滤波器16实现第一模式下对大区域的照射以及在第二模式下提供期望的照明图案。在第一模式下，空间滤波器16的大量像素处于透射状态。在第二模式下，仅控制空间滤波器16的选定像素(仅那些对应于期望照明图案的像素)使其是透射的。于是，仅有照明系统12的构造和实现第一和第二模式的技术与第一实施例不同， 设备的操作，例如确定选定区域，与上文参考第一实施例描述的类似。第三实施例现在将参考图5描述第三实施例。第三实施例与第一实施例的不同之处仅在于实现用于照明的第一模式和第二模式(即，大区域照明和仅选定感兴趣区域照明)的方式。于是，在下文中将仅描述这些差异。根据第三实施例，用于以光学方式检查混浊介质内部的设备20包括照明系统22。照明系统22适于直接在要检查的混浊介质5上投射期望的照明图案。第三实施例的照明系统22包括光源单元24、空间光调制器沈和投射光学系统观。例如，空间光调制器沈可以由数字镜片设备或液晶元件形成。空间光调制器沈和光源单元M连接到控制单元108。为了实现第二模式操作(仅照射选定区域)，控制照明系统22，使得仅将光投射到选定区域110，而在第一模式中，将来自光源单元M的光投射到更大区域，例如，投射到整个手部和手周围的支座104的部分。类似于第一实施例实现选定区域的确定。第四实施例现在将参考图6描述第四实施例。根据第四实施例的用于以光学方式检查混浊介质内部的设备30与第三实施例对应之处在于，照明设备32适于在要检查的混浊介质5 上投射期望的照明图案。不过，与第三实施例相反，照明设备32为扫描照明设备，例如激光扫描器设备，其接下来以期望的图案将光束引导到混浊介质。不过，根据第四实施例用于检查混浊介质内部的设备30的操作类似于结合第一到第三实施例所述的操作。在第一模式下，操作扫描照明设备，从而照射大区域，而在第二模式下，操作扫描照明设备，从而仅照射大区域的选定区域。
类似于第一实施例实现选定区域的确定。第五实施例将参考图7a和7b描述第五实施例。图7a以侧视图示出了根据第五实施例用于以光学方式检查混浊介质内部的设备40。图7b是该设备的照明系统42的示意顶视图。第五实施例的设备仅在照明系统的构造方面与其他实施例不同。在下文中，将仅描述与其他实施例的差异。第五实施例的照明系统42包括多个独立的照明设备44。针对要检查的典型感兴趣区域的形状调整独立照明设备44。在图7b所示的实施例中，针对人手手指和手腕的感兴趣区域调整独立照明设备44的形状。于是，本实施例尤其适于检查关节的状况。在照明系统42中布置独立照明设备44，使得能够在平行于支座104的平面中逐个调节它们的位置 (例如，通过在平面中两个(垂直)方向上线性运动和绕垂直于平面的轴旋转)，如图7b中针对照明设备44之一的箭头示意性所示。这种可调节性的优点是，可以针对不同混浊介质之间的形状差异，例如不同人之间手指位置的差异，调整独立照明设备44的位置。此外，照明系统42包括额外的扩展光源46，适于在第一模式下照射要检查的混浊介质5的大区域。结果，根据第五实施例，由扩展光源46以第一模式照射大区域，并由成像设备106 采集第一图像。然后，类似于其他实施例，基于第一图像确定选定感兴趣区域的位置。然后， 根据第五实施例，在平行于支座104的平面中致动独立照明设备44以匹配已经从第一图像确定的混浊介质5的位置。在第二模式工作期间，然后由已经移动到正确位置的独立照明设备44仅照射大区域的选定区域。于是，还是根据第五实施例，在第二模式工作期间，仅在有混浊介质5的位置处发射所有用于照明的光。结果，未衰减的光不会到达成像设备106的检测器单元，从而防止发生过度曝光以及感兴趣区域相关图像的劣化。于是，根据上述实施例，在第一模式下，由大面积照明照射要检查的混浊介质，并从利用这种大面积照明采集的第一图像确定混浊介质的位置。基于第一图像选择感兴趣区域并在第二模式下照射混浊介质，在第二模式中仅照射选定区域。在第二模式下采集第二图像。于是，在两种模式下，都照射受检查混浊介质的扩展区域，并由成像设备采集混浊介质的二维图像。优选地，将同一照明系统和成像设备用于第一模式操作(确定感兴趣区域) 和第二模式操作(仅检查选定区域)。在这种情况下，不需要额外的部分，容易实现检查的对齐。所提出的用于以光学方式检查混浊介质内部的设备尤其适于风湿性关节炎的光学检测。这样能够早期和定量检测炎症。于是，早期治疗和治疗检测变成可能。所提出的设备能够以正确方式照射感兴趣的身体部分，从而防止检测器单元出现不希望的饱和。
