余量打码装置及UV保护膜生产系统的制作方法

文档序号:14928171发布日期:2018-07-13 17:35阅读:137来源:国知局

本实用新型涉及UV保护膜生产设备技术领域,尤其是涉及一种余量打码装置及UV保护膜生产系统。



背景技术:

在半导体产品(例如晶圆、二极管等)的封装过程中,通常需要采用UV保护膜。目前,半导体产品用UV保护膜一般都是直筒型或者是模切形式,一般以卷为单位。但是,在使用过程中,使用者通常不知道一卷UV保护膜还剩多少,在下一次使用时,很有可能所剩的UV保护膜的长度不够用,这就导致需要将UV保护膜撕除,重新对产品进行封装,在UV保护膜难以撕除的情况下,只能将未封装好的产品丢弃,造成浪费,给使用者带来了巨大的经济损失。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种余量打码装置,以解决现有技术中存在的无法得知UV保护膜余量的技术问题。

本实用新型的目的还在于提供一种UV保护膜生产系统,以解决现有技术中存在的无法得知UV保护膜余量的技术问题。

基于上述第一目的,本实用新型提供了一种余量打码装置,包括喷码器、分切机、收卷轴、计米器和处理器;所述喷码器与所述分切机连接,且所述喷码器的数量与所述分切机上的切刀的数量之差为一;所述收卷轴用于收卷分切后的UV保护膜;所述计米器用于测量收卷于所述收卷轴上的所述UV保护膜的长度,所述计米器与所述处理器连接;所述处理器与所述喷码器连接,用于控制所述喷码器按设定时间向所述UV保护膜的上表面喷印长度信息。

进一步地,所述处理器包括存储器和控制器,所述存储器用于存储不同的长度信息,且所述存储器与所述喷码器连接,用于向所述喷码器输送对应的长度信息;所述控制器与所述存储器连接,用于控制所述存储器中的长度信息的输送顺序的切换。

进一步地,所述长度信息为在设定时间点收卷于所述收卷轴上的所述UV保护膜的长度。

进一步地,所述设定时间为30~60s。

进一步地,所述设定时间为45s。

进一步地,还包括输入设备,所述输入设备与所述存储器连接,用于向所述存储器中输入所述长度信息。

进一步地,所述计米器为红外计米器。

进一步地,所述红外计米器包括红外发射器、红外接收器、所述红外发射器位于UV保护膜的下方,所述红外接收器位于所述UV保护膜的上方,且所述红外接收器与所述红外发射器相对设置,所述红外发射器与所述处理器连接。

进一步地,所述红外发射器发射的红外线是连续的。

基于上述第二目的,本实用新型还提供了一种UV保护膜生产系统,包括所述的余量打码装置。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果为:

本实用新型提供的余量打码装置,包括喷码器、分切机、收卷轴、计米器和处理器;所述喷码器与所述分切机连接,且所述喷码器的数量与所述分切机上的切刀的数量之差为一;所述收卷轴用于收卷分切后的UV保护膜;所述计米器用于测量收卷于所述收卷轴上的所述UV保护膜的长度,所述计米器与所述处理器连接;所述处理器与所述喷码器连接,用于控制所述喷码器按设定时间向所述UV保护膜的上表面喷印长度信息。本实用新型提供的余量打码装置,通过设置喷码器、计米器和处理器,能够按设定时间向UV保护膜的上表面喷印长度信息,便于使用者在使用过程中,得知UV保护膜余量,从而根据实际需要选择长度适宜的保护膜,避免出现不够用的现象,以免造成浪费。在使用时,以UV保护膜的收卷速度为vm/s、设定时间为ts为例,收卷轴开始收卷分切后的UV保护膜,ts时,喷码器向UV保护膜的上表面喷印长度信息L1,L1=vt,2ts时,喷码器向UV保护膜的上表面喷印长度信息L2,L2=2vt,以此类推,nts时,喷码器向UV保护膜的上表面喷印长度信息Ln,Ln=nvt。

本实用新型提供的UV保护膜生产系统,由于使用了本实用新型提供的余量打码装置,能够按设定时间向UV保护膜的上表面喷印长度信息,便于使用者在使用过程中,得知UV保护膜余量,从而根据实际需要选择长度适宜的保护膜,避免出现不够用的现象,以免造成浪费。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的主视图;

图2为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的左视图;

图3为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的结构框图;

图4为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的一种变形例的主视图。

图标:101-喷码器;102-收卷轴;103-计米器;104-UV保护膜;105-存储器;106-控制器;107-红外发射器;108-红外接收器;109-输入设备。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中,需要说明的是,如出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等,其指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,如出现术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,如出现术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例一

图1为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的主视图;图2为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的左视图;图3为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的结构框图;图4为本实用新型实施例一提供的余量打码装置的一种变形例的主视图。参见图1至图4所示,本实施例提供了一种余量打码装置,包括喷码器101、分切机、收卷轴102、计米器103和处理器;喷码器101与分切机连接,且喷码器101的数量与分切机上的切刀的数量之差为一,也就是说,喷码器101的数量比切刀的数量多一个,喷码器101设置在靠近分切后的UV保护膜104的边缘位置,以便于将长度信息喷印在UV保护膜104的边缘,便于使用者查看;收卷轴102用于收卷分切后的UV保护膜104,收卷轴102沿箭头方向A转动;计米器103用于测量收卷于收卷轴102上的UV保护膜104的长度,计米器103与处理器连接;处理器与喷码器101连接,用于控制喷码器101按设定时间向UV保护膜104的上表面喷印长度信息。

本实施例提供的余量打码装置,通过设置喷码器101、计米器103和处理器,能够按设定时间向UV保护膜104的上表面喷印长度信息,便于使用者在使用过程中,得知UV保护膜104余量,从而根据实际需要选择长度适宜的保护膜,避免出现不够用的现象,以免造成浪费。在使用时,以UV保护膜104的收卷速度为vm/s、设定时间为ts为例,收卷轴102开始收卷分切后的UV保护膜104,ts时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印长度信息L1,L1=vt,2ts时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印长度信息L2,L2=2vt,以此类推,nts时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印长度信息Ln,Ln=nvt。

本实施例的可选方案中,参见图2所示,分切机上的切刀的数量为三个,喷码器101的数量为四个。

本实施例的可选方案中,处理器包括存储器105和控制器106,存储器105用于存储不同的长度信息,且存储器105与喷码器101连接,用于向喷码器101输送对应的长度信息;控制器106与存储器105连接,用于控制存储器105中的长度信息的输送顺序的切换。其中,切换顺序以预先设定的优先顺序或择取顺序而确定。

本实施例中,处理器为MCU。

本实施例的可选方案中,长度信息为在设定时间点收卷于收卷轴102上的UV保护膜104的长度。

控制器106内设置有喷印长度数据和喷印信息的排列数据,即控制信号。控制器106分别与计米器103和存储器105进行控制信号交互,即控制器106用于读取计米器103所测量的收卷于收卷轴102上的UV保护膜104的的长度,当所读取的计米长度数据与设定要求的喷印长度数据一致时,控制器106根据喷印信息的排列数据触发对应的长度信息的切换,从而使存储器105向喷码器101输送对应的长度信息,也就是说,控制器106根据计米器103的信号而触发存储器105内的喷印信息向喷码器101输送顺序的切换。

本实施例的可选方案中,还可以根据存储器105内喷印信息的自动切换而对计米器103进行恢复初始状态的“归零”设置,也就是说,控制器106根据存储器105的喷印信息切换信号而触发计米器103恢复初始状态,重新对新的一卷UV保护膜104的长度进行计米测量,方便快捷。

本实施例的可选方案中,UV保护膜104的收卷速度为20m/min。

需要说明的是,也可以根据实际生产加工需要,自由选取其他的收卷速度。

本实施例的可选方案中,设定时间为30~60s。

以30s为例,也就是说,每隔30s,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印长度信息。具体地,UV保护膜104收卷30s时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印的长度信息为“10m”,UV保护膜104收卷60s时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印的长度信息为“20m”,UV保护膜104收卷90s时,喷码器101向UV保护膜104的上表面喷印的长度信息为“30m”,以此类推,直到一卷UV保护膜104收卷完成。

作为优选,设定时间为45s。

本实施例的可选方案中,为了方便长度信息的录入以及控制信号的设定,本实施例提供的余量打码装置还包括输入设备109,输入设备109与存储器105连接,用于向存储器105中输入长度信息,同时,输入设备109还用于向控制器106内编辑控制信号的设定。

本实施例的可选方案中,计米器103为红外计米器。

本实施例的可选方案中,红外计米器103包括红外发射器107、红外接收器108、红外发射器107位于UV保护膜104的下方,红外接收器108位于UV保护膜104的上方,且红外接收器108与红外发射器107相对设置,红外发射器107与处理器连接。

通过设置红外计米器103,能够提高测量精度,避免了传统的计米轮的滑动摩擦带来的误差,提高了工作效率。

本实施例的可选方案中,红外发射器107发射的红外线是连续的。

需要说明的是,本实施例中,计米器103也可以采用目前常见的计米轮。

喷码器101为现有技术,其结构不再详细描述。

本实施例的另一可选方案中,参见图4所示,计米器103可以位于收卷轴102与喷码器101之间。

需要说明的是,处理器还可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)、网络处理器(Network Processor,简称NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing,简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

另外需要说明的是,本实施例的贡献在于系统的整体结构布局及对应的控制逻辑,而非各元器件的功能,各元器件的功能依据现有的已公开的芯片或编程手段均可轻松实现。

实施例二

本实施例提供了一种UV保护膜104生产系统,包括本实用新型实施例一提供的余量打码装置。

本实施例提供的UV保护膜104生产系统,还包括UV保护膜104收卷装置等常用设备,整张的UV保护膜104经过多个展平导辊送入分切机,进行分切。

本实施例提供的UV保护膜104生产系统,由于使用了本实用新型实施例一提供的余量打码装置,能够按设定时间向UV保护膜104的上表面喷印长度信息,便于使用者在使用过程中,得知UV保护膜104余量,从而根据实际需要选择长度适宜的保护膜,避免出现不够用的现象,以免造成浪费。

综上所述,本实用新型通过存储器105和控制器106将分切机上的喷码器101和计米器103实现了有效、可靠地联动控制,使计米器103和喷码器101相互协同配合,其自动化程度高,不仅减轻了岗位工人的工作负担,提高了作业效率,而且其在UV保护膜104上的喷印信息灵活且易调整,可以根据使用者的需求设定不同的时间,具有经济、高效、可靠、实用等特点。

最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

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