权利要求
1.一种用于以光学方式检查混浊介质内部的设备(1 ；10 ；20 ；30 ；40)，包括适于照射要检查的混浊介质的照明系统O ；12 ；22 ；32 ；42)；以及适于从检测到的光产生图像的成像设备(106)；其中，所述照明系统O ；12 ；22 ；32 ；42)适于至少以如下模式工作第一模式，其中照射大区域；以及第二模式，其中照射所述大区域的至少一个选定区域(110)。
2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述设备包括控制单元(108)，所述控制单元适于分析在所述照明系统O ；12 ；22 ；32 ；42)处于所述第一模式时所述成像设备采集的第一图像，并从所述第一图像确定至少一个选定区域(110)，用于在所述第二模式下照射。
3.根据权利要求1或2的任一项所述的设备，其中，在所述第二模式下照射所述大区域的多个选定区域(110)。
4.根据权利要求1到3的任一项所述的设备，其中，所述照明系统O；12 ；22 ；32 ；42) 适于在所述第一模式下在低输出光水平工作，在所述第二模式下在高输出光水平工作。
5.根据权利要求1到4的任一项所述的设备，其中，所述成像系统(106)适于在所述照明系统O ；12 ；22 ；32 ；42)在所述第一模式下工作时以短积分时间采集图像，并在所述照明系统在所述第二模式下工作时以较长积分时间采集图像。
6.根据权利要求1到5的任一项所述的设备，其中，所述照明系统(2)包括像素化光源单元，用于产生在所述第一模式和所述第二模式下进行照射的光。
7.根据权利要求1到5的任一项所述的设备，其中，所述照明系统(12)包括扩展的光源单元(14)和空间滤波器单元(16)，用于产生在所述第一和所述第二模式下进行照射的光。
8.根据权利要求1到5的任一项所述的设备，其中，所述照明系统02；32)适于直接在所述混浊介质上投射期望的照明图案。
9.根据权利要求1到5的任一项所述的设备，其中，所述照明系统G2)包括多个位置可调节的独立照明设备G4)。
10.根据权利要求1到9的任一项所述的设备，其中，所述设备包括支座(104)，适于支撑作为要检查的混浊介质(5)的身体部分，所述身体部分包括至少一个关节。
11.根据权利要求1到10的任一项所述的设备，其中，所述设备为医疗光学检查装置。
12.根据权利要求1到11的任一项所述的设备，其中，所述设备为用于以光学方式检查关节的设备。
13.一种用于以光学方式检查混浊介质内部的方法，所述方法包括如下步骤在大区域上照射要检查的混浊介质(5)并检测光作为第一图像；从所述第一图像确定所述大区域的至少一个选定区域(110)；以及照射所述至少一个选定区域(110)并检测光作为第二图像。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，利用同一照明系统(2；12 ；22 ；32 ；42)照射大区域并照射至少一个选定区域(110)，并且利用同一成像设备(106)执行所述第一图像和第二图像的图像采集。
全文摘要
提供了一种用于以光学方式检查混浊介质(5)内部的设备(1；10；20；30；40)。所述设备包括适于照射要检查的混浊介质(5)的照明系统(2；12；22；32；42)以及适于从检测到的光产生图像的成像设备(106)。所述照明系统(2；12；22；32；42)适于至少以如下模式工作第一模式，其中通过照射混浊介质(5)和周围区域采集宽区域图像。根据该宽区域图像，能够确定混浊介质(5)实际所在的一个或多个感兴趣区域(110)。然后，以第二模式照射这些感兴趣区域(110)。因而，不会有未耦合到混浊介质(5)且可能导致成像设备(106)的检测器单元过度曝光的光到达成像设备(106)。
文档编号A61B5/00GK102246023SQ200980150816
公开日2011年11月16日 申请日期2009年10月6日 优先权日2008年10月13日
发明者M·C·范贝克, R·哈贝尔斯, W·H·J·伦森 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司